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x射线衍射仪半定量分析

本专题涉及x射线衍射仪半定量分析的标准有124条。

国际标准分类中,x射线衍射仪半定量分析涉及到耐火材料、辐射防护、金属材料试验、职业安全、工业卫生、非金属矿、分析化学、半导体材料、无损检测、教育、核能工程、词汇、空气质量、无机化学、涂料配料、光学和光学测量、化工产品、光学设备、石油产品综合、辐射测量、建筑材料、有色金属、金属矿、消防、燃料、煤、医学科学和保健装置综合。

在中国标准分类中,x射线衍射仪半定量分析涉及到硅质耐火材料、耐火材料综合、放射卫生防护、金相检验方法、金属无损检验方法、非金属矿、石油地质勘探、轻金属及其合金分析方法、教学专用仪器、X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器、核仪器与核探测器综合、教育、学位、学衔、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、光学测试仪器、电化学、热化学、光学式分析仪器、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合、基础标准与通用方法、无机盐、化学计量、实验室基础设备、氧化物、单质、金属物理性能试验方法、电子光学与其他物理光学仪器、石油产品综合、勘探采矿和工艺监测核仪器、水泥、水泥混合材与外加剂、化学、混凝土、集料、灰浆、砂浆、燃料油、冶金原料与辅助材料综合、稀有金属矿、辐射防护仪器、环境监测仪器及其成套装置、、建材原料矿、冶金辅助原料矿。


行业标准-黑色冶金,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

工业和信息化部,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

  • YB/T 172-2020 硅砖定量相分析 X射线衍射法
  • YB/T 5338-2019 钢中奥氏体定量测定 X射线衍射仪法
  • YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法
  • YS/T 1033-2015 干式防渗料元素含量的测定 X射线荧光光谱分析法
  • YS/T 806-2020 铝及铝合金化学分析方法 元素含量的测定 X射线荧光光谱法

国家质检总局,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

  • GB 16355-1996 X射线衍射仪和荧光分析仪放射防护标准
  • GB/T 19421.1-2003 层状结晶二硅酸钠试验方法 δ相层状结晶二硅酸钠定性分析 X射线衍射仪法
  • GB/T 6609.32-2009 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法.第32部分:α-三氧化二铝含量的测定.X-射线衍射法
  • GB/T 22571-2008 表面化学分析.X射线光电子能谱仪.能量标尺的校准
  • GB/T 18873-2002 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线 能谱定量分析通则
  • GB/T 18873-2008 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线能谱定量分析通则
  • GB/T 17359-1998 电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则
  • GB/T 12162.4-2010/ISO 4037 4-2004 用于校准剂量仪和剂量率仪及确定其能量响应的X和γ参考辐射 第4部分:低能X射线参考辐射场中场所和个人剂量仪的校准
  • GB/T 12162.4-2010/ISO 4037 4:2004 用于校准剂量仪和剂量率仪及确定其能量响应的X和γ参考辐射 第4部分:低能X射线参考辐射场中场所和个人剂量仪的校准
  • GB/T 12162.4-2010 用于校准剂量仪和剂量率仪及确定其能量响应的X和γ参考辐射第4部分:低能X射线参考辐射场中场所和个人剂量仪的校准
  • GB/T 17416.2-1998 锆矿石化学分析方法 X射线荧光光谱法测定锆量和铪量
  • GB/T 14506.28-1993 硅酸盐岩石化学分析方法 X射线荧光光谱法测定主、次元素量
  • GB/T 14849.5-2010 工业硅化学分析方法.第5部分:元素含量的测定.X射线荧光光谱法

卫生部国家职业卫生标准,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

  • GBZ 115-2002 X射线衍射和荧光分析仪卫生防护标准

行业标准-海关,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

  • HS/T 12-2006 滑石、绿泥石、菱镁石混合相的定量分析 X 射线衍射仪法

日本工业标准调查会,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

  • JIS K 0131:1996 X射线衍射计测量分析的通用规则
  • JIS A 1481-3:2014 建筑材料产品中石棉的测定.第3部分:X-射线衍射法对含有石棉的定量分析
  • JIS A 1481-3 AMD 1:2022 建筑材料产品中石棉的测定. 第3部分: X-射线衍射法对含有石棉的定量分析(修改件1)
  • JIS K 0162:2010 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述

行业标准-石油,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

  • SY/T 5163-1995 沉积岩粘土矿物相对含量X射线衍射分析方法
  • SY/T 6210-1996 沉积岩中粘土矿物总量和常见非粘土矿物X射线衍射定量分析方法

美国材料与试验协会,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

  • ASTM E915-96 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的测试方法
  • ASTM E915-16 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的测试方法
  • ASTM E915-96(2002) 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的测试方法
  • ASTM E915-10 残余应力测量用X射线衍射仪校准检定的标准试验方法
  • ASTM D5380-93(2003) 通过X射线衍射分析鉴定涂料中结晶颜料和扩展剂的标准测试方法
  • ASTM D5380-93(2021) 通过X射线衍射分析鉴定涂料中结晶颜料和扩展剂的标准测试方法
  • ASTM C1365-06(2011) 用X射线粉末衍射分析法测定硅酸盐水泥和硅酸盐水泥熔渣阶段比的标准试验方法
  • ASTM C1365-06 用X射线粉末衍射分析法测定硅酸盐水泥和硅酸盐水泥熔渣阶段比的标准试验方法
  • ASTM C1365-98 用X射线粉末衍射分析测定硅酸盐水泥和硅酸盐水泥熔渣的阶段比例的标准试验方法
  • ASTM C1365-98(2004) 用X射线粉末衍射分析测定硅酸盐水泥和硅酸盐水泥熔渣的阶段比例的标准试验方法
  • ASTM C1365-18 使用X射线粉末衍射分析法测定波特兰水泥和波特兰水泥熟料中相的比例的标准测试方法
  • ASTM E1588-07 用扫描电子显微镜法/能量色散X射线光谱测定法的射击残留物分析用标准指南
  • ASTM E1588-07e1 用扫描电子显微镜法/能量色散X射线光谱测定法的射击残留物分析用标准指南

行业标准-教育,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

  • JY/T 0588-2020 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则
  • JY/T 008-1996 四圆单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则

行业标准-核工业,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

德国标准化学会,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

  • DIN 51418-2:2015 X射线光谱分析.X射线散射和X射线荧光分析(RFA).第2部分:定义和测量、校准及评估的基本原则
  • DIN 51418-2:1996 X射线光谱分析.X射线散射和X射线荧光分析(RFA).第2部分:定义和测量、校准及评估的基本原则
  • DIN 51418-2:2015-03 X 射线光谱测定 X 射线发射和 X 射线荧光分析(XRF)第2部分:测量、校准和结果评估的定义和基本原则
  • DIN ISO 15632:2015 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范(ISO 15632-2012)
  • DIN 51418-2 Bb.1:2000 X射线光度法.X射线散射和X射线荧光分析(XRF).第2部分:定义和测量、校准及对结果评定的基本原理.附加信息和计算范例
  • DIN ISO 15632:2022-09 微束分析 用于能量色散 X 射线光谱仪规格和检查的选定仪器性能参数
  • DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 射线光电子能谱仪 - 能量标度校准 (ISO 15472:2010)
  • DIN 51577-4:1994 矿物油碳氢化合物和类似产品的检验.氯和溴含量的测定.用低价格仪器的能量散射X射线光谱仪分析
  • DIN 51440-1:2003 汽油检测.磷含量测定.第1部分:波长色散X射线光谱分析法
  • DIN EN ISO 14597:1999 矿物油制品.钒和镍含量的测定.波长色散X射线荧光分析法

法国标准化协会,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

  • NF X21-008:2012 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规格
  • NF ISO 22262-3:2017 空气质量固体材料第3部分:X射线衍射法定量测定石棉
  • NF X43-066-3*NF ISO 22262-3:2017 空气质量 散装材料 第3部分:用 X 射线衍射法定量测定石棉
  • NF X21-055:2006 表面化学分析.X射线光电谱仪.能量刻度表校准
  • NF ISO 16258-2:2015 工作场所空气 通过 X 射线衍射测定结晶二氧化硅的可吸入部分 第2部分:间接分析方法
  • NF M07-095*NF EN ISO 14597:1999 石油产品 钒和镍含量的测定 X射线荧光分析法
  • NF ISO 16258-1:2015 工作场所空气 X 射线衍射法测定结晶二氧化硅的可吸入部分 第1部分:直接过滤分析方法
  • NF X21-003:2006 微光束分析.电子探针显微分析.波长分布X射线光谱测量法定量分析指南
  • NF EN 16424:2014 废物表征-使用便携式X射线荧光分析仪测定元素成分的筛选方法
  • NF X21-006:2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法进行块状样品的定量点分析
  • NF EN ISO 13196:2015 土壤质量 – 使用便携式或手持式能量色散 X 射线荧光光谱仪快速分析土壤中的选定元素

国际标准化组织,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

  • ISO 15632:2021 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范
  • ISO 15632:2012 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范
  • ISO 15632:2002 微光束分析.带半导体探测器的能量发散X射线分光仪的仪器规范
  • ISO 22262-3:2016 空气质量.散装材料.第3部分:用X射线衍射法对石棉的定量测定
  • ISO 15472:2010 表面化学分析.X射线光电谱仪.能量刻度表校准
  • ISO 15472:2001 表面化学分析 X射线光电谱仪 能量刻度表校准
  • ISO 15470:2004 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • ISO 17470:2014 微束分析. 电子探针微量分析. 用波长色散X射线光谱测定法定性点分析指南
  • ISO 22489:2006 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
  • ISO 22489:2016 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品

韩国科技标准局,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

  • KS D ISO 15632:2012 微光束分析.带半导体探测器的能量发散X射线分光仪的仪器规范
  • KS D ISO 14706-2003(2018) 表面化学分析-全反射X-射线荧光分析仪测定硅片表面元素杂质
  • KS M 1068-2005 使用荧光X-射线分析的有毒物质的定性/定量分析
  • KS D ISO 15472:2003 表面化学分析.X射线光电光谱仪.能量刻度的校正
  • KS D ISO 15632:2018 微束分析 - 用于电子探针微量分析的能量色散X射线光谱仪的规范和检查的选定仪器性能参数
  • KS M ISO 14597:2003 液体燃料检验.钒和镍含量的测定.X射线荧光分析法
  • KS D ISO 15470:2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • KS D ISO 22489:2012 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
  • KS D ISO 22489:2018 微束分析 - 电子探针微量分析 - 使用波长色散X射线光谱法的批量样品的定量点分析
  • KS C IEC 61017-2:2005 辐射防护仪表.环境监测用的便携式可移动或固定式X射线与γ射线测量表.第2部分:集成元件
  • KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化学分析-俄歇电子能谱和X射线光电子能谱-分析仪横向分辨率、分析面积和样品面积的测定
  • KS E ISO 10086-1:2007 菱镁矿和白云石耐火制品的化学分析(可选X射线荧光法).仪器、试剂和分解及重量分析二氧化硅的测定

澳大利亚标准协会,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

  • AS 2879.3:2010 氧化铝 第 3 部分:通过 X 射线衍射测定 α 氧化铝含量
  • AS ISO 15470:2006 表面化学分析.X射线光电子光谱法.选定仪器性能参数的描述

工业和信息化部/国家能源局,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

国家计量技术规范,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

  • JJF 1133-2005 X射线荧光光谱法黄金含量分析仪校准规范

行业标准-农业,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

  • SN/T 3323.7-2023 氧化铁皮 第7部分:游离α-SiO2含量的测定 X射线衍射K值法

KR-KS,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

  • KS D ISO 14706-2003(2023) 表面化学分析-全反射X射线荧光分析仪测定硅晶片表面元素杂质
  • KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化学分析-X射线光电子能谱仪-能量刻度的校准
  • KS D ISO 15632-2018 微束分析 - 用于电子探针微量分析的能量色散X射线光谱仪的规范和检查的选定仪器性能参数
  • KS D ISO 22489-2018 微束分析 - 电子探针微量分析 - 使用波长色散X射线光谱法的批量样品的定量点分析
  • KS D ISO 22489-2018(2023) 微束分析.电子探针微量分析.用波长色散x射线光谱法对大块样品进行定量点分析

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

  • GB/T 22571-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准
  • GB/T 36053-2018 X射线反射法测量薄膜的厚度、密度和界面宽度 仪器要求、准直和定位、数据采集、数据分析和报告

RU-GOST R,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

行业标准-有色金属,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

  • YS/T 438.5-2013 砂状氧化铝物理性能测定方法 第5部分:X-射线衍射法测定α-氧化铝含量
  • YS/T 703-2014 石灰石化学分析方法 元素含量的测定 X射线荧光光谱法
  • YS/T 575.23-2009 铝土矿石化学分析方法.第23部分:X射线荧光光谱法测定元素含量

(美国)福特汽车标准,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

英国标准学会,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

  • BS ISO 15470:2005 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • BS ISO 15470:2017 表面化学分析.X射线光电光谱法.选定的仪器性能参数的描述
  • BS ISO 15632:2012 微束分析. 用于电子探针显微分析的能量分散X射线光谱仪规范和检查用所选仪器性能参数
  • BS ISO 15632:2021 微束分析 用于电子探针显微分析的能量分散X射线光谱仪规范和检查用所选仪器性能参数
  • BS ISO 22489:2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
  • BS ISO 22489:2016 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
  • BS EN ISO 21587-1:2007 硅酸铝耐熔制品的化学分析(可选择X射线荧光法).仪器、试剂、硅石的分解和重量测定
  • 19/30394914 DC BS ISO 15632 微束分析 用于电子探针显微镜或电子探针微量分析仪(EPMA)的能量色散 X 射线光谱仪的规格和检查的选定仪器性能参数
  • BS EN ISO 10058-1:2009 菱镁矿和白云石耐火制品的化学分析(可选X射线荧光法) 仪器、试剂和分解及重量分析二氧化硅的测定
  • BS EN ISO 10058-1:2008 菱镁矿和白云石耐火制品的化学分析(可选X射线荧光法).仪器、试剂和分解及重量分析二氧化硅的测定

山东省地方标准,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

  • DB37/T 266-1999 建材产品中废渣掺加量的测定方法 X射线荧光分析法

国际电工委员会,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

  • IEC 60846-2:2007 辐射防护仪表.β,X和γ辐射周围和/或定向剂量当量(率)仪和/或监测仪.第2部分:紧急情况放射线防护目的用的便携式高射程β,光子剂量
  • IEC 61017-2:1994 辐射防护仪表 环境监测用的便携式可移动或固定式的X射线或γ射线测量表 第2部分:集成元件

中国团体标准,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

  • T/NAIA 0128-2022 氢氧化铝快速测定 X射线荧光光谱分析(压片)法测定元素含量

行业标准-机械,关于x射线衍射仪半定量分析的标准

  • JB/T 11602.3-2013 无损检测仪器 X射线管电压的测量和评定 第3部分:能谱检测
  • JB/T 11602.1-2013 无损检测仪器 X射线管电压的测量和评定 第1部分: 电压分压检测

x射线衍射仪半定量分析x射线衍射仪 半定量x射线衍射仪定量分析x射线衍射仪 定量分析x射线衍射仪如何定量分析

 

可能用到的仪器设备

 

普析XD2/3型多晶X射线衍射仪

普析XD2/3型多晶X射线衍射仪

北京普析通用仪器有限责任公司

 

普析多晶X射线衍射仪 XD-6/7系列

普析多晶X射线衍射仪 XD-6/7系列

北京普析通用仪器有限责任公司

 

岛津X射线衍射仪XRD-6000

岛津X射线衍射仪XRD-6000

岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司

 

ARL EQUINOX 1000 X射线粉末衍射仪

ARL EQUINOX 1000 X射线粉末衍射仪

赛默飞世尔科技(中国)有限公司

 

 




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