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Fotodiodo clasificado

Fotodiodo clasificado, Total: 448 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Fotodiodo clasificado son: Optoelectrónica. Equipo láser, Dispositivos semiconductores, Dispositivos de visualización electrónica., Vocabularios, Lámparas y equipos relacionados., Rectificadores. Convertidores. Fuente de alimentación estabilizada, Componentes electrónicos en general., Comunicaciones de fibra óptica., Circuitos impresos y placas., Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Difusión de radio y televisión, ingeniería de energía nuclear, ingeniería de energía solar, Pequeña embarcación, tubos electronicos, Odontología, Gas natural, Accesorios electricos, Pruebas eléctricas y electrónicas., Pilas y baterías galvánicas., Cerámica.


Professional Standard - Military and Civilian Products, Fotodiodo clasificado

  • WJ 2100-2004 Método de prueba para fotodiodos de silicio y fotodiodos de avalancha de silicio.
  • WJ 2506-1998 Reglamento de verificación para el probador dinámico de fotodiodos
  • WJ 2265-1995 Especificaciones para fotodiodos de avalancha de silicio preamplificados

ES-UNE, Fotodiodo clasificado

  • UNE-EN 120005:1992 BDS: FOTODIODOS, Matrices de fotodiodos (NO DESTINADOS A APLICACIONES DE FIBRA ÓPTICA). (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
  • UNE-EN 120001:1992 BDS: DIODOS EMISORES DE LUZ, MATRICES DE DIODOS EMISORES DE LUZ, DISPLAYS DE DIODOS EMISORES DE LUZ SIN LÓGICA INTERNA Y RESISTENCIA. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
  • UNE-EN 120006:1992 BDS: PIN-FOTODIODOS PARA APLICACIONES DE FIBRA ÓPTICA. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
  • UNE-EN 120004:1992 BDS: FOTOACOPLADORES AMBIENTE CON SALIDA A FOTOTRANSISTORES. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
  • UNE-EN 62504:2015/A1:2018 Iluminación general - Productos de diodos emisores de luz (LED) y equipos relacionados - Términos y definiciones
  • UNE-EN IEC 60700-3:2023 Válvulas de tiristores para transmisión de energía en corriente continua de alta tensión (HVDC) - Parte 3: Clasificaciones (valores límite) esenciales y características (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en febrero de 2023.)
  • UNE-EN IEC 62149-12:2023 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica - Estándares de rendimiento - Parte 12: Dispositivo de diodo láser de retroalimentación distribuida para sistemas de radio analógica sobre fibra (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2023.)

German Institute for Standardization, Fotodiodo clasificado

  • DIN EN 120005:1996 Especificación detallada en blanco: fotodiodos, conjuntos de fotodiodos (no destinados a aplicaciones de fibra óptica); Versión alemana EN 120005:1992
  • DIN EN 120005:1996-11 Especificación detallada en blanco: fotodiodos, conjuntos de fotodiodos (no destinados a aplicaciones de fibra óptica); Versión alemana EN 120005:1992
  • DIN EN 120001:1993-06 Especificaciones detalladas en blanco: diodos emisores de luz, conjuntos de diodos emisores de luz, pantallas de diodos emisores de luz sin lógica interna ni resistencia; Versión alemana EN 120001:1992
  • DIN EN 120001:1993 Especificaciones detalladas en blanco: diodos emisores de luz, conjuntos de diodos emisores de luz, pantallas de diodos emisores de luz sin lógica interna ni resistencia; Versión alemana EN 120001:1992
  • DIN IEC 62088:2002-09 Instrumentación nuclear. Fotodiodos para detectores de centelleo. Procedimientos de prueba (IEC 62088:2001).
  • DIN EN 62341-6-1:2011-07 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos (IEC 62341-6-1:2009); Versión alemana EN 62341-6-1:2011
  • DIN EN 62504:2018-11 Iluminación general - Productos de diodos emisores de luz (LED) y equipos relacionados - Términos y definiciones (IEC 62504:2014 + A1:2018); Versión alemana EN 62504:2014 + A1:2018 / Nota: DIN EN 62504 (2015-06) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 2021-04-17.
  • DIN EN 62384:2007 Equipo de control electrónico suministrado en CC o CA para módulos LED - Requisitos de rendimiento (IEC 62384:2006); Versión alemana EN 62384:2006
  • DIN 49406-2:1989 Enchufes bipolares para aparatos clase II de 10 A 250 V dc, 16 A 250 V ac, a prueba de salpicaduras
  • DIN IEC 62088:2002 Instrumentación nuclear. Fotodiodos para detectores de centelleo. Procedimientos de prueba (IEC 62088:2001).
  • DIN EN 120004:1997-02 Especificación detallada en blanco: Fotoacopladores con clasificación ambiental con salida de fototransistor; Versión alemana EN 120004:1992
  • DIN 40742:1999 Baterías de plomo-ácido - Baterías estacionarias reguladas por válvula con placas tubulares positivas y electrolito inmovilizado - Capacidades nominales, dimensiones principales, pesos
  • DIN EN 62384:2010 Equipo de control electrónico suministrado en CC o CA para módulos LED - Requisitos de rendimiento (IEC 62384:2006 + A1:2009); Versión alemana EN 62384:2006 + A1:2009
  • DIN 40736-1:1992 Baterías de plomo ácido; células estacionarias con placas tubulares positivas; celdas en contenedores de plástico; capacidades nominales, dimensiones principales, pesos
  • DIN 40736-2:1992 Baterías de plomo ácido; células estacionarias con placas tubulares positivas; celdas en contenedores de goma dura; capacidades nominales, dimensiones principales, pesos
  • DIN EN 61347-2-13:2007 Equipo de control de lámpara - Parte 2-13: Requisitos particulares para equipos de control electrónicos suministrados con CC o CA para módulos LED (IEC 61347-2-13:2006); Versión alemana EN 61347-2-13:2006
  • DIN EN 62595-2:2013 Unidad de retroiluminación LCD - Parte 2: Métodos de medición electroóptica de la unidad de retroiluminación LED (IEC 62595-2:2012); Versión alemana EN 62595-2:2013
  • DIN EN 62341-6-1:2011 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos (IEC 62341-6-1:2009); Versión alemana EN 62341-6-1:2011
  • DIN EN 62504:2015 Iluminación general - Productos de diodos emisores de luz (LED) y equipos relacionados - Términos y definiciones (IEC 62504:2014); Versión alemana EN 62504:2014
  • DIN 40744:1999 Baterías de plomo-ácido - Baterías estacionarias reguladas por válvula con placas tubulares positivas y electrolito inmovilizado en contenedores monobloque de plástico - Capacidades nominales, dimensiones principales, pesos

European Standard for Electrical and Electronic Components, Fotodiodo clasificado

  • CECC 50 008- 004 Diodo rectificador de clasificación ambiental (En)
  • CECC 50 008- 005 Diodo rectificador de clasificación ambiental (En)
  • EN 120005:1992 Especificación detallada en blanco: fotodiodos, conjuntos de fotodiodos (no destinados a aplicaciones de fibra óptica)
  • EN 120001:1992 Especificación detallada en blanco; diodos emisores de luz, conjuntos de diodos emisores de luz, pantallas de diodos emisores de luz sin lógica interna ni resistencia
  • CECC 50 008- 014 UTE C 86-818/014; Diodos rectificadores con clasificación ambiental (Fr)
  • EN 120006:1992 Especificación detallada en blanco: fotodiodos PIN para aplicaciones de fibra óptica
  • CECC 50 001- 059 ISSUE 2 BS CECC 50 001-059; Diodo de conmutación de silicio con clasificación ambiental en encapsulación de vidrio (En)
  • CECC 50 001- 065 BS CECC 50 001-065 Edición 1; Par de diodos de conmutación de alta velocidad con clasificación ambiental de silicio (cátodo común) en encapsulación de plástico (En)
  • CECC 20 004- 001 ED 1-1984 UTE C 86-504; Fotoacopladores de clasificación ambiental con salida de fototransistor (Fr)
  • CECC 50 009- 023 ISSUE 1-1980 BS CECC 50 009-023; Diodo rectificador de silicio con clasificación de caja de avalancha controlada; 48 amperios 600 a 1400 V; montado en perno; Sellado Herméticamente (Es)

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Fotodiodo clasificado

  • JEDEC JESD211-2009 Pruebas de verificación y caracterización de diodos Zener y reguladores de voltaje
  • JEDEC JESD51-51-2012 Implementación del Método de Prueba Eléctrica para la Medición de Resistencia Térmica Real e Impedancia de Diodos Emisores de Luz con Enfriamiento Expuesto
  • JEDEC JESD4-1983 Definición de distancias de fuga y espacio libre externo de paquetes de semiconductores discretos para tiristores y diodos rectificadores

Association Francaise de Normalisation, Fotodiodo clasificado

  • NF EN 120005:1992 Especificación de marco especial: fotodiodos, conjuntos de fotodiodos (no destinados a aplicaciones de fibra óptica}
  • NF C93-120-005*NF EN 120005:1992 Especificación detallada en blanco: fotodiodos, conjuntos de fotodiodos (no destinados a aplicaciones de fibra óptica)
  • NF EN 120001:1992 Especificación marco particular: diodos emisores de luz, conjuntos de diodos emisores de luz, pantallas de diodos emisores de luz sin resistencia ni circuitos lógicos internos
  • NF C93-120-001*NF EN 120001:1992 Especificaciones detalladas en blanco: diodos emisores de luz, conjuntos de diodos emisores de luz, pantallas de diodos emisores de luz sin lógica interna ni resistencia
  • NF C96-551/A2:1981 Optoelectrónicos Diodos emisores de luz Optoacopladores Hojas de artículos relevantes
  • NF C96-551/A3:1981 Optoelectrónicos Diodos emisores de luz Optoacopladores Hojas de artículos relevantes
  • NF C86-502:1983 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Especificación detallada en blanco. Diodos emisores de infrarrojos, matrices de diodos emisores de infrarrojos.
  • NF C93-872:1987 Receptores digitales con fotodiodo pin.
  • NF C86-501:1983 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Especificación detallada en blanco. Diodos emisores de luz, conjuntos de diodos emisores de luz.
  • NF C86-505:1986 Dispositivos semiconductores. Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Fotodiodos. Matrices de fotodiodos. Especificación de detalle en blanco CECC 20 005.
  • NF EN 62341-6-1:2011 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos
  • NF C96-565-2*NF EN 62595-2:2013 Unidad de retroiluminación LCD - Parte 2: métodos de medición electroóptica de la unidad de retroiluminación LED
  • NF C71-504*NF EN 62504:2014 Iluminación general - Productos de diodos emisores de luz (LED) y equipos relacionados - Términos y definiciones
  • NF C71-504/A1*NF EN 62504/A1:2018 Iluminación general - Productos de diodos emisores de luz (LED) y equipos relacionados - Términos y definiciones
  • NF EN 62504:2014 Iluminación general - Productos de diodos emisores de luz (LED) y equipos relacionados - Términos y definiciones
  • NF EN 62504/A1:2018 Iluminación general - Productos de diodos emisores de luz (LED) y equipos relacionados - Términos y definiciones
  • NF C71-305*NF EN 62384:2006 Equipos de control electrónicos suministrados en CC o CA para módulos LED - Requisitos de rendimiento.
  • NF C93-120-004*NF EN 120004:1992 Especificación detallada en blanco: fotoacopladores con clasificación ambiental y salida de fototransistor
  • NF C96-541-6-1*NF EN 62341-6-1:2011 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos.
  • NF EN IEC 63286:2022 Paneles flexibles de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) para iluminación general: requisitos de rendimiento
  • NF C71-251*NF EN 62560:2013 Lámparas LED con balasto automático para servicios de iluminación general para tensión > 50 V - Especificaciones de seguridad
  • NF C86-819/A2:1984 Componentes electrónicos Diodos rectificadores con caja nominal Manual de especificaciones detalladas en el ámbito de las normas francesas NF C 86-010 y NF C 86-819 (CECC 50 000 - CECC 50 009)
  • NF EN IEC 60700-3:2023 Válvulas de tiristor para transmisión de energía en corriente continua de alto voltaje (HVDC) - Parte 3: valores nominales (valores límite) y características esenciales
  • NF C71-247-13:2006 Equipo de control de lámpara - Parte 2-13: requisitos particulares para equipos de control electrónicos suministrados con CC para módulos LED con suministro de CA.
  • NF C71-247-13*NF EN 61347-2-13:2014 Equipo de control de lámpara - Parte 2-13: requisitos particulares para equipos de control electrónicos suministrados con CC o CA para módulos LED
  • NF EN IEC 62149-12:2023 Componentes y dispositivos activos fibrónicos. Normas de rendimiento. Parte 12: dispositivo de diodo láser de retroalimentación distribuida para sistemas de radio analógicos sobre fibra.
  • NF C86-506:1986 Dispositivos semiconductores. Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos fotodiodos pin para aplicaciones de fibra óptica. Especificación detallada en blanco.
  • NF C32-500*NF EN 50143:2009 Cables para instalaciones de señales y tubos descargadores luminosos que funcionen con una tensión nominal de salida en vacío superior a 1 000 V pero inferior o igual a 10 000 V

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Fotodiodo clasificado

  • KS C 7103-2005(2020) Pantalla de diodo emisor de luz orgánica (OLED): clasificaciones y características esenciales
  • KS C 7103-2005 Pantalla de diodo emisor de luz orgánica (OLED): clasificaciones y características esenciales
  • KS C 6990-2001 Reglas generales de fotodiodos para transmisión por fibra óptica.
  • KS C 6905-2001 Reglas generales de diodos láser para transmisión por fibra óptica.
  • KS C 6991-2001 Métodos de prueba de fotodiodos para transmisión por fibra óptica.
  • KS C 6906-2001 Métodos de prueba de diodos láser para transmisión por fibra óptica.
  • KS C 6990-2013 REGLAS GENERALES DE FOTODIODOS PARA TRANSMISIÓN POR FIBRA ÓPTICA
  • KS C 6991-2013 MÉTODOS DE PRUEBA DE FOTODIODOS PARA TRANSMISIÓN POR FIBRA ÓPTICA
  • KS C 7121-1990 Métodos de medición para diodos emisores de luz (para indicación)
  • KS C 6990-2001(2011) REGLAS GENERALES DE FOTODIODOS PARA TRANSMISIÓN POR FIBRA ÓPTICA
  • KS C 6991-2001(2011) MÉTODOS DE PRUEBA DE FOTODIODOS PARA TRANSMISIÓN POR FIBRA ÓPTICA
  • KS C IEC 60747-2-2-2006(2021) Dispositivos semiconductores -Dispositivos discretos-Parte 2: Diodos rectificadores -Sección dos: Especificación detallada en blanco para diodos rectificadores (incluidos diodos rectificadores de avalancha), ambientales y de caja, para corriente
  • KS C IEC 60747-2-2-2006(2016) Dispositivos semiconductores -Dispositivos discretos-Parte 2: Diodos rectificadores -Sección dos: Especificación detallada en blanco para diodos rectificadores (incluidos diodos rectificadores de avalancha), ambientales y de caja, para corriente
  • KS C IEC 60747-2-1-2006(2016) Dispositivos semiconductores -Dispositivos discretos-Parte 2: Diodos rectificadores -Sección uno: Especificación detallada en blanco para diodos rectificadores (incluidos los diodos rectificadores de avalancha), ambientales y de caja, hasta 100 A
  • KS C IEC 60747-2-1-2006(2021) Dispositivos semiconductores -Dispositivos discretos-Parte 2: Diodos rectificadores -Sección uno: Especificación detallada en blanco para diodos rectificadores (incluidos los diodos rectificadores de avalancha), ambientales y de caja, hasta 100 A
  • KS P ISO 10650-2-2009(2014) Odontología-Activadores de polimerización motorizados-Parte 2: Lámparas de diodos emisores de luz (LED)
  • KS C IEC 62341-6-1:2020 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos.
  • KS C IEC 62504:2020 Iluminación general. Productos de diodos emisores de luz (LED) y equipos relacionados. Términos y definiciones.
  • KS C IEC 62384:2011 Equipo de control electrónico suministrado por CC o CA para módulos LED: requisitos de rendimiento
  • KS C IEC 60747-7-2-2006(2021) Dispositivos semiconductores -Dispositivos discretos-Parte 7: Transistores bipolares -Sección dos: Especificación detallada en blanco para transistores bipolares con clasificación de caja para amplificación de baja frecuencia
  • KS C IEC 62341-6:2007 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) -Parte 6: Métodos de medición
  • KS C IEC TS 62972:2018 Iluminación general. Productos de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) y equipos relacionados. Términos y definiciones.
  • KS C IEC 60747-2-2:2006 Dispositivos semiconductores-Dispositivos discretos-Parte 2: Diodos rectificadores-Sección dos: Especificación detallada en blanco para diodos rectificadores (incluidos los diodos rectificadores de avalancha), ambientales y de caja, para corrientes superiores a 100 A
  • KS C IEC 60747-2-1:2006 Dispositivos semiconductores -Dispositivos discretos-Parte 2: Diodos rectificadores -Sección uno: Especificación detallada en blanco para diodos rectificadores (incluidos los diodos rectificadores de avalancha), ambientales y de caja, hasta 100 A
  • KS C IEC 61347-2-13:2011 Equipo de control de lámpara-Parte 2-13: Requisitos particulares para equipos de control electrónicos suministrados con CC o CA para módulos LED
  • KS C IEC 60747-6-2-2006(2021) Dispositivos semiconductores -Dispositivos discretos-Parte 6: Tiristores -Sección dos: Especificación detallada en blanco para tiristores de triodo bidireccionales (triacs), ambientales o de caja, hasta 100 A
  • KS C IEC 60747-6-2-2006(2016) Dispositivos semiconductores -Dispositivos discretos-Parte 6: Tiristores -Sección dos: Especificación detallada en blanco para tiristores de triodo bidireccionales (triacs), ambientales o de caja, hasta 100 A

SE-SIS, Fotodiodo clasificado

  • SIS SS CECC 20005-1988 Especificación detallada en blanco: fotodiodos, conjuntos de fotodiodos (no destinados a aplicaciones de fibra óptica)
  • SIS SS-CECC 20001-1991 Especificación detallada en blanco: diodos emisores de luz, conjuntos de diodos emisores de luz, pantallas de diodos emisores de luz sin lógica interna ni resistencia
  • SIS SS-CECC 50009-1991 Especificación detallada en blanco: diodos rectificadores con clasificación de caja
  • SIS SS-CECC 50008-1991 Especificación detallada en blanco: diodos rectificadores con clasificación ambiental
  • SIS SS CECC 20006-1988 Especificación detallada en blanco: fotodiodos PIN para aplicaciones de fibra óptica
  • SIS SS CECC 20004-1988 Especificación detallada en blanco: Fotoacopladores con clasificación ambiental con salida de fototransistor
  • SIS SS CECC 20004-1984 Especificación detallada en blanco: Fotoacopladores con clasificación ambiental con salida de fototransistor

Lithuanian Standards Office , Fotodiodo clasificado

  • LST EN 120005-2001 Especificación detallada en blanco. Fotodiodos, conjuntos de fotodiodos (no destinados a aplicaciones de fibra óptica)
  • LST EN 120001-2001 Especificación detallada en blanco. Diodos emisores de luz, conjuntos de diodos emisores de luz, pantallas de diodos emisores de luz sin lógica interna ni resistencia
  • LST EN 120004-2001 Especificación detallada en blanco. Fotoacopladores con clasificación ambiental con salida de fototransistor
  • LST EN 62341-6-1-2011 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos (IEC 62341-6-1:2009)

British Standards Institution (BSI), Fotodiodo clasificado

  • BS IEC 60747-5-8:2019 Dispositivos semiconductores. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba de eficiencias optoelectrónicas de diodos emisores de luz.
  • BS EN 120005:1986 Especificación para un sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos - Especificación detallada en blanco - Fotodiodos, conjuntos de fotodiodos (no destinados a aplicaciones de fibra óptica)
  • BS EN 120001:1991 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos - Especificaciones detalladas en blanco - Diodos emisores de luz, conjuntos de diodos emisores de luz, pantallas de diodos emisores de luz sin lógica interna ni resistencia
  • BS IEC 60747-5-16:2023 Dispositivos semiconductores - Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba del voltaje de banda plana de diodos emisores de luz basados en GaN basado en la espectroscopia de fotocorriente
  • BS IEC 60747-5-11:2019 Dispositivos semiconductores. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba de corrientes radiativas y no radiativas de diodos emisores de luz.
  • BS EN 120001:1993 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Especificación detallada en blanco. Diodos emisores de luz, conjuntos de diodos emisores de luz, pantallas de diodos emisores de luz sin lógica interna ni resistencia
  • BS QC 750109:1993 Especificación para un sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos. Especificación detallada en blanco. Diodos rectificadores (incluidos los diodos rectificadores de avalancha), ambientales y de caja, para corrientes superiores a 100 A
  • 18/30367363 DC BSIEC 60747-5-8. Dispositivos semiconductores. Parte 5-8. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba de eficiencias optoelectrónicas de diodos emisores de luz.
  • BS EN 120005:1993 Especificación para un sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos. Especificación detallada en blanco. Fotodiodos, conjuntos de fotodiodos (no destinados a aplicaciones de fibra óptica)
  • BS PD IEC/TS 62916:2017 Módulos fotovoltaicos. Prueba de susceptibilidad a descargas electrostáticas de diodos de derivación
  • 18/30388245 DC BS EN IEC 60747-5-11. Dispositivos semiconductores. Parte 5-11. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba de corrientes radiativas y no radiativas de diodos emisores de luz.
  • BS EN ISO 19009:2015 Pequeña embarcación. Luces de navegación eléctricas. Rendimiento de las luces LED
  • PD IEC/TS 62916:2017 Módulos fotovoltaicos. Prueba de susceptibilidad a descargas electrostáticas de diodos de derivación
  • BS EN 120002:1993 Especificación para un sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos. Especificación detallada en blanco: diodos emisores de infrarrojos, conjuntos de diodos emisores de infrarrojos
  • BS CECC 50008:1992 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Especificación detallada en blanco: diodos rectificadores con clasificación ambiental
  • PD IEC TS 63109:2022 Módulos y células fotovoltaicas (PV). Medición del factor de idealidad del diodo mediante análisis cuantitativo de imágenes de electroluminiscencia.
  • BS EN 62341-6-1:2011 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos.
  • PD IEC TR 60747-5-12:2021 Dispositivos semiconductores. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba de eficiencias LED.
  • BS CECC 50009:1992 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Especificación detallada en blanco: diodos rectificadores clasificados en caja
  • BS E9375:1975 Especificación - Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos - Especificación detallada en blanco: diodos reguladores de tensión y diodos de referencia de tensión, excluidos los diodos de referencia de tensión de precisión con compensación de temperatura
  • BS IEC 60747-5-15:2022 Dispositivos semiconductores - Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba del voltaje de banda plana basado en la espectroscopia de electrorreflectancia.
  • BS CECC 50008:1982 Especificación para un sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos. Especificación detallada en blanco: diodos rectificadores con clasificación ambiental
  • BS CECC 50009:1982 Especificación para un sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos. Especificación detallada en blanco: diodos rectificadores clasificados en caja
  • 19/30392174 DC BS EN 60747-5-6. Dispositivos semiconductores. Parte 5-6. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos
  • 13/30286043 DC BS EN 62341-2-1. Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Parte 2-1. Clasificaciones y características esenciales de los módulos de pantalla OLED
  • BS EN 62384:2006 Equipo de control electrónico alimentado por CC o CA para módulos LED: requisitos de rendimiento
  • BS EN 62504:2014 Iluminación general. Productos de diodos emisores de luz (LED) y equipos relacionados. Términos y definiciones
  • BS EN 62504:2014+A1:2018 Iluminación general. Productos de diodos emisores de luz (LED) y equipos relacionados. Términos y definiciones
  • BS IEC 60747-5-9:2019 Dispositivos semiconductores. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba de la eficiencia cuántica interna basado en la electroluminiscencia dependiente de la temperatura.
  • BS EN 61347-2-13:2006
  • BS EN 61347-2-13:2014 Equipo de control de lámparas. Requisitos particulares para equipos de control electrónicos suministrados en CC o CA para módulos LED
  • BS EN 62384:2006+A1:2009 Equipo de control electrónico alimentado por CC o CA para módulos LED: requisitos de rendimiento
  • BS PD IEC/TS 62972:2016 Iluminación general. Productos de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) y equipos relacionados. Términos y definiciones
  • PD IEC/TS 62972:2016 Iluminación general. Productos de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) y equipos relacionados. Términos y definiciones
  • 14/30313209 DC BS EN 62341-6-1. Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Parte 6-1. Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos.
  • 23/30475452 DC BS EN IEC 62341-6-1. Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED): Parte 6-1. Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos.
  • 20/30430108 DC BS EN IEC 62341-6-1. Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Parte 6-1. Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos.
  • 21/30440970 DC BS EN IEC 60747-5-16. Dispositivos semiconductores - Parte 5-16. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba del voltaje de banda plana basado en la espectroscopia de fotocorriente.
  • 20/30422995 DC BS EN IEC 60747-5-15. Dispositivos semiconductores. Parte 5-15. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba del voltaje de banda plana basado en la espectroscopia de electrorreflectancia.
  • 23/30433255 DC BS EN ISO 2612. Análisis de gas natural. Biometano. Determinación del contenido de amoníaco mediante espectroscopía de absorción con láser de diodo sintonizable
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  • BS EN 62560:2012 Lámparas LED autobalastadas para servicios de iluminación general para voltaje 50 V. Especificaciones de seguridad
  • BS EN 62341-6-2:2012 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Métodos de medición de la calidad visual y el rendimiento ambiental.
  • BS EN IEC 62149-12:2023 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Estándares de desempeño: dispositivo de diodo láser de retroalimentación distribuida para sistemas de radio analógicos sobre fibra
  • 18/30367367 DC BSIEC 60747-5-62. Dispositivos semiconductores. Parte 5-9. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba de la eficiencia cuántica interna basado en la electroluminiscencia dependiente de la temperatura.
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  • BS EN 150014:1997 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Especificaciones detalladas en blanco: diodos tiristores, supresores de sobretensión transitoria.
  • BS EN 150014:1995 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Especificación detallada en blanco: diodos tiristores, supresores de sobretensión transitoria
  • 18/30367371 DC BSIEC 60747-5-63. Dispositivos semiconductores. Parte 5-10. Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba de la eficiencia cuántica interna mediante el punto de referencia de temperatura ambiente.

International Electrotechnical Commission (IEC), Fotodiodo clasificado

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  • IEC 60747-5-8:2019 Dispositivos semiconductores - Parte 5-8: Dispositivos optoelectrónicos - Diodos emisores de luz - Método de prueba de eficiencias optoelectrónicas de diodos emisores de luz
  • IEC 91/926/PAS:2010 Placa de circuito electrónico para LED de alto brillo.
  • IEC 60747-5-7:2016 Dispositivos semiconductores - Parte 5-7: Dispositivos optoelectrónicos - Fotodiodos y fototransistores
  • IEC 60747-5-16:2023 Dispositivos semiconductores - Parte 5-16: Dispositivos optoelectrónicos - Diodos emisores de luz - Método de prueba del voltaje de banda plana de diodos emisores de luz basados en GaN basado en la espectroscopia de fotocorriente
  • IEC 60747-5-11:2019 Dispositivos semiconductores - Parte 5-11: Dispositivos optoelectrónicos - Diodos emisores de luz - Método de prueba de corrientes radiativas y no radiativas de diodos emisores de luz
  • IEC TS 62916:2017 Módulos fotovoltaicos: prueba de susceptibilidad a descargas electrostáticas de diodos de derivación
  • IEC 60747-2-2:1993 Dispositivos semiconductores; dispositivos discretos; parte 2: diodos rectificadores; sección 2: especificación detallada en blanco para diodos rectificadores (incluidos los diodos rectificadores de avalancha), ambientales y de caja, para corrientes superiores a 100 A
  • IEC 60747-2-1:1989 Dispositivos semiconductores; dispositivos discretos; parte 2: diodos rectificadores; sección uno: especificación detallada en blanco para diodos rectificadores (incluidos los diodos rectificadores de avalancha), ambientales y de caja, hasta 100 A
  • IEC 60747-5-6:2016 Dispositivos semiconductores. Parte 5-6: Dispositivos optoelectrónicos. Diodos emisores de luz.
  • IEC 60747-5-6:2021 Dispositivos semiconductores. Parte 5-6: Dispositivos optoelectrónicos. Diodos emisores de luz.
  • IEC 91/928/PAS:2010 Métodos de prueba para placas de circuitos electrónicos para LED de alto brillo.
  • IEC 62341-2-1:2015 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED): Parte 2-1: Clasificaciones y características esenciales de los módulos de pantalla OLED
  • IEC 60747-5-6:2021 RLV Dispositivos semiconductores. Parte 5-6: Dispositivos optoelectrónicos. Diodos emisores de luz.
  • IEC TS 63109:2022 Módulos y células fotovoltaicas (PV): medición del factor de idealidad del diodo mediante análisis cuantitativo de imágenes de electroluminiscencia
  • IEC 62341-6-3:2017/COR1:2019 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos
  • IEC 62341-6-1:2022 RLV Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos
  • IEC 62341-6-1:2017 RLV Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos
  • IEC 62341-6-1:2022 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos
  • IEC 62595-2:2012 Unidad de retroiluminación LCD - Parte 2: Métodos de medición electroóptica de la unidad de retroiluminación LED
  • IEC 62504:2014 Iluminación general - Productos de diodos emisores de luz (LED) y equipos relacionados - Términos y definiciones
  • IEC 62504:2014/AMD1:2018 Iluminación general - Productos de diodos emisores de luz (LED) y equipos relacionados - Términos y definiciones
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  • IEC 62384:2006 Equipo de control electrónico alimentado por CC o CA para módulos LED: requisitos de rendimiento
  • IEC 62384:2011 Equipo de control electrónico alimentado por CC o CA para módulos LED: requisitos de rendimiento
  • IEC TR 60747-5-12:2021 Dispositivos semiconductores - Parte 5-12: Dispositivos optoelectrónicos - Diodos emisores de luz - Método de prueba de eficiencias de LED
  • IEC 62341-6-1:2017 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos
  • IEC 62341-6-1:2009 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) - Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos
  • IEC TS 62972:2016 Iluminación general - Productos de diodos emisores de luz orgánicos (OLED) y equipos relacionados - Términos y definiciones
  • IEC 60747-5-15:2022 Dispositivos semiconductores - Parte 5-15: Dispositivos optoelectrónicos - Diodos emisores de luz - Método de prueba del voltaje de banda plana basado en la espectroscopia de electrorreflectancia
  • IEC 60747-12-3:1998 Dispositivos semiconductores. Parte 12-3: Dispositivos optoelectrónicos. Especificación detallada en blanco para diodos emisores de luz. Aplicación de visualización.
  • IEC 62560:2011 Lámparas LED con balasto automático para servicios de iluminación general para tensión > 50 V - Especificaciones de seguridad
  • IEC 62560:2015 Lámparas LED con balasto automático para servicios de iluminación general para tensión > 50 V - Especificaciones de seguridad
  • IEC 60700-3:2022 Válvulas de tiristor para transmisión de energía en corriente continua de alto voltaje (HVDC) - Parte 3: Clasificaciones esenciales (valores límite) y características
  • IEC 61347-2-13:2014 Equipo de control de lámpara - Parte 2-13: Requisitos particulares para equipos de control electrónicos suministrados con CC o CA para módulos LED
  • IEC 61347-2-13:2006 Equipo de control de lámpara - Parte 2-13: Requisitos particulares para equipos de control electrónicos suministrados con CC o CA para módulos LED
  • IECQ 03-8-2018 Sistema de evaluación de calidad IEC para componentes electrónicos (Sistema IECQ) - Reglas de procedimiento - Parte 8: Esquema IECQ para iluminación LED
  • IEC 60747-5-9:2019 Dispositivos semiconductores - Parte 5-9: Dispositivos optoelectrónicos - Diodos emisores de luz - Método de prueba de la eficiencia cuántica interna basado en la electroluminiscencia dependiente de la temperatura
  • IEC 60747-5-14:2022 Dispositivos semiconductores - Parte 5-14: Dispositivos optoelectrónicos - Diodos emisores de luz - Método de prueba de la temperatura de la superficie basado en el método de termorreflectancia
  • IEC 62149-12:2023 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Estándares de rendimiento. Parte 12: Dispositivo de diodo láser de retroalimentación distribuida para sistemas de radio analógicos sobre fibra.
  • IEC 60747-12-6:1997 Dispositivos semiconductores - Parte 12-6: Dispositivos optoelectrónicos - Especificación detallada en blanco para fotodiodos de avalancha con/sin pigtail, para sistemas o subsistemas de fibra óptica
  • IEC 60747-5-10:2019 Dispositivos semiconductores - Parte 5-10: Dispositivos optoelectrónicos - Diodos emisores de luz - Método de prueba de la eficiencia cuántica interna basado en el punto de referencia de temperatura ambiente
  • IEC 60747-12-2:1995 Dispositivos semiconductores - Parte 12: Dispositivos optoelectrónicos - Sección 2: Especificación detallada en blanco para módulos de diodos láser con pigtail para sistemas y subsistemas de fibra óptica

Professional Standard - Machinery, Fotodiodo clasificado

  • JB/T 5837-1991 Diodos rectificadores con clasificación de caja serie ZP 2000A y superiores
  • JB/T 5186-1991 Fotodiodos de silicio para cámaras.
  • JB/T 5836-1991 Diodos rectificadores de recuperación rápida con clasificación de caja serie ZK 5A y superiores

机械电子工业部, Fotodiodo clasificado

  • JB 5837-1991 Diodos rectificadores clasificados en caja de la serie ZP por encima de 2000A

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Fotodiodo clasificado

  • JIS C 8152-2:2012 Fotometría de diodos emisores de luz blanca para iluminación general. Parte 2: módulos LED y motores de luz LED.
  • JIS C 5990:1997 Reglas generales de fotodiodos para transmisión por fibra óptica.
  • JIS C 8152-2 AMD 1:2014 Fotometría de diodos emisores de luz blanca para iluminación general. Parte 2: módulos LED y motores de luz LED (Enmienda 1).
  • JIS C 8152-1:2012 Fotometría de diodos emisores de luz blanca para iluminación general - Parte 1: Paquetes LED
  • JIS C 5991:1997 Métodos de medición de fotodiodos para transmisión por fibra óptica.
  • JIS C 7036:1985 Métodos de medición para diodos emisores de luz (para indicación)
  • JIS C 62504:2016 Iluminación general - Productos de diodos emisores de luz (LED) y equipos relacionados - Términos y definiciones
  • JIS C 8156:2011 Lámparas LED autobalastadas para servicios de iluminación general para tensión > 50 V -- Especificaciones de seguridad
  • JIS C 8156:2017 Lámparas LED autobalastadas para servicios de iluminación general para tensión > 50 V -- Especificaciones de seguridad

YU-JUS, Fotodiodo clasificado

  • JUS N.R1.372-1979 Diodos semiconductores. Ratios y características esenciales: diodos rectificadores
  • JUS N.R1.375-1980 Diodo semiconductor s. Clasificaciones y características esenciales. Diodos de capacitancia variable
  • JUS N.R1.374-1980 Diodos semiconductores. Calificaciones y características esenciales. Ttmneldiodos
  • JUS N.R1.371-1979 Diodos semiconductores. Clasificaciones y características esenciales: Diodos reguladores de voltaje y de referencia de voltaje.

RU-GOST R, Fotodiodo clasificado

  • GOST R 54814-2018 Diodos emisores de luz y módulos de diodos emisores de luz para aplicaciones generales. Términos y definiciones
  • GOST R 54814-2011 Diodos emisores de luz y módulos de diodos emisores de luz para aplicaciones generales. Términos y definiciones
  • GOST 19656.6-1974 Diodos mezcladores UHF semiconductores. Métodos de medición del factor de ruido general estándar.
  • GOST 18986.4-1973 Diodos semiconductores. Métodos para medir la capacitancia.
  • GOST 18986.6-1973 Diodos semiconductores. Método para medir la carga de recuperación.
  • GOST 18986.0-1974 Diodos semiconductores. Métodos de medida de parámetros eléctricos. Requerimientos generales
  • GOST 21107.10-1978 Dispositivos de descarga de gas. Métodos de medición de parámetros eléctricos de condiciones de operación y medición para tiratrones de descarga luminiscente y rectificadores llenos de gas.
  • GOST 18986.1-1973 Diodos semiconductores. Método para medir la corriente inversa directa.
  • GOST 18986.3-1973 Diodos semiconductores. Método de medición de tensión directa directa y corriente directa directa.
  • GOST R IEC 62384-2011 Equipos de control electrónico alimentados desde fuentes de corriente directa o alternativa para módulos de diodos luminosos. Requisitos de desempeño
  • GOST 21316.6-1975
  • GOST 21316.7-1975
  • GOST 19656.10-1988 Diodos semiconductores de conmutación y limitación de microondas. Métodos de medición de resistencias a pérdidas.
  • GOST R IEC 62560-2011 Lámparas LED autobalastadas para servicios de iluminación general para voltaje 50 V. Especificaciones de seguridad

IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components, Fotodiodo clasificado

  • QC 750101/SU 0004-1990 Especificación detallada para componentes electrónicos Diodos semiconductores@ Clasificación ambiental Designados para circuitos en receptores de TV Diodos de conmutación (Sw)@ Tipo KD805A
  • QC 750101/GB 0001 ISSUE 1-1990 Diodo de conmutación de alta velocidad con clasificación ambiental de silicio en encapsulación de plástico
  • QC 750108/ CN 0010-1992 Especificación detallada para componentes electrónicos Diodo rectificador de silicio con clasificación ambiental para tipo 2CZ305
  • QC 750108/ CN 0008-1992 Especificación detallada para componentes electrónicos Diodo rectificador de silicio con clasificación ambiental para tipo 2CZ317
  • QC 750108/ CN 0006-1992 Especificación detallada para componentes electrónicos Diodo rectificador de silicio con clasificación ambiental para tipo 2CZ312
  • QC 750108/ CN 0007-1992 Especificación detallada para componentes electrónicos Diodo rectificador de silicio con clasificación ambiental para tipo 2CZ313
  • QC 750108/ CN 0005-1992 Especificación detallada para componentes electrónicos Diodo rectificador de silicio con clasificación ambiental para tipo 2CZ308
  • QC 750108/ CN 0009-1992 Especificación detallada para componentes electrónicos Diodo rectificador de silicio con clasificación ambiental para tipo 2CZ318
  • PQC 75-1991 Dispositivos semiconductores - Dispositivos discretos - Diodos rectificadores Especificación detallada en blanco: Diodos rectificadores (incluidos diodos rectificadores de avalancha) a temperatura ambiente y con clasificación de caja a más de 100 A
  • QC 750108/ CN 0002-1991 Especificación detallada para componentes electrónicos Diodo rectificador de silicio con clasificación ambiental para el nivel de evaluación II tipo 2CZ321
  • QC 750108/ CN 0003-1991 Especificación detallada para componentes electrónicos Diodo rectificador de silicio con clasificación ambiental para el nivel de evaluación II tipo 2CZ322
  • QC 750101/SU 0001-1990 Especificación detallada para componentes electrónicos Epitaxia semiconductora de señal: diodos planos con clasificación ambiental para circuitos digitales y de pulso de equipos electrónicos tipo KD5I0A
  • QC 750101/SU 0003-1990 Especificación detallada para componentes electrónicos Epitaxia semiconductora de señal: diodos planos con clasificación ambiental para circuitos digitales y de pulso de equipos electrónicos tipo KD522B
  • QC 750101/SU 0002-1990 Especificación detallada para componentes electrónicos Diodos semiconductores de señal epitaxia planos con clasificación ambiental para circuitos digitales y de pulso de equipos electrónicos tipo KD52IA @ KD52IB
  • QC 750103/ CN 0001-1992 Especificación detallada para componentes electrónicos Transistores bipolares con carcasa nominal para amplificación de baja frecuencia tipo 3DD870
  • QC 750102/ SU 0001-1990 Especificación detallada para componentes electrónicos Transistores bipolares con clasificación ambiental plano epitaxia de alta frecuencia tipo KT3II7A
  • QC 750103-1989 Dispositivos semiconductores Dispositivos discretos Parte 7: Transistores bipolares Sección dos: Especificación detallada en blanco para transistores bipolares con clasificación de caja para amplificación de baja frecuencia (IEC 747-7-2 ED 1)
  • QC 750102/CN 0001-1988 Especificación detallada para componentes electrónicos Transistores bipolares para amplificación de alta frecuencia con clasificación ambiental del tipo 3DG130 Nivel de evaluación II
  • QC 750102/CN 0003-1990 Especificación detallada para componentes electrónicos Transistores bipolares para amplificación de alta frecuencia con clasificación ambiental del tipo 3DG1815 Nivel de evaluación II

Professional Standard - Electron, Fotodiodo clasificado

  • SJ/T 2216-2015 Especificación técnica para fotodiodo de silicio.
  • SJ/T 10055-1991 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: diodo rectificador de silicio con clasificación de caja, tipo 2CZ58
  • SJ/T 10054-1991 Especificación detallada para componentes electrónicos: diodo rectificador de silicio con clasificación de caja para tipo 2CZ57
  • SJ/T 10056-1991 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: diodo rectificador de silicio con clasificación de caja, tipo 2CZ59
  • SJ/T 10057-1991 Especificación detallada para componentes electrónicos: diodo rectificador de silicio con clasificación de caja, tipo 2CZ60
  • SJ/T 2214-2015 Métodos de medición para fotodiodos semiconductores y fototransistores.
  • SJ/T 10058-1991 Especificación detallada para componentes electrónicos. Diodo rectificador de silicio con clasificación ambiental para tipo 2CZ103
  • SJ/T 10060-1991 Especificación detallada para componentes electrónicos. Diodo rectificador de silicio con clasificación ambiental para tipo 2CZ117
  • SJ/T 10059-1991 Especificación detallada para componentes electrónicos. Diodo rectificador de silicio con clasificación ambiental para tipo 2CZ116
  • SJ/T 2354-2015 Métodos de medición para fotodiodos de PIN、APD
  • SJ/T 2354-2015/0352 Métodos de medición para fotodiodos de PIN、APD
  • SJ 2354.1-1983 Procedimientos generales de medición de parámetros eléctricos y ópticos de fotodiodos PIN y de avalancha.
  • SJ 2354.5-1983 Método de medición de capacitancia de fotodiodos PIN y de avalancha.
  • SJ 50033/102-1995 Especificación detallada del fotodiodo PIN InGaAs/InP para el tipo GD 218
  • SJ 2214.10-1982 Método de medición de la corriente luminosa de fotodiodos semiconductores y fototransistores.
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  • SJ 50033/113-1996 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación detallada para fotodiodos tipo GD3252Y.
  • SJ 2354.3-1983 Método de medición de corriente oscura de fotodiodos PIN y de avalancha.
  • SJ 20644.1-2001 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores Especificación detallada para el fotodiodo PIN tipo GD3550Y
  • SJ 20644.2-2001 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores Especificación detallada para el fotodiodo PIN tipo GD101
  • SJ 2354.10-1983 Método de medición del factor de luz cruzada de PIN y matriz de fotodiodos de avalancha.
  • SJ 2354.6-1983 Método de medición de la capacidad de respuesta de PIN y fotodiodos de avalancha.
  • SJ 2354.13-1983 Método de medición del factor de multiplicación de PIN y fotodiodos de avalancha.
  • SJ 2214.3-1982 Método de medición de corriente oscura de fotodiodos semiconductores.
  • SJ 2214.5-1982 Método de medición de la capacitancia de unión de fotodiodos semiconductores.
  • SJ/T 10952-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: diodos rectificadores de silicio con clasificación ambiental 2CZ323 (aplicable para certificación)
  • SJ/T 10950-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: diodos rectificadores de silicio con clasificación ambiental 2CZ322 (aplicable para certificación)
  • SJ/T 10951-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: diodos rectificadores de silicio con clasificación ambiental 2CZ33 (aplicable para certificación)
  • SJ/T 10953-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: diodos rectificadores de silicio con clasificación ambiental 2CZ324Q (aplicable para certificación)
  • SJ/T 10949-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: diodos rectificadores de silicio con clasificación ambiental 2CZ321 (aplicable para certificación)
  • SJ/T 11403-2009 Módulos de diodos láser utilizados para telecomunicaciones. Evaluación de confiabilidad.
  • SJ 2354.4-1983 Método de medición de la caída de tensión directa de PIN y fotodiodos de avalancha
  • SJ 2354.2-1983 Método de medición de la tensión de ruptura inversa de fotodiodos PIN y de avalancha
  • SJ 50033/136-1997 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación detallada para el diodo emisor de luz roja para el tipo GF116.
  • SJ 50033/143-1999 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación detallada para el diodo emisor rojo tipo GF1120.
  • SJ 50033/137-1997 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación detallada para el diodo emisor de luz naranja-rojo para el tipo GF216
  • SJ 50033/139-1998 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación detallada para el diodo emisor de luz verde para el tipo GF4111.
  • SJ 50033/138-1998 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación detallada para el diodo emisor de luz amarillo para el tipo GF318.
  • SJ 50033/58-1995 Dispositivo optoelectrónico semiconductor Especificación detallada para diodo emisor de luz verde para tipo GF413
  • SJ/T 11393-2009 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores: especificación detallada en blanco para diodos emisores de luz de potencia
  • SJ 50033/142-1999 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación detallada para el diodo emisor verde tipo GF4112.
  • SJ 50033/57-1995 Dispositivo optoelectrónico semiconductor Especificación detallada para diodo emisor de luz roja para tipo GF115
  • SJ/Z 9171-1995 Especificaciones para la determinación de LED verdes de φ3 mm utilizados para VCR
  • SJ 2354.14-1983 Método de medición del factor de exceso de ruido de PIN y fotodiodos de avalancha.
  • SJ 2215.6-1982 Método de medición de la capacitancia de unión de fotoacopladores semiconductores (diodos)
  • SJ/T 11866-2022 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores: especificaciones detalladas para diodos emisores de luz de potencia de luz blanca con sustrato de silicio
  • SJ/T 11400-2009 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores: especificación detallada en blanco para diodos emisores de luz de menor potencia
  • SJ 2138-1982 Métodos de medición de la corriente regulada de diodos reguladores de corriente de silicio.
  • SJ 2354.11-1983 Método de medición del ancho de la zona ciega del PIN y de la matriz de fotodiodos de avalancha
  • SJ 2215.3-1982 Método de medición de la corriente directa de fotoacopladores semiconductores (diodos)
  • SJ 2214.4-1982 Método de medición de la tensión de ruptura inversa de fotodiodos semiconductores.
  • SJ 2215.4-1982 Método de medición de corriente inversa de fotoacopladores semiconductores (diodos)
  • SJ 2354.9-1983 Método de medición de la potencia equivalente de ruido de fotodiodos PIN y de avalancha
  • SJ 50033/99-1995 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación detallada para diodo emisor de luz de doble color o/G para tipo GF511
  • SJ 20642.7-2000 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores Especificación detallada para el módulo de diodo emisor de luz tipo GR1325J
  • SJ/T 11817-2022 Especificaciones detalladas en blanco para diodos emisores de luz para dispositivos optoelectrónicos semiconductores y lámparas de incandescencia.
  • SJ 2354.7-1983 Método de medición de la curva de respuesta espectral y el rango de respuesta espectral de fotodiodos PIN y de avalancha
  • SJ 2354.12-1983 Método de medición del factor de temperatura del voltaje de ruptura inverso de PIN y fotodiodos de avalancha
  • SJ 50033/109-1996 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación detallada para los diodos láser semiconductores tipos GJ9031T, GJ9032T y GJ9034T.
  • SJ 2354.8-1983 Método de medición del tiempo de subida y bajada del pulso de fotodiodos PIN y de avalancha
  • SJ 50033/110-1996 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación detallada para el diodo emisor de luz infrarroja tipo GR9413.
  • SJ 2215.5-1982 Método de medición de la tensión de ruptura inversa de fotoacopladores semiconductores (diodos)
  • SJ 53930/1-2002 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores Especificación detallada para el diodo emisor de infrarrojos tipo GR8813
  • SJ 2658.4-1986 Métodos de medición de diodos infrarrojos semiconductores Métodos de medición de capacitancia
  • SJ 2672.7-1986 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 175 MHz con clasificación de caja, tipo 3DA307
  • SJ/T 10947-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: diodos emisores de luz verde semiconductores FG341052 y FG343053
  • SJ 2658.3-1986 Métodos de medición de diodos infrarrojos semiconductores Métodos de medición de tensión invertida
  • SJ 2672.2-1986 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 175 Mhz, tipo 3DA302
  • SJ 2672.3-1986 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 175 MHz, tipo 3DA303
  • SJ 2672.4-1986 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 175 MHz, tipo 3DA304
  • SJ 2672.5-1986 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 175 MHz, tipo 3DA305
  • SJ 2672.6-1986 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 175 MHz, tipo 3DA306
  • SJ 2672.8-1986 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 175 MHz, tipo 3DA308
  • SJ 2672.9-1986 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 175 MHz con clasificación de caja, tipo 3DA309
  • SJ 2673.1-1986 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 470 MHz, tipo 3DA311
  • SJ 2673.2-1986 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 470 MHz, tipo 3DA312
  • SJ 2673.3-1986 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 470 MHz, tipo 3DA313
  • SJ 2673.4-1986 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 470 MHz, tipo 3DA314
  • SJ 2673.5-1986 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 470 MHz, tipo 3DA315
  • SJ 2673.6-1986 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores bipolares de bajo voltaje de 470 MHz, tipo 3DA316
  • SJ 2672.1-1986 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores de potencia bipolares de bajo voltaje de 175 MHz, tipo 3DA301
  • SJ/T 2658.16-2016 Método de medición para diodos semiconductores emisores de infrarrojos. Parte 16: Eficiencia de conversión fotoeléctrica.
  • SJ/T 10948-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: diodos emisores de luz roja semiconductores FG313052, FG314053, FG313054 y FG314055
  • SJ 3124-1988 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: transistores bipolares de carcasa para amplificación de baja frecuencia NPN de silicio, tipo 3DD1942
  • SJ 3125-1988 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: transistores bipolares de carcasa para amplificación de baja frecuencia NPN de silicio, tipo 3DD2027
  • SJ 3126-1988 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: transistores bipolares de carcasa para amplificación de baja frecuencia NPN de silicio, tipo 3DD869
  • SJ 3127-1988 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: transistores bipolares de carcasa para amplificación de baja frecuencia NPN de silicio, tipo 3DD871
  • SJ 3128-1988 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: transistores bipolares de carcasa para amplificación de baja frecuencia NPN de silicio, tipo 3DD820
  • SJ 3123-1988 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores bipolares con clasificación ambiental para amplificación de alta frecuencia, tipo 3DG1779
  • SJ 2658.5-1986 Métodos de medición de diodos infrarrojos semiconductores Métodos de medición de resistencia en serie directa
  • SJ/T 10049-1991 Especificación detallada para componentes electrónicos. Transistor bipolar con clasificación de caja para amplificación de alta frecuencia NPN de silicio para tipo 3DA1162
  • SJ/T 10050-1991 Especificación detallada para componentes electrónicos. Transistor bipolar con clasificación de caja para amplificación de alta frecuencia NPN de silicio para tipo 3DA1722
  • SJ/T 10051-1991 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos. Transistor bipolar con carcasa nominal para amplificación de alta frecuencia NPN de silicio para tipo 3DA 2688
  • SJ/T 10052-1991 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos. Transistor bipolar con carcasa nominal para amplificación de baja frecuencia de silicio PNP para tipo 3CD 507
  • SJ 3120-1988 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores bipolares con clasificación ambiental para amplificación de alta frecuencia, tipo 3DG1215
  • SJ 3121-1988 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores bipolares con clasificación ambiental para amplificación de alta frecuencia, tipo 3DG2464
  • SJ 3122-1988 Especificación detallada para componentes electrónicos: transistores bipolares con clasificación ambiental para amplificación de alta frecuencia, tipo 3DG3177
  • SJ/T 10959-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: tiristores de triodo de avalancha con clasificación de caja 3CT320 (aplicable para certificación)
  • SJ/T 10053-1991 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos. Transistor bipolar con carcasa nominal para amplificación de baja frecuencia NPN de silicio para tipo 3DD 313
  • SJ/T 10886-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos - Transistores bipolares 3DD201 para caja de amplificación de baja frecuencia (Aplicable para certificación)
  • SJ/T 10885-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos -Transistores bipolares 3DA150B y 3DA150C para caja de amplificación de alta frecuencia (Aplicable para certificación)
  • SJ/T 10958-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: tiristores de triodo de bloqueo inverso con clasificación de caja 3CT320 (aplicable para certificación)
  • SJ/T 10887-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos -Transistores bipolares 3DD102B para caja de amplificación de baja frecuencia (Aplicable para certificación)
  • SJ/T 10973-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: transistores bipolares 3DD200 para caja de amplificación de baja frecuencia NPN de silicio (aplicable para certificación)
  • SJ/T 10955-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: transistores bipolares de clasificación ambiental 3DG107 para amplificación de baja y alta frecuencia (aplicable para certificación)
  • SJ/T 11052-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: transistores bipolares de clasificación ambiental 3DG162 para amplificación de baja y alta frecuencia (aplicable para certificación)
  • SJ/T 11054-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: transistores bipolares de clasificación ambiental 3DG140 para amplificación de baja y alta frecuencia (aplicable para certificación)
  • SJ/T 11053-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: transistores bipolares de clasificación ambiental 3DG182 para amplificación de baja y alta frecuencia (aplicable para certificación)
  • SJ/T 11060-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: transistores bipolares de clasificación ambiental 3DG3130 para amplificación de baja y alta frecuencia (aplicable para certificación)
  • SJ/T 10833-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: transistores bipolares de clasificación ambiental 3DG80 para amplificación de baja y alta frecuencia (aplicable para certificación)
  • SJ/T 10772-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: transistores bipolares de clasificación ambiental 3DG201C para amplificación de baja y alta frecuencia (aplicable para certificación)
  • SJ/T 10837-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: transistores bipolares de clasificación ambiental 3DG131A, 3DG131B y 3DG131C para amplificación de alta frecuencia (aplicable para certificación)
  • SJ/T 10770-1996 Especificaciones detalladas para componentes electrónicos: transistores bipolares con clasificación ambiental 3DG130A-3DG130D para amplificación de baja y alta frecuencia (aplicable para certificación)

CZ-CSN, Fotodiodo clasificado

  • CSN 35 8761-1973
  • CSN 35 8762-1973 Dispositivos semiconductores. Fotodiodos fototransistores. Medición de corriente oscura.
  • CSN IEC 747-2-1:1993 Dispositivos semiconductores. Dispositivos diskretos. Parte 2: Diodos rectificadores. Sección 1: Especificación detallada en blanco para diodos rectificadores (incluidos diodos de avalancha), ambientales y de caja, hasta 100 A
  • CSN 35 8585 Cast.3-1987 Tubos de imagen de televisión en color. Métodos de medición de la luminancia de una pantalla de luz blanca y determinación de la relación de corrientes anódicas con luz blanca.

Professional Standard - Post and Telecommunication, Fotodiodo clasificado

邮电部, Fotodiodo clasificado

IN-BIS, Fotodiodo clasificado

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  • IS 3700 Pt.9-1972 CLASIFICACIONES Y CARACTERÍSTICAS ESENCIALES PARA DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES PARTE Ⅸ DIODOS DE CAPACITANCIA VARIABLE
  • IS 3700 Pt.8-1970 CLASIFICACIONES Y CARACTERÍSTICAS ESENCIALES DE LOS DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES PARTE Ⅷ REGULADOR DE TENSIÓN Y DIODOS DE REFERENCIA DE TENSIÓN

工业和信息化部, Fotodiodo clasificado

  • SJ/T 11461.2-2016 Dispositivos de visualización de diodos emisores de luz orgánicos, parte 2: clasificaciones y características básicas

Group Standards of the People's Republic of China, Fotodiodo clasificado

  • T/COEMA 004LCD-2022 Película polarizadora para pantalla de TV con diodos emisores de luz orgánicos.
  • T/CVIA 59-2016 Métodos de medición de TV con diodos orgánicos emisores de luz (OLED)
  • T/CVIA 11-2016 Métodos de medición de TV con diodos orgánicos emisores de luz (OLED)
  • T/CVIA 58-2016 Requisitos técnicos generales para televisores con diodos emisores de luz orgánicos (OLED)
  • T/CVIA 10-2016 Requisitos técnicos generales para televisores con diodos emisores de luz orgánicos (OLED)
  • T/CSA 048-2019 Medición de características eléctricas y fotométricas para LED de iluminación general bajo diferentes corrientes/temperaturas

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Fotodiodo clasificado

  • GB/T 16894-1997 Especificación detallada en blanco para diodos rectificadores (incluidos diodos rectificadores de avalancha), ambientales y de caja, para corrientes superiores a 100 A
  • GB/T 23729-2009 Fotodiodos para detectores de centelleo. Procedimientos de prueba
  • GB/T 6351-1998 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. Parte 2: Diodos rectificadores. Sección uno: Especificación detallada en blanco para diodos rectificadores (incluidos diodos rectificadores de avalancha), ambientales y de caja, hasta 100 A.
  • GB/T 15651.6-2023 Dispositivos semiconductores Parte 5-6: Dispositivos optoelectrónicos Diodos emisores de luz
  • GB/T 42243-2022 Especificaciones técnicas generales para televisores con diodos emisores de luz orgánicos (OLED)
  • GB/T 36359-2018 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación detallada en blanco para diodos emisores de luz de menor potencia
  • GB/T 36360-2018 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores. Especificación detallada en blanco para diodos emisores de luz de potencia media
  • GB/T 20871.61-2013 Pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED). Parte 6-1: Métodos de medición de parámetros ópticos y electroópticos.
  • GB/T 18904.3-2002 Dispositivos semiconductores. Parte 12-3: Dispositivos optoelectrónicos. Especificación detallada en blanco para diodos emisores de luz. Aplicación de visualización.
  • GB 9520-1988 Especificación detallada para componentes electrónicos Transistores bipolares clasificados con caja amplificadora de baja frecuencia NPN de silicio tipo 3DD200 (disponibles para certificación)
  • GB/T 18904.5-2003 Dispositivos semiconductores Parte 12-5: Dispositivos optoelectrónicos Especificación detallada en blanco para fotodiodos pin con/sin pigtail para sistemas o subsistemas de fibra óptica
  • GB/T 6590-1998 Dispositivos semiconductores Dispositivos discretos Parte 6: Tiristores Sección dos Especificación detallada en blanco para tiristores de triodo bidireccionales (triacs), ambientales o de caja, hasta 100 A
  • GB/T 13150-2005 Dispositivos semiconductores-Dispositivos discretos-Especificación detallada en blanco para tiristores triodos bidireccionales (triacs), ambientales y de caja, para corrientes superiores a 100 A
  • GB/T 18904.2-2002 Dispositivos semiconductores-Parte 12-2: Dispositivos optoelectrónicos-Especificación detallada en blanco para módulos de diodos láser con pigtail para sistemas o subsistemas de fibra óptica

PT-IPQ, Fotodiodo clasificado

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NEMA - National Electrical Manufacturers Association, Fotodiodo clasificado

  • NEMA C78.51-2016 Lámparas eléctricas - Lámparas LED (diodo emisor de luz) - Método de designación
  • NEMA C78.52-2017 Lámparas eléctricas - Lámparas de reemplazo directo LED (diodo emisor de luz) - Método de designación

RO-ASRO, Fotodiodo clasificado

  • STAS 12258/2-1984 Dispositivos semiconductores optoelectrónicos PIIOTODIODES Terminología y características esenciales
  • STAS 12258/4-1986 Dispositivos semiconductores optoelectrónicos DIODOS EMISORES DE LUZ Terminología y características principales
  • STAS 12258/6-1987 DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES OPTOELECTRÓNICOS DIODOS EMM1TING INFRARROJOS Terminología y características esenciales

PL-PKN, Fotodiodo clasificado

TH-TISI, Fotodiodo clasificado

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Defense Logistics Agency, Fotodiodo clasificado

  • DLA MIL-DTL-3976/1 B-2007 DIODO EMISOR DE LUZ (LED), LIQUIDACIÓN DE MARCADORES-BLACKOUT, 14 Y 28 VOLTIOS
  • DLA DSCC-DWG-94030 REV B-2001 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, DISPOSITIVO DE DIODOS SUPRESORES DE TRANSITORIA UNIDIRECCIONAL
  • DLA MIL-DTL-28803/1 E-2013 PANTALLA, OPTOELECTRÓNICA, LECTURA SEGMENTADA, RETROILUMINADA, ESTILO II (DIODO EMISOR DE LUZ), PROTECCIÓN RFI, SELLADO CONTRA HUMEDAD, CHOQUE DE ALTO IMPACTO, TIPO R01

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Fotodiodo clasificado

  • GB/T 36358-2018 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores: especificación detallada en blanco para diodos emisores de luz de potencia.
  • GB/T 37946-2019 Método de prueba de estabilidad térmica de materiales para pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED)
  • GB/T 37949-2019 Método de prueba de pureza de materiales de moléculas pequeñas aplicados en pantallas de diodos emisores de luz orgánicos (OLED): cromatografía líquida de alto rendimiento (HPLC)

IEC - International Electrotechnical Commission, Fotodiodo clasificado

  • TS 62916-2017 Módulos fotovoltaicos: prueba de susceptibilidad a descargas electrostáticas de diodos de derivación (Edición 1.0)

American Society for Testing and Materials (ASTM), Fotodiodo clasificado

  • ASTM C1307-21 Método de prueba estándar para el ensayo de plutonio mediante espectrofotometría de matriz de diodos de plutonio (III)
  • ASTM C1307-15 Método de prueba estándar para el ensayo de plutonio mediante espectrofotometría de matriz de diodos de plutonio (III)
  • ASTM D7904-15 Método de prueba estándar para la determinación de vapor de agua (concentración de humedad) en gas natural mediante espectroscopia láser de diodo sintonizable (TDLAS)
  • ASTM D7904-21 Método de prueba estándar para la determinación de vapor de agua (concentración de humedad) en gas natural mediante espectroscopia láser de diodo sintonizable (TDLAS)
  • ASTM F3095-17 Práctica estándar para tecnologías láser para la medición directa de la forma de la sección transversal de tuberías y conductos mediante diodos láser giratorios y sistemas de cámaras CCTV
  • ASTM D8488-22 Método de prueba estándar para la determinación de sulfuro de hidrógeno (H2S) en gas natural mediante espectroscopia láser de diodo sintonizable (TDLAS)
  • ASTM F3095-14 Práctica estándar para tecnologías láser para la medición directa de la forma de la sección transversal de tuberías y conductos mediante diodos láser giratorios y sistemas de cámaras CCTV
  • ASTM F3095-17a Práctica estándar para tecnologías láser para la medición directa de la forma de la sección transversal de tuberías y conductos mediante diodos láser giratorios y sistemas de cámaras CCTV
  • ASTM F3095-17a(2022) Práctica estándar para tecnologías láser para la medición directa de la forma de la sección transversal de tuberías y conductos mediante diodos láser giratorios y sistemas de cámaras CCTV

未注明发布机构, Fotodiodo clasificado

  • BS EN 150008:1993(1999) Especificación para el sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Especificación detallada en blanco. Diodos rectificadores con clasificación ambiental.
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  • BS EN 120008:1995(2000) Especificación para el sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Especificación detallada en blanco. Diodos emisores de luz y diodos emisores de infrarrojos para sistemas o subsistemas de fibra óptica.
  • BS EN 120006:1993(1999) Especificación para el sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos. Especificación detallada en blanco. Pin - fotodiodos para aplicaciones de fibra óptica.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Fotodiodo clasificado

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