ZH
RU
EN
sistema semiconductor
sistema semiconductor, Total: 28 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en sistema semiconductor son: Dispositivos semiconductores, ingeniería de energía nuclear, Circuitos integrados. Microelectrónica, Optoelectrónica. Equipo láser, Comunicaciones de fibra óptica., Calidad, Rectificadores. Convertidores. Fuente de alimentación estabilizada.
Association Francaise de Normalisation, sistema semiconductor
- NF EN IEC 63364-1:2023 Dispositivos semiconductores - Dispositivos semiconductores para sistema IDO - Parte 1: Método de prueba de detección de variación acústica
- NF C53-228:1989 Convertidores de semiconductores. Interruptores para sistemas de energía ininterrumpida (interruptores vps).
- NF C93-801-2*NF EN 62007-2:2009 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: métodos de medición.
American National Standards Institute （ANSI), sistema semiconductor
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, sistema semiconductor
- JEDEC JESD370B-1982 Sistema de designación de dispositivos semiconductores
- JEDEC JESD30D-2006 Sistema de designación descriptivo para paquetes de dispositivos semiconductores
- JEDEC JESD30F-2013 Sistema de designación descriptivo para paquetes de dispositivos semiconductores
- JEDEC JESD30G-2016 Sistema de designación descriptivo para paquetes de dispositivos semiconductores
British Standards Institution (BSI), sistema semiconductor
- BS EN IEC 63364-1:2022 Dispositivos semiconductores. Dispositivos semiconductores para sistemas IoT: método de prueba de detección de variaciones de sonido
- BS EN 62007-2:2000 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Métodos de medición.
- BS EN 62007-2:2009 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Métodos de medición.
- BS EN 62007-1:2000 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica: clasificaciones y características esenciales
- 21/30432536 DC BS EN IEC 63364-1. Dispositivos semiconductores. Dispositivos semiconductores para sistema IOT. Parte 1. Método de prueba de detección de variaciones de sonido.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, sistema semiconductor
- GB/T 11685-2003 Procedimientos de medición para sistemas detectores de rayos X de semiconductores y espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores.
- GB/T 42835-2023 Sistema de circuito integrado semiconductor en chip (SoC)
- GB/T 10236-2006 Guía para la compatibilidad y protección de los efectos de interferencia entre convertidores de semiconductores y el sistema de alimentación.
International Electrotechnical Commission (IEC), sistema semiconductor
- IEC 63364-1:2022 Dispositivos semiconductores - Dispositivos semiconductores para sistemas IoT - Parte 1: Método de prueba para la detección de variaciones de sonido
- IEC 62007-2:1997 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición.
ES-UNE, sistema semiconductor
- UNE-EN IEC 63364-1:2023 Dispositivos semiconductores - Dispositivos semiconductores para sistema IOT - Parte 1: Método de prueba de detección de variación del sonido (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2023.)
CH-SNV, sistema semiconductor
- VSM 18656-1964 Rohrleitungen. Flachdichtungen fuer Flansche mit Vor- und Ruecksprung NW 10 bis 1000
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, sistema semiconductor
- GB/T 36005-2018 Métodos de medición de la seguridad radiológica óptica para equipos y sistemas de iluminación semiconductores.
RU-GOST R, sistema semiconductor
- GOST 4.139-1985 Sistema de índices de calidad del producto. Convertidores de potencia de semiconductores. Nomenclatura de índices
Professional Standard - Electron, sistema semiconductor
- SJ 20233-1993 Reglamento de verificación del sistema de prueba de dispositivos discretos semiconductores modelo IMPACT-II
- SJ/T 11405-2009 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición
ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., sistema semiconductor
- ASHRAE 4513-2002 Aplicación del método de diseño de conductos 3C en sistemas de escape de procesos de fábricas de semiconductores
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, sistema semiconductor
- EN 62007-2:2009 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición.
CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, sistema semiconductor
- EN 62007-2:2000 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica Parte 2: Métodos de medición
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), sistema semiconductor
- KS C IEC 62007-2:2003 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica － Parte 2: Métodos de medición