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電子プローブ装置のサンプル前処理

電子プローブ装置のサンプル前処理は全部で 10 項標準に関連している。

電子プローブ装置のサンプル前処理 国際標準分類において、これらの分類：光学機器、 分析化学、 セラミックス。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 電子プローブ装置のサンプル前処理

• GB/T 17365-1998 金属・合金電子プローブの定量分析用サンプルの調製方法
• GB/T 17366-1998 鉱物岩石の電子プローブ分析用サンプルの調製方法
• GB/T 17363-1998 金製品の電子プローブ定量法

National Electrical Manufacturers Association（NEMA), 電子プローブ装置のサンプル前処理

• NEMA LL 6-1999 統合された電子コンパクト蛍光ランプのサンプル前処理と TCLP 手順

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 電子プローブ装置のサンプル前処理

• KS D ISO 22489:2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析 - 波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析

KR-KS, 電子プローブ装置のサンプル前処理

• KS D ISO 22489-2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析 - 波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析

British Standards Institution (BSI), 電子プローブ装置のサンプル前処理

• BS ISO 22489:2007 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析。
• BS ISO 22489:2016 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析。

Association Francaise de Normalisation, 電子プローブ装置のサンプル前処理

• NF X21-006:2007 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法によるバルクサンプルの定量点分析。

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 電子プローブ装置のサンプル前処理

• JIS R 1633:1998 走査型電子顕微鏡観察用ファインセラミックスおよびセラミックス粉末の試料作製方法

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