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半幅粒

半幅粒は全部で 19 項標準に関連している。

半幅粒 国際標準分類において、これらの分類：飲み物、半導体材料、オプトエレクトロニクス、レーザー装置、金属材料試験、集積回路、マイクロエレクトロニクス、総合電子部品、半導体ディスクリートデバイス、非破壊検査。

Group Standards of the People's Republic of China, 半幅粒

T/BJWA 004-2022 天然飲料水の低ヘルツ 17O-NMR 半値幅
T/BJWA 005-2022 水質 17O-NMR 半値幅測定核磁気共鳴法
T/IAWBS 017-2022 ダイヤモンド単結晶の半値幅の試験方法 X線二重結晶ロッキングカーブ
T/IAWBS 015-2021 酸化ガリウム単結晶ウェーハのX線ツインロッキングカーブの半値幅の試験方法
T/IAWBS 016-2022 炭化珪素単結晶ウェーハのX線ツインロッキングカーブの半値幅の試験方法

Professional Standard - Electron, 半幅粒

SJ 2355.7-1983 半導体発光素子の試験方法発光ピーク波長およびスペクトル半値幅の試験方法
SJ 2658.12-1986 半導体赤外発光ダイオードの試験方法発光ピーク波長およびスペクトル半値幅の試験方法
SJ/T 2658.12-2015 半導体赤外発光ダイオードの測定方法 - 第 12 部: ピーク発光波長と分光放射帯域幅

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 半幅粒

GB/T 32188-2015 窒化ガリウム単結晶基板のＸ線双結晶ロッキングカーブの半値幅の試験方法
GB/T 23413-2009 ナノ材料の粒径と微視的ひずみの測定 X 線回折線拡大法

International Electrotechnical Commission (IEC), 半幅粒

IEC 62435-5:2017 電子部品電子半導体装置の長期保管パート 5: ダイおよびウェーハ装置

British Standards Institution (BSI), 半幅粒

BS EN 62435-5:2017 電子部品電子半導体装置の長期保管パート 5: ダイおよびウェーハ装置

BE-NBN, 半幅粒

NBN A 23-114-1983 磁性冷間圧延非方向性合金鋼帯、半製品として納品

Association Francaise de Normalisation, 半幅粒

NF A04-503:1988 アルミニウム、銅、ニッケルおよびそれらの合金の半製品結晶粒度の測定アルミニウムおよびアルミニウム合金
NF A04-505:1988 アルミニウム、銅、ニッケルおよびそれらの合金の半製品結晶粒度の測定ニッケルおよびニッケル合金

Defense Logistics Agency, 半幅粒

DLA MIL-PRF-19500/634 C-2008 半導体デバイス、N チャネルトランジスタ電界効果放射線耐性 (総線量および単一事象効果)、シリコンモデル 2N7405、2N7406、2N7407 および 2N7408、JANSD および JANSR
DLA MIL-PRF-19500/705 B-2008 半導体デバイス、N チャネルトランジスタ電界効果放射線耐性 (総線量および単一事象効果)、シリコンモデル 2N7488T3、2N7489T3 および 2N7490T3、JANTXVR および JANSR
DLA MIL-PRF-19500/658 VALID NOTICE 2-2011 半導体デバイス、電界効果放射線耐性 (総線量およびシングルイベント効果) トランジスタ、P チャネルシリコンタイプ 2N7438 および 2N7439 JANSD および JANSR
DLA MIL-PRF-19500/706 A VALID NOTICE 1-2010 半導体デバイス、電界効果放射線耐性 (総線量およびシングルイベント効果) トランジスタ、N チャネル、シリコンタイプ 2N7497T2、2N7498T2 および 2N7499T2、JANTXVR および JANSR

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