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光学 系统

本专题涉及光学 系统的标准有342条。

国际标准分类中,光学 系统涉及到光学和光学测量、光学设备、电信系统、词汇、长度和角度测量、电子管、航空航天用电气设备和系统、半导体分立器件、光电子学、激光设备、光纤通信、摄影技术、机上设备和仪器、电气工程综合、计量学和测量综合、技术制图、铁路/索道建造和维护设备、无线通信、音频、视频和视听工程、建筑材料、医疗设备、字符集和信息编码、文娱活动设备。

在中国标准分类中,光学 系统涉及到光学仪器综合、光学测试仪器、光学设备、导航通讯系统与设备、陶瓷、玻璃综合、电子束管、光学计量仪器、基础标准和通用方法、光电子器件综合、电子元器件、半导体发光器件、电气系统与设备、放大镜与显微镜、其他物质成份分析仪器、、广播、电视系统、电光源产品、光通信设备、纸浆与纸板、广播、电视网综合、激光器件、特殊灯具、标准化、质量管理、半导体光敏器件、物理学与力学。


德国机械工程师协会,关于光学 系统的标准

VDI - Verein Deutscher Ingenieure,关于光学 系统的标准

国家质检总局,关于光学 系统的标准

  • GB/T 10988-2009 光学系统杂(散)光测量方法
  • GB/T 10987-2009 光学系统.参数的测定
  • GB/T 11168-2009 光学系统像质测试方法
  • GB/T 27667-2011 光学系统像质评价.畸变的测定
  • GB/T 22057.2-2008 显微镜.相对机械参考平面的成像距离.第2部分:无限远校正光学系统
  • GB/T 20151-2006 光度学.CIE物理光度系统
  • GB/T 18904.2-2002 半导体器件 第12-2部分;光电子器件 纤维光学系统或子系统用带尾纤的激光二极管模块空白详细规范
  • GB/T 18904.4-2002 半导体器件 第12-4部分;光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin-FET模块空白详细规范
  • GB/T 18904.5-2003 半导体器件 第12-5部分;光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范

SCC,关于光学 系统的标准

GOST,关于光学 系统的标准

英国标准学会,关于光学 系统的标准

GSO,关于光学 系统的标准

  • GSO ISO 9039:2015 光学和光子学 光学系统的质量评估 畸变识别
  • BH GSO ISO 9039:2017 光学和光子学 光学系统的质量评价 畸变的测定
  • OS GSO ISO 9039:2015 光学和光子学 光学系统的质量评价 畸变的测定
  • GSO ISO/TR 14999-2:2014 光学和光子学 光学元件和光学系统的光学干涉测量 第2部分:测量和评估技术
  • GSO ISO/TR 14999-1:2014 光学和光子学 光学元件和光学系统的光学干涉测量 第1部分:术语、定义和基本关系
  • GSO ISO 15795:2015 光学和光学仪器 光学系统的质量评估 评估色差引起的图像质量下降
  • BH GSO ISO 15795:2016 光学和光学仪器 光学系统的质量评估 评估色差引起的图像质量下降
  • OS GSO ISO 15795:2015 光学和光学仪器 光学系统的质量评估 评估色差引起的图像质量下降
  • OS GSO ISO/TR 14999-2:2014 光学和光子学 光学元件和光学系统的干涉测量 第2部分:测量和评估技术
  • GSO ISO 14999-4:2014 光学和光子学 光学元件和光学系统的光学干涉测量 第4部分:ISO 10110中规定的公差的解释和评估
  • BH GSO ISO/TR 14999-1:2016 光学和光子学 光学元件和光学系统的干涉测量 第1部分:术语、定义和基本关系
  • GSO ISO/TR 14999-3:2014 光学和光子学 光学元件和光学系统的光学干涉测量 第3部分:光学干涉测量测试设备和测量的校准和有效性
  • BH GSO ISO 14999-4:2016 光学和光子学 光学元件和光学系统的干涉测量 第4部分:ISO 10110中规定的公差的解释和评估
  • GSO ISO 9345-2:2014 显微镜 与机械参考表面相关的图像尺寸 第2部分:无限校正光学系统
  • BH GSO ISO 9345-2:2016 显微镜 与机械参考平面相关的成像距离 第2部分:无限远校正光学系统
  • GSO ISO 10110-12:2014 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第12部分:球面
  • BH GSO ISO 10110-1:2016 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第1部分:概述
  • GSO ISO 10110-1:2015 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第1部分:概述
  • OS GSO ISO 10110-1:2015 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第1部分:概述
  • BH GSO ISO 21094:2016 光学和光子学 望远镜系统 夜视设备规范
  • OS GSO ISO 21094:2013 光学和光子学 望远镜系统 夜视设备规范
  • OS GSO ISO 10110-12:2014 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第12部分:非球面
  • GSO ISO/TR 21477:2021 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 表面缺陷规范和测量系统
  • BH GSO ISO/TR 21477:2022 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 表面缺陷规范和测量系统
  • BH GSO ISO 10110-11:2016 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第11部分:非公差数据
  • OS GSO ISO 10110-11:2014 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第11部分:非公差数据
  • GSO ISO 10110-5:2014 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第5部分:表面形状公差
  • BH GSO ISO 10110-7:2017 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第7部分:表面缺陷公差
  • OS GSO ISO 10110-14:2014 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第14部分:波前变形公差
  • OS GSO ISO 10110-7:2015 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第7部分:表面缺陷公差

SAE - SAE International,关于光学 系统的标准

韩国科技标准局,关于光学 系统的标准

KR-KS,关于光学 系统的标准

  • KS B ISO 9039-2018 光学和光子学 - 光学系统的质量评估 - 失真的确定
  • KS B ISO 9039-2023 光学和光子学光学系统的质量评定畸变的测定
  • KS B ISO 15795-2023 光学和光学仪器.光学系统的质量评定.由色差引起的图像质量退化的评定
  • KS B ISO 14999-4-2016 光学和光子学光学元件和光学系统的干涉测量第4部分:KS B ISO 10110规定公差的解释和评定
  • KS B ISO 9345-2-2023 显微镜.与机械基准面有关的成像距离.第2部分:无限校正光学系统
  • KS B ISO 9345-2-2016 光学和光学仪器显微镜:与机械基准面有关的成像距离第2部分:无限校正光学系统
  • KS B ISO 10110-12-2023 光学和光子学光学元件和系统制图第12部分:非球面
  • KS B ISO 10110-1-2017 光学和光子学 - 光学元件和系统图纸准备第1部分:总则
  • KS B ISO 10110-11-2023 光学和光子学光学元件和系统制图第11部分:非公差数据
  • KS B ISO 10110-12-2018 光学和光子学.光学元件和系统绘图的制备.第12部分:非球面
  • KS B ISO 10110-5-2023 光学和光子学光学元件和系统制图第5部分:表面形状公差
  • KS B ISO 10110-10-2023 光学和光子学光学元件和系统制图第10部分:光学元件和胶合组件数据表
  • KS B ISO 14132-3-2019 光学与光子学 - 伸缩系统词汇 - 第3部分:伸缩瞄准术语
  • KS B ISO 10110-5-2018 光学和光子学 - 光学元件和系统的图纸准备 - 第5部分:表面形状公差

德国标准化学会,关于光学 系统的标准

  • DIN ISO 9039:2008-08 光学和光子学 光学系统的质量评估 畸变的测定
  • DIN 58186:1982 光学系统的质量评定.眩光的测定
  • DIN ISO 15795:2008-04 光学和光子学 光学系统的质量评估 评估色差引起的图像质量下降
  • DIN 58172-1:2007 光学系统测试.第1部分:对称性偏差
  • DIN 58172-1:2007-07 光学系统测试 第1部分:对称性偏差
  • DIN ISO 15795:2008 光学和光子学.光学系统的质量评定.色差引起的图象质量下降的评定
  • DIN 58170-54:1980 光学系统的尺寸和公差说明.第54部分:不洁度
  • DIN ISO 15795:2006 光学和光学仪器.光学系统质量评估.彩色相差引起的图像质量下降的评定(ISO 15795-2002)
  • DIN EN 4533-002:2008 航空航天系列.纤维光学系统.手册.第002部分:试验和测量
  • DIN EN 4533-001:2008 航空航天系列.纤维光学系统.手册.第001部分:终端法和工具
  • DIN ISO 14999-4 Beiblatt 1:2020-04 光学和光子学-光学元件和光学系统的干涉测量-第4部分:ISO 10110中规定的公差的解释和评估
  • DIN EN 4533-004:2008 航空航天系列.纤维光学系统.手册.第004部分:修理、维护和检测
  • DIN ISO 14999-4:2016 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110规定的公差说明和评估(ISO 14999-4-2015)
  • DIN EN 4533-003:2008 航空航天系列.纤维光学系统.手册.第003部分:航行灯及设备的使用
  • DIN ISO 9345-2:2005 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.第2部分:完全修正光学系统
  • DIN ISO 14999-4:2016-04 光学和光子学 光学元件和光学系统的干涉测量 第4部分:ISO 10110(ISO 14999-4:2015)中规定的公差的解释和评估
  • DIN ISO 14999-4:2008 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110规定的公差说明和评估(ISO 14999-4-2007).英文版本DIN ISO 14999-4-2008
  • DIN ISO 10110-1:2020-09 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第1部分:概述
  • DIN ISO 10110-1:2007 光学和光子学.光学元件和系统制图的准备.第1部分:总则
  • DIN ISO 10110-12:2021-09 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第12部分:非球面
  • DIN ISO 10110-6:2016 光学和光子学.光学元件和系统图形的制备.第6部分:中心公差
  • DIN ISO 10110-6:2016-06 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第6部分:中心公差
  • DIN ISO/TR 21477:2018-08*DIN SPEC 13477:2018-08 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 表面缺陷规格和测量系统
  • DIN ISO 10110-12:2009 光学和光子学.光学元件和系统制图的制备.第12部分:非球面表面
  • DIN ISO 10110-17:2004 光学和光子学.光学元件和系统制图准备.第17部分:激光辐照损伤阈
  • DIN 15560-1:2003 电影和电视演播室、舞台和摄影用聚光灯.0.25至20Kw白炽灯和0.125至18KW金属卤光灯及光学系统和装置用聚光灯
  • DIN ISO 10110-1:2020 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第1部分:总则(ISO 10110-1:2019)
  • DIN ISO 10110-14:2019-09 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第14部分:波前变形公差
  • DIN ISO 10110-5:2016-04 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第5部分:表面形状公差

法国标准化协会,关于光学 系统的标准

国际电信联盟,关于光学 系统的标准

国际标准化组织,关于光学 系统的标准

  • ISO 21094:2008 光学和光子学.光子学系统.夜视装置的规范
  • ISO 9039:1994 光学和光学仪器 光学系统的质量评定 畸变测定
  • ISO/TR 16743:2013 光学和光子学.表示特性的光学系统和光学元件用波前传感器
  • ISO 9039:1994/Cor 1:2004 光学和光学仪器.光学系统的质量评定.畸变的测定.技术勘误1
  • ISO 15795:2002 光学和光子学.光学系统质量评定.彩色相差引起的图象质量下降的评定
  • ISO/TR 14999-2:2019 光学和光子学 - 光学元件和光学系统的干涉测量 - 第2部分:测量和评估技术
  • ISO/TR 14999-2:2005 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第2部分:测量和评价技术
  • ISO/TR 14999-1:2005 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第1部分:术语、定义和基本关系
  • ISO 15795:2002/cor 1:2007 光学和光学仪器.光学系统质量评定.彩色相差引起的图象质量下降的评定.技术勘误1
  • ISO 20954-1:2019 数码相机.图像稳定性能的测量方法.第1部分:光学系统
  • ISO 14999-4:2007 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110中指定公差的注释和评定
  • ISO 14999-4:2015 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第4部分:ISO 10110中指定公差的注释和评定
  • ISO/TR 14999-3:2005 光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第3部分:干涉仪试验设备和测量的校准和验证
  • ISO 9345-2:2014 显微镜. 相对机械参考平面的成像距离. 第2部分: 无限远校正光学系统
  • ISO 10110-1:2019 光学和光子学 - 光学元件和系统图纸准备第1部分:总则
  • ISO 9345:2019 显微镜 - 与机械参考平面有关的成像距离 - 第2部分:无限远校正的光学系统
  • ISO 10110-12:2007 光学和光子学.光学元件和系统制图.第12部分:非球面表面
  • ISO 10110-12:2019 光学和光子学.光学元件和系统绘图的制备.第12部分:非球面
  • ISO 10110-6:2015 光学和光子学.光学元件和系统制图准备 第6部分:中心公差
  • ISO/FDIS 10110-16 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第16部分:衍射表面
  • ISO 1011:1973 光学和光子学.光学元件和系统绘图的制备.第8部分:表面结构
  • ISO 10110-8:2019 光学和光子学.光学元件和系统绘图的制备.第8部分:表面结构
  • ISO 10110-16:2023 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第 16 部分:衍射表面
  • ISO 14132-3:2014 光学和光子学. 望远系统词汇. 第3部分: 瞄准镜的术语
  • ISO/TR 21477:2017 光学和光子学.光学元件和系统图纸的制备.表面缺陷规范和测量系统
  • ISO 10110-5:2007 光学和光子学.光学元件和系统制图准备.第5部分:表面形状公差
  • ISO/CD 10110-11.2 光学和光子学 光学元件和系统图纸的准备 第11部分:非公差数据
  • ISO 10110-5:2015 光学和光子学.光学元件和系统制图准备.第5部分:表面形状公差
  • ISO 10110-11:2016 光学和光子学.光学元件和系统用图纸制备.第11部分:非公差数据
  • ISO 10110-9:2016 光学和光子学.光学元件和系统制图准备.第9部分:表面处理和镀层

国家军用标准-总装备部,关于光学 系统的标准

国家军用标准-国防科工委,关于光学 系统的标准

(美国)军事条例和规范,关于光学 系统的标准

GB-REG,关于光学 系统的标准

行业标准-电子,关于光学 系统的标准

ITU-T - International Telecommunication Union/ITU Telcommunication Sector,关于光学 系统的标准

国际电工委员会,关于光学 系统的标准

  • IEC 62007-2:1999 纤维光学系统用半导体光电器件 第2部分:测量方法
  • IEC 62007-1:2015 纤维光学系统用半导体光电器件.第1部分:基本额定值及特性用规范模板
  • IEC 62007-1:2008 纤维光学系统用半导体光电器件.第1部分:基本额定值及特性用规范模板
  • IEC 60728-13:2010 电视信号、声音信号和交互式服务用电缆网络.第13部分:广播信号传输用光学系统
  • IEC 60728-115:2022 电视信号、声音信号和交互服务用电缆网络第115部分:广播信号传输用室内光学系统
  • IEC 60747-12-4:1997 半导体器件 第12-4部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的PIN-FET模块空白详细规格
  • IEC 60747-12-6:1997 半导体器件 第12-6部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的雪崩光电二极管空白详细规范
  • IEC 60747-12-2:1995 半导体器件 第12部分:光电子器件 第2节:纤维光学系统和子系统带尾纤的激光二极管模块空白详细规范
  • IEC 60747-12-5:1997 半导体器件 第12-5部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的PIN光电二极管空白详细规范
  • IEC 60728-13:2010/COR1:2010 勘误表 1 电视信号、声音信号和交互服务的有线网络 第13部分:广播信号传输的光学系统

澳大利亚标准协会,关于光学 系统的标准

GOSTR,关于光学 系统的标准

欧洲标准化委员会,关于光学 系统的标准

  • EN 4533-002:2006 航空航天系列.纤维光学系统.手册.第002部分:试验和测量
  • EN 4533-001:2006 航空航天系列.纤维光学系统.手册.第001部分:终端法和工具
  • EN 4533-004:2006 航空航天系列.纤维光学系统.手册.第004部分:修理,维护和检测
  • EN 4533-003:2006 航空航天系列.纤维光学系统.手册.第003部分:航行灯及设备的使用

CEN - European Committee for Standardization,关于光学 系统的标准

  • EN 4533-002:2017 航空航天系列.纤维光学系统.手册.第002部分:试验和测量
  • EN 4533-004:2018 航空航天系列.纤维光学系统.手册.第004部分:修理,维护和检测
  • EN 4533-003:2017 航空航天系列.纤维光学系统.手册.第003部分:航行灯及设备的使用

ETSI - European Telecommunications Standards Institute,关于光学 系统的标准

  • ETR 268-1996 传输和复用(TM); 10 Gbit/s 容量的长途光学系统的物理方面

未注明发布机构,关于光学 系统的标准

AT-OVE/ON,关于光学 系统的标准

日本工业标准调查会,关于光学 系统的标准

  • JIS B 0091:2010 光学元件和光学系统的干涉测量.表面形式和波阵面变形公差的术语和定义
  • JIS B 7132-2:2022 显微镜 与机械参考平面相关的成像距离 第2部分:无限远校正光学系统

美国材料与试验协会,关于光学 系统的标准

  • ASTM F3615-23 增材制造的标准实践 粉末床融合 光学系统的条件定义维护
  • ASTM F658-00a 使用基于光消光的光学系统校准液载粒子计数器的标准实施规程
  • ASTM F658-00 用基于消光的光学系统进行液载粒子计数器校准的标准实施规程

RU-GOST R,关于光学 系统的标准

  • GOST R 8.745-2011 国家测量一致性保证体系.光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第2部分:测量和评价技术
  • GOST R 8.743-2011 国家测量一致性保证体系.光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第1部分:术语、定义和基本关系
  • GOST R 56057-2014 铁路信号警报用发光二极管(LED)灯光学系统. 通用技术要求和试验方法
  • GOST R 8.744-2011 国家测量一致性保证体系.光学和光子学.光学元件和光学系统的干涉仪测量.第3部分:干涉仪试验设备和测量的校准和检定

中国团体标准,关于光学 系统的标准

美国国家标准学会,关于光学 系统的标准

丹麦标准化协会,关于光学 系统的标准

  • DS/EN 60728-13:2010 电视信号、声音信号和交互服务的有线网络 第13部分:广播信号传输的光学系统

欧洲电工标准化委员会,关于光学 系统的标准

  • EN 60728-13:2010 电视信号、声音信号和交互服务的有线网络 第13部分:广播信号传输的光学系统

美国电信工业协会,关于光学 系统的标准

  • TIA SP 3-0142-2003 纤维光学通信系统的设计指南.第6部分:并行光学互连系统的非对称设计

美国电气电子工程师学会,关于光学 系统的标准

  • IEEE 1594-2008 高架使用线路用螺旋状应用纤维光学光缆系统(缠绕光缆)用IEEE标准

立陶宛标准局,关于光学 系统的标准

  • LST EN 60728-13-2010 电视信号、声音信号和交互服务的有线网络 第13部分:广播信号传输的光学系统(IEC 60728-13:2010)




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