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Examinación microscópica
Examinación microscópica, Total: 13 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Examinación microscópica son: Pruebas no destructivas, Equipo óptico, pruebas de metales, Dispositivos semiconductores, Vocabularios, Medidas lineales y angulares., Química analítica.
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Examinación microscópica
- GB/T 34018-2017 Pruebas no destructivas: método de prueba para microscopía ultrasónica de barrido
- GB/T 34331-2017 Método de prueba del virus del mosaico moteado verde del pepino mediante microscopía electrónica de transmisión
HU-MSZT, Examinación microscópica
- MNOSZ 3646-1954 ?LELMISZEREK MIKROBIOL?GIAI VIZSG?LATA MINTAV?TEL MIKROBIOL?GIAI VIZSG?LAT C?LJ?RA
- MNOSZ 4017-1954 T?RGYLEMEZEK mikroszkópiai vizsgálathoz
- MSZ 3227/2-1980 GYAPJ?V1ZSG?LATI M?DSZEREK A szálátmér? meghatározása hosszirányú mikroszkópi kép alapján
- MSZ 2657-1966 AZ AC?L SZEMCSENAGYS?G?NAK MEGHAT?ROZ?SA Mikroszkópos vizsgálat
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Examinación microscópica
IT-UNI, Examinación microscópica
- UNI 7604-1976 Examen con microscopio electrónico de materiales metálicos mediante la técnica de réplica. Preparación de réplicas para examen de microfractografía.
- UNI 7329-1974 Examen con microscopio electrónico de materiales metálicos mediante la técnica de réplica. Preparación de réplicas para examen de microestructura.
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Examinación microscópica
- EN 60749-35:2006 Dispositivos semiconductores Métodos de prueba mecánicos y climáticos Parte 35: Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico
German Institute for Standardization, Examinación microscópica
- DIN EN 60749-35:2007 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 35: Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico (IEC 60749-35:2006); Versión alemana EN 60749-35:2006
- DIN V 32938:1998
International Electrotechnical Commission (IEC), Examinación microscópica
- IEC 60749-35:2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 35: Microscopía acústica para componentes electrónicos encapsulados en plástico.