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電子プローブサンプルの準備

電子プローブサンプルの準備は全部で 17 項標準に関連している。

電子プローブサンプルの準備 国際標準分類において、これらの分類：光学機器、 光学および光学測定、 包括的なテスト条件と手順、 分析化学。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 電子プローブサンプルの準備

• GB/T 17365-1998 金属・合金電子プローブの定量分析用サンプルの調製方法
• GB/T 17366-1998 鉱物岩石の電子プローブ分析用サンプルの調製方法
• GB/T 4930-1993 標準サンプルの電子プローブ分析に関する一般的な技術条件
• GB/T 17363-1998 金製品の電子プローブ定量法
• GB/T 4930-2008 マイクロビーム分析、電子プローブ分析、標準サンプル技術条件のガイドライン
• GB/T 17363.1-2009 金製品中の金含有量を非破壊で測定する方法 パート 1: 電子プローブ微量分析

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 電子プローブサンプルの準備

• GB/T 4930-2021 マイクロビーム分析および電子プローブマイクロ分析用標準試料の技術的条件に関するガイドライン

National Electrical Manufacturers Association（NEMA), 電子プローブサンプルの準備

• NEMA LL 6-1999 統合された電子コンパクト蛍光ランプのサンプル前処理と TCLP 手順

International Organization for Standardization (ISO), 電子プローブサンプルの準備

• ISO 22489:2006 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量分析。
• ISO 22489:2016 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量分析。

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 電子プローブサンプルの準備

• KS D ISO 22489:2012 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量分析。
• KS D ISO 22489:2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析 - 波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析

KR-KS, 電子プローブサンプルの準備

• KS D ISO 22489-2018 マイクロビーム分析 - 電子プローブ微量分析 - 波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析
• KS D ISO 22489-2018(2023) マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析。

British Standards Institution (BSI), 電子プローブサンプルの準備

• BS ISO 22489:2007 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析。
• BS ISO 22489:2016 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法を使用したバルクサンプルの定量点分析。

Association Francaise de Normalisation, 電子プローブサンプルの準備

• NF X21-006:2007 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析、波長分散型 X 線分光法によるバルクサンプルの定量点分析。

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