Поликристалл против монокристалла

Поликристалл против монокристалла, Всего: 500 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Поликристалл против монокристалла, являются: Полупроводниковые материалы, Цветные металлы, Строительные материалы, Оптическое оборудование, Промышленные печи, Пьезоэлектрические и диэлектрические устройства, Бумага и картон, Изоляционные жидкости, Словари, Установки в зданиях, Испытание металлов, Полупроводниковые приборы, Изделия цветных металлов, Энергетика и теплопередача в целом, Оптика и оптические измерения, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Магнитные материалы, Огнеупоры, Солнечная энергетика, Гальванические элементы и батареи, Неорганические химикаты, Керамика, Комплектующие и аксессуары для телекоммуникационного оборудования, Компоненты для электрооборудования, Неразрушающий контроль, Режущие инструменты, Электронные устройства отображения, Медицинское оборудование, Качество воздуха, Электричество. Магнетизм. Электрические и магнитные измерения, Изоляционные материалы, Бесчиповое рабочее оборудование, Материалы для армирования композитов, Организация и управление компанией, Продукция химической промышленности, Станки, Порошковая металлургия, Профессиональная безопасность. Промышленная гигиена, Условия и процедуры испытаний в целом, Терминология (принципы и координация), Изделия из железа и стали, Оптоволоконная связь, Аналитическая химия, Вращающиеся машины, Образование, Атомная энергетика, Качество воды, Сельское и лесное хозяйство, Электрические фильтры, Выпрямители. Конвертеры. Стабилизированный источник питания, Стекло, Анализ размера частиц. просеивание, Электромеханические компоненты электронного и телекоммуникационного оборудования, Защита окружающей среды, Лампы и сопутствующее оборудование, Интегральные схемы. Микроэлектроника.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Поликристалл против монокристалла

GB/T 11072-2009 Поликристалл антимонида индия, монокристаллы и срезы в свежем виде.
GB/T 5238-2009 Монокристаллический германий и срезы монокристаллического германия.
GB/T 5238-2009(英文版) Монокристаллический германий и срезы монокристаллического германия.
GB/T 5238-2009e Монокристаллический германий и срезы монокристаллического германия.
GB/T 31092-2014 Слиток монокристаллического сапфира
GB/T 31092-2022 Монокристаллический сапфировый слиток
GB/T 12963-2009 Спецификация поликристаллического кремния
GB/T 12963-1996 Поликристаллический кремний
GB/T 30118-2013 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения.
GB/T 12962-1996 Монокристаллический кремний
GB/T 12962-2005 Монокристаллический кремний
GB/T 5238-1995 Монокристаллический германий
GB/T 12962-2015 Монокристалл кремния
GB/T 15713-1995 Срезы монокристаллического германия
GB/T 29504-2013 Монокристаллический кремний 300 мм
GB/T 1555-1997 Методы испытаний для определения ориентации монокристалла полупроводника
GB/T 1555-2023 Метод определения кристаллической ориентации монокристалла полупроводника
GB/T 1555-2009 Методы испытаний для определения ориентации монокристалла полупроводника
GB/T 12963-2014 Поликристаллический кремний электронного качества
GB/T 12963-2022 Поликристаллический кремний электронного качества
GB/T 20229-2006 Сигнальный кристалл фосфида галлия
GB/T 20230-2006 Сигнальный кристалл фосфида индия
GB/T 20228-2006 Монокристалл арсенида галлия
GB/T 14843-1993 Монокристаллы ниобата лития
GB 29447-2012 Норма энергозатрат на единицу продукции поликремниевого предприятия
GB 29447-2022 Норма энергозатрат на единицу продукции из поликремния и германия
GB/T 25074-2010 Поликристаллический кремний солнечного качества
GB/T 25074-2017(英文版) Поликристаллический кремний солнечного качества
GB/T 12964-2003 Полированные пластины монокристаллического кремния.
GB/T 29506-2013 Пластины полированного монокристаллического кремния диаметром 300 мм.
GB 51034-2014 Правила проектирования завода по производству поликремния
GB/T 29055-2012 Мультикристаллическая кремниевая пластина для солнечных батарей
GB/T 30656-2014 Полированные пластины монокристаллического карбида кремния.
GB/T 25076-2010 Монокристаллический кремний солнечного элемента
GB/T 30656-2023 Монокристаллическая полированная пластина карбида кремния
GB/T 43724-2024 Метод испытания одного жидкого кристалла
GB/T 41751-2022 Метод определения радиуса кривизны кристаллической плоскости пластин монокристаллической подложки GaN
GB/T 42676-2023 Рентгенодифракционный метод проверки качества монокристалла полупроводника
GB/T 29054-2012 Литой поликристаллический кремниевый кирпич солнечного качества
GB/T 26072-2010 Германиевый монокристаллический солнечный элемент
GB/T 29057-2023 Практика оценки стержней из поликристаллического кремния методом зонного вытягивания и спектроскопического анализа.
GB/T 29057-2012 Практика оценки стержней из поликристаллического кремния методом выращивания кристаллов в плавающей зоне и спектроскопии
GB/T 12965-1996 Монокристаллический кремний в виде нарезанных и притертых срезов.
GB/T 12965-2005 Монокристаллический кремний, нарезанный ломтиками и притертый ломтик
GB/T 1551-2009 Метод испытаний для измерения удельного сопротивления монокристаллического кремния
GB/T 26065-2010 Спецификация на полированные тестовые кремниевые пластины
GB/T 30858-2014 Подложка из полированного монокристаллического сапфира
GB/T 13843-1992 Подложки из полированного монокристаллического сапфира
GB/T 13389-1992 Практика преобразования между удельным сопротивлением и плотностью легирующей примеси для кремния, легированного бором и фосфором.
GB/T 29055-2019(英文版) Пластины мультикристаллического кремния для фотоэлектрических солнечных элементов
GB/T 25075-2010 Монокристалл арсенида галлия для солнечных батарей
GB/T 29420-2012 Лазерные кристаллические устройства на основе ванадата, легированного Nd
GB/T 29508-2013 Монокристаллический кремний толщиной 300 мм в виде нарезанных и измельченных ломтиков.
GB/T 34213-2023 Оксид алюминия высокой чистоты для монокристалла сапфира
GB/T 32188-2015 Метод испытания полной ширины на половине высоты двойной кристаллической рентгеновской кривой качания монокристаллической подложки GaN
GB/T 4059-2007 Поликристаллический кремний. Метод исследования. Зонная плавка на фосфоре в контролируемой атмосфере.
GB/T 4060-2007 Поликристаллический кремний. Метод исследования. Вакуумная зонная плавка на боре.
GB/T 11094-2007 Горизонтальный монокристалл арсенида галлия, выращенный Бриджменом, и режущая пластина
GB/T 26071-2010 Монокристаллический кремний в виде нарезанных кусочков для фотоэлектрических солнечных элементов.
GB/T 29421-2012 Приборы из ванадатных двояковыряющихся кристаллов
GB/T 9532-2012 Обозначения пьезоэлектрических кристаллов
GB/T 30866-2014 Метод испытаний для измерения диаметра пластин монокристаллического карбида кремния
GB/T 13389-2014 Практика преобразования между удельным сопротивлением и плотностью легирующей примеси для кремния, легированного бором, фосфором и мышьяком.
GB/T 24177-2009 Стандартные методы испытаний для определения размеров дуплексного зерна
GB/T 29054-2019(英文版) Литье мультикристаллического кремниевого кирпича для фотоэлектрических солнечных элементов
GB/T 18032-2000 Метод контроля микроскопического дефекта AB в монокристалле арсенида галлия
GB/T 32278-2015 Метод испытания плоскостности одиночной пластины карбида кремния

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Поликристалл против монокристалла

GB/T 5238-2019 Монокристаллический германий и срезы монокристаллического германия.
GB/T 36706-2018 Поликристаллический фосфид индия
GB/T 39137-2020 Определение ориентации монокристалла тугоплавкого металла
GB/T 20228-2021 Монокристалл арсенида галлия
GB/T 20229-2022 Монокристалл фосфида галлия
GB/T 20230-2022 Монокристалл фосфида индия
GB/T 39865-2021 Метод измерения показателя преломления одноосных оптических кристаллов
GB/T 12964-2018 Полированные пластины монокристаллического кремния.
GB/T 26069-2022 Отожженные пластины монокристаллического кремния
GB/T 37051-2018 Метод испытаний для определения плотности кристаллических дефектов в слитках и пластинах фотоэлектрического кремния
GB/T 19346.3-2021 Методы измерения аморфных и нанокристаллических сплавов. Часть 3. Магнитные свойства аморфной ленты на основе железа на переменном токе с использованием одного листового образца.
GB/T 29055-2019 Пластины мультикристаллического кремния для фотоэлектрических солнечных элементов
GB/T 38907-2020 Водосберегающие предприятия — Поликремниевая промышленность
GB/T 25076-2018 Монокристаллический кремний для солнечных батарей.
GB/T 36648-2018 Спецификация мономеров жидкокристаллических TFT
GB/T 18910.201-2021 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 20-1. Визуальный осмотр. Ячейки монохромного жидкокристаллического дисплея.
GB/T 41325-2022 Монокристаллические кремниевые пластины низкой плотности с полировкой кристаллов для интегральных схем
GB/T 36647-2018 Спецификация на жидкокристаллические мономеры
GB/T 12965-2018 Монокристаллический кремний в виде нарезанных и притертых пластин.
GB/T 26071-2018 Монокристаллические кремниевые пластины для солнечных элементов.
GB/T 29054-2019 Литье поликристаллического кремниевого кирпича для фотоэлектрических солнечных элементов
GB/T 37418-2019 Оксиортосиликат лютеция, сцинтилляционные монокристаллы оксиортосиликата лютеция-иттрия
GB/T 18910.202-2021 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 20-2. Визуальный осмотр. Модули жидкокристаллического дисплея с монохромной матрицей.
GB/T 4059-2018 Метод определения содержания фосфора в поликристаллическом кремнии методом зонной плавки в контролируемой атмосфере
GB/T 4060-2018 Метод определения содержания бора в поликристаллическом кремнии методом зонной вакуумной плавки
GB/T 18916.47-2020 Норма водозабора. Часть 47. Производство поликремния.
GB/T 11094-2020 Монокристалл арсенида галлия и режущая пластина, выращенные методом горизонтального Бриджмена
GB/T 5252-2020 Метод определения дислокационной плотности монокристаллического германия

Group Standards of the People's Republic of China, Поликристалл против монокристалла

T/CBCSA 36-2021 Поликристаллическая плита корунда
T/ZZB 0497-2018 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах
T/ZZB 0061-2016 Печь для производства слитков поликристаллического кремния
T/ZSA 72-2019 Монокристаллический карбид кремния
T/IAWBS 001-2021 Монокристалл карбида кремния
T/ZZB 1041-2019 Солнечная батарея из поликристаллического кремния
T/ZZB 0916-2018 Гиромагнитный поликристаллический феррит
T/ACRI 0025-2020 Мультикомпозитный шпинельный кирпич
T/CNIA 0014-2019 Фарфоровые кольца для производства поликремния.
T/ZZB 1389-2019 Монокристаллические кремниевые фотоэлектрические элементы
T/CECA 72-2022 Гиромагнитные поликристаллические ферритовые материалы
T/NXCL 015-2022 Столбчатый поликремний для кремниевых деталей
T/ZZB 2675-2022 Монокристаллический кремний в виде притертых пластин для ТВС.
T/ZZB 0044-2016 Печи для выращивания кристаллов серии TDR
T/CNIA 0013-2019 Графитовые изделия для производства поликремния
T/ZZB 1927-2020 Автоматическая машина для резки монокремния
T/JSAS 015-2021 Монокристаллические кремниевые солнечные элементы
T/GZHG 006-2019 Большой монокристаллический оксид никеля-кобальта-лития-марганца (NCM523)
T/ICMTIA SM0028-2022 Поликремний электронного класса для интегральных схем
T/CISA 167-2021 Лигатура монокристаллического суперсплава DD419
T/HEBQIA 073-2022 Сверхпроводящие магниты для монокристаллического кремния Чохральского
T/CISA 086-2021 DD405 Мастер-сплав монокристаллического суперсплава
T/SZBX 118-2023 Монокристаллические кремниевые пластины для солнечных элементов.
T/CASME 465-2023 Текстуризатор для монокремния без IPA
T/IAWBS 017-2022 Метод испытаний на полную ширину на половине высоты кривой рентгеновского качания двойного кристалла монокристаллической алмазной подложки
T/IAWBS 015-2021 Метод испытания полной ширины на половине высоты двойной кристаллической рентгеновской кривой качания монокристаллической подложки Ga2O3
T/IAWBS 016-2022 Метод рентгеновского испытания кривой качания двойного кристалла на полувысоте для одиночной пластины карбида кремния
T/IAWBS 005-2018 6-дюймовые полированные пластины монокристаллического карбида кремния
T/CEC 290-2019 Технические требования к монокристаллической пластине с задним контактом
T/NXCL 30-2024 Монокристаллический кремний Чохральского толщиной 300 мм с низким содержанием кислорода
T/CNIA 0115-2021 Активированный уголь для очистки хвостовых газов в производстве поликремния
T/CEMIA 004-2018 Кварцевые тигли для выращивания монокристаллов кремния в фотоэлектрической промышленности
T/IAWBS 005-2024 Полированные пластины монокристаллического карбида кремния диаметром 6–8 дюймов.
T/ZS 0596-2024 Кварцевый тигель для выращивания фотоэлектрического монокристаллического кремния
T/CEMIA 018-2019 Керамический тигель из плавленого кварца для фотоэлектрического поликристаллического кремния
T/CESA 1082-2020 Требования к оценке «зеленого» завода в отрасли производства поликристаллического кремния
T/CEMIA 023-2021 Кварцевый тигель для выращивания монокремния полупроводника
T/CECA 69-2022 Монокристаллические тонкопленочные подложки для устройств на ПАВ
T/ZZB 0648-2018 Монокристаллический полированный кремний Чохральского диаметром 200 мм, легированный фосфором
T/NXCL 017-2022 Монокристаллический полированный кремний Чохральского диаметром 300 мм, сильно легированный фосфором
T/NXCL 016-2022 Монокристаллическая полированная пластина кремния Чохральского диаметром 200 мм, сильно легированная сурьмой

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Поликристалл против монокристалла

KS D 2715-2006 Растяжимые образцы моно- и поликристаллических нано/микротонкопленочных материалов
KS D 2715-2017 Растяжимые образцы моно- и поликристаллических нано/микротонкопленочных материалов
KS D 2715-2006(2011) Растяжимые образцы моно- и поликристаллических нано/микротонкопленочных материалов
KS C 7110-2007(2017) Устройства жидкокристаллического дисплея. Методы измерения единицы подсветки для жидкокристаллических дисплеев.
KS B 3620-2012 Поликристаллические алмазные матрицы для волочения проволоки
KS C IEC 60122-4:2022 Кварцевые кристаллические блоки оцененного качества. Часть 4. Кристаллические блоки с термисторами.
KS C 7110-2007(2022) Устройства жидкокристаллического дисплея. Методы измерения единицы подсветки для жидкокристаллических дисплеев.
KS C 7110-2022 Устройства жидкокристаллического дисплея. Методы измерения единицы подсветки для жидкокристаллических дисплеев.
KS P ISO 11979-9-2023 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 9. Мультифокальные интраокулярные линзы.
KS C IEC 61747-3-2002(2017) Устройства жидкокристаллического и твердотельного дисплея. Часть 3: Технические характеристики ячеек жидкокристаллического дисплея (ЖКД).
KS C IEC 60444-9-2021 Измерение параметров кварцевых блоков ― Часть 9. Измерение паразитного резонанса пьезоэлектрических кристаллических блоков
KS C IEC 60119-2014(2019) Рекомендации по установкам и оборудованию поликристаллических полупроводниковых выпрямителей
KS C IEC 61747-3-2002(2022) Устройства жидкокристаллического и твердотельного дисплея. Часть 3: Технические характеристики ячеек жидкокристаллического дисплея (ЖКД).
KS C IEC 61747-20-1-2015(2020) УСТРОЙСТВА ЖИДКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО ДИСПЛЕЯ. Часть 20-3. Визуальный осмотр. Ячейки монохромного ЖК-дисплея (исключая все жидкокристаллические элементы с активной матрицей)
KS C IEC 61747-3-2022 Устройства жидкокристаллического и твердотельного дисплея. Часть 3: Технические характеристики ячеек жидкокристаллического дисплея (ЖКД).
KS C IEC 61747-20-1:2015 УСТРОЙСТВА ЖИДКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО ДИСПЛЕЯ. Часть 20-3. Визуальный осмотр. Ячейки монохромного ЖК-дисплея (исключая все жидкокристаллические элементы с активной матрицей)
KS D 0070-2002 Метод испытания магнитных свойств аморфных металлов на одном листовом образце
KS C 6503-1999(2009) КВАРЦЕВЫЕ МОДУЛИ ДЛЯ ГЕНЕРАТОРОВ
KS C IEC 61747-3-1-2002(2017) Устройства жидкокристаллического и твердотельного дисплея. Часть 3-1. Ячейки жидкокристаллического дисплея (ЖКД). Пустая подробная спецификация.
KS C IEC 61747-20-1-2020 УСТРОЙСТВА ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО ДИСПЛЕЯ. Часть 20-3. Визуальный осмотр. Ячейки монохромного ЖК-дисплея (исключая все жидкокристаллические элементы с активной матрицей)
KS C IEC 60119-2019 Рекомендации по установкам и оборудованию поликристаллических полупроводниковых выпрямителей
KS C IEC 60444-7-2021 Измерение параметров кварцевых агрегатов ― Часть 7. Измерение активности и провалов частоты кварцевых агрегатов

CZ-CSN, Поликристалл против монокристалла

CSN 34 5911-1986 Поликристаллический кремний
CSN 42 4991-1970 Поликристаллинический германий
CSN 01 5111-1974 Отбор проб сыпучих и зернистых материалов

UNKNOWN, Поликристалл против монокристалла

YB 1601-1983 Кремний поликристаллический
YB 1601-83 Кремний поликристаллический
YB 1602-1983 Монокристалл кремния
YB 1602-83 Монокристалл кремния
YB 1603-83 Отрезные и шлифовальные диски из монокристалла кремния.

Professional Standard - Machinery, Поликристалл против монокристалла

JB/T 10439-2004 Печи для выращивания кристаллов Печи для выращивания кристаллов серии TDR методом Чохральского
JB/T 5633-1991 Монокристаллическая печь. Градация энергопотребления
JB/T 7996-1999 Обычный абразив Одиночный алунд
JB/T 7996-2012 Обычный абразив. Монокристаллический плавленый оксид алюминия.
JB/T 12068-2014 Печь для выращивания монокристаллов германия TDR-Z методом Чохральского
JB/T 5203-1991 Монокристаллический плавленый оксид алюминия Метод химического анализа
JB/T 5203-2012 Методы химического анализа монокристаллического плавленого оксида алюминия
JB/T 5203-2023 Методы химического анализа монокристаллического плавленого оксида алюминия
JB/T 7826.2-1996 Однофазный мостовой модуль для тиристоров серии MTQ (MFQ)
JB/T 7826.3-1995 Тиристорный однофазный мостовой модуль серии MTS (MFS)
JB/T 7826.2-1995 Тиристорный однофазный мостовой модуль серии MTQ (MFQ)
JB/T 12542-2015 Суперабразивные.Детонационные поликристаллические алмазные порошки.

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, Поликристалл против монокристалла

DB13/T 1314-2010 Квадратный стержень из монокристаллического кремния солнечного качества, пластина из монокристаллического кремния
DB13/T 1631-2012 Слиток поликремния солнечного качества
DB13/T 1632-2012 Блок поликремния солнечного класса
DB13/T 1633-2012 Солнечная поликремниевая пластина
DB13/T 5092-2019 Общие технические требования к квадратным затравочным кристаллам для слитков монокристаллического кремния солнечного качества
DB13/T 1828-2013 Монокристаллическая кремниевая пластина солнечного качества

Professional Standard - Light Industry, Поликристалл против монокристалла

QB/T 1174-2002 Мультикристаллический каменный сахар
QB/T 1174-1991 Мультикристаллический каменный сахар
QB/T 1173-2002 Монокристаллический каменный сахар
QB/T 1173-1991 Монокристаллический каменный сахар

轻工业部, Поликристалл против монокристалла

QB 1174-1991 поликристаллический сахар
QB 1173-1991 Монокристаллический каменный сахар

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Поликристалл против монокристалла

GB/T 34210-2017 Метод испытаний для определения ориентации монокристалла сапфира
GB/T 25074-2017 Поликристаллический кремний солнечного качества
GB/T 33763-2017 Метод определения плотности дислокаций монокристалла сапфира

未注明发布机构, Поликристалл против монокристалла

SEMI M55-0308-2008 СПЕЦИФИКАЦИЯ НА ПОЛИРОВАННЫЕ ПЛАСТИНЫ МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО КАРБИДА КРЕМНИЯ
ASTM RR-E04-1008 2013 E2627-Практика определения среднего размера зерна с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD) в полностью рекристаллизованных поликристаллических материалах
DIN ISO 16463 E:2014-11 Поликристаллические алмазные вставки с напайками - Размеры, типы
SEMI M81-0611-2011 СПРАВКА ПО ДЕФЕКТАМ, ОБНАРУЖЕННЫМ НА ПОДЛОЖКАХ МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО КАРБИДА КРЕМНИЯ

Professional Standard - Electron, Поликристалл против монокристалла

SJ/T 11500-2015 Метод испытаний для измерения кристаллографической ориентации монокристаллического карбида кремния
SJ/T 11501-2015 Метод испытаний для определения типа кристалла монокристаллического карбида кремния
SJ 3244.3-1989 Методы измерения кристаллоориентации монокристаллов арсенида галлия и фосфида индия
SJ/Z 2655-1986 Коллекция монокристаллических дефектов Germaninm
SJ 20607-1996 Спецификация кристалла молибдената
SJ 20444-1994 Спецификация монокристалла ниобата лития
SJ 3241-1989 Монокристаллический стержень и пластина арсенида галлия
SJ 3243-1989 Монокристаллические бруски и пластины фосфида индия
SJ/T 10173-1991 Солнечная батарея из монокристаллического кремния TDA75
SJ 20606-1996 Спецификация монокристалла диоксида теллура
SJ/T 10333-1993 Методы измерения однопереходных транзисторов
SJ/T 11450-2013 Характеристики энергопотребления монокристаллической печи
SJ/T 11854-2022 Монокристаллическая кремниевая печь Чохральского для фотоэлектрических систем.
SJ/T 11450-2023 Спецификация нормы энергопотребления для выращивания монокристаллов кремния
SJ 2268-1983 Серия гиромагнитных мультикристаллических материалов из магнитных оксидов.
SJ/T 11502-2015 Спецификация на полированные пластины монокристаллического карбида кремния
SJ/T 11505-2015 Спецификация сапфировых монокристаллических полированных пластин
SJ/T 11853-2022 Зона подвески с положительным давлением, плавильная печь монокристаллического кремния
SJ 2572-1985 Кремниевые монокристаллические стержни и листы для солнечных батарей.
SJ/T 11864-2022 Полуизолирующая монокристаллическая подложка из карбида кремния
SJ 3245-1989 Методы измерения дислокации монокристалла фосфида индия
SJ 2592-1985 Кварцевые монолитные фильтры для типа LSP10.7MA(～E)
SJ 20641-1997 Спецификация монокристаллов антимонида индия для использования в инфракрасных детекторах

Defense Logistics Agency, Поликристалл против монокристалла

DLA SMD-5962-87711 REV A-2001 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, ТТЛ, ДВОЙНОЙ МОНОСТАБИЛЬНЫЙ МУЛЬТИВИБРАТОР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-85508 REV C-2005 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, МАЛОГО МОЩНОГО ШОТТКИ, ТТЛ, МУЛЬТИПЛЕКСОР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA MIL-M-38510/314 C VALID NOTICE 1-2008 МИКРОСХЕМЫ, ЦИФРОВЫЕ, МАЛОГО МОЩНЫЕ, ТТЛ, МОНОСТАБИЛЬНЫЕ МУЛЬТИВИБРАТОРЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA MIL-PRF-3098/79 F-2009 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR104/U
DLA MIL-PRF-3098/85 D-2009 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR109/U
DLA MIL-PRF-3098/93 C-2009 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR117/U
DLA MIL-PRF-3098/102 D-2009 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR125/U
DLA MIL-PRF-3098/106 D-2009 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR127/U
DLA MIL-PRF-3098/114 D-2009 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR135/U
DLA MIL-PRF-3098/123 D-2009 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR142/U
DLA MIL-PRF-3098/129 D-2009 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR148/U
DLA SMD-5962-86872 REV B-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТКИ, БУФЕР NAND, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-97553 REV A-2006 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, ТТЛ, МОНОСТАБИЛЬНЫЙ МУЛЬТИВИБРАТОР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-87533 REV B-2001 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ МАЛОГО МОЩНОСТИ ШОТТКИ ТТЛ, УНИВЕРСАЛЬНЫЙ МУЛЬТИПЛЕКСОР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-86833 REV C-2001 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ МАЛАЯ МОЩНОСТЬ ШОТТКИ TTL, ВЕНТИЛИ NAND, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-85096 REV E-2005 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ МАЛОГО МОЩНОГО ТТЛ ШОТТКИ, МУЛЬТИПЛЕКСОР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-85097 REV F-2005 МИКРОСХЕМЫ, ЦИФРОВЫЕ, БИПОЛЯРНЫЕ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННЫЕ МАЛОГО МОЩНОСТИ ШОТТКИ, ТТЛ, МУЛЬТИПЛЕКСОРЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-86869 REV C-2006 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ МАЛОЙ МОЩНОСТИ ШОТТКИ ТТЛ, МУЛЬТИПЛЕКСЕР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-96792 REV A-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, ТТЛ ШОТКИ, 8 ВХОДОВ И-НЕ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA QPL-3098-92-2008 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ, ОБЩАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ
DLA QPL-3098-93-2010 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ, ОБЩАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ
DLA QPL-3098-95-2010 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ, ОБЩАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ
DLA QPL-3098-97-2013 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ, ОБЩАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ
DLA QPL-3098-98-2013 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ, ОБЩАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ
DLA QPL-3098-99-2013 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ, ОБЩАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ
DLA SMD-5962-86837 REV C-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ РАСШИРЕННАЯ МАЛАЯ МОЩНОСТЬ, ТТЛ ШОТТКИ, ВОРОТА NAND, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA MIL-M-38510/114 B VALID NOTICE 1-2008 МИКРОСХЕМЫ, ЛИНЕЙНЫЕ, BI-FET ОПЕРАЦИОННЫЕ УСИЛИТЕЛИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-97581 REV A-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТТКИ, ТРОЙНАЯ 3-ВХОДНАЯ ПОЛОЖИТЕЛЬНАЯ И ЗАТВОРА, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA DSCC-DWG-94023 REV B-2007 КРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ БЛОК, КВАРЦ, МИНИАТЮРНЫЙ, ПОВЕРХНОСТНЫЙ МОНТАЖ
DLA SMD-5962-97584 REV B-2006 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ТТЛ ШОТТКИ, ДВОЙНОЙ 4-ВХОДНЫЙ ЗАТВОР ПОЛОЖИТЕЛЬНЫЙ-И-НЕ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-97558 REV A-2006 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ, РАСШИРЕННАЯ ШОТТКИ, ТТЛ, 8-ВХОДНЫЕ ВЕНТИЛИ ПОЛОЖИТЕЛЬНЫЙ-И-НЕ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-90798-1992 МИКРОСХЕМЫ, ЦИФРОВЫЕ, БЫСТРЫЕ, КМОП, ДВОЙНОЙ ГЕНЕРАТОР/ШАШКИ НЕЧЕТНОЙ ЧЕТНОСТИ, TTL-СОВМЕСТИМЫЕ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-86708 REV A-2007 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, МАЛАЯ МОЩНОСТЬ ШОТТКИ ТТЛ, ВЫСОКОСКОРОСТНОЙ РЕГИСТР, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-87778 REV A-2001 МИКРОсхема ЛИНЕЙНАЯ СИЛОВОЙ ТРАНЗИСТОР МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA MIL-M-38510/108 A VALID NOTICE 1-2008 Микросхемы, линейные, транзисторные матрицы, монолитный кремний
DLA SMD-5962-87778 REV B-2011 МИКРОсхема ЛИНЕЙНАЯ СИЛОВОЙ ТРАНЗИСТОР МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA MIL-M-38510/108 A VALID NOTICE 2-2013 Микросхемы, линейные, транзисторные матрицы, монолитный кремний

工业和信息化部, Поликристалл против монокристалла

YS/T 724-2016 Кремниевый порошок для поликристаллического кремния
YS/T 1359-2020 Поликристаллический порошок танталата лития
YS/T 1195-2017 Тетрахлорид кремния, побочный продукт поликремния.
JC/T 2417-2017 Пьезоэлектрический монокристаллический материал тетраборат лития
YS/T 1182-2016 Технические характеристики безопасного производства монокристаллов германия
YS/T 1500-2021 Поликристаллический кремний готовит серебряную пластину для футеровки печи
SJ/T 2268-2018 Серия гиромагнитных поликристаллических ферритовых материалов
YS/T 1590-2022 Требования к оценке зеленого производства поликристаллического кремния
YB/T 4589-2017 Углерод/углеродный композитный материал для изоляции монокристаллических печей.
XB/T 520-2021 Поликристаллический сцинтиллятор на гадолиниево-галлиевом алюминиевом гранате, легированном церием
YB/T 4587-2017 Углерод/углеродный композитный нагревательный элемент для монокристаллической печи

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Поликристалл против монокристалла

YS/T 554-2007 Монокристаллы ниобата лития
YS/T 42-2010 Монокристаллы танталата лития
YS/T 554-2006 Монокристалл ниобата лития
YS/T 1167-2016 Травленые пластины монокристаллического кремния
YS/T 1061-2015 Кремниевая сердцевина для поликремния улучшенным методом Сименса
YS 783-2012 Норма энергозатрат на единицу продукции инфракрасного монокристалла германия
YS/T 978-2014 Направляющий щит из углерод/углеродных композитов монокристаллической печи
YS/T 977-2014 Теплоизоляционный цилиндр из углеродных/углеродных композитов монокристаллической печи
YS/T 792-2012 Тигель из углерод-углеродных композитов, используемый в монокристаллической печи

German Institute for Standardization, Поликристалл против монокристалла

DIN V VDE V 0126-18-3:2007 Солнечные пластины. Часть 3. Повреждение пластин кристаллического кремния щелочной коррозией. Метод определения скорости коррозии пластин моно- и мультикристаллического кремния (в виде разреза).
DIN EN IEC 60122-4:2019-10 Кварцевые блоки оцененного качества. Часть 4. Кристаллические блоки с термисторами (IEC 60122-4:2019); Немецкая версия EN IEC 60122-4:2019
DIN EN 13925-2:2003 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 2. Методики; Немецкая версия EN 13925-2:2003
DIN EN 13925-1:2003 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 1. Общие принципы; Немецкая версия EN 13925-1:2003
DIN EN 13925-3:2005 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 3. Приборы; Немецкая версия EN 13925-3:2005.
DIN EN 13925-3:2005-07 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 3. Приборы; Немецкая версия EN 13925-3:2005.
DIN EN 13925-2:2003-07 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 2. Процедуры.
DIN EN 60444-9:2007-12 Измерение параметров кварцевых кристаллов. Часть 9. Измерение паразитных резонансов пьезоэлектрических кристаллов (IEC 60444-9:2007); Немецкая версия EN 60444-9:2007.
DIN EN 62276:2017-08 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения (IEC 62276:2016); Немецкая версия EN 62276:2016 / Примечание: DIN EN 62276 (2013-08) остается действительным наряду с этим стандартом до 28 ноября 2019 г.
DIN EN IEC 62276:2023-05 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения (IEC 49/1401/CD:2022); Текст на немецком и английском языках / Примечание: Дата выпуска 28 апреля 2023 г. *Предназначено для замены стандарта DIN EN 62276 (2017-08).
DIN EN 13925-1:2003-07 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 1. Общие принципы.
DIN EN 120007:1993-06 Пустая подробная спецификация: Жидкокристаллические дисплеи; монохромный ЖК-дисплей без электронной схемы
DIN EN 60444-8:2017-11 Измерение параметров кварцевых блоков. Часть 8. Испытательное приспособление для кварцевых блоков поверхностного монтажа (IEC 60444-8:2016); Немецкая версия EN 60444-8:2017 / Примечание: DIN EN 60444-8 (2004-03) остается действительным наряду с этим стандартом до 19 января 2020 г.
DIN IEC 60122-2:1993-09 Кварцевые блоки регулировки и выбора частоты; часть 2: руководство по использованию кварцевых блоков для регулирования и выбора частоты; идентичен IEC 60122-2:1983
DIN ISO 16463:2005 Поликристаллические алмазные вставки, с наконечниками. Размеры, типы (ISO 16463:2004);Английская версия DIN ISO 16463:2005.
DIN EN 60444-7:2004-11 Измерение параметров кварцевых кристаллов. Часть 7. Измерение активности и провалов частоты кварцевых кристаллов (IEC 60444-7:2004); Немецкая версия EN 60444-7:2004.

RU-GOST R, Поликристалл против монокристалла

GOST 19658-1981 Монокристаллический кремний в слитках. Технические характеристики
GOST 16153-1980 Монокристаллический германий. Технические характеристики
GOST R IEC 61747-20-1-2017 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 20-1. Визуальный осмотр. Ячейки монохромного жидкокристаллического дисплея (за исключением всех ячеек жидкокристаллического дисплея с активной матрицей)
GOST R IEC 61747-3-2017 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 3. Ячейки жидкокристаллического дисплея (ЖКД). Спецификация сечения

Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, Поликристалл против монокристалла

DB53/T 499-2013 Трихлорсилан для поликремния

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Поликристалл против монокристалла

GJB 582-1988 Поликристаллический фторид магния для линз.
GJB 3076A-2021 Спецификация одного чипа на основе фосфида галлия
GJB 3076-1997 Спецификация одного чипа на основе фосфида галлия
GJB 2917A-2018 Спецификация одиночной пластины фосфида индия
GJB 2917A-2004 Спецификация одиночной пластины фосфида индия
GJB 2917-1997 Спецификация одиночной пластины фосфида индия
GJB 582A-2020 Спецификация на поликристаллический фторид магния для линз
GJB 1926-1994 Спецификация монокристаллического материала арсенида галлия
GJB 10342-2021 Спецификация на полированные монокристаллические пластины антимонида индия
GJB 10343-2021 Спецификация на полированные монокристаллические пластины антимонида галлия
GJB 393-1987 Капюшон из поликристаллического фторида магния для ракет «воздух-воздух»
GJB 1927A-2021 Метод испытания монокристаллического материала арсенида галлия
GJB 1927-1994 Метод испытания монокристаллического материала арсенида галлия
GJB 393B-2015 Спецификация на обтекатели ракет из поликристаллического фторида магния
GJB 393A-1995 Спецификация на обтекатели ракет из поликристаллического фторида магния
GJB 9804-2020 Спецификация на монокристаллические стержни из молибден-ниобиевого сплава для использования в ядерной промышленности
GJB 8715-2015 Спецификация на плоские листы из поликристаллического фторида магния горячего прессования для ракетного применения
GJB 1431-1992 Общие технические условия на солнечные элементы из монокристаллического кремния для космического использования
GJB 395-1987 Монокристаллический фторид магния для модуляционной пластины ракеты воздух-воздух

ES-UNE, Поликристалл против монокристалла

UNE-EN 168100:1993 SS: КВАРЦОВЫЕ КРИСТАЛЛЫ. (Одобрено AENOR в ноябре 1996 г.)
UNE-EN 120007:1992 БДС: ЖИДКОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ДИСПЛЕИ. МОНОХРОМНЫЕ ЖК-дисплеи БЕЗ ЭЛЕКТРОННОЙ СХЕМЫ. (Одобрено AENOR в сентябре 1996 г.)
UNE-EN 168200/A1:1993 СС: АППАРАТЫ КВАРЦЕВЫЕ (УТВЕРЖДЕНИЕ КВАЛИФИКАЦИИ). (Одобрено AENOR в сентябре 1996 г.)
UNE-EN 168200:1993 СС: АППАРАТЫ КВАРЦЕВЫЕ (УТВЕРЖДЕНИЕ КВАЛИФИКАЦИИ). (Одобрено AENOR в сентябре 1996 г.)
UNE-EN 62276:2016 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в январе 2017 г.)
UNE-EN 61747-3:2006 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 3. Ячейки жидкокристаллического дисплея (ЖКД). Раздельная спецификация (IEC 61747-3:2006). (Одобрено AENOR в январе 2007 г.)
UNE-EN 60444-9:2007 Измерение параметров кварцевого кристалла. Часть 9. Измерение побочных резонансов пьезоэлектрических кристаллов (IEC 60444-9:2007). (Одобрено AENOR в августе 2007 г.)

Jiangxi Provincial Standard of the People's Republic of China, Поликристалл против монокристалла

DB36/ 652-2012 Норма энергозатрат на единицу продукции поликремния
DB36/ 771-2013 Норма энергопотребления на единицу продукции монокристаллического кремния Чохральского

HU-MSZT, Поликристалл против монокристалла

MSZ 12435/3-1977 Поликремний. Основные технические характеристики

British Standards Institution (BSI), Поликристалл против монокристалла

BS EN 13925-2:2003(2008) Неразрушающий контроль. Дифракция рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах. Методики.
BS EN 13925-3:2005(2009) Неразрушающий контроль - Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах - Приборы
BS EN 13925-2:2003 Неразрушающий контроль. Дифракция рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах. Методики.
BS EN 13925-3:2005 Неразрушающий контроль - Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах - Приборы
BS EN 13925-1:2003(2008) Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Общие принципы.
BS EN 13925-1:2003 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Общие принципы.
BS EN ISO 11979-9:2006+A1:2014 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 9. Мультифокальные интраокулярные линзы.
13/30276532 DC БС ЕН 61747-20-1. Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 20-1. Визуальный осмотр. Ячейки монохромного жидкокристаллического дисплея (за исключением всех ячеек жидкокристаллического дисплея с активной матрицей)
BS EN 61747-2-1:1998 Жидкокристаллические и твердотельные устройства отображения. Монохромные ЖК-модули с пассивной матрицей. Пустая подробная спецификация
BS EN 61747-2-1:2013 Устройства жидкокристаллического дисплея. Монохромные ЖК-модули с пассивной матрицей. Пустая подробная спецификация
14/30277702 DC БС ЕН 61747-3. Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 3. Ячейки жидкокристаллического дисплея (ЖКД). Спецификация сечения
BS EN 62047-9:2011 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Измерение прочности соединения между пластинами для МЭМС
BS EN 62047-9:2013 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Измерение прочности соединения между пластинами для МЭМС
BS EN 61747-2-1:2001 Жидкокристаллические и твердотельные дисплеи. Монохромные ЖК-модули с пассивной матрицей. Бланковая детальная спецификация.
23/30468947 DC BS EN 62276. Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения

U.S. Military Regulations and Norms, Поликристалл против монокристалла

ARMY MIL-PRF-3098/104 F-2013 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR102/U
ARMY MIL-PRF-3098/105 H-2013 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR103/U
ARMY MIL-PRF-3098/80 G-2013 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR105/U
ARMY MIL-PRF-3098/88 H-2013 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR112/U
ARMY MIL-PRF-3098/86 F-2013 КРИСТАЛЛ, КВАРЦ, CR110/U
ARMY MIL-PRF-3098/82 E-2013 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR106/U
ARMY MIL-PRF-3098/83 G-2013 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR107/U
ARMY MIL-PRF-3098/89 E-2013 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR113/U
ARMY MIL-PRF-3098/92 F-2013 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR116/U
ARMY MIL-PRF-3098/100 E-2013 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR123/U
ARMY MIL-PRF-3098/99 E-2013 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR122/U
ARMY MIL-PRF-3098/108 E-2013 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR128/U
ARMY MIL-PRF-3098/101 D-2013 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR124/U
ARMY MIL-PRF-3098/113 E-2011 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR134/U
ARMY MIL-PRF-3098/115 E-2011 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR136/U
ARMY MIL-PRF-3098/116 E-2011 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR137/U
ARMY MIL-PRF-3098/120 E-2011 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR131/U
ARMY MIL-PRF-3098/132 E-2011 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR151/U
ARMY MIL-PRF-3098/137 D-2011 КРИСТАЛЛ КВАРЦ, CR157/U
ARMY MIL-PRF-3098 K-2010 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ ОБЩАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ ДЛЯ
ARMY MIL-PRF-3098 K (1)-2011 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ ОБЩАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ ДЛЯ
ARMY MIL-PRF-3098 K (1) SUPP 1-2013 КРИСТАЛЛЫ, КВАРЦ ОБЩАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ ДЛЯ
ARMY QPL-55681-QPD-2010 Конденсатор, чип, многослойный, фиксированный, с керамическим диэлектриком

IN-BIS, Поликристалл против монокристалла

IS 9709-1980 Технические характеристики синтетического монокристалла кварца
IS 4570 Pt.11-1989 Спецификация держателей кристаллов. Часть 11. Металлические сварные двухштырьковые держатели кристаллов типа DQ.
IS 4570 Pt.8-1985 Спецификация кронштейнов для кристаллического блока. Часть 8. Металлический сварной трехпроволочный кронштейн для кристаллического блока типа DK.
IS 4570 Pt.13/Sec.5-1993 Держатели кристаллических блоков. Технические характеристики. Часть 13. Автоматическое обращение с кварцевыми держателями кристаллических блоков. Обзор. Раздел 5. Металлический, герметичный, двухштырьковый держатель кристаллических блоков типа CU 05.
IS 4570 Pt.13/Sec.4-1993 Держатели кристаллических блоков — спецификация, часть 13. Обзор автоматического обращения с кварцевыми держателями блоков. Раздел 4. Металлические герметичные двухигольные держатели кристаллических блоков типа CU 04.
IS 4570 Pt.6-1984 Технические характеристики держателя кристаллического блока. Часть 6. Металлический, запаянный под пайку, двухконтактный держатель кристаллического блока, тип CX.
IS 2511-1963 Спецификация стека поликристаллических полупроводниковых выпрямителей
IS 3136-1965 Спецификация оборудования для выпрямления поликристаллических полупроводников
IS 4570 Pt.13/Sec.3-1993 Держатели кристаллических блоков — спецификация, часть 13. Обзор автоматически обработанных держателей кварцевых блоков. Раздел 3. Металлические герметичные двухигольные держатели кристаллических блоков типа CU 03.
IS 4570 Pt.13/Sec.2-1993 Держатели кристаллических блоков — спецификация, часть 13. Обзор автоматически обрабатываемых держателей кварцевых блоков. Раздел 2. Металлические герметичные двухигольные держатели кристаллических блоков типа CU 02.
IS 4570 Pt.13/Sec.1-1993 Держатели кристаллических блоков. Технические характеристики. Часть 13. Обзор кварцевых держателей блоков для автоматического перемещения. Раздел 1. Металлический, герметичный, двухштифтовый держатель кристаллических блоков типа CU 01.
IS 4570 Pt.7-1985 Спецификация поддержки кварцевого блока, часть 7. Микро, металлический, запаянный, двухпроводной, поддержка кварцевого блока, тип DJ
IS 4570 Pt.12-1989 Спецификация опор кристаллического модуля. Часть 12. Микрометаллические двухпроволочные опоры кристаллического модуля холодной сварки типа EB.
IS 4570 Pt.3-1984 Технические характеристики держателей хрусталя. Часть 3. Трубчатые держатели хрусталя (стекла) типов AP, AR, AS, AT и AU.
IS 8271 Pt.2/Sec.3-1981 Спецификация кварцевых блоков для использования в генераторах серии II AA. Раздел 3. Кварцевый блок типа AA-03.
IS 8271 Pt.2/Sec.5-1981 Спецификация кварцевых блоков для использования в генераторах серии II AA. Раздел 5. Кварцевый блок типа AA-05.
IS 8271 Pt.2/Sec.2-1981 Технические характеристики кварцевых блоков, используемых в генераторах. Часть II, серия AA. Раздел 2. Кварцевый блок типа AA-02.
IS 8271 Pt.2/Sec.1-1981 Технические характеристики кварцевых блоков, используемых в генераторах. Часть II, серия AA. Раздел 1. Кварцевый блок типа AA-01.

GSO, Поликристалл против монокристалла

GSO IEC 61747-20-1:2016 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 20-1. Визуальный осмотр. Ячейки монохромного жидкокристаллического дисплея (исключая все жидкокристаллические элементы дисплея с активной матрицей)
BH GSO IEC 61747-20-1:2017 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 20-1. Визуальный осмотр. Ячейки монохромного жидкокристаллического дисплея (исключая все жидкокристаллические элементы дисплея с активной матрицей)
GSO ISO 11979-9:2014 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 9. Мультифокальные интраокулярные линзы.
BH GSO ISO 11979-9:2016 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 9. Мультифокальные интраокулярные линзы.
OS GSO ISO 11979-9:2014 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 9. Мультифокальные интраокулярные линзы.
OS GSO IEC 61747-3:2014 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 3. Ячейки жидкокристаллического дисплея (ЖКД). Спецификация в разрезе.
GSO IEC 62276:2014 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения
OS GSO IEC 62276:2014 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения
OS GSO IEC 61747-3-1:2014 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 3-1. Ячейки жидкокристаллического дисплея (ЖКД). Пустая подробная спецификация.
GSO IEC 60444-7:2014 Измерение параметров кварцевых кристаллов. Часть 7. Измерение активности и провалов частоты кварцевых кристаллов.
BH GSO ISO 16463:2016 Вставки из поликристаллического алмаза с напайками. Размеры, типы
BH GSO IEC 60444-7:2016 Измерение параметров кварцевых кристаллов. Часть 7. Измерение активности и провалов частоты кварцевых кристаллов.

Professional Standard - Medicine, Поликристалл против монокристалла

YY 0290.9-2010 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 9: Мультифокальные интраокулярные линзы.

American National Standards Institute （ANSI), Поликристалл против монокристалла

ANSI/ASTM D6058:2001 Практика определения концентрации аэрозольных монокристаллических керамических усов в рабочей среде
ANSI/ASTM D6057:2001 Метод испытаний для определения концентрации аэрозольных монокристаллических керамических усов в рабочей среде методом фазово-контрастной микроскопии

Association Francaise de Normalisation, Поликристалл против монокристалла

NF C93-616:2013 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения
NF C26-400:1971 ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ АЛЮМОГЛИНОЗЕМНАЯ КЕРАМИКА. МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЯ.
NF ISO 16463:2014 Поликристаллические алмазные паяные вставки – размеры, типы
NF EN 61747-3:2007 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 3. Ячейки жидкокристаллического дисплея (ЖКД). Спецификация в разрезе.
NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 3: приборы.
NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 2: процедуры.
NF EN 1330-11:2007 Неразрушающий контроль. Терминология. Часть 11. Рентгеновская дифракция поликристаллических и аморфных материалов.
NF C93-616*NF EN 62276:2018 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения
NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 1: общие принципы.
NF EN 13925-2:2003 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция поликристаллических и аморфных материалов. Часть 2: процедуры.
NF EN 61747-3-1:2006 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 3-1. Ячейки жидкокристаллического дисплея (ЖКД). Рамка особых технических требований.
NF E66-314:2004 Поликристаллические алмазные вставки с напайками - Размеры, типы.
NF E66-314*NF ISO 16463:2014 Поликристаллические алмазные вставки с напайками - Размеры, типы
NF EN 13925-3:2005 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция поликристаллических и аморфных материалов. Часть 3: оборудование.
NF EN 13925-1:2003 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция применительно к поликристаллическим и аморфным материалам. Часть 1: общие принципы.
NF EN 61747-4:2013 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 4. Модули и ячейки жидкокристаллического дисплея. Предельные значения и существенные характеристики

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Поликристалл против монокристалла

JIS C 6760:2014 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения.

IEC - International Electrotechnical Commission, Поликристалл против монокристалла

IEC 61747-20-1:2015 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 20-1. Визуальный осмотр. Ячейки монохромного жидкокристаллического дисплея (исключая все жидкокристаллические дисплейные элементы с активной матрицей) (Издание 1.0)
PAS 62276-2001 Монокристаллические пластины, применяемые для устройств на поверхностных акустических волнах - характеристики и метод измерения (редакция 1.0)

CEN - European Committee for Standardization, Поликристалл против монокристалла

EN IEC 60122-4:2019 Кварцевые кристаллические блоки оцененного качества. Часть 4. Кристаллические блоки с терморезисторами.

KR-KS, Поликристалл против монокристалла

KS C IEC 60122-4-2022 Кварцевые кристаллические блоки оцененного качества. Часть 4. Кристаллические блоки с термисторами.

Danish Standards Foundation, Поликристалл против монокристалла

DS/EN 61747-3:2007 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 3. Ячейки жидкокристаллического дисплея (ЖКД). Спецификация в разрезе.
DS/EN ISO 11979-9:2007 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 9. Мультифокальные интраокулярные линзы.
DS/EN 13925-2:2003 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 2. Процедуры.
DS/EN 13925-3:2005 Неразрушающий контроль. Дифракция рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 3. Приборы.
DS/EN 60444-9:2007 Измерение параметров кварцевого кристалла. Часть 9. Измерение побочных резонансов пьезоэлектрических кристаллов.
DS/EN 62276:2013 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения
DS/EN 13925-1:2003 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 1. Общие принципы.
DS/EN 1330-11:2007 Неразрушающий контроль. Терминология. Термины, используемые в дифракции рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах.
DS/EN 61747-3-1:2007 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 3-1. Ячейки жидкокристаллического дисплея (ЖКД). Пустая подробная спецификация.

International Electrotechnical Commission (IEC), Поликристалл против монокристалла

IEC 60122-4:2019 Кварцевые кристаллические блоки оцененного качества. Часть 4. Кристаллические блоки с терморезисторами.
IEC 61747-3:2015 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 3. Ячейки жидкокристаллического дисплея (ЖКД). Спецификация в разрезе.

ANSI - American National Standards Institute, Поликристалл против монокристалла

Z80.12-2007 Офтальмология – мультифокальные интраокулярные линзы (ВК)

Professional Standard - Building Materials, Поликристалл против монокристалла

JC/T 2143-2012 Керамические материалы на основе тетрагонального диоксида циркония.
JC/T 1048-2007 Тигли из плавленого кварца для выращивания монокристаллического кремния
JC/T 1048-2018 Кварцевый тигель для выращивания монокристаллического кремния
JC/T 2796-2023 Порошок графита высокой чистоты для монокристалла карбида кремния
JC/T 2025-2010 Пьезоэлектрические монокристаллы ниобата-титаната свинца-магния (PMNT).
JC/T 2349-2015 Керамические изоляционные компоненты SiN для производства поликристаллического кремния
JC/T 2343-2015 Монокристаллическая трубка из оксида алюминия, изготовленная методом выращивания кристаллов с пленочной подачей по краям

Professional Standard - Aviation, Поликристалл против монокристалла

HB 6742-1993 Определение кристаллической ориентации монокристаллических лезвий методом рентгеновской обратной фотографии Лауэ
HB 7762-2005 Технические условия на лигатуры направленно-затвердевания и монокристаллические суперсплавы для авиационных двигателей.

SE-SIS, Поликристалл против монокристалла

SIS SEN 43 60 01-1964 Кварцевые блоки для генераторов
SIS SS-CECC 68000-1991 Общая спецификация: кварцевые кристаллы
SIS SEN 27 06-1962 Поликристаллические полупроводниковые выпрямительные блоки и оборудование
SIS SS-CECC 68100-1991 Спецификация по секциям: кварцевые кристаллы (утверждение возможностей)
SIS SS-CECC 68200-1991 Спецификация по секциям: Кварцевые блоки (Квалификационное одобрение)

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Поликристалл против монокристалла

JJG 48-2004 Стандартный срез удельного сопротивления монокристаллического кремния
JJG 629-2014 Поликристаллические рентгеновские дифрактометры
JJG 629-1989 Правила поверки поликристаллического рентгеновского дифрактометра
JJG(地质) 1014-1990 Правила поверки поликристаллического рентгеновского дифрактометра

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Поликристалл против монокристалла

YB 1603-1983 Отрезные и шлифовальные диски из монокристалла кремния.

机械电子工业部, Поликристалл против монокристалла

JB 5203-1991 Метод химического анализа монокристаллического корунда

European Committee for Standardization (CEN), Поликристалл против монокристалла

EN 13925-2:2003 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 2. Процедуры.
EN 13925-3:2005 Неразрушающий контроль. Дифракция рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 3. Приборы.
EN 1330-11:2007 Неразрушающий контроль. Терминология. Термины, используемые в дифракции рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах.

International Organization for Standardization (ISO), Поликристалл против монокристалла

ISO 11979-9:2006 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 9. Мультифокальные интраокулярные линзы.
ISO 11979-9:2006/Amd 1:2014 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 9. Мультифокальные интраокулярные линзы; Поправка 1
ISO 16463:2004 Поликристаллические алмазные вставки с напайками - Размеры, типы
ISO 16463:2014 Поликристаллические алмазные вставки с напайками - Размеры, типы

Lithuanian Standards Office , Поликристалл против монокристалла

LST EN 13925-3-2005 Неразрушающий контроль. Дифракция рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 3. Приборы.
LST EN 13925-2-2004 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 2. Процедуры.
LST EN 13925-1-2004 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 1. Общие принципы.
LST EN 1330-11-2007 Неразрушающий контроль. Терминология. Термины, используемые в дифракции рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах.
LST EN 61747-3-2007 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 3. Ячейки жидкокристаллического дисплея (ЖКД). Спецификация по разделам (IEC 61747-3:2006).
LST EN ISO 11979-9:2007 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 9. Мультифокальные интраокулярные линзы (ISO 11979-9:2006)
LST EN 120007-2001 Пустая подробная спецификация. Жидкокристаллические дисплеи. Монохромные ЖК-дисплеи без электронной схемы
LST EN 60444-9-2007 Измерение параметров кварцевого кристалла. Часть 9. Измерение побочных резонансов пьезоэлектрических кристаллов (IEC 60444-9:2007).
LST EN 62276-2006 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения (IEC 62276:2005)
LST EN 62276-2013 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения (IEC 62276:2012)

AENOR, Поликристалл против монокристалла

UNE-EN 13925-2:2004 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 2. Процедуры.
UNE-EN 13925-3:2006 Неразрушающий контроль. Дифракция рентгеновских лучей на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 3. Приборы.
UNE-EN 13925-1:2006 Неразрушающий контроль. Рентгеновская дифракция на поликристаллических и аморфных материалах. Часть 1. Общие принципы.
UNE-EN ISO 11979-9:2007 Офтальмологические имплантаты. Интраокулярные линзы. Часть 9. Мультифокальные интраокулярные линзы (ISO 11979-9:2006)

American Society for Testing and Materials (ASTM), Поликристалл против монокристалла

ASTM E2627-13(2019) Стандартная практика определения среднего размера зерна с использованием дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD) в полностью рекристаллизованных поликристаллических материалах
ASTM F1723-96 Стандартная практика оценки стержней из поликристаллического кремния методом выращивания кристаллов в плавающей зоне и спектроскопии
ASTM F847-94(1999) Стандартные методы испытаний для измерения кристаллографической ориентации плоских поверхностей на пластинах монокристаллического кремния рентгеновскими методами
ASTM D6058-96(2011) Стандартная практика определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте
ASTM D6058-96(2016) Стандартная практика определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте
ASTM E1181-02(2015) Стандартные методы испытаний для определения размеров дуплексных зерен

SCC, Поликристалл против монокристалла

CEI EN 60444-8:2017 Измерение параметров кварцевых блоков. Часть 8. Испытательное приспособление для кварцевых блоков поверхностного монтажа.
CEI EN 62276:2017 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения
DANSK DS/EN 62276:2016 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения.
IEC 60122-2:1962 Кварцевые кварцевые генераторы. Часть 2. Руководство по использованию кварцевых генераторов.
DIN EN 60122-4 E:2018 Проект документа. Кварцевые блоки оцененного качества. Часть 4. Кристаллические блоки с термисторами (IEC 49/1244/CD:2017).
DIN EN 62276:2017 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения (IEC 62276:2016); Немецкая версия EN 62276:2016

Professional Standard - Education, Поликристалл против монокристалла

JY/T 0587-2020 Общие принципы методов рентгеновской дифракции поликристаллов
JY/T 009-1996 Общие принципы метода получения рентгеновских лучей из поликристаллов с вращающейся мишенью

Association of German Mechanical Engineers, Поликристалл против монокристалла

VDI/VDE 5575 Blatt 8-2013 Рентгенооптические системы - Кристаллы-монохроматоры

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, Поликристалл против монокристалла

VDI/VDE 5575 BLATT 8-2019 Рентгеноптическая система - монохроматор-кристалл
VDI/VDE 5575 Blatt 8-2011 Рентгеноптическая система - монохроматор-кристалл
VDI/VDE 5575 BLATT 8-2018 Рентгеноптическая система - монохроматор-кристалл

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Поликристалл против монокристалла

EN 62276:2013 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Поликристалл против монокристалла

EN 62276:2016 Монокристаллические пластины для устройств на поверхностных акустических волнах (ПАВ). Технические характеристики и методы измерения

GOST, Поликристалл против монокристалла

GOST 25734-1983 Глинозем. Метод кристаллооптического определения размеров монокристаллов в неметаллургическом глиноземе

Inner Mongolia Provincial Standard of the People's Republic of China, Поликристалл против монокристалла

DB15/T 2234-2021 Норма энергопотребления на единицу продукции монокристаллического кремния Чохральского

IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components, Поликристалл против монокристалла

QC 720200-1998 Устройства жидкокристаллического и твердотельного дисплея. Часть 3. Технические характеристики секций для ячеек жидкокристаллического дисплея (ЖКД)

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, Поликристалл против монокристалла

ESDU 81027 A-1982 Решетчатые конструкции. Часть 1: средние силы жидкости на одно- и многоплоскостных каркасах.

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Поликристалл против монокристалла

GJB 6466-2008 Спецификация на пластину из поликристаллического фторида магния горячего прессования для ракет

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, Поликристалл против монокристалла

DB61/T 512-2011 Правила проверки пластин монокристаллического кремния для солнечных элементов
DB61/T 511-2011 Правила проверки монокристаллических кремниевых стержней для солнечных элементов

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Поликристалл против монокристалла

JJF 1256-2010 Спецификация калибровки рентгеновского оборудования для ориентации монокристаллов