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额定光电二极管

本专题涉及额定光电二极管的标准有448条。

国际标准分类中,额定光电二极管涉及到光电子学、激光设备、半导体分立器件、电子显示器件、词汇、电灯及有关装置、整流器、转换器、稳压电源、电子元器件综合、光纤通信、印制电路和印制电路板、音频、视频和视听工程、电视播放和无线电广播、核能工程、太阳能工程、小型船、电子管、牙科、天然气、电工器件、电工和电子试验、电池和蓄电池、陶瓷。

在中国标准分类中,额定光电二极管涉及到半导体发光器件、半导体二极管、半导体光敏器件、电力半导体器件、部件、电气照明综合、、电光源产品、电子测量与仪器综合、照相机与照相器具、半导体整流器件、基础标准与通用方法、光通信设备、印制电路、其他、光电子器件综合、核探测器、太阳能、小型船总体、半导体分立器件综合、激光器件、广播、电视发送与接收设备、微波、毫米波二、三极管、录制设备、电子元件综合、标准化、质量管理、特殊灯具、电子技术专用材料、灯具附件、低压电器综合、核仪器与核探测器综合、蓄电能装置、半导体三极管。


行业标准-兵工民品,关于额定光电二极管的标准

ES-UNE,关于额定光电二极管的标准

  • UNE-EN 120005:1992 BDS:光电二极管、光电二极管阵列(不适用于光纤应用)。
  • UNE-EN 120001:1992 BDS:发光二极管、发光二极管阵列、没有内部逻辑和电阻的发光二极管显示器
  • UNE-EN 120006:1992 BDS:用于光纤应用的 PIN 光电二极管
  • UNE-EN 120004:1992 BDS:具有光电晶体管输出的环境额定光电耦合器
  • UNE-EN 62504:2015/A1:2018 普通照明 发光二极管(LED)产品和相关设备 术语和定义
  • UNE-EN IEC 60700-3:2023 用于高压直流(HVDC)输电的晶闸管阀 第3部分:基本额定值(极限值)和特性
  • UNE-EN IEC 62149-12:2023 光纤有源元件和器件 性能标准 第12部分:用于光纤模拟无线电系统的分布式反馈激光二极管器件

德国标准化学会,关于额定光电二极管的标准

  • DIN EN 120005:1996 空白详细规范:光电二极管,光电二极管阵列(非光纤用)
  • DIN EN 120005:1996-11 空白详细规范 - 光电二极管、光电二极管阵列(不适用于光纤应用)
  • DIN EN 120001:1993-06 空白详细规范:发光二极管、发光二极管阵列、不带内部逻辑和电阻的发光二极管显示器
  • DIN EN 120001:1993 空白详细规范.发光二极管、发光二极管阵列和没有内逻辑部件和电阻的发光二极管显示器
  • DIN IEC 62088:2002-09 核仪器 闪烁探测器光电二极管 测试程序
  • DIN EN 62341-6-1:2011-07 有机发光二极管(OLED)显示器 第6-1部分:光学和电光参数的测量方法
  • DIN EN 62504:2018-11 普通照明 发光二极管(LED)产品和相关设备 术语和定义
  • DIN EN 62384:2007 发光二极管模块的直流或交流电源电子控制装置.性能要求
  • DIN 49406-2:1989 额定功率为直流10A.250V和交流16A.250V、 II类电器用防溅型二极插头
  • DIN IEC 62088:2002 核仪表设备.闪烁检测器用光电二极管.试验程序 (IEC 62088:2001)
  • DIN EN 120004:1997-02 空白详细规格:具有光电晶体管输出的环境额定光电耦合器
  • DIN 40742:1999 铅酸蓄电池.带管形正极板的固定稳定蓄电池和固定电解质.额定电容.主要尺寸和重量
  • DIN EN 62384:2010 发光二极管(LED)模块的直流(DC)或交流(AC)电源电子控制装置.性能要求
  • DIN 40736-1:1992 铅蓄电池.带有管状正极板的固定电池.塑料容器电池.额定容量、主要尺寸、重量
  • DIN 40736-2:1992 酸铅蓄电池.带有管状正极板的固定电池.硬橡胶容器电池.额定容量、主要尺寸、重量
  • DIN EN 61347-2-13:2007 灯控装置.第2-13部分:发光二极管交直流供电控制设备的特殊要求
  • DIN EN 62595-2:2013 液晶显示屏(LCD)背光模块.第2部分:发光二极管(LED)背光模块电光测量方法(IEC 62595-2-2012).德文版本EN 62595-2-2013
  • DIN EN 62341-6-1:2011 有机发光二极管显示器.第6-1部分:光学和光电参数的测量方法(IEC 62341-6-1-2009);德文版本EN 62341-6-1-2011
  • DIN EN 62504:2015 通用照明. 发光二极管 (LED) 产品及相关设备. 术语和定义 (IEC 62504-2014); 德文版本EN 62504-2014
  • DIN 40744:1999 铅酸蓄电池.装在塑料整体容器内的带管形正极板的固定稳定蓄电池和固定电解质.额定容量.主要尺寸和重量

欧洲电工电子元器件标准,关于额定光电二极管的标准

(美国)固态技术协会,隶属EIA,关于额定光电二极管的标准

  • JEDEC JESD211-2009 齐纳二极管和稳压二极管额定值验证和特性测试
  • JEDEC JESD51-51-2012 用于测量带暴露冷却的发光二极管的实际热阻和阻抗的电气测试方法的实施
  • JEDEC JESD4-1983 晶体闸流管和整流二极管的分离半导体封装的外部清洁度和漏电距离的定义

法国标准化协会,关于额定光电二极管的标准

韩国科技标准局,关于额定光电二极管的标准

  • KS C 7103-2005(2020) 有机发光二极管(OLED)显示器基本额定值和特性
  • KS C 7103-2005 有机发光二极管(OLED)显示器的基本额定值和特性
  • KS C 6990-2001 光传输用光电二极管通则
  • KS C 6905-2001 光电传输用激光二极管通则
  • KS C 6991-2001 光传输用光电二极管试验法
  • KS C 6906-2001 光电传输用激光二极管试验法
  • KS C 6990-2013 光纤传输光电二极管的一般规则
  • KS C 6991-2013 光纤传输光电二极管的测试方法
  • KS C 7121-1990 发光二极管(显示用)测定方法
  • KS C 6990-2001(2011) 一种用于光传输的公理光电二极管
  • KS C 6991-2001(2011) 用于光传输的测试方法所述的光电二极管
  • KS C IEC 60747-2-2-2006(2021) 半导体器件分立器件第2部分:整流二极管第2节:额定环境和外壳电流大于100A的整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范
  • KS C IEC 60747-2-2-2006(2016) 半导体器件分立器件第2部分:整流二极管第2节:额定环境和外壳电流大于100A的整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范
  • KS C IEC 60747-2-1-2006(2016) 半导体器件分立器件第2部分:整流二极管第一节:100A及以下环境和外壳额定整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范
  • KS C IEC 60747-2-1-2006(2021) 半导体器件分立器件第2部分:整流二极管第一节:100 A以下环境和外壳额定整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范
  • KS P ISO 10650-2-2009(2014) 牙科供电聚合活化剂 - 第2部分:发光二极管(LED)灯
  • KS C IEC 62341-6-1:2020 有机发光二极管(Oled)显示器 - 第6-1部分:光学和电光参数测量方法
  • KS C IEC 62504:2020 通用照明 - 发光二极管(LED)产品及相关设备 - 术语和定义
  • KS C IEC 62384:2011 发光二极管模块的直流或交流电源电子控制装置.性能要求
  • KS C IEC 60747-7-2-2006(2021) 半导体器件分立器件第7部分:双极晶体管第二节:低频放大用外壳额定双极晶体管空白详细规范
  • KS C IEC 62341-6:2007 有机发光二极管(OLED)显示器.第6-1部分:光学参数及光电学参数的测量方法
  • KS C IEC TS 62972:2018 通用照明 - 有机发光二极管(Oled)产品及相关设备 - 术语和定义
  • KS C IEC 60747-2-2:2006 半导体器件.分立器件.第2部分:整流二极管.第1节:电流在100A以上具有规定环境和外壳的整流二极管(包括雪崩式整流二极管)的空白详细规范
  • KS C IEC 60747-2-1:2006 半导体器件.分立器件.第2部分:整流二极管.第1节:电流在100A以下具有规定环境和外壳的整流二极管(包括雪崩式整流二极管)的空白详细规范
  • KS C IEC 61347-2-13:2011 灯控制装置.第2-13部分:发光二极管交直流供电控制设施的特殊要求
  • KS C IEC 60747-6-2-2006(2021) 半导体器件分立器件第6部分:晶闸管第二节:100A以下环境或外壳额定双向三极晶闸管空白详细规范
  • KS C IEC 60747-6-2-2006(2016) 半导体器件分立器件第6部分:晶闸管第二节:100A及以下环境或外壳额定双向三极晶闸管空白详细规范

SE-SIS,关于额定光电二极管的标准

立陶宛标准局,关于额定光电二极管的标准

  • LST EN 120005-2001 空白详细规范 光电二极管、光电二极管阵列(不适用于光纤应用)
  • LST EN 120001-2001 空白详细规范 发光二极管、发光二极管阵列、无内部逻辑和电阻的发光二极管显示器
  • LST EN 120004-2001 空白详细规范 具有光电晶体管输出的环境额定光电耦合器
  • LST EN 62341-6-1-2011 有机发光二极管(OLED)显示器 第6-1部分:光学和光电参数的测量方法(IEC 62341-6-1:2009)

英国标准学会,关于额定光电二极管的标准

  • BS IEC 60747-5-8:2019 半导体器件 光电器件 发光二极管 发光二极管光电效率的测试方法
  • BS EN 120005:1986 电子元器件质量评定协调系统.空白详细规范.光电二极管、光电二极管阵列(非光纤用)
  • BS EN 120001:1991 电子元器件质量评定协调体系.空白详细规范.发光二极管,发光二极管阵列,无内逻辑部件和电阻的发光二极管显示器
  • BS IEC 60747-5-16:2023 半导体器件-光电器件 发光二极管 基于光电流谱的GaN基发光二极管平带电压测试方法
  • BS IEC 60747-5-11:2019 半导体器件 光电器件 发光二极管 发光二极管辐射和非辐射电流的测试方法
  • BS EN 120001:1993 电子元件质量评估协调制度 空白详细规范 发光二极管、发光二极管阵列、无内部逻辑和电阻的发光二极管显示器
  • BS QC 750109:1993 电子元件质量评估协调制度规范。空白详细规范。整流二极管(包括雪崩整流二极管),环境额定值和外壳额定值,电流大于 100 A
  • 18/30367363 DC BS IEC 60747-5-8 半导体器件 第5-8部分 光电器件 发光二极管 发光二极管光电效率的测试方法
  • BS EN 120005:1993 电子元件质量评估协调制度规范 空白详细规范 光电二极管、光电二极管阵列(不适用于光纤应用)
  • BS PD IEC/TS 62916:2017 光伏模组. 旁路二极管静电放电敏感试验
  • 18/30388245 DC BS EN IEC 60747-5-11 半导体器件 第5-11部分 光电器件 发光二极管 发光二极管辐射和非辐射电流的测试方法
  • BS EN ISO 19009:2015 小艇. 电力导航灯. 发光二极管灯的性能
  • PD IEC/TS 62916:2017 光伏组件 旁路二极管静电放电敏感性测试
  • BS EN 120002:1993 电子元件质量评估协调制度规范 空白详细规格:红外发光二极管、红外发光二极管阵列
  • BS CECC 50008:1992 电子元器件质量评定协调体系.空白详细规范:额定环境的整流二极管
  • PD IEC TS 63109:2022 光伏(PV)模块和电池 通过电致发光图像定量分析测量二极管理想因子
  • BS EN 62341-6-1:2011 有机发光二极管(OLED)显示器.光学和光电参数的测量方法
  • PD IEC TR 60747-5-12:2021 半导体器件 光电器件 发光二极管 LED效率测试方法
  • BS CECC 50009:1992 电子元器件质量评定协调体系.空白详细规范:额定外壳温度的整流二极管
  • BS E9375:1975 电子元器件质量评定协调体系规范.空白详细规范:除精密电压温度补偿基准二极管之外的调压二极管和电压基准二极管
  • BS IEC 60747-5-15:2022 半导体器件-光电器件 发光二极管 基于电反射光谱的平带电压测试方法
  • BS CECC 50008:1982 电子元器件质量评定协调体系规范.空白详细规范:额定环境温度的整流二极管
  • BS CECC 50009:1982 电子元器件质量评定协调体系规范.空白详细规范:额定外壳温度的整流二极管
  • 19/30392174 DC BS EN 60747-5-6 半导体器件 第5-6部分 光电器件 发光二极管
  • 13/30286043 DC BS EN 62341-2-1 有机发光二极管(OLED)显示器 第2-1部分 OLED 显示模块的基本额定值和特性
  • BS EN 62384:2006 发光二极管模块的交直流电源电子控制装置.性能要求
  • BS EN 62504:2014 通用照明. 发光二极管 (LED) 产品及相关设备. 术语和定义
  • BS EN 62504:2014+A1:2018 一般照明 发光二极管(LED)产品及相关设备 术语和定义
  • BS IEC 60747-5-9:2019 半导体器件 光电器件 发光二极管 基于温变电致发光的内量子效率测试方法
  • BS EN 61347-2-13:2006 灯控装置.发光二极管交直流供电控制装置的详细要求
  • BS EN 61347-2-13:2014 灯控装置.发光二极管交直流供电控制装置的详细要求
  • BS EN 62384:2006+A1:2009 发光二极管(LED)模块的交流或直流供电电子控制装置.性能要求
  • BS PD IEC/TS 62972:2016 普通照明. 有机发光二极管 (OLED) 产品及相关设备. 术语和定义
  • PD IEC/TS 62972:2016 一般照明 有机发光二极管(OLED)产品及相关设备 术语和定义
  • 14/30313209 DC BS EN 62341-6-1 有机发光二极管(OLED)显示器 第6-1部分 光学和电光参数的测量方法
  • 23/30475452 DC BS EN IEC 62341-6-1 有机发光二极管 (OLED) 显示器 第 6-1 部分 光学和电光参数的测量方法
  • 20/30430108 DC BS EN IEC 62341-6-1 有机发光二极管(OLED)显示器 第6-1部分 光学和电光参数的测量方法
  • 21/30440970 DC BS EN IEC 60747-5-16 半导体器件 第 5-16 部分 光电器件 发光二极管 基于光电流谱的平带电压测试方法
  • 20/30422995 DC BS EN IEC 60747-5-15 半导体器件 第5-15部分 光电器件 发光二极管 基于电反射光谱的平带电压测试方法
  • 23/30433255 DC BS EN ISO 2612 天然气分析 生物甲烷 可调谐二极管激光吸收光谱法测定氨含量
  • BS IEC 60747-5-10:2019 半导体器件 光电器件 发光二极管 基于室温参考点的内量子效率测试方法
  • BS EN 62560:2012 电压>50 V的普通照明服务用自镇流发光二极管(LED)灯.安全性规范
  • BS EN 62341-6-2:2012 有机电致发光二极管(OLED)显示器.视觉质量和环境性能的测量方法
  • BS EN IEC 62149-12:2023 光纤有源元件和装置 性能标准 用于光纤模拟无线电系统的分布式反馈激光二极管器件
  • 18/30367367 DC BS IEC 60747-5-62 半导体器件 第5-9部分 光电器件 发光二极管 基于温变电致发光的内量子效率测试方法
  • BS ISO 23946:2020 精细陶瓷(高级陶瓷、高级技术陶瓷) 用荧光分光光度计测定白色发光二极管用陶瓷磷光体光学性能的试验方法
  • BS EN 150014:1997 电子元器件质量评定协调体系.空白详细规范:防瞬时过电压闸流二极管
  • BS EN 150014:1995 电子元器件质量评定协调体系 空白详细规范:防瞬时过电压闸流二极管
  • 18/30367371 DC BS IEC 60747-5-63 半导体器件 第5-10部分 光电器件 发光二极管 室温参考点内量子效率的测试方法

国际电工委员会,关于额定光电二极管的标准

  • IEC TS 62504:2011 普通照明.发光二极管和发光二极管模块.术语和定义
  • IEC 60747-5-8:2019 半导体器件第5-8部分:光电子器件发光二极管发光二极管光电效率试验方法
  • IEC 91/926/PAS:2010 高亮度发光二极管电路板
  • IEC 60747-5-7:2016 半导体设备. 第5-7部分: 光电设备. 光电二极管和光电晶体管
  • IEC 60747-5-16:2023 半导体器件.第5-16部分:光电子器件.发光二极管.基于光电流光谱的GaN基发光二极管的平带电压的试验方法
  • IEC 60747-5-11:2019 半导体器件第5-11部分:光电子器件发光二极管发光二极管辐射电流和非辐射电流的试验方法
  • IEC TS 62916:2017 光伏模组. 旁路二极管静电放电敏感试验
  • IEC 60747-2-2:1993 半导体器件 分立器件 第2部分:整流二极管 第1节:电流在100A以上环境和外壳额定的整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范
  • IEC 60747-2-1:1989 半导体器件 分立器件 第2部分:整流二极管 第1节:电流在100A以下环境和外壳额定的整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范
  • IEC 60747-5-6:2016 半导体设备. 第5-6部分: 光电设备. 发光二极管
  • IEC 60747-5-6:2021 半导体设备. 第5-6部分: 光电设备. 发光二极管
  • IEC 91/928/PAS:2010 高亮度发光二极管用电路板试验方法
  • IEC 62341-2-1:2015 有机发光二极管 (OLED) 显示器. 第2-1部分: OLED显示模块的基本额定值和特性
  • IEC 60747-5-6:2021 RLV 半导体器件第5-6部分:光电子器件发光二极管
  • IEC TS 63109:2022 光伏(PV)组件和电池.通过电致发光图像的定量分析测量二极管理想因数
  • IEC 62341-6-3:2017/COR1:2019 有机发光二极管(OLED)显示器 第 6-1 部分:光学和光电参数的测量方法
  • IEC 62341-6-1:2022 RLV 有机发光二极管(OLED)显示器.第6-1部分:光学和电光参数的测量方法
  • IEC 62341-6-1:2017 RLV 有机发光二极管(OLED)显示器第6-1部分:光学和电光参数的测量方法
  • IEC 62341-6-1:2022 有机发光二极管(OLED)显示器 第 6-1 部分:光学和光电参数的测量方法
  • IEC 62595-2:2012 液晶显示屏(LCD)背光模块.第2部分:发光二极管(LED)背光模块电光测量方法
  • IEC 62504:2014 通用照明. 发光二极管(LED)产品及相关设备. 术语和定义
  • IEC 62504:2014/AMD1:2018 一般照明.发光二极管(LED)产品和相关设备.术语和定义
  • IEC 62504:2014+AMD1:2018 CSV 一般照明.发光二极管(LED)产品和相关设备.术语和定义
  • IEC 62384:2006 发光二极管模块的直流或交流电源电子控制装置.性能要求
  • IEC 62384:2011 发光二极管(LED)模块用直流或交流电源电子控制装置.性能要求
  • IEC TR 60747-5-12:2021 半导体器件第5-12部分:光电子器件发光二极管LED效率的试验方法
  • IEC 62341-6-1:2017 有机发光二极管(OLED)显示器.第6-1部分:光学参数及光电学参数的测量方法
  • IEC 62341-6-1:2009 有机发光二极管(OLED)显示器.第6-1部分:光学参数及光电学参数的测量方法
  • IEC TS 62972:2016 一般照明.有机发光二极管(OLED)产品和相关设备.术语和定义
  • IEC 60747-5-15:2022 半导体器件第5-15部分:光电子器件发光二极管基于电反射光谱法的平带电压试验方法
  • IEC 60747-12-3:1998 半导体器件 第12-3部分:光电子器件 显示用发光二极管空白详细规范
  • IEC 62560:2011 电压>50 V的普通照明服务用自压载发光二极管灯.安全性规范
  • IEC 62560:2015 电压>50 V的普通照明服务用自压载发光二极管灯.安全性规范
  • IEC 60700-3:2022 高压直流(HVDC)输电用晶闸管阀.第3部分:基本额定值(极限值)和特性
  • IEC 61347-2-13:2014 灯控装置.第2-13部分:发光二极管交直流供电控制设施的特殊要求
  • IEC 61347-2-13:2006 灯控装置.第2-13部分:发光二极管交直流供电控制设施的特殊要求
  • IECQ 03-8-2018 IEC电子元器件质量评定体系 (IECQ体系). 程序规则. 第8部分: 发光二极管 (LED) 照明的IECQ方案
  • IEC 60747-5-9:2019 半导体器件第5-9部分:光电子器件发光二极管基于温度依赖性电致发光的内部量子效率试验方法
  • IEC 60747-5-14:2022 半导体器件第5-14部分:光电子器件发光二极管基于热反射法的表面温度试验方法
  • IEC 62149-12:2023 光纤有源元件和器件.性能标准.第12部分:光纤模拟无线电系统用分布式反馈激光二极管器件
  • IEC 60747-12-6:1997 半导体器件 第12-6部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的雪崩光电二极管空白详细规范
  • IEC 60747-5-10:2019 半导体器件第5-10部分:光电子器件发光二极管基于室温基准点的内部量子效率试验方法
  • IEC 60747-12-2:1995 半导体器件 第12部分:光电子器件 第2节:纤维光学系统和子系统带尾纤的激光二极管模块空白详细规范

行业标准-机械,关于额定光电二极管的标准

机械电子工业部,关于额定光电二极管的标准

日本工业标准调查会,关于额定光电二极管的标准

  • JIS C 8152-2:2012 一般照明用白光发光二极管的光度测定.第2部分:发光二极管(LED)模组和发光二极管(LED)光启动器
  • JIS C 5990:1997 光纤传输用光电二极管总则
  • JIS C 8152-2 AMD 1:2014 一般照明用白光发光二极管的光度测定.第2部分:发光二极管(LED)模组和发光二极管(LED)光启动器(修改件1)
  • JIS C 8152-1:2012 一般照明用白光发光二极管的光度测定.第1部分:发光二极管(LED)封装
  • JIS C 5991:1997 光纤传输用光电二极管测量方法
  • JIS C 7036:1985 指示用发光二极管的测定方法
  • JIS C 62504:2016 通用照明. 发光二极管(LED)产品及相关设备. 术语和定义
  • JIS C 8156:2011 电压> 50 V的一般照明服务用自镇流式发光二极管(LED)灯.安全性规范
  • JIS C 8156:2017 电压> 50 V的一般照明服务用自镇流式发光二极管(LED)灯.安全性规范

YU-JUS,关于额定光电二极管的标准

  • JUS N.R1.372-1979 半导体二极管.重要额定值和特性.整流二级管
  • JUS N.R1.375-1980 半导体二极管.重要额定值和特性.变容二级管
  • JUS N.R1.374-1980 半导体二极管.重要额定值和特性.变容二级管.隧道二级管
  • JUS N.R1.371-1979 半导体二级管.重要额定值及特性.基准电压二级管和稳压二级管

RU-GOST R,关于额定光电二极管的标准

  • GOST R 54814-2018 普通应用的发光二极管和发光二极管模块.术语和定义
  • GOST R 54814-2011 普通应用的发光二极管和发光二极管模块.术语和定义
  • GOST 19656.6-1974 超高频混频半导体二极管.额定噪声系数测量方法
  • GOST 18986.4-1973 半导体二极管.电容的测定方法
  • GOST 18986.6-1973 半导体二极管.恢复充电测定方法
  • GOST 18986.0-1974 半导体二极管.电参数测定方法.总则
  • GOST 21107.10-1978 气体放电仪.辉光放电二极管与三极管的使用方式和测量方式的电参数测量方法
  • GOST 18986.1-1973 半导体二极管.反向直流电流测定方法
  • GOST 18986.3-1973 半导体二极管.恒定直流电压与恒定直流电流测定方法
  • GOST R IEC 62384-2011 发光二极管模块用直流或交流电源电子控制装置.性能要求
  • GOST 21316.6-1975 光电管.在连续工作方式下光电管的光电特性对规定的线性极限符合程度的确定方法
  • GOST 21316.7-1975 光电管.在脉冲工作方式下光电管的光电特性对规定的线性极限符合程度的确定方法
  • GOST 19656.10-1988 超高频限幅半导体开关二极管.耗损电阻测定方法
  • GOST R IEC 62560-2011 电压大于50 V的普通照明服务用自压载发光二极管(LED)灯.安全性规范

IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components,关于额定光电二极管的标准

  • QC 750101/SU 0004-1990 KD805A 型电视接收器开关二极管(Sw)电路指定的电子元件半导体二极管 环境额定值详细规范
  • QC 750101/GB 0001 ISSUE 1-1990 塑封硅环境额定高速开关二极管
  • QC 750108/ CN 0010-1992 2CZ305 型电子元件环境额定硅整流二极管详细规范
  • QC 750108/ CN 0008-1992 2CZ317 型电子元件环境额定硅整流二极管详细规范
  • QC 750108/ CN 0006-1992 2CZ312 型电子元件环境额定硅整流二极管详细规范
  • QC 750108/ CN 0007-1992 2CZ313 型电子元件环境额定硅整流二极管详细规范
  • QC 750108/ CN 0005-1992 2CZ308 型电子元件环境额定硅整流二极管详细规范
  • QC 750108/ CN 0009-1992 2CZ318 型电子元件环境额定硅整流二极管详细规范
  • PQC 75-1991 半导体器件 分立器件 整流二极管空白详细规范:整流二极管(包括雪崩整流二极管) 环境和外壳额定 大于 100 A
  • QC 750108/ CN 0002-1991 2CZ321 评估等级 II 的电子元件环境额定硅整流二极管详细规范
  • QC 750108/ CN 0003-1991 2CZ322 评估等级 II 的电子元件环境额定硅整流二极管详细规范
  • QC 750101/SU 0001-1990 KD5I0A 型电子设备脉冲和数字电路用电子元件信号半导体外延平面环境额定二极管详细规范
  • QC 750101/SU 0003-1990 KD522B 型电子设备脉冲和数字电路用电子元件信号半导体外延平面环境额定二极管详细规范
  • QC 750101/SU 0002-1990 KD52IA KD52IB 型电子设备脉冲和数字电路用电子元件信号半导体外延平面环境额定二极管详细规范
  • QC 750103/ CN 0001-1992 低频放大型 3DD870 型外壳额定双极晶体管电子元件详细规范
  • QC 750102/ SU 0001-1990 KT3II7A 型电子元件高频外延平面环境额定双极晶体管详细规范
  • QC 750103-1989 半导体器件分立器件第7部分:双极晶体管第二部分 用于低频放大的外壳额定双极晶体管的空白详细规范(IEC 747-7-2 ED 1)
  • QC 750102/CN 0001-1988 用于 3DG130 型评估等级 II 的环境额定高频放大电子元件双极晶体管的详细规范
  • QC 750102/CN 0003-1990 用于 3DG1815 型评估等级 II 的环境额定高频放大电子元件双极晶体管的详细规范

行业标准-电子,关于额定光电二极管的标准

  • SJ/T 2216-2015 硅光电二极管技术规范
  • SJ/T 10055-1991 电子元器件详细规范 2CZ58型管壳额定硅整流二极管
  • SJ/T 10054-1991 电子元器件详细规范 2CZ57型管壳额定硅整流二极管
  • SJ/T 10056-1991 电子元器件详细规范 2CZ59型管壳额定硅整流二极管
  • SJ/T 10057-1991 电子元器件详细规范 2CZ60型管壳额定硅整流二极管
  • SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
  • SJ/T 10058-1991 电子元器件详细规范.2CZ103型环境额定硅整流二极管
  • SJ/T 10060-1991 电子元器件详细规范.2CZ117型环境额定硅整流二极管
  • SJ/T 10059-1991 电子元器件详细规范.2CZ116型环境额定硅整流二极管
  • SJ/T 2354-2015 PIN、雪崩光电二极管测试方法
  • SJ/T 2354-2015/0352 PIN、雪崩光电二极管测试方法
  • SJ 2354.1-1983 PIN、雪崩光电二极管光电参数测试方法.总则
  • SJ 2354.5-1983 PIN、雪崩光电二极管电容的测试方法
  • SJ 50033/102-1995 GD218型InGaAs/InP PIN 光电二极管详细规范
  • SJ 2214.10-1982 半导体光敏二、三极管光电流的测试方法
  • SJ 50033/112-1996 半导体光电子器件.GD3251Y型光电二极管详细规范
  • SJ 50033/113-1996 半导体光电子器件.GD3252Y型光电二极管详细规范
  • SJ 2354.3-1983 PIN、雪崩光电二极管暗电流的测试方法
  • SJ 20644.1-2001 半导体光电子器件 GD3550Y型PIN光电二极管详细规范
  • SJ 20644.2-2001 半导体光电子器件 GD101型PIN光电二极管详细规范
  • SJ 2354.10-1983 PIN、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法
  • SJ 2354.6-1983 PIN、雪崩光电二极管响应度的测试方法
  • SJ 2354.13-1983 雪崩光电二极管倍增因子的测试方法
  • SJ 2214.3-1982 半导体光敏二极管暗电流的测试方法
  • SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法
  • SJ/T 10952-1996 电子元器件详细规范 2CZ323型环境额定硅整流二极管(可供认证用)
  • SJ/T 10950-1996 电子元器件详细规范 2CZ322型环境额定硅整流二极管(可供认证用)
  • SJ/T 10951-1996 电子元器件详细规范 2CZ33型环境额定硅整流二极管(可供认证用)
  • SJ/T 10953-1996 电子元器件详细规范 2CZ324Q型环境额定硅整流二极管(可供认证用)
  • SJ/T 10949-1996 电子元器件详细规范 2CZ321型环境额定硅整流二极管(可供认证用)
  • SJ/T 11403-2009 通信用激光二极管模块可靠性评定方法
  • SJ 2354.4-1983 PIN、雪崩光电二极管正向压降的测试方法
  • SJ 2354.2-1983 PIN、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法
  • SJ 50033/136-1997 半导体光电子器件.GF116型红色发光二极管详细规范
  • SJ 50033/143-1999 半导体光电子器件.GF1120型红色发光二极管详细规范
  • SJ 50033/137-1997 半导体光电子器件.GF216型橙色发光二极管详细规范
  • SJ 50033/139-1998 半导体光电子器件.GF4111型绿色发光二极管详细规范
  • SJ 50033/138-1998 半导体光电子器件.GF318型黄色发光二极管详细规范
  • SJ 50033/58-1995 半导体光电子器件GF413型绿色发光二极管详细规范
  • SJ/T 11393-2009 半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范
  • SJ 50033/142-1999 半导体光电子器件.GF4112型绿色发光二极管详细规范
  • SJ 50033/57-1995 半导体光电子器件 GF115型红色发光二极管详细规范
  • SJ/Z 9171-1995 录像机用φ3mm绿色圆顶发光二极管认定规范
  • SJ 2354.14-1983 雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法
  • SJ 2215.6-1982 半导体光耦合器(二极管)结电容的测试方法
  • SJ/T 11866-2022 半导体光电子器件 硅衬底白光功率发光二极管详细规范
  • SJ/T 11400-2009 半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范
  • SJ 2138-1982 硅稳流二极管稳定电流的测试方法
  • SJ 2354.11-1983 PIN、雪崩光电二极管列阵盲区宽度的测试方法
  • SJ 2215.3-1982 半导体光耦合器(二极管)正向电流的测试方法
  • SJ 2214.4-1982 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法
  • SJ 2215.4-1982 半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法
  • SJ 2354.9-1983 PIN、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法
  • SJ 50033/99-1995 半导体光电子器件.GF511型橙/绿双色发光二极管详细规范
  • SJ 20642.7-2000 半导体光电器件GR1325J型长波长发光二极管组件详细规范
  • SJ/T 11817-2022 半导体光电子器件 灯丝灯用发光二极管空白详细规范
  • SJ 2354.7-1983 PIN、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法
  • SJ 2354.12-1983 雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法
  • SJ 50033/109-1996 半导体光电子器件.GJ9031T、GJ9032T和GJ9034T型半导体激光二极管.详细规范
  • SJ 2354.8-1983 PIN、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法
  • SJ 50033/110-1996 半导体光电子器件GR9413型红外发射二极管详细规范
  • SJ 2215.5-1982 半导体光耦合器(二极管)反向击穿电压的测试方法
  • SJ 53930/1-2002 半导体光电子器件.GR8813型红外发射二极管详细规范
  • SJ 2658.4-1986 半导体红外发光二极管测试方法.电容的测试方法
  • SJ 2672.7-1986 电子元件详细规范3DA307型175MHZ管壳额定的低电压双极型功率晶体管
  • SJ/T 10947-1996 电子元器件详细规范 FG341052、FG343053型半导体绿色发光二极管
  • SJ 2658.3-1986 半导体红外发光二极管测试方法.反向电压测试方法
  • SJ 2672.2-1986 电子元器件详细规范3DA302型175MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管
  • SJ 2672.3-1986 电子元器件详细规范3DA303型175MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管
  • SJ 2672.4-1986 电子元器件详细规范3DA304型175MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管
  • SJ 2672.5-1986 电子元器件详细规范3DA305型175MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管
  • SJ 2672.6-1986 电子元器件详细规范3DA306型175MHZ管壳额定的低电压双极型功率晶体管
  • SJ 2672.8-1986 电子元器件详细规范3DA308型175MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管
  • SJ 2672.9-1986 电子元器件详细规范3DA309型175MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管
  • SJ 2673.1-1986 电子元器件详细规范3DA311型470MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管
  • SJ 2673.2-1986 电子元器件详细规范3DA312型470MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管
  • SJ 2673.3-1986 电子元器件详细规范3DA313型470MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管
  • SJ 2673.4-1986 电子元器件详细规范3DA314型470MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管
  • SJ 2673.5-1986 电子元器件详细规范3DA3l5型470MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管
  • SJ 2673.6-1986 电子元器件详细规范3DA3l6型470MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管
  • SJ 2672.1-1986 电子元器件详细规范3DA301型175MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管
  • SJ/T 2658.16-2016 半导体红外发射二极管测量方法 第16部分:光电转换效率
  • SJ/T 10948-1996 电子元器件详细规范 FG313052、FG314053、FG313054、FG314055型半导体红色发光二极管
  • SJ 3124-1988 电子元器件详细规范.3DD1942型硅NPN低频放大管壳额定双极型晶体管
  • SJ 3125-1988 电子元器件详细规范.3DD2027型硅NPN低频放大管壳额定双极型晶体管
  • SJ 3126-1988 电子元器件详细规范.3DD869型硅NPN低频放大管壳额定双极型晶体管
  • SJ 3127-1988 电子元器件详细规范.3DD871型硅NPN低频放大管壳额定双极型晶体管
  • SJ 3128-1988 电子元器件详细规范.3DD820型硅NPN低频放大管壳额定双极型晶体管
  • SJ 3123-1988 电子元器件详细规范.3DG1779型高频放大型额定双极型晶体管
  • SJ 2658.5-1986 半导体红外发光二极管测试方法.正向串联电阻的测试方法
  • SJ/T 10049-1991 电子元器件详细规范.3DA1162型硅NPN高频放大管壳额定的双极型晶体管
  • SJ/T 10050-1991 电子元器件详细规范.3DA1722型硅NPN高频放大管壳额定的双极型晶体管
  • SJ/T 10051-1991 电子元器件详细规范.3DA2688型硅NPN高频放大管壳额定的双极型晶体管
  • SJ/T 10052-1991 电子元器件详细规范.3CD507型硅PNP低频放大管壳额定的双极型晶体管
  • SJ 3120-1988 电子元器件详细规范.3DG1215型高频放大环境额定双极型晶体管
  • SJ 3121-1988 电子元器件详细规范.3DG2464型高频放大环境额定双极型晶体管
  • SJ 3122-1988 电子元器件详细规范.3DG3177型高频放大环境额定双极型晶体管
  • SJ/T 10959-1996 电子元器件详细规范 3CT315型管壳额定雪崩三极晶体闸流管(可供认证用)
  • SJ/T 10053-1991 电子元器件详细规范.3DD 313型硅NPN低频放大管壳额定的双极型晶体管
  • SJ/T 10886-1996 电子元器件详细规范 3DD201型低频放大管壳额定双极型晶体管(可供认证用)
  • SJ/T 10885-1996 电子元器件详细规范 3DA150B、3DA150C型高频放大管壳额定双极型晶体管(可供认证用)
  • SJ/T 10958-1996 电子元器件详细规范 3CT320型管壳额定反向阻断三极晶体闸流管(可供认证用)
  • SJ/T 10887-1996 电子元器件详细规范 3DD102B型低频放大管壳额定的双极型晶体管(可供认证用)
  • SJ/T 10973-1996 电子元器件详细规范 3DD200型硅NPN低频放大用管壳额定双极型晶体管(可供认证用)
  • SJ/T 10955-1996 电子元器件详细规范 3DG107型高频放大环境额定双极型晶体管(可供认证用)
  • SJ/T 11052-1996 电子元器件详细规范 3DG162型高频放大环境额定双极型晶体管(可供认证用)
  • SJ/T 11054-1996 电子元器件详细规范 3DG140型高频放大环境额定双极型晶体管(可供认证用)
  • SJ/T 11053-1996 电子元器件详细规范 3DG182型高频放大环境额定双极型晶体管(可供认证用)
  • SJ/T 11060-1996 电子元器件详细规范 3DG3130型高频放大环境额定双极型晶体管(可供认证用)
  • SJ/T 10833-1996 电子元器件详细规范 3DG80型高低频放大环境额定双极型晶体管(可供认证用)
  • SJ/T 10772-1996 电子元器件详细规范 3DG201C型环境额定高低频放大双极型晶体管(可供认证用)
  • SJ/T 10837-1996 电子元器件详细规范 3DG131A、3DG131B、3DG131C型高频放大环境额定双极型晶体管(可供认证用)
  • SJ/T 10770-1996 电子元器件详细规范 3DG130A-3DG130D型环境额定高低频放大双极型晶体管(可供认证用)

CZ-CSN,关于额定光电二极管的标准

  • CSN 35 8761-1973 半导体设备.光电晶体管光电二极管.光电流测量
  • CSN 35 8762-1973 半导体设备.光电晶体管光电二极管.暗电流测量
  • CSN IEC 747-2-1:1993 半导体设备.离散设备.第2部分:整流二极管第1节.整流二极管的空白详细规范(包括雪崩整流二极管;周围环境以及达到100A的管壳额定值)
  • CSN 35 8585 Cast.3-1987 彩色电视显像管.白光屏幕亮度的测量方法和白光阳极电流比的测定

行业标准-邮电通信,关于额定光电二极管的标准

邮电部,关于额定光电二极管的标准

IN-BIS,关于额定光电二极管的标准

  • IS 3700 Pt.11-1984 半导体器件的基本额定值和特性 第11部分发光二极管
  • IS 3700 Pt.9-1972 半导体器件的基本额定值和特性第 IX 部分可变电容二极管
  • IS 3700 Pt.8-1970 半导体器件的基本额定值和特性第 Ⅷ 部分稳压器和电压基准二极管

工业和信息化部,关于额定光电二极管的标准

  • SJ/T 11461.2-2016 有机发光二极管显示器件 第2部分:基本额定值和特性

中国团体标准,关于额定光电二极管的标准

国家质检总局,关于额定光电二极管的标准

  • GB/T 16894-1997 大于100A,环境和管壳额定的整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范
  • GB/T 23729-2009 闪烁探测器用光电二极管.试验方法
  • GB/T 6351-1998 半导体器件 分立器件 第2部分;整流二极管 第一篇 100A以下环境或管壳额定整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范
  • GB/T 15651.6-2023 半导体器件 第5-6部分:光电子器件 发光二极管
  • GB/T 42243-2022 有机发光二极管(OLED)电视机通用技术规范
  • GB/T 36359-2018 半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范
  • GB/T 36360-2018 半导体光电子器件 中功率发光二极管空白详细规范
  • GB/T 20871.61-2013 有机发光二极管显示器 第61部分:光学和光电参数测试方法
  • GB/T 18904.3-2002 半导体器件 第12-3部分;光电子器件 显示用发光二极管空白详细规范
  • GB 9520-1988 电子元器件详细规范 3DD200型硅NPN低频放大用管壳额定双极型晶体管(可供认证用)
  • GB/T 18904.5-2003 半导体器件 第12-5部分;光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范
  • GB/T 6590-1998 半导体器件 分立器件 第6部分;闸流晶体管 第二篇 100A以下环境或管壳额定的双向三极闸流晶体管空白详细规范
  • GB/T 13150-2005 半导体器件 分立器件 电流大于 100A、环境和管壳额定的双向三极晶闸管空白详细规范
  • GB/T 18904.2-2002 半导体器件 第12-2部分;光电子器件 纤维光学系统或子系统用带尾纤的激光二极管模块空白详细规范

PT-IPQ,关于额定光电二极管的标准

  • NP 3234-2-1987 电子原件.场致发光二极管类.场致发光二极管矩阵,详细的规格说明

NEMA - National Electrical Manufacturers Association,关于额定光电二极管的标准

RO-ASRO,关于额定光电二极管的标准

PL-PKN,关于额定光电二极管的标准

TH-TISI,关于额定光电二极管的标准

  • TIS 1596-1999 半导体器件.分立器件.第2部分:整流二极管.第2节:电流在100A以上环境和外壳额定的整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范

美国国防后勤局,关于额定光电二极管的标准

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会,关于额定光电二极管的标准

  • GB/T 36358-2018 半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范
  • GB/T 37946-2019 有机发光二极管显示器用材料热稳定性的测试方法
  • GB/T 37949-2019 有机发光二极管显示器用有机小分子发光材料纯度测定 高效液相色谱法

IEC - International Electrotechnical Commission,关于额定光电二极管的标准

  • TS 62916-2017 光伏组件—旁路二极管静电放电敏感性测试(1.0版)

美国材料与试验协会,关于额定光电二极管的标准

  • ASTM C1307-21 钚(III)二极管阵列分光光度法钚测定的标准测试方法
  • ASTM C1307-15 钚(III)二极管阵列分光光度法钚测定的标准测试方法
  • ASTM D7904-15 采用可调二极管激光光谱 (TDLAS) 测定天然气中水蒸气 (水分浓度) 的标准试验方法
  • ASTM D7904-21 用可调谐二极管激光光谱法(TDLAS)测定天然气中水蒸气(水分浓度)的标准试验方法
  • ASTM F3095-17 通过旋转激光二极管和闭路电视摄像系统直接测量管道和导管横截面形状的激光技术标准实施规程
  • ASTM D8488-22 用可调谐二极管激光光谱法(TDLAS)测定天然气中硫化氢(H2S)的标准试验方法
  • ASTM F3095-14 使用旋转激光二极管和闭路电视摄像机系统对管道和导管截面形状直接测量用激光技术的标准实施规程
  • ASTM F3095-17a 使用旋转激光二极管和闭路电视摄像机系统对管道和导管截面形状直接测量用激光技术的标准实施规程
  • ASTM F3095-17a(2022) 通过旋转激光二极管和闭路电视摄像系统直接测量管道和导管横截面形状的激光技术的标准实施规程

未注明发布机构,关于额定光电二极管的标准

  • BS EN 150008:1993(1999) 电子元件质量评估协调制度规范 — 空白详细规范 — 环境额定整流二极管
  • BS EN 150009:1993(2000) 电子元件质量评估协调制度规范 — 空白详细规范 — 外壳额定整流二极管
  • BS EN 120008:1995(2000) 电子元件质量评估协调制度规范 — 空白详细规范 — 光纤系统或子系统的发光二极管和红外发射二极管
  • BS EN 120006:1993(1999) 电子元件质量评估协调制度规范 — 空白详细规范 — 光纤应用的引脚光电二极管

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会,关于额定光电二极管的标准

  • GB/T 33762-2017 有机发光二极管(OLED)电视机显示性能测量方法

GB-REG,关于额定光电二极管的标准

KR-KS,关于额定光电二极管的标准

(美国)全国电气制造商协会,关于额定光电二极管的标准

丹麦标准化协会,关于额定光电二极管的标准

  • DS/EN 62341-6-1:2011 有机发光二极管(OLED)显示器 第 6-1 部分:光学和光电参数的测量方法
  • DS/IEC 747-2-1:1990 半导体器件.分立器件.第2部分:整流二极管.第1节:电流在100A以下具有规定环境和外壳的整流二极管(包括雪崩式整流二极管)的空白详细规范

欧洲电工标准化委员会,关于额定光电二极管的标准

  • EN 62341-6-1:2011 有机发光二极管(OLED)显示器 第 6-1 部分:光学和光电参数的测量方法
  • EN 62504:2014 普通照明 发光二极管(LED)产品和相关设备 术语和定义
  • EN IEC 62149-12:2023 光纤有源元件和设备 性能标准 第12部分:用于光纤系统模拟无线电的分布式反馈激光二极管设备

GOSTR,关于额定光电二极管的标准

  • GOST IEC 62341-6-1-2016 有机发光二极管(OLED)显示器 第 6-1 部分 光学和光电参数的测量方法
  • GOST R 58229-2018 用于普通照明和相关设备的有机发光二极管 术语和定义

国际标准化组织,关于额定光电二极管的标准

  • ISO/FDIS 2612:2023 天然气分析 生物甲烷 可调二极管激光吸收光谱法测定氨含量
  • ISO/DIS 2612 天然气分析“生物甲烷”可调谐二极管激光吸收光谱法测定氨含量

AENOR,关于额定光电二极管的标准

  • UNE-EN 62504:2015 普通照明 发光二极管(LED)产品和相关设备 术语和定义

国家军用标准-总装备部,关于额定光电二极管的标准

  • GJB 33/15-2011 半导体光电子器件 BT401型半导体红外发射二极管详细规范

台湾地方标准,关于额定光电二极管的标准

  • CNS 13780-1996 自动控制用红外发光二极管耐久性试验法–连续通电试验
  • CNS 13090-1992 发光二极管大型灯(户外显示用)耐久性试验法–连续通电试验

国际照明委员会,关于额定光电二极管的标准

  • CIE S 017-SP1/E-2015 ILV:国际照明词汇 补充 1:发光二极管(LED)和 LED 组件 术语和定义

HU-MSZT,关于额定光电二极管的标准

  • MSZ 11453/2-1987 直接连接工具以及集成电路.整顿二极管检测定义

欧洲标准化委员会,关于额定光电二极管的标准

  • prEN ISO 2612 天然气分析 生物甲烷 通过可调谐二极管激光吸收光谱法测定氨含量(ISO/DIS 2612:2023)

美国国家标准学会,关于额定光电二极管的标准

  • BS EN IEC 60700-3:2022 用于高压直流(HVDC)输电的晶闸管阀 基本额定值(极限值)和特性(英国标准)

美国电气电子工程师学会,关于额定光电二极管的标准

  • IEEE 1789-2015 在高亮度发光二极管中调节电流以减轻对观众健康风险的推荐性操作规范




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