ZH
EN
ES

Микроскопический осмотр

Микроскопический осмотр, Всего: 13 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Микроскопический осмотр, являются: Неразрушающий контроль, Оптическое оборудование, Испытание металлов, Полупроводниковые приборы, Словари, Линейные и угловые измерения, Аналитическая химия.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Микроскопический осмотр

• GB/T 34018-2017 Неразрушающий контроль. Метод испытаний для сканирующей ультразвуковой микроскопии.
• GB/T 34331-2017 Метод исследования вируса зеленой крапчатой мозаики огурца методом просвечивающей электронной микроскопии

HU-MSZT, Микроскопический осмотр

• MNOSZ 3646-1954 Микробиологическое исследование образцов пищевых продуктов. Микроскопический осмотр
• MNOSZ 4017-1954 Исследование скретч-микроскопа
• MSZ 3227/2-1980 Метод обнаружения шерсти использует микроскоп для определения диаметра шерсти.
• MSZ 2657-1966 Микроскопия гранулометрического анализа

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Микроскопический осмотр

• KS B 5603-1990(2016) Образцы для микроскопических испытаний

IT-UNI, Микроскопический осмотр

• UNI 7604-1976 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для микрофрактографического исследования.
• UNI 7329-1974 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для исследования микроструктуры.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Микроскопический осмотр

• EN 60749-35:2006 Полупроводниковые приборы Механические и климатические методы испытаний Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах

German Institute for Standardization, Микроскопический осмотр

• DIN EN 60749-35:2007 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах (IEC 60749-35:2006); Немецкая версия EN 60749-35:2006.
• DIN V 32938:1998 Профилирование поверхности методами оптической микроскопии. Концепции и методики измерений.

International Electrotechnical Commission (IEC), Микроскопический осмотр

• IEC 60749-35:2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах

Другие:   Инспекционный микроскоп, Инспекционный микроскоп, Микроскопический осмотр, Микроскопический осмотр, Оптическая инспекционная микроскопия, Оптическая инспекционная микроскопия, Детекторный микроскоп, Микроскопическое быстрое обнаружение, Детекторный микроскоп, Оптический инспекционный микроскоп, Микроскопический осмотр, Микроскопический осмотр, Проверка микротвердости, Микроскоп для обнаружения, Проверка микротвердости, Оптическая микроскопия, Микроскопический метод обнаружения, Где проверяется микротвердость?, Микроскопический метод обнаружения, Микроскопический осмотр и использование.