ZH
EN
ES

Процедуры испытаний полупроводников

Процедуры испытаний полупроводников, Всего: 12 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Процедуры испытаний полупроводников, являются: Электричество. Магнетизм. Электрические и магнитные измерения, Атомная энергетика, Измерения радиации.

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Процедуры испытаний полупроводников

• IEEE No 256-1963 Процедура испытаний IEEE для полупроводниковых диодов

TR-TSE, Процедуры испытаний полупроводников

• TS 2643-1977 Методики испытаний бемипроводниковых детекторов ионизирующего излучения

ECIA - Electronic Components Industry Association, Процедуры испытаний полупроводников

• EIA CB-5:1969 Рекомендуемая процедура испытаний полупроводниковых теплорассеивающих устройств

American National Standards Institute （ANSI), Процедуры испытаний полупроводников

• ANSI/IEEE 300:1988 Методики испытаний полупроводниковых детекторов заряженных частиц

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Процедуры испытаний полупроводников

• ECA CB 5-1969 Рекомендуемая процедура испытаний полупроводниковых теплорассеивающих устройств
• ECA CB 5-1-1971 Дополнение к Рекомендуемой процедуре испытаний полупроводниковых теплорассеивающих устройств к CB5

International Electrotechnical Commission (IEC), Процедуры испытаний полупроводников

• IEC 60333:1993 Ядерное приборостроение; полупроводниковые детекторы заряженных частиц; процедуры испытаний

SE-SIS, Процедуры испытаний полупроводников

• SIS SS IEC 333:1986 Ядерное приборостроение. Методики испытаний полупроводниковых детекторов заряженных частиц

CZ-CSN, Процедуры испытаний полупроводников

• CSN 35 6575 Z1-1997 Стандартные процедуры испытаний полупроводниковых рентгеновских энергетических спектрометров

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Процедуры испытаний полупроводников

• KS C IEC 60759-2009(2019) Стандартные процедуры испытаний полупроводниковых рентгеновских энергетических спектрометров

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Процедуры испытаний полупроводников

• IEEE 300-1988 Стандартные процедуры испытаний полупроводниковых детекторов заряженных частиц
• IEEE 300-1982 СТАНДАРТНЫЕ ПРОЦЕДУРЫ ИСПЫТАНИЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ДЕТЕКТОРОВ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ

Другие:   Полупроводниковое испытательное оборудование, Процедуры испытаний полупроводников, Программа испытаний полупроводников, Программа тестирования на наркотики, тестирование полупроводников, Текущая процедура тестирования, тестирование полупроводников, тестовая программа, Процедура электрического испытания, Программа системы тестирования аккумуляторов, Тестирование силовых полупроводников, Виды тестирования программы, Процедура контрольного испытания, Программа анализа УФ-тестов, Программа оценки тестов, тестовая сборка, Тестовый верификатор, тестовая программа ФЗГ, Настройки тестовой программы, Процедура испытания счетчика.