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電子回折 二次回折

電子回折 二次回折は全部で 62 項標準に関連している。

電子回折 二次回折 国際標準分類において、これらの分類：語彙、 分析化学、 光学機器、 光学および光学測定、 金属材料試験、 消防、 長さと角度の測定、 食用油脂、油糧種子。

United States Navy, 電子回折 二次回折

• NAVY UFGS-01 33 29-2010 低エネルギー電子回折 (TM) ファイル

International Organization for Standardization (ISO), 電子回折 二次回折

• ISO/CD 23699 マイクロビーム解析—後方散乱電子回折—語彙
• ISO 13067:2011 マイクロビーム分析、後方散乱電子回折、平均粒径測定
• ISO 23749:2022 マイクロビーム分析、後方散乱電子回折、鋼中のオーステナイトの定量
• ISO 13067:2020 マイクロビーム分析 - 電子後方散乱回折 - 平均粒径の測定
• ISO 24173:2009 マイクロビーム解析 後方散乱電子回折を使用した指向性測定ガイド
• ISO/DIS 24173:2023 マイクロビーム解析 後方散乱電子回折を使用した配向測定ガイド
• ISO/CD 25498:2023 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
• ISO 25498:2010 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
• ISO 25498:2018 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
• ISO 23703:2022 マイクロビーム解析電子後方散乱回折 (EBSD) を使用したオーステナイト系ステンレス鋼の機械的損傷評価のための方位解析ガイド
• ISO 17109:2015 表面化学分析、深さプロファイリング、単層膜および多層膜を使用した、X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さプロファイリングにおけるスパッタリング率を決定する方法。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 電子回折 二次回折

• GB/T 19501-2004 電子後方散乱回折分析法の一般原則
• GB/T 18907-2002 透過型電子顕微鏡による電子回折分析法を採用
• GB/T 19501-2013 マイクロビーム解析の一般原理 電子後方散乱回折解析法
• GB/T 36165-2018 電子後方散乱回折 (EBSD) 法による金属の平均粒径の測定
• GB/T 30703-2014 マイクロビーム解析ガイドライン 後方散乱電子回折方位解析手法
• GB/T 38532-2020 マイクロビーム分析 電子後方散乱回折 平均粒径の決定
• GB/T 18907-2013 マイクロビーム解析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡、選択電子回折分析法
• GB/T 20724-2006 結晶厚が薄い場合の収束電子回折測定法

工业和信息化部, 電子回折 二次回折

• YB/T 4677-2018 鋼の電子後方散乱回折 (EBSD) 法における集合組織の決定

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 電子回折 二次回折

• DB31/T 1156-2019 電気火災メルトマーク技術識別電子後方散乱回折法

Association Francaise de Normalisation, 電子回折 二次回折

• NF ISO 24173:2009 マイクロビーム解析 後方散乱電子回折方位測定ガイド
• NF X21-014:2012 マイクロビーム分析、後方散乱電子回折、平均粒子径の測定
• NF X21-011*NF ISO 24173:2009 マイクロビーム分析のための電子後方散乱回折方向測定のガイド

German Institute for Standardization, 電子回折 二次回折

• DIN ISO 13067:2021-08 マイクロビーム解析 電子後方散乱回折 平均粒径測定
• DIN ISO 13067:2015 マイクロビーム分析、後方散乱電子回折、平均粒径測定 (ISO 13067-2011)
• DIN ISO 24173:2013-04 マイクロビーム解析 後方散乱電子回折を使用した配向測定ガイド
• DIN ISO 13067:2021 マイクロビーム解析 電子後方散乱回折 平均粒径の測定 (ISO 13067:2020)
• DIN ISO 24173:2013 マイクロビーム分析、後方散乱電子回折を使用した指向性測定のガイドライン (ISO 24713-2009)
• DIN EN 14107:2003-10 油脂誘導体 脂肪酸メチルエステル（FAME） 誘導結合プラズマ（ICP）発光分析によるリン含有量の測定

British Standards Institution (BSI), 電子回折 二次回折

• BS ISO 13067:2011 マイクロビーム分析、反射電子回折、平均粒径測定
• BS ISO 13067:2020 マイクロビーム解析 電子後方散乱回折 平均粒径の測定
• BS ISO 23749:2022 マイクロビーム分析による鋼中のオーステナイトの定量的測定 後方散乱電子回折
• BS ISO 24173:2009 マイクロビーム解析、後方散乱電子回折を使用した方位角測定の基準
• BS ISO 25498:2018 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
• 19/30365236 DC BS ISO 13067 マイクロビーム分析 後方散乱電子回折 平均粒径の測定
• 21/30398224 DC BS ISO 23749 マイクロビーム分析による後方散乱電子回折による鋼中のオーステナイトの定量的測定
• 23/30435799 DC BS ISO 24173 マイクロビーム分析による後方散乱電子回折を使用した配向測定のガイド
• BS ISO 25498:2010 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
• BS ISO 23703:2022 マイクロビーム解析 電子後方散乱回折 (EBSD) によるオーステナイト系ステンレス鋼の機械的損傷を評価するための方向ずれ解析ガイド
• 21/30395106 DC BS ISO 23703 マイクロビーム解析電子後方散乱回折 (EBSD) によるオーステナイト系ステンレス鋼の機械的損傷の評価のための誤方位解析ガイド
• BS EN 14107:2003 油脂の誘導体 脂肪酸メチルエステル (FAME) 誘導結合プラズマ (ICP) 放射線分光法によるリン含有量の測定。
• BS ISO 17109:2015 表面化学分析、深さプロファイリング、単層膜および多層膜を使用した、X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さプロファイリングにおけるスパッタリング率を決定する方法。
• BS ISO 17109:2022 表面化学分析 深さプロファイリング 単層膜および多層膜の X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さ分析におけるスパッタリング率の決定方法...
• 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化学分析の深さプロファイリング X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、単イオンおよび二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さ分析におけるスパッタリング率の決定方法...

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 電子回折 二次回折

• GB/T 41076-2021 マイクロビーム分析による鋼中のオーステナイトの定量分析電子後方散乱回折
• GB/T 20724-2021 マイクロビーム分析 収束ビーム電子回折 薄い結晶の厚さの測定

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 電子回折 二次回折

• GB/T 34172-2017 マイクロビーム解析 後方散乱電子回折 金属・合金の位相解析法

RU-GOST R, 電子回折 二次回折

• GOST R 8.696-2010 測定の一貫性を確保するための国家制度 結晶の面間隔と回折パターンの輝度分布 電子線回折装置による測定
• GOST R ISO 13067-2016 測定の一貫性を確保するための国家システム マイクロビーム分析 後方散乱電子回折 平均粒子径の測定

Professional Standard - Commodity Inspection, 電子回折 二次回折

• SN/T 2649.1-2010 輸出入化粧品中のアスベストの判定その1：X線回折・走査型電子顕微鏡法

IX-IX-IEC, 電子回折 二次回折

• IEC TS 62607-6-17:2023 ナノファブリケーションの主要な制御特性 パート 6-17: グラフェンベースの材料の秩序パラメーター: X 線回折および透過型電子顕微鏡

American Society for Testing and Materials (ASTM), 電子回折 二次回折

• ASTM E2627-13 完全に再結晶化された多結晶材料の電子後方散乱回折 (EBSD) を使用して平均粒子サイズを決定するための標準的な手法
• ASTM E2627-13(2019) 電子後方散乱回折 (EBSD) による完全に再結晶化された多結晶材料の平均粒径を決定するための標準的な方法
• ASTM E2627-10 完全に再結晶化した多結晶材料の電子後方反射回折 (EBSD) を使用した平均粒子サイズの決定のための標準的な手法

GOSTR, 電子回折 二次回折

• GOST R EN 14107-2009 油脂誘導体 脂肪酸メチルエステル（FAME） 誘導結合プラズマ（ICP）発光分析によるリン含有量の測定

AENOR, 電子回折 二次回折

• UNE-EN 14107:2003 油脂誘導体 脂肪酸メチルエステル（FAME） 誘導結合プラズマ（ICP）発光分析によるリン含有量の測定

Danish Standards Foundation, 電子回折 二次回折

• DS/EN 14107:2003 脂肪および油誘導体 誘導結合プラズマ (ICP) 発光分析によるリン含有量測定用の脂肪酸メチルエステル (FAME)

Lithuanian Standards Office , 電子回折 二次回折

• LST EN 14107-2004 脂肪および油誘導体 誘導結合プラズマ (ICP) 発光分析によるリン含有量測定用の脂肪酸メチルエステル (FAME)

European Committee for Standardization (CEN), 電子回折 二次回折

• EN 14107:2003 油脂の誘導体 脂肪酸メチルエステル (FAME) 誘導結合プラズマ (ICP) 放射線分光法によるリン含有量の測定。

ZA-SANS, 電子回折 二次回折

• SANS 54107:2007 油脂の誘導体。 脂肪酸メチルエステル（FAME）。 誘導結合プラズマ (ICP) 放射線分光法によるリン含有量の測定

その他：   二次電子回折, 電子回折, 電子回折 二次回折, ++++電子回折, 収束電子回折, 電子回折輝度, 二次電子回折分析, 電子回折 二次回折, 電子回折散乱, 電子顕微鏡 電子回折, 中性電子回折, 電子回折分析, 制限視野電子回折, 電子回折分析, 二次回折、電子回折, 電子回折輝度, 電子回折面, 電子回折障害, 電子回折 回折, 電子回折と電子回折.