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显微 检测

本专题涉及显微 检测的标准有13条。

国际标准分类中,显微 检测涉及到无损检测、光学设备、金属材料试验、半导体分立器件、词汇、长度和角度测量、分析化学。

在中国标准分类中,显微 检测涉及到基础标准与通用方法、金相检验方法、半导体分立器件综合、长度计量。


中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会,关于显微 检测的标准

HU-MSZT,关于显微 检测的标准

韩国科技标准局,关于显微 检测的标准

IT-UNI,关于显微 检测的标准

  • UNI 7604-1976 用复制品进行的金属材料电子显微镜检测.显微照相检测用复制品的准备
  • UNI 7329-1974 使用复制品进行金属材料的电子显微镜检测.显微结构检测用复制品的准备

欧洲电工标准化委员会,关于显微 检测的标准

  • EN 60749-35:2006 半导体器件.机械和气候试验方法.第35部分:塑封电子器件的声学显微检测方法

德国标准化学会,关于显微 检测的标准

  • DIN EN 60749-35:2007 半导体器件.机械和气候试验方法.第35部分:塑封电子器件的声学显微检测方法
  • DIN V 32938:1998 光学显微法检测表面形状.概念和测量方法

国际电工委员会,关于显微 检测的标准

  • IEC 60749-35:2006 半导体器件.机械和气候试验方法.第35部分:塑封电子器件的超声显微检测方法




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