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集積回路の測定

集積回路の測定は全部で 20 項標準に関連している。

集積回路の測定 国際標準分類において、これらの分類：語彙、 電磁両立性 (EMC)、 集積回路、マイクロエレクトロニクス。

PL-PKN, 集積回路の測定

• PN T01303-03-1991 半導体デバイス。 集積回路。 アナログ集積回路。 測定方法
• PN T01303-03-A1-1991 半導体デバイス。 集積回路、アナログ集積回路測定法改訂 I

RO-ASRO, 集積回路の測定

• STAS 12161-1984 デジタル集積回路の主要な電気パラメータを測定する方法
• STAS 11048-1978 連続電圧レギュレータのパラメータを測定するためのリニア集積回路の処方箋

IN-BIS, 集積回路の測定

• IS 12970 Pt.3/Sec.1-1992 半導体デバイス - 集積回路 第 3 部 デジタル集積回路 - 測定方法 セクション 1: 概要
• IS 12970 Pt.6/Sec.1-1992 半導体デバイス - 集積回路 第 6 部 アナログ集積回路の測定方法 セクション 1: 概要
• IS 12970 Pt.3/Sec.3-1993 半導体デバイス - 集積回路 第 3 部 デジタル集積回路 - 測定方法 セクション 3: 動的測定
• IS 12970 Pt.6/Sec.3-1992 半導体デバイス - 集積回路 第 6 部 アナログ集積回路の測定方法 セクション 3: 電圧レギュレータ
• IS 12970 Pt.3/Sec.2-1992 半導体デバイス集積回路 第 2 部：デジタル集積回路の測定方法 第 2 部：静的特性
• IS 12970 Pt.6/Sec.2-1992 半導体デバイス - 集積回路 第 6 部 アナログ集積回路の測定方法 セクション 2: リニアアンプ

Society of Automotive Engineers (SAE), 集積回路の測定

• SAE J1752/1-1997 集積回路の電磁適合性の測定手順 - 集積回路の EMC の測定手順 - 一般原理と定義
• SAE J1752/1-2006 集積回路の電磁適合性測定手順 - 集積回路の EMC 測定手順 - 一般原則と定義
• SAE J1752-1-1997 集積回路の電磁適合性測定手順 集積回路の EMC 測定手順の概要と定義
• SAE J1752-1-2021 集積回路の電磁適合性測定手順 集積回路の EMC 測定手順の一般原則と定義
• SAE J1752/1-2016 集積回路の電磁適合性測定手順 集積回路の EMC 測定手順の概要と定義
• SAE J1752/1-2021 集積回路の電磁適合性測定手順 集積回路の EMC 測定手順の概要と定義
• SAE J1752-3-2017 集積回路の電磁適合性測定手順 集積回路の EMC 測定手順の一般原則と定義

SAE - SAE International, 集積回路の測定

• SAE J1752-3-2003 集積回路の電磁適合性測定手順 集積回路の EMC 測定手順の一般原則と定義
• SAE J1752-1-2016 集積回路の電磁適合性測定手順 集積回路の EMC 測定手順の一般原則と定義

Lithuanian Standards Office , 集積回路の測定

• LST EN 61967-6-2003 集積回路による 150 kHz ～ 1 GHz の電磁放射の測定 パート 6: 伝導性放射の測定 磁気プローブ法 (IEC 61967-6:2002)

その他：   集積回路の詳細, 航空宇宙用集積回路, 集積回路のテスト, 集積回路チップ, 集積回路の測定, 集積回路チップ, 集積回路パラメータ, 薄膜集積回路, 集積回路技術, 集積回路のテスト, 集積回路テープ, 中国の集積回路, 集積回路パラメータ, 集積回路のテスト, ADC集積回路, 集積回路の温度, 集積回路の圧力, IEC集積回路, 集積回路ハウジング, 集積回路カード.