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Pruebas de semiconductores

Pruebas de semiconductores, Total: 21 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Pruebas de semiconductores son: Desarrollo de software y documentación del sistema., químicos inorgánicos, Dispositivos semiconductores, Medidas lineales y angulares., Optoelectrónica. Equipo láser.

HU-MSZT, Pruebas de semiconductores

• MSZ 700/23.lap-1965 SZENEK VIZSG?LATA Feketeszenek kokszol hatóságának meghatározása dilatométerrel
• MSZ 700/36.lap-1961 SZENEK VIZSG?LATA NYERS AKNASZ?N VIZSG?LATA A SZ?NB?NY?SZATBAN
• MNOSZ 700-8.lap-1955 SZENEK VIZSGALATA A KARBON- ?S Hl DROG?NTARTALOM MEGHAT?ROZ?SA
• MSZ 700/27.lap-1962 SZENEK VIZSG?LATA Gyulladáspont meghatározása
• MSZ 700/26.lap-1961 SZENEK VIZSG?LATA Gyors módszer a hamu meghatározására
• MSZ 700/41.lap-1961 SZENEK VIZSG?LATA ?sszes kéntartalom gyors meghatározása kalori méterbombában
• MSZ 700/24.lap-1965 SZENEK VIZSG?LATA Feketeszenek plasztometrikus mutatószámának meghatározása Szapozsnyikov szerint

Group Standards of the People's Republic of China, Pruebas de semiconductores

• T/SHDSGY 113-2022 Software de prueba de semiconductores frontales de radiofrecuencia
• T/ZACA 041-2022 Equipo de prueba de dispositivos semiconductores de señal mixta

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Pruebas de semiconductores

• KS M 1804-2008(2018) Método de prueba de ácido fluorhídrico para semiconductores.

Danish Standards Foundation, Pruebas de semiconductores

• DS/EN 60191-6-16:2007

German Institute for Standardization, Pruebas de semiconductores

• DIN EN 60191-6-16:2007-11 Estandarización mecánica de dispositivos semiconductores - Parte 6-16: Glosario de pruebas de semiconductores y zócalos precintados para BGA, LGA, FBGA y FLGA (IEC 60191-6-16:2007); Versión alemana EN 60191-6-16:2007 / Nota: A sustituir por DIN EN 60191-6-16 (2013-...

Defense Logistics Agency, Pruebas de semiconductores

• DLA MIL-STD-750 F-2012 MÉTODO DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES
• DLA MIL-STD-750 F CHANGE 1-2013 MÉTODOS DE PRUEBA PARA DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Pruebas de semiconductores

• JJG(电子) 04008-1987 Reglamento de verificación de prueba para el probador de tubos semiconductores de doble base QE1A

Lithuanian Standards Office , Pruebas de semiconductores

• LST EN 60191-6-16-2007 Estandarización mecánica de dispositivos semiconductores - Parte 6-16: Glosario de pruebas de semiconductores y zócalos precintados para BGA, LGA, FBGA y FLGA (IEC 60191-6-16:2007)

British Standards Institution (BSI), Pruebas de semiconductores

• 13/30284029 DC BS EN 60191-6-16. Estandarización mecánica de dispositivos semiconductores. Parte 6-16. Glosario de pruebas de semiconductores y zócalos precintados para BGA, LGA, FBGA y FLGA

ES-UNE, Pruebas de semiconductores

• UNE-EN 60191-6-16:2007 Estandarización mecánica de dispositivos semiconductores - Parte 6-16: Glosario de pruebas de semiconductores y zócalos precintados para BGA, LGA, FBGA y FLGA (IEC 60191-6-16:2007). (Ratificada por AENOR en octubre de 2007.)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Pruebas de semiconductores

• GB/T 31359-2015 Métodos de prueba de láseres semiconductores.

CZ-CSN, Pruebas de semiconductores

• CSN 35 1540-1979 Pruebas de convertidores de semiconductores de potencia.

RO-ASRO, Pruebas de semiconductores

• STAS 11066/2-1980 TIRISTORES Métodos de prueba

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