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+++++半导体测试程序
本专题涉及+++++半导体测试程序的标准有12条。
国际标准分类中，+++++半导体测试程序涉及到电学、磁学、电和磁的测量、核能工程、辐射测量。
在中国标准分类中，+++++半导体测试程序涉及到电子测量与仪器综合、程序语言、辐射防护仪器。
美国电气电子工程师学会，关于+++++半导体测试程序的标准
- IEEE No 256-1963 IEEE 半导体二极管测试程序
TR-TSE，关于+++++半导体测试程序的标准
- TS 2643-1977 电离辐射半导体检测器的测试程序
ECIA - Electronic Components Industry Association，关于+++++半导体测试程序的标准
- EIA CB-5:1969 半导体散热装置的推荐测试程序
美国国家标准学会，关于+++++半导体测试程序的标准
- ANSI/IEEE 300:1988 半导体带电粒子检测器的试验程序
美国电子元器件、组件及材料协会，关于+++++半导体测试程序的标准
- ECA CB 5-1969 半导体热驱散设备的推荐测试程序
- ECA CB 5-1-1971 半导体热驱散设备的推荐测试程序 CB5的附录
国际电工委员会，关于+++++半导体测试程序的标准
- IEC 60333:1993 核仪器 半导体带电粒子探测器 试验程序
SE-SIS，关于+++++半导体测试程序的标准
- SIS SS IEC 333:1986 核检测仪表．半导体带电微粒探测器测试程序
CZ-CSN，关于+++++半导体测试程序的标准
- CSN 35 6575 Z1-1997 半导体X射线能谱仪的标准测试程序
韩国科技标准局，关于+++++半导体测试程序的标准
- KS C IEC 60759-2009(2019) 半导体X射线能谱仪的标准测试程序
IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc.，关于+++++半导体测试程序的标准
- IEEE 300-1988 半导体带电粒子探测器的标准测试程序
- IEEE 300-1982 半导体带电粒子探测器的标准测试程序
