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Sonda de escaneo de campo cercano

Sonda de escaneo de campo cercano, Total: 19 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Sonda de escaneo de campo cercano son: Química analítica, Educación, Metales no ferrosos, Óptica y medidas ópticas., Equipo óptico, Vocabularios.

International Organization for Standardization (ISO), Sonda de escaneo de campo cercano

ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano
ISO/WD TR 23683:2023 Análisis químico de superficies: microscopía con sonda de barrido. Directrices para la cuantificación experimental de la concentración de portadores en dispositivos semiconductores mediante microscopía con sonda de barrido eléctrica.

British Standards Institution (BSI), Sonda de escaneo de campo cercano

BS ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano.
BS ISO 18115-2:2013 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
BS ISO 28600:2011 Análisis químico de superficies. Formato de transferencia de datos para microscopía con sonda de barrido.

RU-GOST R, Sonda de escaneo de campo cercano

GOST R ISO 27911-2015 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Sonda de escaneo de campo cercano

JJF 1351-2012 Especificación de calibración para microscopios de sonda de barrido

Professional Standard - Education, Sonda de escaneo de campo cercano

JY/T 0582-2020 Reglas generales para los métodos analíticos de microscopía de sonda de barrido

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Sonda de escaneo de campo cercano

GB/T 42659-2023 Análisis químico de superficies Microscopía de sonda de barrido Determinación de cantidades geométricas mediante microscopía de sonda de barrido: calibración del sistema de medición
GB/T 29190-2012 Métodos de medición de la tasa de deriva del microscopio de sonda de barrido.
GB/T 17359-1998

ESD - ESD ASSOCIATION, Sonda de escaneo de campo cercano

SP14.5-2015 Escaneo de inmunidad de campo cercano: nivel de componente/módulo/PCB

TIA - Telecommunications Industry Association, Sonda de escaneo de campo cercano

EIA/TIA-455-165A-1993 Medición del diámetro del campo en modo FOTP-165 mediante técnica de escaneo de campo cercano

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Sonda de escaneo de campo cercano

KS D 2714-2016(2021) Microscopio de sonda de barrido－Método para microscopio de fuerza lateral
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KS D 2714-2006 Microscopio de sonda de barrido-Método para microscopio de fuerza lateral
KS D 2713-2016 Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
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中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Sonda de escaneo de campo cercano

GB/T 36052-2018 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos para microscopía de sonda de barrido