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多結晶と単結晶

多結晶と単結晶は全部で 500 項標準に関連している。

多結晶と単結晶 国際標準分類において、これらの分類：半導体材料、 非鉄金属、 建材、 光学機器、 工業炉、 紙とボール紙、 絶縁流体、 周波数制御と選択のための圧電および誘電デバイス、 語彙、 建物内の設備、 金属材料試験、 非鉄金属製品、 半導体ディスクリートデバイス、 エネルギー・伝熱工学総合、 光学および光学測定、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 磁性材料、 耐火物、 バッテリーと蓄電池、 無機化学、 セラミックス、 通信機器の部品および付属品、 太陽工学、 電気機器部品、 非破壊検査、 切削工具、 電子表示装置、 医療機器、 断熱材、 チップレス加工装置、 複合強化素材、 会社（エンタープライズ）の組織と経営、 化学製品、 空気の質、 電気、磁気、電気および磁気測定、 工作機械、 粉末冶金、 労働安全、労働衛生、 包括的なテスト条件と手順、 用語（原則と調整）、 鉄鋼製品、 光ファイバー通信、 分析化学、 回転モーター、 教育する、 原子力工学、 水質、 農林、 フィルター、 整流器、コンバータ、安定化電源、 粒度分析、スクリーニング、 電子および通信機器用の電気機械部品、 環境を守ること、 電灯および関連器具、 集積回路、マイクロエレクトロニクス、 一般、用語、標準化、ドキュメント、 無駄。


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 多結晶と単結晶

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 多結晶と単結晶

  • GB/T 5238-2019 ゲルマニウム単結晶およびゲルマニウム単結晶ウエハ
  • GB/T 36706-2018 リン化インジウム多結晶
  • GB/T 39137-2020 高融点金属単結晶の結晶方位の判定方法
  • GB/T 20228-2021 ガリウムヒ素単結晶
  • GB/T 20230-2022 リン化インジウム単結晶
  • GB/T 20229-2022 リン化ガリウム単結晶
  • GB/T 39865-2021 一軸結晶光学結晶の屈折率の測定方法
  • GB/T 12964-2018 シリコン単結晶研磨ウェーハ
  • GB/T 26069-2022 シリコン単結晶アニールシート
  • GB/T 37051-2018 ソーラーグレードの多結晶シリコンインゴットおよびウェーハの結晶欠陥密度を測定する方法
  • GB/T 29055-2019 太陽電池用多結晶シリコンウェーハ
  • GB/T 38907-2020 節水企業ポリシリコン産業
  • GB/T 19346.3-2021 アモルファスナノ結晶合金の試験方法パート 3: 鉄ベースのアモルファスモノリシック試験片の交流磁気特性
  • GB/T 25076-2018 太陽電池用シリコン単結晶
  • GB/T 36648-2018 TFTモノマー液晶材料仕様
  • GB/T 18910.201-2021 液晶表示装置 第20-1部 モノクロ液晶ディスプレイの外観検査
  • GB/T 41325-2022 集積回路用の低密度結晶一次ピットシリコン単結晶研磨ウェーハ
  • GB/T 36647-2018 通常の単液晶材料の仕様
  • GB/T 12965-2018 シリコン単結晶カッティングディスクおよびグラインディングディスク
  • GB/T 26071-2018 太陽電池用シリコン枚葉ウェーハ
  • GB/T 29054-2019 太陽電池用鋳造多結晶シリコンブロック
  • GB/T 37418-2019 ルテチウムシリケート、イットリウムルテチウムシリケートシンチレーション単結晶
  • GB/T 18910.202-2021 液晶表示装置 第20-2部：モノクロマトリクス液晶表示モジュールの外観検査
  • GB/T 4059-2018 シリコン多結晶雰囲気ゾーンにおける溶融ベースリンの検査方法
  • GB/T 4060-2018 シリコン多結晶真空ゾーンにおける溶融ホウ素の検査方法
  • GB/T 18916.47-2020 水の取水割当量パート 47: ポリシリコンの生産
  • GB/T 11094-2020 横型ガリウムヒ素単結晶と切断ウェーハ
  • GB/T 5252-2020 ゲルマニウム単結晶の転位密度の試験方法

Group Standards of the People's Republic of China, 多結晶と単結晶

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 多結晶と単結晶

CZ-CSN, 多結晶と単結晶

UNKNOWN, 多結晶と単結晶

Professional Standard - Machinery, 多結晶と単結晶

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, 多結晶と単結晶

  • DB13/T 1314-2010 ソーラーグレード単結晶シリコン角棒、単結晶シリコンウェーハ
  • DB13/T 1631-2012 ソーラーグレード多結晶シリコンインゴット
  • DB13/T 1632-2012 ソーラーグレードの多結晶シリコンブロック
  • DB13/T 1633-2012 ソーラーグレードの多結晶シリコンウェーハ
  • DB13/T 5092-2019 太陽光発電用単結晶シリコンインゴット用の正方形種結晶の一般的な技術要件
  • DB13/T 1828-2013 ソーラーグレードの単結晶シリコンウェーハ

Professional Standard - Light Industry, 多結晶と単結晶

轻工业部, 多結晶と単結晶

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 多結晶と単結晶

Professional Standard - Electron, 多結晶と単結晶

工业和信息化部, 多結晶と単結晶

  • YS/T 724-2016 多結晶シリコン用シリコンパウダー
  • YS/T 1359-2020 タンタル酸リチウム多結晶粉末
  • YS/T 1195-2017 四塩化ケイ素、ポリシリコンの副産物
  • JC/T 2417-2017 四ホウ酸リチウム圧電単結晶材料
  • YS/T 1182-2016 ゲルマニウム単結晶の安全製造仕様
  • SJ/T 2268-2018 磁気回転子多結晶フェライト材料シリーズ
  • YS/T 1500-2021 多結晶シリコンは炉内張り用の銀プレートを準備します
  • YS/T 1590-2022 多結晶シリコン産業のグリーンファクトリーの評価要件
  • YB/T 4589-2017 単結晶炉断熱用炭素/炭素複合材料
  • XB/T 520-2021 セリウムドープガドリニウム ガリウム アルミニウム ガーネット 多結晶シンチレータ
  • YB/T 4587-2017 単結晶炉用カーボン/カーボン複合発熱体

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 多結晶と単結晶

  • YS/T 554-2007 ニオブ酸リチウム単結晶
  • YS/T 42-2010 タンタル酸リチウム単結晶
  • YS/T 554-2006 ニオブ酸リチウム単結晶
  • YS/T 1167-2016 シリコン単結晶エッチングシート
  • YS/T 1061-2015 変性シーメンス多結晶シリコン用シリコンコア
  • YS 783-2012 赤外ゲルマニウム単結晶ユニット製品のエネルギー消費限界
  • YS/T 978-2014 単結晶炉カーボン/カーボンコンポジットガイドチューブ
  • YS/T 977-2014 単結晶炉カーボン/カーボン複合断熱筒
  • YS/T 792-2012 単結晶炉用カーボン/カーボン複合ルツボ

Defense Logistics Agency, 多結晶と単結晶

  • DLA SMD-5962-87711 REV A-2001 シリコンモノリシックデュアル単安定マルチバイブレータ、トランジスタトランジスタ論理回路、バイポーラデジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-85508 REV C-2005 シリコンモノリシックマルチプレクサ トランジスタ-トランジスタ論理回路 バイポーラデジタルマイクロ回路
  • DLA MIL-M-38510/314 C VALID NOTICE 1-2008 シングルチップデジタルマイクロ回路、低電力ショットキートランジスタ、複数の単安定発振器を備えたトランジスタ論理回路
  • DLA MIL-PRF-3098/79 F-2009 水晶振動子、クォーツ、CR104/U
  • DLA MIL-PRF-3098/85 D-2009 水晶振動子、クォーツ、CR109/U
  • DLA MIL-PRF-3098/93 C-2009 水晶振動子、クォーツ、CR117/U
  • DLA MIL-PRF-3098/102 D-2009 水晶振動子、クォーツ、CR125/U
  • DLA MIL-PRF-3098/106 D-2009 水晶振動子、クォーツ、CR127/U
  • DLA MIL-PRF-3098/114 D-2009 水晶振動子、クォーツ、CR135/U
  • DLA MIL-PRF-3098/123 D-2009 水晶振動子、クォーツ、CR142/U
  • DLA MIL-PRF-3098/129 D-2009 水晶振動子、クォーツ、CR148/U
  • DLA SMD-5962-86872 REV B-2006 シリコン モノリシック NAND バッファ、高度なショットキー トランジスタ - トランジスタ論理回路、デジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-97553 REV A-2006 単安定マルチバイブレータ トランジスタ シリコン モノリシック回路 デジタル バイポーラマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-87533 REV B-2001 シリコンモノリシックユニバーサルマルチプレクサ、高度な低消費電力ショットキートランジスタトランジスタロジック、デジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-86833 REV C-2001 シリコンモノリシックNANDゲート高度な低消費電力ショットキートランジスタ-トランジスタ論理回路、バイポーラデジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-85096 REV E-2005 シリコン モノリシック マルチプレクサ 高度な低消費電力ショットキー トランジスタ間論理回路 バイポーラ デジタル マイクロ回路
  • DLA SMD-5962-85097 REV F-2005 シリコン モノリシック マルチプレクサ 高度な低消費電力ショットキー トランジスタ間論理回路 バイポーラ デジタル マイクロ回路
  • DLA SMD-5962-86869 REV C-2006 シリコンモノリシックマルチプレクサ、高度な低電力ショットキートランジスタ-トランジスタ論理回路、バイポーラデジタルマイクロ回路
  • DLA QPL-3098-92-2008 水晶振動子、水晶、一般仕様
  • DLA QPL-3098-93-2010 水晶振動子、水晶、一般仕様
  • DLA QPL-3098-95-2010 水晶振動子、水晶、一般仕様
  • DLA QPL-3098-97-2013 水晶振動子、水晶、一般仕様
  • DLA QPL-3098-98-2013 水晶振動子、水晶、一般仕様
  • DLA QPL-3098-99-2013 水晶振動子、水晶、一般仕様
  • DLA SMD-5962-96792 REV A-2006 トランジスタ8入力NANDゲートシリコンモノリシック回路デジタルマイクロ回路
  • DLA MIL-M-38510/114 B VALID NOTICE 1-2008 低電力バイポーラショットキートランジスタを備えた線形単安定シングルシリコンデジタルマイクロ回路 2 つの電界効果トランジスタを備えたトランジスタ論理回路
  • DLA SMD-5962-86837 REV C-2006 シリコン モノリシック NAND ゲート 高度な低消費電力ショットキー トランジスタ - トランジスタ ロジック OR ゲート、バイポーラ デジタル マイクロ回路
  • DLA SMD-5962-97581 REV A-2006 マイクロ回路、デジタル、バイポーラ、改良型ショットキー トランジスタ論理回路、3 ウェイ 3 入力正 AND ゲート、単一シリコン
  • DLA DSCC-DWG-94023 REV B-2007 小型表面実装水晶振動子
  • DLA SMD-5962-90798-1992 シリコンモノリシックトランジスタ - トランジスタ論理回路互換、デュアル奇数ジェネレータまたはチェッカー
  • DLA SMD-5962-97584 REV B-2006 マイクロ回路、デジタル、バイポーラ、改良型ショットキー トランジスタ論理回路、デュアル 4 入力正 NAND ゲート、単一シリコン
  • DLA SMD-5962-97558 REV A-2006 8入力正ANDゲートトランジスタシリコンモノリシック回路デジタルバイポーラマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-86708 REV A-2007 シリコンモノリシック高速回路、ショットキートランジスタ・トランジスタ論理回路、デジタルマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-87778 REV A-2001 シリコンモノリシックパワートランジスタリニアマイクロ回路
  • DLA MIL-M-38510/108 A VALID NOTICE 1-2008 マイクロ回路、リニア、トランジスタアレイ、モノリシックシリコン
  • DLA SMD-5962-87778 REV B-2011 マイクロ回路、リニア、パワートランジスタ、モノリシックシリコン
  • DLA MIL-M-38510/108 A VALID NOTICE 2-2013 マイクロ回路、リニア、トランジスタアレイ、モノリシックシリコン
  • DLA SMD-5962-97582 REV B-2006 マイクロ回路、デジタル、バイポーラ、改良型ショットキー トランジスタ論理回路、3 ラインから 8 ラインのデコーダ/マルチプレックス デコーダ、単一シリコン
  • DLA SMD-5962-97583 REV B-2006 マイクロ回路、デジタル、バイポーラ、改良型ショットキー トランジスタ論理回路、デュアル 1/4 データ セレクター/多目的セレクター、単一シリコン
  • DLA SMD-5962-88625 REV C-2008 ～ 2 個のデータ セレクタ/マルチプレクサを備えたクワッド ALS Shokent トランジスタ - トランジスタ ロジックを使用した高度なバイポーラ デジタル シングル シリコンマイクロ回路
  • DLA SMD-5962-86871 REV D-2006 シリコン モノリシック クワッド 2 入力正 NAND バッファ 高度な低消費電力ショットキー トランジスタ間論理回路、バイポーラ デジタル マイクロ回路
  • DLA DSCC-DWG-94024 REV B-2007 小型プリント基板搭載水晶振動子
  • DLA SMD-5962-89876 REV B-2002 シリコンモノリス、トランジスタアレイ、線形超小型回路

RU-GOST R, 多結晶と単結晶

  • GOST 19658-1981 多結晶シリコンインゴット 技術的条件
  • GOST 16153-1980 単結晶ゲルマニウム。 技術的条件
  • GOST R IEC 61747-20-1-2017 液晶表示装置 第20-1部 目視検査 モノクロ液晶表示装置（すべてのアクティブマトリクス型液晶表示装置を除く）
  • GOST R IEC 61747-3-2017 液晶表示デバイス 第 3 部: 液晶表示 (LCD) ユニット セグメント仕様

Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, 多結晶と単結晶

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 多結晶と単結晶

  • GJB 582-1988 レンズ用多結晶フッ化マグネシウム
  • GJB 3076A-2021 リン化ガリウムシングルチップ仕様
  • GJB 3076-1997 リン化ガリウムシングルチップ仕様
  • GJB 2917A-2018 リン化インジウム枚葉仕様
  • GJB 2917A-2004 リン化インジウム枚葉仕様
  • GJB 2917-1997 リン化インジウム枚葉仕様
  • GJB 582A-2020 レンズ用多結晶フッ化マグネシウムの仕様
  • GJB 1926-1994 ガリウムヒ素単結晶材料の仕様
  • GJB 10342-2021 研磨されたインジウムアンチモン化単結晶ウェーハの仕様
  • GJB 10343-2021 研磨済みアンチモン化ガリウム単結晶ウェーハの仕様
  • GJB 393-1987 空対空ミサイル用多結晶フッ化マグネシウムフード
  • GJB 1927A-2021 ガリウムヒ素単結晶材料の試験方法
  • GJB 1927-1994 ガリウムヒ素単結晶材料の試験方法
  • GJB 393B-2015 ミサイル用多結晶フッ化マグネシウムフェアリングの仕様
  • GJB 393A-1995 ミサイル用多結晶フッ化マグネシウムフェアリングの仕様
  • GJB 9804-2020 原子力用モリブデン・ニオブ合金単結晶棒の規格
  • GJB 8715-2015 ミサイル用途向けホットプレス多結晶フッ化マグネシウム平板の仕様
  • GJB 1431-1992 宇宙用単結晶シリコン太陽電池の一般仕様
  • GJB 395-1987 空対空ミサイル変調板用単結晶フッ化マグネシウム
  • GJB 8714-2015 ミサイル用多結晶硫化亜鉛フェアリング材料の規格

ES-UNE, 多結晶と単結晶

German Institute for Standardization, 多結晶と単結晶

  • DIN V VDE V 0126-18-3:2007 ソーラーシリコンウェーハ パート 3: 結晶シリコンウェーハのアルカリ腐食損傷 単結晶および多結晶シリコンウェーハの腐食速度の測定方法。
  • DIN EN IEC 60122-4:2019-10 水晶振動子の品質評価 第4部 サーミスタ付き水晶振動子
  • DIN EN 13925-2:2003 非破壊検査 多結晶および非晶質材料の X 線回折 パート 2: 手順
  • DIN EN 13925-1:2003 非破壊検査 多結晶材料および非晶質材料の X 線回折 パート 1: 一般原理
  • DIN EN 13925-3:2005 非破壊検査 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折 パート 3: 機器
  • DIN EN 13925-3:2005-07 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器
  • DIN EN 13925-2:2003-07 非破壊検査 - 多結晶材料およびアモルファス材料の X 線回折 - パート 2: 手順
  • DIN EN 60444-9:2007-12 水晶振動子のパラメータ測定 第9回 圧電水晶振動子の寄生共振測定
  • DIN EN 62276:2017-08 弾性表面波 (SAW) デバイス用途の単結晶ウェーハの仕様と測定方法
  • DIN EN IEC 62276:2023-05 弾性表面波 (SAW) デバイス用途の単結晶ウェーハの仕様と測定方法
  • DIN EN 13925-1:2003-07 非破壊検査 - 多結晶材料およびアモルファス材料の X 線回折 - パート 1: 一般原理
  • DIN EN 120007:1993-06 ブランク詳細仕様: 液晶ディスプレイ; 電子回路なしのモノクロ LCD ディスプレイ
  • DIN EN 60444-8:2017-11 水晶振動子のパラメータの測定 第 8 部: 表面実装水晶振動子のテストフィクスチャ
  • DIN IEC 60122-2:1993-09 周波数制御および選択のための水晶振動子; パート 2: 周波数制御および選択のための水晶振動子の使用に関するガイドライン; IEC 60122-2:1983 と同じ
  • DIN ISO 16463:2005 多結晶ダイヤモンドインサート 寸法と種類
  • DIN EN 60444-7:2004-11 水晶振動子のパラメータの測定 - パート 7: 水晶振動子のアクティビティと周波数ディップの測定
  • DIN EN 1330-11:2007-09 非破壊検査用語 第 11 部：多結晶材料および非晶質材料の X 線回折で使用される用語
  • DIN EN 61747-4:2013-07 液晶表示デバイス 第4部：液晶表示モジュールおよびユニットの基本定格と特性

Jiangxi Provincial Standard of the People's Republic of China, 多結晶と単結晶

  • DB36/ 652-2012 ソーラーグレード多結晶シリコンユニット製品のエネルギー消費限界
  • DB36/ 771-2013 チョクラルスキー単結晶シリコンユニット製品のエネルギー消費限界

HU-MSZT, 多結晶と単結晶

British Standards Institution (BSI), 多結晶と単結晶

  • BS EN 13925-2:2003(2008) 非破壊検査、多結晶およびアモルファス材料の X 線回折。
  • BS EN 13925-3:2005(2009) 非破壊検査、多結晶およびアモルファス材料の X 線回折。
  • BS EN 13925-2:2003 非破壊検査、多結晶およびアモルファス材料の X 線回折。
  • BS EN 13925-3:2005 非破壊検査、多結晶およびアモルファス材料の X 線回折。
  • BS EN 13925-1:2003(2008) 非破壊検査、多結晶およびアモルファス材料の X 線回折、一般原理
  • BS EN 13925-1:2003 非破壊検査、多結晶およびアモルファス材料の X 線回折、一般原理
  • 13/30276532 DC BS EN 61747-20-1 液晶表示装置 Part 20-1 視力検査 モノクロ液晶表示装置（すべてのアクティブマトリクス型液晶表示装置を除く）
  • BS EN 61747-2-1:1998 液晶表示装置用パッシブマトリクス型モノクロ液晶表示モジュールの空白詳細仕様書
  • BS EN 61747-2-1:2013 液晶表示装置 パッシブマトリクス型モノクロ液晶表示モジュール ブランク詳細仕様
  • 14/30277702 DC BS EN 61747-3 液晶表示装置パート 3: 液晶表示 (LCD) ユニットの断面仕様
  • BS EN 62047-9:2011 半導体デバイス、マイクロ電子機械デバイス、MEMSのウェハ間接合強度測定
  • BS EN 62047-9:2013 半導体デバイス微小電気機械デバイスMEMSのウェハ間接合強度測定
  • BS EN 61747-2-1:2001 液晶および固体ディスプレイ パッシブマトリックスモノクロ液晶ディスプレイモジュール 詳細仕様は空白。
  • 23/30468947 DC BS EN 62276 表面弾性波 (SAW) デバイスアプリケーションの単結晶ウェーハの仕様と測定方法

U.S. Military Regulations and Norms, 多結晶と単結晶

IN-BIS, 多結晶と単結晶

  • IS 9709-1980 合成水晶単結晶の仕様
  • IS 4570 Pt.11-1989 水晶振動子ホルダ仕様 第11部 金属溶接2ピン水晶振動子ホルダ タイプDQ
  • IS 4570 Pt.8-1985 水晶振動子ブラケット仕様その8 金属溶接3線式水晶振動子ブラケット タイプDK
  • IS 4570 Pt.13/Sec.5-1993 水晶振動子ホルダ―仕様 第 13 部 自動取り扱い水晶振動子ホルダの概要 セクション 5: 金属製、密閉型、2 針水晶振動子ホルダ タイプ CU 05
  • IS 4570 Pt.13/Sec.4-1993 水晶振動子ホルダ―仕様 第 13 部 自動取り扱い水晶振動子ホルダの概要 セクション 4: 金属製、密閉型、2 針水晶振動子ホルダ タイプ CU 04
  • IS 2511-1963 多結晶半導体整流器スタックの仕様
  • IS 3136-1965 多結晶半導体整流装置の仕様
  • IS 4570 Pt.6-1984 水晶振動子ホルダ仕様パート6 金属製、はんだ封止型、2本針水晶振動子ホルダ Type CX
  • IS 4570 Pt.13/Sec.3-1993 水晶振動子ホルダ―仕様 第 13 部 自動加工水晶振動子ホルダの概要 セクション 3: 金属製、密閉型、2 針水晶振動子ホルダ タイプ CU 03
  • IS 4570 Pt.13/Sec.2-1993 水晶振動子ホルダ―仕様 第 13 部 自動加工水晶振動子ホルダの概要 セクション 2: 金属製、密閉型、2 針水晶振動子ホルダ タイプ CU 02
  • IS 4570 Pt.13/Sec.1-1993 水晶振動子ホルダ―仕様 第 13 部 自動加工水晶振動子ホルダの概要 セクション 1: 金属製、密閉型、2 針水晶振動子ホルダ タイプ CU 01
  • IS 4570 Pt.7-1985 水晶振動子サポート仕様パート 7 マイクロ、メタル、はんだ封止、2 線式水晶振動子サポート タイプ DJ
  • IS 4570 Pt.12-1989 水晶振動子サポートの仕様 パート 12 マイクロ、金属、冷間溶接、2 線式水晶振動子サポート タイプ EB
  • IS 4570 Pt.3-1984 水晶振動子ホルダー仕様 第3部 管状水晶振動子ホルダー（ガラス）タイプ AP、AR、AS、AT、AU
  • IS 8271 Pt.2/Sec.3-1981 シリーズ II AA 発振器用水晶振動子の仕様 3 章 AA-03 型水晶振動子
  • IS 8271 Pt.2/Sec.5-1981 シリーズII AA発振器用水晶振動子の仕様 第5章：水晶振動子タイプ AA-05
  • IS 8271 Pt.2/Sec.2-1981 シリーズ II AA 発振器に使用される水晶振動子の仕様 2 章: 水晶振動子 AA-02 型
  • IS 8271 Pt.2/Sec.1-1981 発振器シリーズ II AA に使用される水晶振動子の仕様 1 章：水晶振動子 AA-01 型
  • IS 8271 Pt.2/Sec.4-1981 発振器に使用される水晶振動子の仕様 第Ⅱ部 AAシリーズ 第4節 水晶振動子 AA-04型
  • IS 8271 Pt.2/Sec.6-1981 発振器に使用する水晶振動子の仕様 第Ⅱ部 AAシリーズ 第6節 水晶振動子 AA-06型
  • IS 4570 Pt.5-1984 水晶振動子ホルダー仕様パート 5 ftfiETAL、はんだシール、2 線式水晶振動子ホルダー タイプ BF、EF/1 および BG、BG 1

Professional Standard - Medicine, 多結晶と単結晶

  • YY 0290.9-2010 眼科光学系眼内レンズ パート 9: 多焦点眼内レンズ

Association Francaise de Normalisation, 多結晶と単結晶

  • NF C26-400:1971 多結晶アルミニウム系セラミックス - 試験方法
  • NF C93-616:2013 弾性表面波（SAW）デバイス用単結晶ウェーハ 仕様と測定方法
  • NF ISO 16463:2014 ダイヤモンド多結晶ブラのサイズと種類
  • NF EN 61747-3:2007 液晶表示デバイス 第3部：液晶表示（LCD）ユニットの断面仕様
  • NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 非破壊検査 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折 パート 3: 機器
  • NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 X線回折による多結晶材料およびアモルファス材料の非破壊検査 第2部：手順
  • NF EN 1330-11:2007 非破壊検査 - 用語 - パート 11: 多結晶材料および非晶質材料の X 線回折
  • NF C93-616*NF EN 62276:2018 弾性表面波 (SAW) デバイス用途の単結晶ウェーハの仕様と測定方法
  • NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 非破壊検査 多結晶材料および非晶質材料の X 線回折 パート 1: 基本原理
  • NF EN 13925-2:2003 非破壊検査 - 多結晶材料および非晶質材料に適用される X 線回折 - パート 2: 手順
  • NF E66-314:2004 多結晶ダイヤモンドインサート 寸法と種類
  • NF E66-314*NF ISO 16463:2014 多結晶ダイヤモンドインサート 寸法と種類
  • NF EN 61747-3-1:2006 液晶表示装置 その3-1：液晶表示装置（LCD）ユニットフレームの詳細仕様
  • NF EN 13925-3:2005 非破壊検査 - 多結晶材料および非晶質材料に適用される X 線回折 - パート 3: 装置
  • NF EN 13925-1:2003 非破壊検査 - 多結晶材料および非晶質材料に適用される X 線回折 - パート 1: 一般原則
  • NF EN 61747-4:2013 液晶表示デバイス 第4回：液晶表示モジュールおよびユニットの限界と基本特性
  • NF A09-020-11*NF EN 1330-11:2007 非破壊検査. 用語. パート 11: 多結晶および非晶質材料の X 線回折に関する用語。
  • NF C93-547-2-1*NF EN 61747-2-1:2013 液晶ディスプレイ パート 2-1: パッシブマトリックスモノクロ液晶 (LCD) モジュール ブランク詳細仕様

American National Standards Institute （ANSI), 多結晶と単結晶

  • ANSI/ASTM D6058:2001 作業環境空気中の単結晶セラミックスウィスカーの濃度測定に関する条約
  • ANSI/ASTM D6057:2001 位相差顕微鏡を用いた作業環境空気中の単結晶セラミックスウィスカー濃度の測定方法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 多結晶と単結晶

  • JIS C 6760:2014 弾性表面波（SAW）デバイス用単結晶ウェーハ 仕様と測定方法

IEC - International Electrotechnical Commission, 多結晶と単結晶

  • IEC 61747-20-1:2015 液晶表示装置 第20-1部：モノクロ液晶表示ユニット（全てのアクティブマトリクス型液晶表示ユニットを除く）の外観検査（Version 1.0）
  • PAS 62276-2001 弾性表面波デバイス用単結晶ウェーハ 仕様と測定方法（Version 1.0）

CEN - European Committee for Standardization, 多結晶と単結晶

  • EN IEC 60122-4:2019 水晶振動子の品質評価 第4部 サーミスタ付き水晶振動子

KR-KS, 多結晶と単結晶

Danish Standards Foundation, 多結晶と単結晶

  • DS/EN 61747-3:2007 液晶表示デバイス 第 3 部: 液晶表示 (LCD) ユニットの仕様
  • DS/EN ISO 11979-9:2007 眼科用インプラント眼内レンズパート 9: 多焦点眼内レンズ
  • DS/EN 13925-2:2003 X線回折による多結晶材料およびアモルファス材料の非破壊検査 第2部：手順
  • DS/EN 13925-3:2005 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器
  • DS/EN 60444-9:2007 水晶振動子のパラメータ測定 第9回 圧電水晶振動子のスプリアス共振の測定
  • DS/EN 62276:2013 弾性表面波 (SAW) デバイス用途の単結晶ウェーハの仕様と測定方法
  • DS/EN 13925-1:2003 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 1: 一般原則
  • DS/EN 1330-11:2007 非破壊検査用語 多結晶材料および非晶質材料の X 線回折で使用される用語
  • DS/EN 61747-3-1:2007 液晶表示デバイス パート 3-1: 液晶表示 (LCD) ユニット ブランク詳細仕様
  • DS/EN 61747-4:2013 液晶表示装置 第4部：液晶表示モジュールおよびユニットの基本定格と特性

未注明发布机构, 多結晶と単結晶

ANSI - American National Standards Institute, 多結晶と単結晶

Professional Standard - Building Materials, 多結晶と単結晶

  • JC/T 2143-2012 正方晶ジルコニア多結晶セラミックス材料
  • JC/T 1048-2007 単結晶シリコン成長用石英るつぼ
  • JC/T 1048-2018 単結晶シリコン成長用石英るつぼ
  • JC/T 2025-2010 チタン酸マグネシウムニオブ酸鉛（PMNT）圧電単結晶材料
  • JC/T 2349-2015 ポリシリコン製造用窒化ケイ素セラミック絶縁体
  • JC/T 2343-2015 導波モード法による単結晶酸化アルミニウム管の作製
  • JC/T 2067-2011 ソーラーポリシリコン用溶融石英セラミックるつぼ

International Electrotechnical Commission (IEC), 多結晶と単結晶

  • IEC 60122-4:2019 認定水晶振動子 パート 4: サーミスタ付き水晶振動子
  • IEC 61747-3:2015 液晶表示デバイス - 第 3 部: 液晶表示 (LCD) ユニット - セグメント仕様
  • IEC 61747-2-1:2013 液晶ディスプレイ パート 2-1: パッシブマトリックスモノクロ液晶 (LCD) モジュール ブランク詳細仕様
  • IEC 61747-20-2:2015 液晶表示装置 第20-2部：モノクロマトリクス型液晶表示モジュールの外観検査（全アクティブマトリクス型液晶表示モジュールを除く）

SE-SIS, 多結晶と単結晶

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 多結晶と単結晶

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, 多結晶と単結晶

  • YB 1603-1983 シリコン単結晶カッティングディスクおよびグラインディングディスク

机械电子工业部, 多結晶と単結晶

Professional Standard - Aviation, 多結晶と単結晶

  • HB 6742-1993 X線裏面照射ラウエ写真による単結晶ブレードの結晶方位の決定
  • HB 7762-2005 航空宇宙エンジン用の一方向凝固柱状および単結晶超合金インゴットの仕様

European Committee for Standardization (CEN), 多結晶と単結晶

  • EN 13925-2:2003 非破壊検査 多結晶および非晶質材料の X 線回折 パート 2: 手順
  • EN 13925-3:2005 非破壊検査 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折 パート 3: 機器
  • EN 1330-11:2007 非破壊検査 用語 多結晶材料および非晶質材料の X 線回折で使用される用語

International Organization for Standardization (ISO), 多結晶と単結晶

  • ISO 11979-9:2006 眼科インプラント、眼内レンズ、パート 9: 多点焦点眼内レンズ
  • ISO 11979-9:2006/Amd 1:2014 眼科インプラント、眼内レンズ、パート 9: 多点焦点眼内レンズ、修正 1
  • ISO 16463:2004 多結晶ダイヤモンドインサート 寸法と種類
  • ISO 16463:2014 多結晶ダイヤモンドインサート 寸法と種類
  • ISO/TTA 3:2001 中性子回折法を用いた多結晶材料の残留応力の測定

Lithuanian Standards Office , 多結晶と単結晶

  • LST EN 13925-3-2005 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器
  • LST EN 13925-2-2004 X線回折による多結晶材料およびアモルファス材料の非破壊検査 第2部：手順
  • LST EN 13925-1-2004 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 1: 一般原則
  • LST EN 1330-11-2007 非破壊検査用語 多結晶材料および非晶質材料の X 線回折で使用される用語
  • LST EN 61747-3-2007 液晶表示装置パート 3: 液晶表示 (LCD) ユニット仕様 (IEC 61747-3:2006)
  • LST EN ISO 11979-9:2007 眼科用インプラントおよび眼内レンズ パート 9: 多焦点眼内レンズ (ISO 11979-9:2006)
  • LST EN 120007-2001 液晶ディスプレイの空白の詳細仕様書 電子回路を持たないモノクロ LCD ディスプレイ
  • LST EN 60444-9-2007 水晶振動子のパラメータの測定 パート 9: 圧電水晶振動子の寄生共振の測定 (IEC 60444-9:2007)
  • LST EN 62276-2006 弾性表面波 (SAW) デバイス用途のための単結晶ウェーハの仕様と測定方法 (IEC 62276:2005)
  • LST EN 62276-2013 弾性表面波 (SAW) デバイス用途のための単結晶ウェーハの仕様と測定方法 (IEC 62276:2012)
  • LST EN 60444-8-2004 水晶振動子のパラメータの測定 パート 8: 表面実装水晶振動子のテストフィクスチャ (IEC 60444-8:2003)

AENOR, 多結晶と単結晶

  • UNE-EN 13925-2:2004 X線回折による多結晶材料およびアモルファス材料の非破壊検査 第2部：手順
  • UNE-EN 13925-3:2006 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器
  • UNE-EN 13925-1:2006 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 1: 一般原則
  • UNE-EN ISO 11979-9:2007 眼科用インプラントおよび眼内レンズ パート 9: 多焦点眼内レンズ (ISO 11979-9:2006)
  • UNE-EN ISO 11979-9:2007/A1:2014 眼科インプラントおよび眼内レンズ パート 9: 多焦点眼内レンズ (ISO 11979-9:2006/Amd 1:2014)
  • UNE-EN 1330-11:2008 非破壊検査用語 第 11 部：多結晶材料および非晶質材料の X 線回折で使用される用語

American Society for Testing and Materials (ASTM), 多結晶と単結晶

  • ASTM E2627-13(2019) 電子後方散乱回折 (EBSD) による完全に再結晶化された多結晶材料の平均粒径を決定するための標準的な方法
  • ASTM F1723-96 フローティングゾーン結晶成長と分光法を使用した多結晶シリコンロッドの評価の標準的な手法
  • ASTM F847-94(1999) 単結晶シリコンウェーハ上の基準面の結晶方位を X 線で測定するための標準的な試験方法
  • ASTM D6058-96(2011) 作業環境における空気中の単結晶セラミックウィスカー濃度を測定するための標準作業手順
  • ASTM D6058-96(2016) 作業環境における空気中の単結晶セラミックウィスカー濃度を測定するための標準作業手順
  • ASTM E1181-02(2015) 二重粒子サイズの特性評価および決定方法

Professional Standard - Education, 多結晶と単結晶

Association of German Mechanical Engineers, 多結晶と単結晶

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 多結晶と単結晶

  • EN 62276:2013 弾性表面波 (SAW) デバイス用途の単結晶ウェーハの仕様と測定方法

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 多結晶と単結晶

  • EN 62276:2016 弾性表面波 (SAW) デバイス用途の単結晶ウェーハの仕様と測定方法
  • EN 61747-4:2012 液晶表示装置 第4部：液晶表示モジュールおよびユニットの基本定格と特性

Inner Mongolia Provincial Standard of the People's Republic of China, 多結晶と単結晶

  • DB15/T 2234-2021 チョクラルスキー単結晶シリコンユニット製品のエネルギー消費限界

IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components, 多結晶と単結晶

  • QC 720200-1998 液晶および固体表示装置 パート 3: 液晶表示 (LCD) ユニットのサブ仕様

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, 多結晶と単結晶

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Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, 多結晶と単結晶

  • GJB 6466-2008 ミサイル用途向けホットプレス多結晶フッ化マグネシウム平板の仕様
  • GJB 5907-2006 ミサイル用多結晶硫化亜鉛フェアリング材料の規格

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, 多結晶と単結晶

  • DB61/T 512-2011 太陽電池用単結晶シリコンウェーハの検査ルール
  • DB61/T 511-2011 太陽電池用単結晶シリコン棒の検査規定

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 多結晶と単結晶

  • JJF 1256-2010 X線単結晶配向装置の校正仕様
  • JJF 1760-2019 シリコン単結晶抵抗率標準サンプル校正仕様書

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 多結晶と単結晶

  • DB31/ 792-2014 シリコン単結晶及びそのシリコンウェーハの単位製品当たりのエネルギー消費限度
  • DB31/T 792-2014 シリコン単結晶及びそのシリコンウェーハの単位製品当たりのエネルギー消費限度
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