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Procedimiento de prueba de semiconductores

Procedimiento de prueba de semiconductores, Total: 12 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Procedimiento de prueba de semiconductores son: Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., ingeniería de energía nuclear, Mediciones de radiación.

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Procedimiento de prueba de semiconductores

• IEEE No 256-1963 Procedimiento de prueba IEEE para diodos semiconductores

TR-TSE, Procedimiento de prueba de semiconductores

• TS 2643-1977 Procedimientos de prueba para detectores bemiconductores de radiación ionizante

ECIA - Electronic Components Industry Association, Procedimiento de prueba de semiconductores

• EIA CB-5:1969 Procedimiento de prueba recomendado para dispositivos semiconductores de disipación térmica

American National Standards Institute （ANSI), Procedimiento de prueba de semiconductores

• ANSI/IEEE 300:1988 Procedimientos de prueba para detectores de partículas cargadas de semiconductores

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Procedimiento de prueba de semiconductores

• ECA CB 5-1969 Procedimiento de prueba recomendado para dispositivos semiconductores de disipación térmica
• ECA CB 5-1-1971 Procedimiento de prueba recomendado para dispositivos semiconductores de disipación térmica Anexo a CB5

International Electrotechnical Commission (IEC), Procedimiento de prueba de semiconductores

• IEC 60333:1993 Instrumentación nuclear; detectores de partículas cargadas de semiconductores; procedimientos de prueba

SE-SIS, Procedimiento de prueba de semiconductores

• SIS SS IEC 333:1986 Instrumentación nuclear: procedimientos de prueba para detectores de partículas cargadas de semiconductores.

CZ-CSN, Procedimiento de prueba de semiconductores

• CSN 35 6575 Z1-1997 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Procedimiento de prueba de semiconductores

• KS C IEC 60759-2009(2019) Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Procedimiento de prueba de semiconductores

• IEEE 300-1988 Procedimientos de prueba estándar para detectores de partículas cargadas de semiconductores
• IEEE 300-1982 PROCEDIMIENTOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA DETECTORES DE PARTÍCULAS CARGADAS DE SEMICONDUCTOR

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