微电子

本专题涉及微电子的标准有275条。

国际标准分类中，微电子涉及到金属材料试验、石油和天然气工业设备、集成电路、微电子学、机械试验、半导体分立器件、电工和电子试验、铁路建筑、有色金属、有色金属产品、光学设备、电子管、电子电信设备用机电元件、无损检测、分析化学、航空航天制造用材料、医学科学和保健装置综合、电子学、阀门、电工器件、试验条件和规程综合、电子设备用机械构件、流体存储装置、电子元器件综合、建筑材料、空气质量、光学和光学测量、电气工程综合、微生物学、词汇、长度和角度测量、计量学和测量综合。

在中国标准分类中，微电子涉及到贵金属及其合金分析方法、流量与物位仪表、基础标准与通用方法、物理学与力学、半导体分立器件综合、微电路综合、半导体集成电路、信号器材、贵金属及其合金、放大镜与显微镜、电子光学与其他物理光学仪器、电真空器件综合、微型电机、医药、卫生、劳动保护综合、电子制造业工程、压力容器、电子束管、、金属物理性能试验方法、其他物质成份分析仪器、金属力学性能试验方法、电子元件综合、电子设备机械结构件、土壤、水土保持、金属工艺性能试验方法、安装、接线连接件、胶粘剂、胶粘剂基础标准与通用方法、润滑脂、微波管、其他电工生产设备、水环境有毒害物质分析方法、电子技术专用材料、化学、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、化学试剂综合、量具与量仪、Ｘ射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器、技术管理。

SE-SIS，关于微电子的标准

SIS SEN 01 03 61-1969 微电子基本术语

CZ-CSN，关于微电子的标准

CSN 35 8009-1988 微电子技术系统．术语

(美国)军事条例和规范，关于微电子的标准

ARMY MIL-HDBK-175 VALID NOTICE 1-2000 微电子器件的数据手册
ARMY MIL-HDBK-175-1968 微电子器件的数据手册

重庆市地方标准，关于微电子的标准

DB50/T 540-2014 微电子热质燃气流量计

台湾地方标准，关于微电子的标准

CNS 13724-1996 微电子焊线拉力试验法
CNS 12865.6-1991 数字微电子检验法（端子电容值）
CNS 12865-6-1991 数字微电子检验法(端子电容值)
CNS 12865.10-1992 数字微电子检验法（功能测试）
CNS 12865-9-1991 数字微电子检验法(延迟量测)
CNS 12865.8-1991 数字微电子检验法（负载条件）
CNS 12865-8-1991 数字微电子检验法(负载条件)
CNS 12865-10-1992 数字微电子检验法(功能测试)
CNS 12865.9-1991 数字微电子检验法（延迟量测）
CNS 12865.7-1991 数字微电子检验法（驱动源，动态）
CNS 12865-7-1991 数字微电子检验法(驱动源,动态)
CNS 12865.11-2005 数字微电子量测法（噪声边限量测）
CNS 12865-11-2005 数字微电子量测法(噪声边限量测)
CNS 12865-1-1991 数字微电子检验法(高位准输出电压)
CNS 12865-3-1991 数字微电子检验法(低位准输入电流)
CNS 12865-2-1991 数字微电子检验法(低位准输出电压)
CNS 12865-4-1991 数字微电子检验法(高位准输入电流)
CNS 12865.5-1991 数字微电子检验法（输出端短路电流）
CNS 12865.4-1991 数字微电子检验法（高位准输入电流）
CNS 12865.3-1991 数字微电子检验法（低位准输入电流）
CNS 12865.2-1991 数字微电子检验法（低位准输出电压）
CNS 12865.1-1991 数字微电子检验法（高位准输出电压）
CNS 12865-5-1991 数字微电子检验法(输出端短路电流)
CNS 13725-1996 微电子焊线之非破坏性拉力试验法

US-Unspecified Preparing Activity，关于微电子的标准

DI-QCIC-80886 A-1993 定制微电子电路特性规划
DI-MGMT-81763 A-2009 定制化微电子器件源头保护计划

法国标准化协会，关于微电子的标准

NF C96-315:1987 微波微电子学.衰减器和负载
NF X21-005:2006 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
NF C96-314:1985 微型结构.超高频微电子学.耦合器.一般规定
NF EN ISO 10692-1:2001 气瓶 - 微电子工业气瓶阀门配件 - 第 1 部分：出口配件
NF C96-050-10*NF EN 62047-10:2012 半导体器件.微电子机械器件.第10部分:MEMES材料微极压缩测试
NF C96-050-5*NF EN 62047-5:2012 半导体器件.微电机装置.第5部分:射频(RF)微电子机械系统(MEMS)开关
NF E29-692-1*NF EN ISO 10692-1:2001 气体瓶微电子工业用气体瓶阀门的连接件第1部分：输出口连接件
NF X21-016*NF ISO 15932:2014 微束分析分析电子显微术词汇
NF ISO 15932:2014 微束分析分析电子显微镜词汇
NF EN ISO 10692-2:2001 气瓶 - 微电子工业气瓶阀门连接 - 第2部分：阀门和气瓶之间连接的规范和型式试验
NF X21-010:2009 微光束分析.扫描电子显微术.词汇

SAE - SAE International，关于微电子的标准

SAE AS1142-1971 微电子设备的气密性测试
SAE AMS2690B-1988 薄膜基板的平行间隙焊接微电子互连
SAE AMS2690D-2017 平行间隙焊接微电子互连到薄膜基板

美国机动车工程师协会，关于微电子的标准

SAE AS1142-2002 1992 微电子器件气密性测试
SAE AMS2690A-1982 平行间隙焊接微电子互连到薄膜基板
SAE AMS2690C-2011 平行间隙焊接微电子互连到薄膜基板
SAE AMS2690-1968 微电子互连与薄膜基板的并联间隙焊接
SAE AMS2690C-2001 平行间隙焊接，与薄膜基板的微电子互连
SAE AMS2690B-1993 平行间隙焊接到薄膜基板的微电子互连
SAE AMS2690C-1988 （非当前）平行间隙焊接微电子互连到薄膜基板

行业标准-电子，关于微电子的标准

SJ/T 10584-1994 微电子学光掩蔽技术术语
SJ/T 10747-1996 微波电子器件引线颜色标志
SJ 20900-2004 微波电子管用氧化铍陶瓷瓷筒规范
SJ/Z 9008.1-1987 微波电子管电性能的测试第1部分：术语
SJ/Z 9008.3-1987 微波电子管电性能的测试第4部分：磁控管
SJ/Z 9008.2-1987 微波电子管电性能的测试第2部分：一般测试

HU-MSZT，关于微电子的标准

MSZ 9200/23-1980 电子信号．微波电子信号

PL-PKN，关于微电子的标准

PN T04813-1971 低压电子管．抽线激活的微电子测量

国家军用标准-总装备部，关于微电子的标准

GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序
GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序
GJB 548C-2021 微电子器件试验方法和程序
GJB 548-1988 微电子器件试验方法和程序
GJB 3312-1998 微波电子管总规范
GJB 3312A-2011 微波电子管通用规范
GJB 3311A-2011 微波电子管测试方法
GJB 3311-1998 微波电子管测试方法
GJB/Z 40.3-1993 军用真空电子器件系列型谱微波电子管
GJB/Z 14-1990 军用微波电子管系列型谱
GJB 7675-2012 微波电子管阴极及组件测试方法
GJB 4158-2001 微波电子管用氧化铍陶瓷输出窗片规范

(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于微电子的标准

JEDEC JESD27-1993 微电子封装的陶瓷封装规范
JEDEC JEP121A-2006 微电子闪变和测试优化要求
JEDEC JESD9B-2011 微电子封装和外壳的检验标准
JEDEC JEP144A-2011 微电子封装内部气体分析指南
JEDEC JEP144-2002 微电子封装剩余气体分析(RGA)指南
JEDEC JESD9-A-1987 微电子封装和封面的金属包装规范
JEDEC JESD99B-2007 微电子设备的术语.定义和字母符号
JEDEC JESD22-C101D-2008 微电子元件静电放电耐受阈值的场致充电器件模型测试方法
JEDEC JESD22-C101F-2013 微电子元件静电放电耐受阈值的场致充电器件模型测试方法
JEDEC JESD22-C101C-2004 微电子元件抗静电放电域值的场诱导放电装置模型的试验方法

IET - Institution of Engineering and Technology，关于微电子的标准

LOW-PWR HF MICROELEC-1996 低功率高频微电子：统一方法

德国机械工程师协会，关于微电子的标准

VDI/VDE 2422-1994 微电子控制设备的系统开发
VDI 2083 Blatt 13.2-2009 洁净室技术超纯水的质量、生产和分配微电子和其他技术应用

VDI - Verein Deutscher Ingenieure，关于微电子的标准

VDI/VDE 2422-1992 微电子控制装置的系统开发

行业标准-铁道，关于微电子的标准

TB/T 3090-2004 25Hz相敏轨道电路微电子接收器

国家质检总局，关于微电子的标准

GB/T 17472-2008 微电子技术用贵金属浆料规范
GB/T 17472-2022 微电子技术用贵金属浆料规范
GB/T 42709.19-2023 半导体器件微电子机械器件第19部分：电子罗盘
GB 50467-2008 微电子生产设备安装工程施工及验收规范
GB/T 17473.2-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.细度测定
GB/T 17473.3-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.方阻测定
GB/T 17473.5-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.粘度测定
GB/T 17473.4-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.附着力测定
GB/T 17473.6-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.分辨率测定
GB/T 17473.2-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定
GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测定
GB/T 17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.固体含量测定
GB/T 42709.5-2023 半导体器件微电子机械器件第5部分：射频MEMS开关
GB/T 17473.5-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法粘度测定
GB/T 17473.6-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法分辨率测定
GB/T 17473.4-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法附着力测定
GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法固体含量测定
GB/T 17473.7-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.可焊性、耐焊性测定
GB/T 17473.7-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法可焊性、耐焊性试验
GB/T 18907-2002 透射电子显微镜选区电子衍射分析方法
GB/T 18907-2013 微束分析分析电子显微术透射电镜选区电子衍射分析方法
GB/T 23414-2009 微束分析.扫描电子显微术.术语
GB/T 26095-2010 电子柱电感测微仪
GB/T 21636-2008 微束分析.电子探针显微分析(EPMA)术语

韩国科技标准局，关于微电子的标准

KS D ISO 16700:2013 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
KS D ISO 14595:2012 微电子束分析.电子探测微量分析.检定标样(CRMs)的规范指南
KS D ISO 14594:2012 微电子束分析.电子探测微观分析.波长色散光谱学用实验参数的测定指南
KS B ISO 10692-1:2014 气瓶.微电子工业用气瓶阀接头.第1部分:输出口接头
KS B ISO 10692-1:2003 气瓶.微电子工业用气瓶阀接头.第1部分:输出口接头
KS B ISO 10692-1-2019 气瓶微电子工业用气瓶阀门连接第1部分：出口连接
KS B ISO 10692-1-2014(2019) 气瓶 - 用于微电子工业的气瓶阀连接 - 第1部分:出口连接
KS C IEC PAS 62162-2002(2022) 微电子元件静电放电耐受阈值的场致带电器件模型试验方法
KS C IEC PAS 62162-2022 微电子元件静电放电耐受阈值的场感应带电器件模型测试方法
KS D ISO TR 17270:2007 微束分析－分析透射电子显微术－电子能量损失谱学实验参数测定技术报告
KS C IEC PAS 62162-2002(2017) 用于静电放电场感应带电装置模型试验方法承受微电子元件的阈值
KS D ISO 23833:2012 微束分析.电子探针微小分析.词汇
KS B ISO 10692-2:2014 气瓶.微电子工业用气瓶阀的连接.第2部分:阀与瓶连接的规范和型式试验
KS B ISO 10692-2:2003 气瓶.微电子工业用气瓶阀的连接.第2部分:阀与瓶连接的规范和型式试验
KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析扫描电子显微镜词汇
KS D ISO 22493:2022 微束分析.扫描电子显微镜.词汇
KS D ISO 23833:2018 微束分析 - 电子探针微量分析（Epma） - 词汇
KS B ISO 10692-2-2014(2019) 气瓶 - 用于微电子工业的气瓶阀连接 - 第2部分:阀与气缸连接的规格和型式试验
KS B ISO 10692-2-2019 气瓶微电子工业用气瓶阀门连接第2部分：阀门与气瓶连接的规范和型式试验
KS D ISO 23833:2022 微束分析.电子探针显微分析（EPMA）.词汇
KS D ISO 22493:2012 微光束分析.扫描电子显微镜.术语

国际标准化组织，关于微电子的标准

ISO 16700:2004 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
ISO 16700:2016 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
ISO/CD 25498:2023 微束分析分析电子显微镜使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析
ISO/DIS 25498:2024 微束分析分析电子显微镜使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析
ISO 14594:2014 微电子束分析.电子探测微观分析.波长色散光谱学用实验参数的测定指南
ISO 14594:2003 微电子束分析.电子探测微观分析.波长色散光谱学用实验参数的测定指南
ISO 22309:2006 微电子束分析.用能量散射光谱仪(EDS)进行定量分析
ISO 10692-1:2001 气瓶微电子工业用气瓶阀的连接第1部分：出口连接
ISO 23420:2021 微束分析.分析电子显微镜.电子能量损失谱分析用能量分辨率的测定方法
ISO/CD 19214:2023 微束分析分析电子显微镜透射电子显微镜测定线状晶体表观生长方向的方法
ISO 25498:2010 微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析
ISO 25498:2018 微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析
ISO/TS 21383:2021 微束分析.扫描电子显微镜.定量测量用扫描电子显微镜的鉴定
ISO 10692-2:2001 气瓶微电子工业用气瓶阀的连接第2部分：阀与瓶连接的规范和型式试验
ISO 22493:2014 微束分析. 扫描电子显微术. 词汇
ISO 19214:2017 微束分析. 分析电子显微术. 采用透射电子显微镜术测定丝状晶体显著增长方向的方法
ISO 24639:2022 微束分析.分析电子显微镜.用电子能量损失光谱法进行元素分析的能量标度校准程序
ISO 15932:2013 微光束分析.分析电子显微镜.词汇

英国标准学会，关于微电子的标准

BS ISO 16700:2004 微电子束分析.扫描电子显微镜.图像放大校准指南
BS EN 62047-5:2011 半导体装置.微电子机械装置.射频微机电转换器
BS EN 62047-4:2010 半导体装置.微电机装置.微电子机械系统(MEMS)一般规格
BS EN 62047-7:2011 半导体装置.微电子机械装置.射频控制和选择所用的微电子机械系统(MEMS)声表面滤波器(BAW)和双工器
BS EN ISO 10692-1:2001 气瓶.用于微电子工业的储气瓶.出气口连接件
BS ISO 25498:2018 微束分析分析电子显微镜使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析
BS ISO 14594:2003 微电子束分析.电子探测微观分析.波长色散光谱学用实验参数的测定指南
BS ISO 14594:2014 微电子束分析.电子探测微观分析.波长色散光谱学用实验参数的测定指南
BS EN 62047-10:2011 半导体装置.微电子机械装置.MEMS材料的微型柱压缩试验
BS ISO 23420:2021 微束分析分析电子显微镜电子能量损失谱分析能量分辨率的测定方法
BS ISO 24639:2022 微束分析分析电子显微镜电子能量损失谱元素分析能量标度的校准程序
BS EN 62047-9:2011 半导体装置.微电子机械装置.MEMS的晶圆与晶圆结合强度测量
BS EN 62047-9:2013 半导体装置微电子机械装置 MEMS的晶圆与晶圆结合强度测量
20/30380369 DC BS ISO 23420 微束分析分析电子显微镜电子能量损失谱分析能量分辨率的测定方法
21/30404763 DC BS ISO 24639 微束分析分析电子显微镜电子能量损失谱元素分析能量标度的校准程序
BS ISO 25498:2010 微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析
24/30474499 DC BS ISO 19214 微束分析分析电子显微镜透射电子显微镜测定线状晶体表观生长方向的方法
18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析扫描电子显微镜用于扫描电子显微镜（TIFF/SEM）的标记图像文件格式
BS ISO 15932:2013 微束分析. 分析电子显微术. 词汇
BS ISO 22493:2014 微束分析. 扫描电子显微术. 词汇

美国环境科学与技术学会，关于微电子的标准

IEST RP-CC024.1-1994 测量和报告微电子设备中的振动
IEST RP-CC024.1-2002 测量和报告微电子设备中的振动（第 5 次印刷）
IEST RP-CC004.3-2004 测量和报告微电子设备中的振动（第 5 次印刷）

美国材料与试验协会，关于微电子的标准

ASTM F1238-95(2003) 微电子设备用耐熔硅化物溅射电极
ASTM F60-68(1983)e2 电子和微电子设备加工用水中微生物污染物的检测和计数方法
ASTM F1238-95(1999) 微电子设备用耐熔硅化物溅射电极的标准规范
ASTM F1238-95(2011) 微电子设备用耐熔硅化物溅射电极的标准规范
ASTM F10-69(1981)e1 微型电子管引线规范
ASTM F459-84(2001) 测量微电子引线键合拉伸强度的标准试验方法
ASTM F459-84(1995)e1 测量微电子引线键合拉伸强度的标准试验方法
ASTM F459-13(2018) 测量微电子引线键合拉伸强度的标准试验方法
ASTM F459-13 测量微电子引线键合拉伸强度的标准试验方法
ASTM F542-98 电子元件及微电子元件封装用密封化合物发热温度的试验方法
ASTM F542-02 电子元件及微电子元件封装用密封化合物发热温度的标准试验方法
ASTM F459-06 微电子器件金属丝连接抗拉强度测量的标准试验方法
ASTM F542-07 电子元件和微电子元件封装用电器外封胶的放热温度用标准试验方法
ASTM F677-95(1999) 电子和微电子学应用的热固性密封胶的耐流体和滑脂性能的标准试验方法
ASTM F677-04(2009) 电子和微电子学应用的热固性密封胶的耐流体和滑脂性能的标准试验方法
ASTM F677-13 电子和微电子学应用的热固性密封胶的耐流体和滑脂性能的标准试验方法
ASTM F677-04 电子和微电子学应用的热固性密封胶的耐流体和滑脂性能的标准试验方法
ASTM F71-68(1999) 使用形态键快速识别电子设备和微电子中污染控制的标准实施规程（2005 年撤回）
ASTM F1094-87(2005) 用直接加压分接抽样阀和用预先消毒塑料包法对电子和微电子器件加工用水微生物监测的测试方法
ASTM F1094-87(1999) 用于通过直接压力抽头阀和预灭菌塑料袋方法处理电子和微电子器件的水的微生物监测的标准测试方法
ASTM F1094-87(2020) 用于通过直接压力抽头阀和预灭菌塑料袋方法处理电子和微电子器件的水的微生物监测的标准测试方法
ASTM F1227-89(1999) 微电子相关基板上材料总质量损失和脱气挥发物冷凝的测试方法（2000 年撤回）
ASTM F1094-87(2012) 通过直接压力抽头采样阀和预消毒塑料袋法对电子和微电子设备处理用水进行微生物监控的标准试验方法
ASTM F1467-99(2005)e1 微电子装置的电离辐射效应试验中 X 射线测试仪(近似等于10 keV 辐射量子)的使用的标准指南

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc.，关于微电子的标准

ASHRAE KC-03-9-3-2003 将技术变革整合到微电子洁净室中

美国国防后勤局，关于微电子的标准

DLA SMD-5962-91669 REV A-2008 单片硅,5V稳压调节器,线性微电子电路
DLA SMD-5962-95839 REV C-2008 单片硅5V稳压调节器,线性微电子电路
DLA SMD-5962-92109 REV C-2008 DC/DC转换器双通道,线性混合式微电子电路
DLA SMD-5962-94761 REV B-2008 单片硅电气式可重写式逻辑编程设备,CMOS数字存储器微电子电路
DLA SMD-5962-90659 REV F-2008 可操作式放大器,大功率线性混合式微电子电路
DLA SMD-5962-87641 REV A-2008 单片硅锁存驱动器,串行输入BIMOS 8位的线性微电子电路
DLA MIL-M-38510/316 E VALID NOTICE 1-2008 单片硅级联锁存器,低功率肖特基TTL,双极数字式微电子电路
DLA MIL-M-38510/319 C VALID NOTICE 1-2008 单片硅级联式,4x4寄存器,低功率肖特基TTL,数字式微电子电路
DLA SMD-5962-92078 REV J-2008 CMOS,512K x 8-BIT静态随机访问存储器,数字式存储器,混合式微电子电路
DLA SMD-5962-93217 REV C-2008 单片硅TTL兼容输出,8触发-D型沿触发器,高级双极CMOS数字式微电子电路
DLA SMD-5962-92223 REV D-2008 TTL兼容输入和限定输出电压摆幅的单片快速CMOS带三态输出的八进制寄存/收发器的微电子电路
DLA MIL-PRF-1/1037 E NOTICE 2-2008 6897负栅(微波)型电子管
DLA MIL-PRF-1/1037E-1998 6897负栅(微波)型电子管
DLA MIL-PRF-1/1055 F NOTICE 1-2008 6442负栅(微波)型电子管
DLA MIL-PRF-1/1055F-2002 6442负栅(微波)型电子管
DLA SMD-5962-92225 REV C-2008 TTL兼容输入和限定输出电压摆幅的单片快速CMOS带三态输出的10位总线接口D寄存器的微电子电路
DLA SMD-5962-96570 REV C-2008 单片硅8缓存和线式驱动器带三种状态的输出,抗辐射的高级CMOS数字式微电子电路

美国航空无线电设备公司，关于微电子的标准

ARINC 606-1 ITEM 3.0 静电场和放电对当代微电子零件的影响

上海市标准，关于微电子的标准

DB31/ 842-2014 微电子元件制造业职业病危害控制规范

工业和信息化部，关于微电子的标准

SJ/T 11705-2018 微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法
SJ/T 11704-2018 微电子封装的数字信号传输特性测试方法
SJ/T 11703-2018 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法

IPC - Association Connecting Electronics Industries，关于微电子的标准

IPC/JEDEC-9301-2018 微电子封装设计和可靠性的数值分析指南

PT-IPQ，关于微电子的标准

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