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半导体 系统
本专题涉及半导体 系统的标准有29条。
国际标准分类中，半导体 系统涉及到半导体分立器件、核能工程、集成电路、微电子学、光电子学、激光设备、光纤通信、质量、整流器、转换器、稳压电源。
在中国标准分类中，半导体 系统涉及到半导体分立器件综合、半导体整流器件、核仪器与核探测器综合、半导体集成电路、光通信设备、半导体发光器件、激光器件、交直流电源装置、技术管理、电力半导体器件、部件、电源设备、光电子器件综合。
法国标准化协会，关于半导体 系统的标准
- NF EN IEC 63364-1:2023 半导体器件 - IDO 系统用半导体器件 - 第 1 部分：声学变化检测测试方法
- NF C53-228:1989 半导体变流器.无间断电力系统用开关
- NF C93-801-2*NF EN 62007-2:2009 光纤系统用半导体光电器件 第2部分：测量方法
美国国家标准学会，关于半导体 系统的标准
- ANSI/EIA 370-B:1992 半导体器件的命名系统
(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于半导体 系统的标准
- JEDEC JESD370B-1982 半导体器件的命名系统
- JEDEC JESD30D-2006 半导体器件封装的描述设计系统
- JEDEC JESD30F-2013 半导体器件封装的描述性标记系统
- JEDEC JESD30G-2016 半导体器件封装的描述性标记系统
英国标准学会，关于半导体 系统的标准
- BS EN IEC 63364-1:2022 半导体器件 物联网系统用半导体器件 声音变化检测的测试方法
- BS EN 62007-2:2000 光纤系统半导体光电器件.测量方法
- BS EN 62007-2:2009 光纤系统用半导体光电器件.测量方法
- BS EN 62007-1:2000 光纤系统半导体光电器件.基本额定值及特性
- 21/30432536 DC BS EN IEC 63364-1 半导体器件 用于物联网系统的半导体器件 第1部分 声音变化检测的测试方法
国家质检总局，关于半导体 系统的标准
- GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
- GB/T 42835-2023 半导体集成电路 片上系统（SoC）
- GB/T 10236-2006 半导体变流器与供电系统的兼容及干扰防护导则
国际电工委员会，关于半导体 系统的标准
- IEC 63364-1:2022 半导体器件物联网系统用半导体器件第1部分：声音变化检测的试验方法
- IEC 62007-2:1997 光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法
ES-UNE，关于半导体 系统的标准
- UNE-EN IEC 63364-1:2023 半导体器件 用于物联网系统的半导体器件 第1部分：声音变化检测的测试方法
CH-SNV，关于半导体 系统的标准
- VSM 18656-1964 电子耳和模拟半导体组件极限值系统规则
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于半导体 系统的标准
- GB/T 36005-2018 半导体照明设备和系统的光辐射安全测试方法
RU-GOST R，关于半导体 系统的标准
- GOST 4.139-1985 产品质量指标系统.半导体电源转换器.目录术语
行业标准-电子，关于半导体 系统的标准
- SJ 20233-1993 IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统检定规程
- SJ/T 11405-2009 光纤系统用半导体光电子器件.第2部分:测量方法
ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc.，关于半导体 系统的标准
- ASHRAE 4513-2002 3C风道设计方法在半导体厂工艺排风系统中的应用
欧洲电工标准化委员会，关于半导体 系统的标准
- EN 62007-2:2009 光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法
CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization，关于半导体 系统的标准
- EN 62007-2:2000 光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法
韩国科技标准局，关于半导体 系统的标准
- KS C IEC 62007-2:2003 光纤系统用半导体光电器件.第2部分:测量方法
KR-KS，关于半导体 系统的标准
- KS C IEC 62007-2-2003(2023) 光通信系统用半导体光电元件-第2部分:测量方法
