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原子間力顕微鏡サンプルの準備

原子間力顕微鏡サンプルの準備は全部で 45 項標準に関連している。

原子間力顕微鏡サンプルの準備 国際標準分類において、これらの分類：物理学、化学、分析化学、航空宇宙製造用の材料、熱力学と温度測定、長さと角度の測定、包括的なテスト条件と手順、光学および光学測定、原子力工学、セラミックス、危険物保護。

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 原子間力顕微鏡サンプルの準備

GB/T 32262-2015 原子間力顕微鏡検出用の DNA サンプルの調製方法

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, 原子間力顕微鏡サンプルの準備

SPB-M6-3-2010 2008 年 4 月: 原子間力顕微鏡 (技術的背景)
SPB-M2-1-2007 原子間力顕微鏡によるアスファルテンの界面特性とレオロジー特性の研究
SPB-M6-1-2010 8 月 4 日: 原子間力顕微鏡を使用したアスファルテンの界面およびレオロジー特性の研究
SPB-M14-1-2010 7 月 10 日: 原子間力顕微鏡によるアスファルテンの相互作用とレオロジー特性の研究
SPB-M6-2-2010 月 8 日: 原子間力顕微鏡 (AFM) によって測定されたアスファルテンとさまざまな表面の間のコロイド相互作用

International Organization for Standardization (ISO), 原子間力顕微鏡サンプルの準備

ISO 23729:2022 表面化学分析、原子間力顕微鏡法、限られたプローブサイズの拡大原子間力顕微鏡画像の回復手順のガイド。
ISO 21222:2020 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法による準拠材料の弾性率の測定手順
ISO 13095:2014 表面化学分析、原子間力顕微鏡、ナノ構造測定用の AFM プローブハンドルプロファイルのオンサイト識別手順。
ISO/DIS 19606:2023 ファインセラミックス（アドバンストセラミックス、先端技術セラミックス）原子間力顕微鏡によるファインセラミックス膜の表面粗さ試験方法

British Standards Institution (BSI), 原子間力顕微鏡サンプルの準備

BS ISO 23729:2022 表面化学分析原子間力顕微鏡有限プローブサイズ拡張のための画像回復手順のガイド
21/30412880 DC BS ISO 23729 表面化学分析のための原子間力顕微鏡プローブサイズの拡張を制限した原子間力顕微鏡の画像回復手順のガイド
BS ISO 21222:2020 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法を使用した準拠材料の弾性率の測定手順
19/30351707 DC BS ISO 21222 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法を使用した準拠材料の弾性率の決定手順
BS ISO 13095:2014 表面化学分析、原子間力顕微鏡、ナノ構造測定用の AFM プローブハンドルプロファイルのオンサイト識別手順。
23/30461942 DC BS ISO 19606 ファインセラミックス（アドバンストセラミックス、アドバンストテクニカルセラミックス）原子間力顕微鏡を用いたファインセラミックス膜の表面粗さの測定方法

Group Standards of the People's Republic of China, 原子間力顕微鏡サンプルの準備

T/CSTM 00003-2019 原子間力顕微鏡を使用した二次元材料厚さ測定
T/QGCML 1940-2023 走査電子顕微鏡その場高温機械試験装置
T/GDASE 0008-2020 原子間力顕微鏡によるグラフェンフィルムのヤング率の測定

American Society for Testing and Materials (ASTM), 原子間力顕微鏡サンプルの準備

ASTM E2859-11(2017) 原子間力顕微鏡を使用してナノ粒子を測定するための標準ガイド
ASTM E285-08(2015) 原子間力顕微鏡を使用してナノ粒子を測定するための標準ガイド
ASTM E2382-04(2020) 走査型トンネル顕微鏡および原子間力顕微鏡におけるスキャナおよびチップ関連のアーティファクトに関する標準ガイド
ASTM E2382-04 走査型トンネル顕微鏡および原子間力顕微鏡におけるスキャナーおよび接触関連アイテムのガイド
ASTM E2859-11(2023) 原子間力顕微鏡を使用してナノ粒子サイズを測定するための標準ガイド
ASTM E2382-04(2012) 走査型トンネル顕微鏡および原子間力顕微鏡におけるスキャナーおよび接触関連アイテムの標準ガイド
ASTM E2859-11 原子機械顕微鏡を使用した寸法測定の標準ガイド
ASTM E2530-06 Si(111) 単一原子レベルを使用したサブナノメートル変位による原子間力顕微鏡の Z 倍率校正の標準手順
ASTM D6480-05(2010) 透過型電子顕微鏡による表面拭き取りサンプル中のアスベスト構造値濃度の間接的調製および分析のための標準試験方法
ASTM D6480-99 表面サンプリング、間接前処理、および透過型電子顕微鏡によるアスベスト構造数密度の分析のための標準的な試験方法
ASTM D6480-05 表面ワイプのサンプリング、間接的な準備、および透過型電子顕微鏡によるアスベスト構造数密度の分析のための標準試験方法

German Institute for Standardization, 原子間力顕微鏡サンプルの準備

DIN SPEC 52407:2015-03 原子間力顕微鏡 (AFM) および透過型走査型電子顕微鏡 (TSEM) を使用した粒子測定のためのナノテクノロジーの準備および評価方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 原子間力顕微鏡サンプルの準備

GB/T 28872-2012 生細胞サンプル内のナノ構造を検出するための磁気駆動タッピングモード原子間力顕微鏡法
GB/T 31227-2014 原子間力顕微鏡を用いたスパッタ膜の表面粗さの測定方法
GB/T 32189-2015 原子間力顕微鏡による窒化ガリウム単結晶基板の表面粗さの検査方法
GB/T 27760-2011 Si(111) 結晶面の原子ステップを使用した原子間力顕微鏡のサブナノメートルの高さ測定を校正する方法

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 原子間力顕微鏡サンプルの準備

GB/T 40066-2021 ナノテクノロジー酸化グラフェンの厚さ測定原子間力顕微鏡

Professional Standard - Nuclear Industry, 原子間力顕微鏡サンプルの準備

EJ/T 20176-2018 原子間力顕微鏡によるダイヤモンド工具刃先鋭さの測定方法

RU-GOST R, 原子間力顕微鏡サンプルの準備

GOST 8.593-2009 国家測定均一性保証制度原子間力走査型プローブ顕微鏡識別方法
GOST R 8.635-2007 国家測定均一性保証制度原子間力走査型プローブ顕微鏡校正方法
GOST R 8.593-2009 測定の一貫性を確保するための国家システム原子間力走査型トンネル顕微鏡校正手順
GOST R 8.700-2010 測定の一貫性を確保するための国家制度原子間力走査型プローブ顕微鏡を用いた表面粗さ効果高度測定法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 原子間力顕微鏡サンプルの準備

JIS R 1683:2007 原子間力顕微鏡によるセラミック膜の表面粗さを測定するための試験方法
JIS R 1683:2014 原子間力顕微鏡によるセラミック膜の表面粗さを測定するための試験方法
JIS R 1633:1998 走査型電子顕微鏡観察用ファインセラミックスおよびセラミックス粉末の試料作製方法

International Electrotechnical Commission (IEC), 原子間力顕微鏡サンプルの準備

IEC TS 62607-6-2:2023 ナノ加工、重要な制御特性、パート 6-2: グラフェン、層数: 原子間力顕微鏡、光透過、ラマン分光法