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Microelectrónica

Microelectrónica, Total: 249 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Microelectrónica son: pruebas de metales, Equipos para industrias de petróleo y gas natural., Circuitos integrados. Microelectrónica, Pruebas mecánicas, Dispositivos semiconductores, Pruebas eléctricas y electrónicas., construcción de ferrocarriles, Metales no ferrosos, Productos de metales no ferrosos., Equipo óptico, tubos electronicos, Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., Pruebas no destructivas, Química analítica, Materiales para la construcción aeroespacial., Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., ELECTRÓNICA, válvulas, Accesorios electricos, Estructuras mecánicas para equipos electrónicos., Dispositivos de almacenamiento de fluidos, Componentes electrónicos en general., Calidad del aire, Óptica y medidas ópticas., ingenieria electrica en general, Microbiología, Vocabularios, Medidas lineales y angulares., Metrología y medición en general..

SE-SIS, Microelectrónica

SIS SEN 01 03 61-1969 Microelectrónica Términos fundamentales

CZ-CSN, Microelectrónica

CSN 35 8009-1988 Sistemas tecnológicos para microelectrónica. Nomenclatura

U.S. Military Regulations and Norms, Microelectrónica

ARMY MIL-HDBK-175 VALID NOTICE 1-2000 MANUAL DE DATOS DE DISPOSITIVOS MICROELECTRÓNICOS
ARMY MIL-HDBK-175-1968 MANUAL DE DATOS DE DISPOSITIVOS MICROELECTRÓNICOS

Chongqing Provincial Standard of the People's Republic of China, Microelectrónica

DB50/T 540-2014 Medidor de flujo de gas másico térmico microelectrónico

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Microelectrónica

CNS 13724-1996 Método de prueba para determinar la resistencia a la tracción de uniones de cables microelectrónicos
CNS 12865.6-1991 Método de prueba para microelectrónica digital (capacitancia terminal)
CNS 12865-6-1991 Método de prueba para microelectrónica digital (capacitancia terminal)
CNS 12865.10-1992 Método de Prueba para Microelectrónica Digital `6rPruebas Funcionales`6s
CNS 12865-9-1991 Método de Prueba para Microelectrónica Digital (Medidas de Retardo)
CNS 12865.8-1991 Método de prueba para microelectrónica digital (condición de carga)
CNS 12865-8-1991 Método de prueba para microelectrónica digital (condición de carga)
CNS 12865-10-1992 Método de Prueba para Microelectrónica Digital `6rPruebas Funcionales`6s
CNS 12865.9-1991 Método de Prueba para Microelectrónica Digital (Medidas de Retardo)
CNS 12865.7-1991 Método de prueba para microelectrónica digital (fuente de accionamiento, dinámica)
CNS 12865-7-1991 Método de prueba para microelectrónica digital (fuente de accionamiento, dinámica)
CNS 12865.11-2005 Mediciones de margen de ruido para dispositivos microelectrónicos digitales.
CNS 12865-11-2005 Mediciones de margen de ruido para dispositivos microelectrónicos digitales.
CNS 12865-1-1991 Método de prueba para microelectrónica digital (voltaje de salida de alto nivel)
CNS 12865-3-1991 Método de prueba para microelectrónica digital (corriente de entrada de bajo nivel)
CNS 12865-2-1991 Método de prueba para microelectrónica digital (voltaje de salida de bajo nivel)
CNS 12865-4-1991 Método de prueba para microelectrónica digital (corriente de entrada de alto nivel)
CNS 12865.5-1991 Método de prueba para microelectrónica digital (corriente de cortocircuito de salida)
CNS 12865.4-1991 Método de prueba para microelectrónica digital (corriente de entrada de alto nivel)
CNS 12865.3-1991 Método de prueba para microelectrónica digital (corriente de entrada de bajo nivel)
CNS 12865.2-1991 Método de prueba para microelectrónica digital (voltaje de salida de bajo nivel)
CNS 12865.1-1991 Método de prueba para microelectrónica digital (voltaje de salida de alto nivel)
CNS 12865-5-1991 Método de prueba para microelectrónica digital (corriente de cortocircuito de salida)
CNS 13725-1996 Método de prueba no destructiva para uniones de cables microelectrónicos

US-Unspecified Preparing Activity, Microelectrónica

DI-QCIC-80886 A-1993 PLAN DE CARACTERIZACIÓN DE MICROCIRCUITO A MEDIDA
DI-MGMT-81763 A-2009 Plan de protección de fuente de dispositivos microelectrónicos personalizado

Association Francaise de Normalisation, Microelectrónica

NF C96-315:1987 Microelectrónica de microondas. Atenuadores y cargas.
NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
NF C96-314:1985 Microcircuitos. Microonda. Acopladores. Requerimientos generales.
NF EN ISO 10692-1:2001 Cilindros de gas - Accesorios para válvulas de cilindros de gas para la industria microelectrónica - Parte 1: accesorios de salida
NF C96-050-10*NF EN 62047-10:2012 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 10: prueba de compresión de micropilares para materiales MEMS
NF C96-050-5*NF EN 62047-5:2012 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 5: Conmutadores MEMS de RF.
NF E29-692-1*NF EN ISO 10692-1:2001 Cilindros de gas. Conexiones de válvulas de cilindros de gas para uso en la industria microelectrónica. Parte 1: conexiones de salida.
NF X21-016*NF ISO 15932:2014 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Vocabulario
NF ISO 15932:2014 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Vocabulario
NF EN ISO 10692-2:2001 Cilindros de gas - Conexiones para válvulas de cilindros de gas para la industria microelectrónica - Parte 2: especificaciones y pruebas de tipo para conexiones entre válvula y cilindro
NF X21-010:2009 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario.

SAE - SAE International, Microelectrónica

SAE AS1142-1971 PRUEBAS DE HERMETICIDAD DE DISPOSITIVOS MICROELECTRÓNICOS
SAE AMS2690B-1988 Interconexiones microelectrónicas de soldadura en paralelo a sustratos de película delgada
SAE AMS2690D-2017 Interconexiones microelectrónicas de soldadura en paralelo a sustratos de película delgada

Society of Automotive Engineers (SAE), Microelectrónica

SAE AS1142-2002 1992 Pruebas de hermeticidad de dispositivos microelectrónicos.
SAE AMS2690A-1982 SOLDADURA EN PARALELO Interconexiones microelectrónicas a sustratos de película delgada
SAE AMS2690C-2011 Interconexiones microelectrónicas de soldadura en paralelo a sustratos de película delgada
SAE AMS2690-1968 SOLDADURA PARALELA DE INTERCONEXIONES MICROELECTRÓNICAS A SUSTRATOS DE PELÍCULA DELGADA
SAE AMS2690C-2001 Soldadura de espacios en paralelo, interconexiones microelectrónicas a sustratos de película delgada
SAE AMS2690B-1993 SOLDADURA EN PARALELO Interconexiones microelectrónicas a sustratos de película delgada
SAE AMS2690C-1988 (No actual) Interconexiones microelectrónicas de soldadura de espacios en paralelo a sustratos de película delgada

Professional Standard - Electron, Microelectrónica

SJ/T 10584-1994 Glosario de técnicas de fotoenmascaramiento para microelectrónica.
SJ/T 10747-1996 Códigos de colores para cables conductores de dispositivos de microondas.
SJ 20900-2004 Especificación para fundas de cerámica de berilio utilizadas en tubos electrónicos de microondas.
SJ/Z 9008.1-1987 Medición de propiedades eléctricas de tubos de microondas. Parte 1: Terminología
SJ/Z 9008.3-1987 Medición de propiedades eléctricas de tubos de microondas. Parte 4: Magnetrones
SJ/Z 9008.2-1987 Medición de propiedades eléctricas de tubos de microondas. Parte 2: Medidas generales.

HU-MSZT, Microelectrónica

MSZ 9200/23-1980 VILLAMOS RAJZJELEK Mikrohullámú áramk?ri elemek

PL-PKN, Microelectrónica

PN T04813-1971 ¿Bajo consumo electrónico? ¿ubet M?Hiod de m?a?ur?men? de micropkonic noiic whh aicHation tocando

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Microelectrónica

GJB 548B-2005 Métodos y procedimientos de prueba para dispositivos microelectrónicos.
GJB 548A-1996 Métodos y procedimientos de prueba de dispositivos microelectrónicos.
GJB 548C-2021 Métodos y procedimientos de prueba de dispositivos microelectrónicos.
GJB 548-1988 Métodos y procedimientos de prueba de dispositivos microelectrónicos.
GJB 3312-1998 Especificaciones generales para tubos de microondas.
GJB 3312A-2011 Especificaciones generales para tubos de microondas.
GJB 3311A-2011 Método de prueba del tubo de microondas
GJB 3311-1998 Método de prueba del tubo de microondas
GJB/Z 40.3-1993 Tubos de microondas de espectro de serie de dispositivos electrónicos de vacío militar
GJB/Z 14-1990 Espectro de tipo de serie de tubos de microondas militares
GJB 7675-2012 Métodos de prueba para cátodos y componentes de tubos de microondas.
GJB 4158-2001 Especificación para ventanas de salida cerámicas de óxido de berilio para tubos de microondas

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Microelectrónica

JEDEC JESD27-1993 Especificación del paquete cerámico para paquetes microelectrónicos
JEDEC JEP121A-2006 Requisitos para el cribado microelectrónico y la optimización de pruebas.
JEDEC JESD9B-2011 Criterios de inspección para paquetes y cubiertas microelectrónicas
JEDEC JEP144A-2011 Directrices para el análisis de gases internos de paquetes microelectrónicos
JEDEC JEP144-2002 Directrices para el análisis de gases residuales (RGA) para paquetes microelectrónicos
JEDEC JESD9-A-1987 Especificación de paquetes metálicos para cubiertas y paquetes microelectrónicos
JEDEC JESD99B-2007 Términos, definiciones y símbolos de letras para dispositivos microelectrónicos
JEDEC JESD22-C101D-2008 Método de prueba del modelo de dispositivo cargado inducido por campo para umbrales de resistencia a descargas electrostáticas de componentes microelectrónicos
JEDEC JESD22-C101F-2013 Método de prueba del modelo de dispositivo cargado inducido por campo para umbrales de resistencia a descargas electrostáticas de componentes microelectrónicos
JEDEC JESD22-C101C-2004 Método de prueba del modelo de dispositivo cargado inducido por campo para umbrales de resistencia a descargas electrostáticas de componentes microelectrónicos

IET - Institution of Engineering and Technology, Microelectrónica

LOW-PWR HF MICROELEC-1996 Microelectrónica HF de baja potencia: un enfoque unificado

Association of German Mechanical Engineers, Microelectrónica

VDI/VDE 2422-1994 Desarrollo sistemático de dispositivos controlados por microelectrónica.
VDI 2083 Blatt 13.2-2009 Tecnología de salas blancas - Calidad, producción y distribución de agua ultrapura - Microelectrónica y otras aplicaciones técnicas

Professional Standard - Railway, Microelectrónica

TB/T 3090-2004 Receptor microelectrónico de circuito de pista con detección de fase de 25 Hz

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Microelectrónica

GB/T 17472-2008 Especificación para pastas de metales preciosos utilizadas en microelectrónica.
GB/T 17472-2022 Especificación para pastas de metales preciosos utilizadas en microelectrónica.
GB/T 42709.19-2023 Dispositivos semiconductores Dispositivos microelectromecánicos Parte 19: Brújula electrónica
GB 50467-2008 Código para la construcción y aceptación de ingeniería de instalación de equipos de fabricación microelectrónica.
GB/T 17473.2-2008 Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación de finura
GB/T 17473.3-2008 Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación de la resistencia de las láminas.
GB/T 17473.5-2008 Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación de la viscosidad.
GB/T 17473.4-2008 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica. Determinación de la adhesión.
GB/T 17473.6-2008 Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación de la resolución.
GB/T 17473.2-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica de película gruesa. Determinación de la finura.
GB/T 17473.3-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica de película gruesa. Determinación de la resistencia de las láminas.
GB/T 17473.1-2008 Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación del contenido de sólidos.
GB/T 42709.5-2023 Dispositivos microelectromecánicos para dispositivos semiconductores Parte 5: Conmutadores MEMS de RF
GB/T 17473.5-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica de película gruesa. Determinación de la viscosidad.
GB/T 17473.6-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica de película gruesa. Determinación de la resolución.
GB/T 17473.4-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica de película gruesa. Determinación de la adhesión.
GB/T 17473.1-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica de película gruesa. Determinación del contenido de sólidos.
GB/T 17473.7-2008 Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación de soldabilidad y resistencia al relajamiento de la soldadura.
GB/T 17473.7-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica de película gruesa: prueba de soldabilidad y resistencia a la lixiviación de soldadura.
GB/T 18907-2002 Método de difracción de electrones de área seleccionada para microscopios electrónicos de transmisión.
GB/T 18907-2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de área seleccionada mediante un microscopio electrónico de transmisión.
GB/T 23414-2009 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
GB/T 26095-2010 micrómetro de columna electrónico
GB/T 21636-2008 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica (EPMA). Vocabulario

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Microelectrónica

KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
KS D ISO 14595:2012 Análisis de microhaces-Microanálisis con sonda electrónica-Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM)
KS D ISO 14594:2012 Análisis de microhaces－Microanálisis con sonda electrónica－Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda
KS B ISO 10692-1:2014 Cilindros de gas. Conexiones de válvulas de cilindros de gas para uso en la industria microelectrónica. Parte 1: Conexiones de salida.
KS B ISO 10692-1:2003 Cilindros de gas-Conexiones de válvulas de cilindros de gas para uso en la industria microelectrónica-Parte 1: Conexiones de salida
KS B ISO 10692-1-2014(2019) Cilindros de gas. Conexiones de válvulas de cilindros de gas para uso en la industria microelectrónica. Parte 1: Conexiones de salida.
KS C IEC PAS 62162-2002(2022) Método de prueba del modelo de dispositivo con carga inducida en campo para umbrales de resistencia a descargas electrostáticas de componentes microelectrónicos
KS D ISO TR 17270:2007 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de transmisión analítica－Informe técnico sobre la determinación de los parámetros experimentales para la espectroscopía de pérdida de energía electrónica.
KS C IEC PAS 62162-2002(2017) Método de prueba del modelo de dispositivo con carga inducida en campo para umbrales de resistencia a descargas electrostáticas de componentes microelectrónicos
KS D ISO 23833:2012 Análisis de microhaces-Microanálisis con sonda electrónica (EPMA)-Vocabulario
KS B ISO 10692-2:2014 Cilindros de gas. Conexiones de válvulas de cilindros de gas para uso en la industria microelectrónica. Parte 2: Especificaciones y pruebas de tipo para conexiones de válvula a cilindro.
KS B ISO 10692-2:2003 Cilindros de gas. Conexiones de válvulas de cilindros de gas para uso en la industria microelectrónica. Parte 2: Especificación y prueba de tipo para conexiones de válvula a cilindro.
KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS D ISO 23833:2018 Análisis de microhaces — Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) — Vocabulario
KS B ISO 10692-2-2014(2019) Cilindros de gas. Conexiones de válvulas de cilindros de gas para uso en la industria microelectrónica. Parte 2: Especificaciones y pruebas de tipo para conexiones de válvula a cilindro.
KS D ISO 23833:2022 Análisis de microhaces — Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) — Vocabulario
KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario

International Organization for Standardization (ISO), Microelectrónica

ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO/CD 25498:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas utilizando un microscopio electrónico de transmisión.
ISO 14594:2003 Analyse par microfaisceaux - Analyse par microsonde électronique (Microsonde de Castaing) - Líneas directrices para la determinación de parámetros experimentales para la espectrometría de dispersión de longitud de onda
ISO 14594:2014 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda
ISO 22309:2006 Análisis de microhaces: análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS)
ISO 10692-1:2001 Cilindros de gas. Conexiones de válvulas de cilindros de gas para uso en la industria microelectrónica. Parte 1: Conexiones de salida.
ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la resolución de energía para el análisis del espectro de pérdida de energía de los electrones.
ISO/CD 19214:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
ISO 25498:2018 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión
ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
ISO 10692-2:2001 Cilindros de gas. Conexiones de válvulas de cilindros de gas para uso en la industria microelectrónica. Parte 2: Especificaciones y pruebas de tipo para conexiones de válvula a cilindro.
ISO 22493:2014 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
ISO 19214:2017 Análisis de microhaz - Microscopía electrónica analítica - Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión
ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
ISO 15932:2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Vocabulario

British Standards Institution (BSI), Microelectrónica

BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
BS EN 62047-5:2011 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Conmutadores MEMS RF
BS EN 62047-4:2010
BS EN 62047-7:2011 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Filtro MEMS BAW y duplexor para control y selección de radiofrecuencia
BS EN ISO 10692-1:2001 Cilindros de gas - Conexiones de válvulas para cilindros de gas para uso en la industria microelectrónica - Conexiones de salida
BS ISO 14594:2003 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda
BS ISO 14594:2014 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
BS EN 62047-10:2011 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Prueba de compresión de micropilares para materiales MEMS
BS ISO 25498:2018 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión.
BS ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
BS ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
BS EN 62047-9:2011 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Medición de la fuerza de unión de oblea a oblea para MEMS
BS EN 62047-9:2013 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Medición de la fuerza de unión de oblea a oblea para MEMS
20/30380369 DC BS ISO 23420. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
21/30404763 DC BS ISO 24639. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
BS ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
BS ISO 15932:2013 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Vocabulario
BS ISO 22493:2014 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario

Institute of Environmental Sciences and Technology, Microelectrónica

IEST RP-CC024.1-1994 MEDICIÓN Y REPORTE DE VIBRACIONES EN INSTALACIONES DE MICROELECTRÓNICA
IEST RP-CC024.1-2002 MEDICIÓN Y REPORTE DE VIBRACIONES EN INSTALACIONES DE MICROELECTRÓNICA (5TA IMPRESIÓN)
IEST RP-CC004.3-2004 MEDICIÓN Y REPORTE DE VIBRACIONES EN INSTALACIONES DE MICROELECTRÓNICA (5TA IMPRESIÓN)

American Society for Testing and Materials (ASTM), Microelectrónica

ASTM F1238-95(2003) Especificación estándar para objetivos de pulverización catódica de siliciuro refractario para aplicaciones microelectrónicas
ASTM F60-68(1983)e2 Métodos para la detección y enumeración de contaminantes microbiológicos en el agua utilizada para procesar dispositivos electrónicos y microelectrónicos
ASTM F1238-95(1999) Especificación estándar para objetivos de pulverización catódica de siliciuro refractario para aplicaciones microelectrónicas
ASTM F1238-95(2011) Especificación estándar para objetivos de pulverización catódica de siliciuro refractario para aplicaciones microelectrónicas
ASTM F10-69(1981)e1 Especificación para cables de tubos de electrones en miniatura
ASTM F459-84(2001) Métodos de prueba estándar para medir la resistencia a la tracción de uniones de cables microelectrónicos
ASTM F459-84(1995)e1 Métodos de prueba estándar para medir la resistencia a la tracción de uniones de cables microelectrónicos
ASTM F459-13 Métodos de prueba estándar para medir la resistencia a la tracción de uniones de cables microelectrónicos
ASTM F459-13(2018) Métodos de prueba estándar para medir la resistencia a la tracción de uniones de cables microelectrónicos
ASTM F542-98 Método de prueba estándar para temperatura exotérmica de compuestos encapsulantes para encapsulación electrónica y microelectrónica
ASTM F542-02 Método de prueba estándar para temperatura exotérmica de compuestos encapsulantes para encapsulación electrónica y microelectrónica
ASTM F459-06 Métodos de prueba estándar para medir la resistencia a la tracción de uniones de cables microelectrónicos
ASTM F542-07 Método de prueba estándar para temperatura exotérmica de compuestos encapsulantes para encapsulación electrónica y microelectrónica
ASTM F677-95(1999) Método de prueba estándar para la resistencia a fluidos y grasas de compuestos encapsulantes termoestables utilizados en aplicaciones electrónicas y microelectrónicas
ASTM F677-04 Método de prueba estándar para la resistencia a fluidos y grasas de compuestos encapsulantes termoestables utilizados en aplicaciones electrónicas y microelectrónicas
ASTM F677-04(2009) Método de prueba estándar para la resistencia a fluidos y grasas de compuestos encapsulantes termoestables utilizados en aplicaciones electrónicas y microelectrónicas
ASTM F677-13 Método de prueba estándar para la resistencia a fluidos y grasas de compuestos encapsulantes termoestables utilizados en aplicaciones electrónicas y microelectrónicas
ASTM F71-68(1999) Práctica estándar para el uso de la clave morfológica para la identificación rápida de fibras para el control de la contaminación en dispositivos electrónicos y microelectrónica (retirada en 2005)
ASTM F1094-87(2005) Métodos de prueba estándar para el monitoreo microbiológico del agua utilizada para procesar dispositivos electrónicos y microelectrónicos mediante válvula de muestreo de grifo de presión directa y mediante el método de bolsa de plástico preesterilizada
ASTM F1094-87(1999) Métodos de prueba estándar para el monitoreo microbiológico del agua utilizada para procesar dispositivos electrónicos y microelectrónicos mediante válvula de muestreo de grifo de presión directa y mediante el método de bolsa de plástico preesterilizada
ASTM F1094-87(2020) Métodos de prueba estándar para el monitoreo microbiológico del agua utilizada para procesar dispositivos electrónicos y microelectrónicos mediante válvula de muestreo de grifo de presión directa y mediante el método de bolsa de plástico preesterilizada
ASTM F1227-89(1999) Método de prueba para la pérdida total de masa de materiales y la condensación de volátiles desgasificados en sustratos relacionados con la microelectrónica (retirado en 2000)
ASTM F1094-87(2012) Métodos de prueba estándar para el monitoreo microbiológico del agua utilizada para procesar dispositivos electrónicos y microelectrónicos mediante válvula de muestreo de grifo de presión directa y mediante el método de bolsa de plástico preesterilizada
ASTM F1467-99(2005)e1 Guía estándar para el uso de un probador de rayos X ([aproximadamente]fotones de 10 keV) en pruebas de efectos de radiación ionizante de dispositivos semiconductores y microcircuitos

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., Microelectrónica

ASHRAE KC-03-9-3-2003 Integración de cambios tecnológicos en salas blancas microelectrónicas

Defense Logistics Agency, Microelectrónica

DLA SMD-5962-91669 REV A-2008 MICROCIRCUITO LINEAL, REGULADOR DE TENSIÓN DE BAJA CAÍDA DE 5 V, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-95839 REV C-2008 MICROCIRCUITO, LINEAL, REGULADOR DE TENSIÓN DE BAJA CAÍDA DE 5 V, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-92109 REV C-2008 MICROCIRCUITO, HÍBRIDO, LINEAL, 12 VOLTIOS, DOBLE CANAL, CONVERTIDOR CC/CC
DLA SMD-5962-94761 REV B-2008 MICROCIRCUITO, MEMORIA, DIGITAL, CMOS, DISPOSITIVO LÓGICO PROGRAMABLE BORRABLE ELÉCTRICAMENTE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-90659 REV F-2008 MICROCIRCUITO, HÍBRIDO, LINEAL, ALTA POTENCIA, AMPLIFICADOR OPERACIONAL
DLA SMD-5962-87641 REV A-2008 MICROCIRCUITO, LINEAL, BIMOS DE 8 BITS, ENTRADA SERIE, CONDUCTOR ENCLAVADO, SILICIO MONOLÍTICO
DLA MIL-M-38510/316 E VALID NOTICE 1-2008 MICROCIRCUITOS, DIGITALES, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA, PESTILLOS EN CASCADA, SILICIO MONOLÍTICO
DLA MIL-M-38510/319 C VALID NOTICE 1-2008 MICROCIRCUITOS, DIGITALES, SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA, ARCHIVO DE REGISTRO 4 POR 4, CASCADABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-92078 REV J-2008 MICROCIRCUITO, HÍBRIDO, MEMORIA, DIGITAL, MEMORIA DE ACCESO ALEATORIO ESTÁTICO, CMOS, 512K x 8 BITS
DLA SMD-5962-93217 REV C-2008 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR AVANZADO, FLIP-FLOP TIPO D OCTAL DISPARADO POR BORDE CON ENTRADAS TRANSPARENTES COMPATIBLES CON TTL, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-92223 REV D-2008 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS RÁPIDO, TRANSCEPTOR/REGISTRO OCTAL CON SALIDAS DE TRES ESTADOS, ENTRADAS COMPATIBLES CON TTL Y OSCILACIÓN DE VOLTAJE DE SALIDA LIMITADA, SILICIO MONOLÍTICO
DLA MIL-PRF-1/1037 E NOTICE 2-2008 TUBO DE ELECTRONES, REJILLA NEGATIVA (MICROONDAS) TIPO 6897
DLA MIL-PRF-1/1037E-1998 TUBO DE ELECTRONES, REJILLA NEGATIVA (MICROONDAS) TIPO 6897
DLA MIL-PRF-1/1055 F NOTICE 1-2008 TUBO DE ELECTRONES, MICROONDAS (REJILLA NEGATIVA) TIPO 6442
DLA MIL-PRF-1/1055F-2002 TUBO DE ELECTRONES, MICROONDAS (REJILLA NEGATIVA) TIPO 6442
DLA SMD-5962-92225 REV C-2008 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS RÁPIDO, REGISTROS D DE INTERFAZ DE BUS DE 10 BITS CON SALIDAS DE TRES ESTADOS, ENTRADAS COMPATIBLES CON TTL Y OSCILACIÓN DE VOLTAJE DE SALIDA LIMITADA, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-96570 REV C-2008 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS AVANZADO, ENDURECIDO POR RADIACIÓN, BÚFER OCTAL Y CONTROLADOR DE LÍNEA CON SALIDAS DE TRES ESTADOS, SILICIO MONOLÍTICO

Aeronautical Radio Inc., Microelectrónica

ARINC 606-1 ITEM 3.0 Efectos de los campos electrostáticos y las descargas en piezas microelectrónicas contemporáneas

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Microelectrónica

DB31/ 842-2014 Especificaciones para el Control de Riesgos Laborales en la Industria de Fabricación de Componentes Microelectrónicos

工业和信息化部, Microelectrónica

SJ/T 11705-2018 Métodos de prueba de impedancia de suministro de energía y tierra para paquetes de dispositivos microelectrónicos
SJ/T 11704-2018 Método de prueba para las características de transmisión de señales digitales de paquetes microelectrónicos.
SJ/T 11703-2018 Método de prueba para las características de diafonía del embalaje de dispositivos microelectrónicos digitales.

IPC - Association Connecting Electronics Industries, Microelectrónica

IPC/JEDEC-9301-2018 Directrices de análisis numérico para el diseño y la confiabilidad de envases de microelectrónica

PT-IPQ, Microelectrónica

NP 3081-1985 COMPONENTES ELECTR?NICOS Inspec??o de pastilhas^de semicondutores em microscópio electrónico de varrimento Especifica??o de base

GB-REG, Microelectrónica

REG NASA-LLIS-0678--2000 Lecciones aprendidas: consideraciones de diseño para la selección de circuitos microelectrónicos de película gruesa

U.S. Air Force, Microelectrónica

AIR FORCE MIL-E-1/144 E-1968 TUBO DE ELECTRONES, REJILLA NEGATIVA (MICROONDAS) TIPO 2C43

American National Standards Institute （ANSI), Microelectrónica

ANSI/ASTM F542:2007 Método de prueba para temperatura exotérmica de compuestos encapsulantes para encapsulación electrónica y microelectrónica
ANSI/ASTM F677:2013 MÉTODO DE PRUEBA PARA LA RESISTENCIA A FLUIDOS Y GRASAS DE COMPUESTOS ENCAPSULADORES TERMOSETRÓFICOS UTILIZADOS EN APLICACIONES ELECTRÓNICAS Y MICROELECTRÓNICAS

Danish Standards Foundation, Microelectrónica

DS/EN ISO 10692-1:2002 Cilindros de gas. Conexiones de válvulas de cilindros de gas para uso en la industria microelectrónica. Parte 1: Conexiones de salida.
DS/EN ISO 10692-2:2002 Cilindros de gas. Conexiones de válvulas de cilindros de gas para uso en la industria microelectrónica. Parte 2: Especificaciones y pruebas de tipo para conexiones de válvula a cilindro.

IN-BIS, Microelectrónica

IS 1885 Pt.7/Sec.5-1971 VOCABULARIO ELECTROTÉCNICO PARTE Ⅶ DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES Sección 5 Circuitos Integrados y Microelectrónica

International Electrotechnical Commission (IEC), Microelectrónica

IEC 62047-5:2011 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 5: Conmutadores MEMS de RF
IEC 62047-5:2011/COR1:2012 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 5: Conmutadores MEMS de RF; Corrección 1
IEC PAS 62162:2000 Método de prueba de modelo de dispositivo cargado inducido por archivo para umbrales de resistencia a descargas electrostáticas de componentes microelectrónicos

German Institute for Standardization, Microelectrónica

DIN EN ISO 10692-1:2003 Cilindros de gas. Conexiones de válvulas de cilindros de gas para uso en la industria microelectrónica. Parte 1: Conexiones de salida (ISO 10692-1:2001); Versión alemana EN ISO 10692-1:2001
DIN EN ISO 10692-1:2003-04 Cilindros de gas. Conexiones de válvulas de cilindros de gas para uso en la industria microelectrónica. Parte 1: Conexiones de salida (ISO 10692-1:2001); Versión alemana EN ISO 10692-1:2001
DIN EN ISO 10692-2:2003 Cilindros de gas. Conexiones de válvulas de cilindros de gas para uso en la industria microelectrónica. Parte 2: Especificaciones y pruebas de tipo para conexiones de válvula a cilindro (ISO 10692-2:2001); Versión alemana EN ISO 10692-2:2001
DIN EN 62047-10:2012 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 10: Ensayo de compresión de micropilares para materiales MEMS (IEC 62047-10:2011); Versión alemana EN 62047-10:2011
DIN EN 62047-5:2012 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 5: Conmutadores MEMS de RF (IEC 62047-5:2011); Versión alemana EN 62047-5:2011

European Committee for Standardization (CEN), Microelectrónica

EN ISO 10692-1:2001 Cilindros de gas - Conexiones de válvulas de cilindros de gas para uso en la industria microelectrónica - Parte 1: Conexiones de salida ISO 10692-1: 2001

KR-KS, Microelectrónica

KS D ISO TR 17270-2007 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de transmisión analítica－Informe técnico sobre la determinación de los parámetros experimentales para la espectroscopía de pérdida de energía electrónica.
KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS D ISO 23833-2018 Análisis de microhaces — Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) — Vocabulario
KS D ISO 23833-2022 Análisis de microhaces — Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) — Vocabulario

Lithuanian Standards Office , Microelectrónica

LST EN ISO 10692-1:2002 Cilindros de gas. Conexiones de válvulas de cilindros de gas para uso en la industria microelectrónica. Parte 1: Conexiones de salida (ISO 10692-1:2001)

RU-GOST R, Microelectrónica

GOST 30350-1996 Circuitos integrados analógicos. Requisitos generales para aparatos y condiciones para la medición de parámetros eléctricos.
GOST R 57367-2016 Productos acústicoelectrónicos sobre ondas acústicas superficiales. Marca de identificación. Especificaciones generales

IEC - International Electrotechnical Commission, Microelectrónica

PAS 62162-2000 Método de prueba del modelo de dispositivo cargado inducido por campo para umbrales de resistencia a descargas electrostáticas de componentes microelectrónicos (Edición 1.0)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Microelectrónica

GB/T 17473.7-2022 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica. Parte 7: Determinación de la soldabilidad y la resistencia a la lixiviación de la soldadura.
GB/T 40300-2021 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica analítica—Vocabulario
GB/T 21636-2021 Análisis de microhaz—Microanálisis con sonda electrónica (EPMA)—Vocabulario

AENOR, Microelectrónica

UNE-EN ISO 10692-1:2002 Cilindros de gas - Conexiones de válvulas de cilindros de gas para uso en la industria microelectrónica - Parte 1: Conexiones de salida. (ISO 10692-1:2001)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Microelectrónica

GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas

Professional Standard - Electricity, Microelectrónica

DL/T 2163-2020 Inclinómetro MEMS

Professional Standard - Machinery, Microelectrónica

JB/T 8499-1996 Micrómetros de escala de inductancia para haz de electrones.
JB/T 12203-2015 Micrómetro neumático de columna de electrones

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Microelectrónica

ECA TEP 170-1972 Detección y mediciones de radiación X para tubos de microondas, práctica recomendada en