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表面機器の表面分析

表面機器の表面分析は全部で 500 項標準に関連している。

表面機器の表面分析 国際標準分類において、これらの分類：化学装置、 分析化学、 語彙、 長さと角度の測定、 音響および音響測定、 光学および光学測定、 道路工事、 電子機器、 建物内の設備、 航空宇宙製造に関連するめっきおよび関連プロセス、 造船と海洋構造物の一体化、 情報技術の応用、 ベアリング、 テスト、 砂糖、砂糖製品、でん粉、 太陽工学、 化学製品、 電子表示装置、 教育する、 放射線測定、 半導体ディスクリートデバイス、 計測学と測定の総合、 電気および電子試験、 放射線防護、 電気、磁気、電気および磁気測定、 ガラス、 IT端末およびその他の周辺機器、 熱力学と温度測定、 産業用オートメーションシステム、 環境試験、 真空技術、 冶金設備、 表面処理・メッキ、 スポーツ用品と施設、 タバコ、タバコ製品およびタバコ産業用機器、 工作機械設備、 非破壊検査、 原子力工学、 建材、 粉末冶金、 品質。


Defense Logistics Agency, 表面機器の表面分析

Group Standards of the People's Republic of China, 表面機器の表面分析

Professional Standard - Chemical Industry, 表面機器の表面分析

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 表面機器の表面分析

International Federation of Trucks and Engines, 表面機器の表面分析

KR-KS, 表面機器の表面分析

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 表面機器の表面分析

  • GB/T 13592-1992 表面分析の用語
  • GB/T 22461-2008 表面化学分析 用語集
  • GB/T 25187-2010 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメータの表現
  • GB/T 21007-2007 表面化学分析情報フォーマット
  • GB/T 28894-2012 表面化学分析 - 分析前のサンプルの準備
  • GB/T 28892-2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 選択された機器の性能パラメーターの表現
  • GB/T 19499-2004 界面化学分析データ転送フォーマット
  • GB/T 29732-2013 中分解能オージェ電子分光計の元素分析用のエネルギースケール校正（表面化学分析用）
  • GB/T 22571-2008 表面化学分析 X線光電子分光装置 エネルギースケールの校正
  • GB/T 29557-2013 表面化学分析 デプスプロファイリング スパッタリング深さ測定
  • GB/T 15222-1994 表面汚染の判定パート 2 トリチウム表面汚染
  • GB/T 14056.2-2011 表面汚染の判定パート 2: トリチウム表面汚染
  • GB/T 30704-2014 表面化学分析 X 線光電子分光分析ガイド
  • GB/T 29731-2013 表面化学分析 高分解能オージェ電子分光計 元素および化学状態分析のためのエネルギースケール校正
  • GB/T 8997-2008 アルファおよびベータ表面汚染測定器およびモニターの校正
  • GB 5202-1985 アルファ、ベータ、アルファベータ表面汚染計およびモニター
  • GB/T 21006-2007 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性
  • GB/T 42360-2023 水の表面化学分析 全反射蛍光X線分光分析
  • GB/T 30815-2014 界面化学分析用の分析サンプルの準備とセットアップに関するガイド
  • GB/T 19146-2010 赤外線人体表面温度迅速検査装置
  • GB/Z 32494-2016 表面化学分析 オージェ電子分光法 化学情報の解釈
  • GB 9290-1988 界面活性剤工業用エトキシル化脂肪族アミンの分析方法
  • GB/T 9290-2008 界面活性剤、工業用エトキシル化脂肪族アミン、分析方法
  • GB/T 19502-2004 表面化学分析 - グロー放電発光分光法の一般原理
  • GB/T 19502-2023 表面化学分析のためのグロー放電発光分光法の一般規則

International Organization for Standardization (ISO), 表面機器の表面分析

  • ISO/CD 20289:2017 表面化学分析
  • ISO/CD 20579-2:2023 表面化学分析
  • ISO/CD 24237:2023 表面化学分析
  • ISO 18118:2022 表面化学分析
  • ISO/DIS 20579-2:2024 表面化学分析
  • ISO/CD 13473-4 表面プロファイルを使用した舗装構造の特性評価パート 4: 表面プロファイルのスペクトル解析
  • ISO 15472:2010 表面化学分析、X線光電子分光装置、エネルギースケール校正
  • ISO 15472:2001 表面化学分析 X線光電子分光計のエネルギースケール校正
  • ISO 18115:2001 表面化学分析用語集
  • ISO/TS 13473-4:2008 表面の外観 舗装構造の特徴 その 4: 表面プロファイルのスペクトル分析
  • ISO/DIS 13473-4 表面プロファイルを使用した舗装構造の特性評価 パート 4: 表面プロファイルの 1/3 オクターブ スペクトル解析
  • ISO 18117:2009 表面化学分析 サンプル処理前の分析
  • ISO 14975:2000 表面化学分析情報フォーマット
  • ISO/TR 14187:2020 表面化学分析 - ナノ構造材料の特性評価
  • ISO 18337:2015 表面化学分析、表面特性評価、共焦点蛍光顕微鏡による横方向分解能の測定
  • ISO/DIS 17973:2023 表面化学分析における元素分析エネルギー準位の分解能オージェ電子分光計の校正
  • ISO 18115:2001/Amd 1:2006 表面化学分析、語彙、修正 1
  • ISO 18115:2001/Amd 2:2007 表面化学分析、語彙、修正 2
  • ISO 14976:1998 界面化学分析データ転送フォーマット
  • ISO 17331:2004/Amd 1:2010 表面化学分析 化学的手法および光学分析装置 (TXRF) による分光測定を使用したシリコンウェーハ加工標準材料表面元素の収集 修正 1
  • ISO 24465:2023 表面化学分析 - 表面プラズモン共鳴装置の最小検出可能性の決定
  • ISO 18115-3:2022 表面化学分析. 用語集. 第 3 部: 光学界面分析で使用される用語。
  • ISO/TR 15969:2021 表面化学分析 - 深さ分析 - スパッタ深さの測定
  • ISO/CD 17973 表面化学分析における分解能オージェ電子分光計の元素分析のためのエネルギースケールの校正
  • ISO 7503-2:1988 表面汚染評価パート 2: トリチウム表面汚染
  • ISO 10810:2019 表面化学分析 - X 線光電子分光分析ガイド
  • ISO 20289:2018 表面化学分析 - 水の全反射蛍光X線分析
  • ISO/PAS 13473-6:2021 表面プロファイルを使用した舗装構造の特性評価 パート 6: 舗装構造測定のためのレーザープロファイラーの性能の検証
  • ISO 17973:2016 表面化学分析 中分解能スパイラル電子分光計 元素分析用のエネルギースケールの校正
  • ISO 17973:2002 表面化学分析 中分解能スパイラル電子分光計 元素分析用のエネルギースケールの校正
  • ISO 18116:2005 表面化学分析 - 分析用試料の準備と組み立てに関するガイドライン
  • ISO 10810:2010 表面化学分析、X線光電子分光法、分析ガイドライン
  • ISO 25178-1:2016 幾何学的製品仕様 (GPS)、表面構造: 平面、パート 1: 表面構造の表現
  • ISO 15470:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、機器の性能パラメーターの説明
  • ISO/TR 14187:2011 表面化学分析、ナノ構造材料の特性評価
  • ISO 21270:2004 表面化学分析 X線光電子分光装置とオージェ電子分光装置 強度スケールの直線性
  • ISO/TR 22335:2007 表面化学分析 深さプロファイリング スパッタリング率測定: 機械式光学スタイラス表面形状計を使用したメッシュ複製法。
  • ISO 15471:2004 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
  • ISO 15471:2016 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
  • ISO 25178-6:2010 製品の幾何学的仕様（GPS） 表面性状：表面 第6部：表面性状測定方法の分類
  • ISO/TR 15969:2001 表面化学分析 深さの説明 スパッタ深さの測定
  • ISO/TS 15338:2020 表面化学分析 - グロー放電質量分析 - 操作手順
  • ISO 893:1978 工業用界面活性剤アルカンスルホン酸ナトリウムの分析方法
  • ISO 893:1989 界面活性剤工業用アルカンスルホン酸塩の分析方法
  • ISO 15470:2004 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
  • ISO 12406:2010 表面化学分析、二次イオン質量分析、シリコン中のヒ素の深さプロファイリング。
  • ISO 14706:2000 表面化学分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 測定を使用したシリコンウェーハの基本的な表面汚染の測定
  • ISO 14706:2014 表面化学分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 測定を使用したシリコンウェーハの基本的な表面汚染の測定
  • ISO 25178-2:2012 幾何製品仕様 (GPS)、表面テクスチャ: 表面、パート 2: 用語、定義、および表面テクスチャ パラメータ
  • ISO 13473-3:2002 表面の外観 舗装構造の特徴 その 3: 表面形状計の仕様と分類
  • ISO 894:1977 工業用界面活性剤第一級アルキル硫酸ナトリウムの分析方法
  • ISO 895:1977 工業用界面活性剤第二級アルキル硫酸ナトリウムの分析方法
  • ISO 17974:2002 表面化学分析 高分解能スパイラル電子分光計 元素および化学状態分析のためのエネルギースケールの校正
  • ISO 13424:2013 表面化学分析―X線光電子分光法、薄膜分析結果報告
  • ISO 13084:2011 表面化学分析 二次イオン質量分析 飛行時間型二次イオン質量分析計の質量スケールの校正
  • ISO/TR 29901:2007/cor 1:2009 4 つの要因の包括的な要因テスト用に選択されたチャート 技術正誤表 1
  • ISO 22048:2004 表面化学分析 - 静的二次イオン質量分析情報フォーマット
  • ISO 6384:1981 界面活性剤工業用エトキシル化脂肪族アミンの分析方法
  • ISO 456:1973 界面活性剤石鹸の分析遊離苛性アルカリの測定
  • ISO 4287-1:1984 表面粗さ、用語、パート 1: 表面とそのパラメータ、3 つの言語バージョン

AT-ON, 表面機器の表面分析

RO-ASRO, 表面機器の表面分析

  • STAS 11195-1987 界面剤分析法
  • SR 110-9-1995 砂糖。 分析方法。 表面品質の決定
  • STAS SR CEI 776-1983 ロジックアナライザーの性能
  • STAS 5730/4-1987 表面状態。 触針による表面粗さの測定方法
  • STAS ISO 1879:1993 プロファイル法を用いた表面粗さ測定器です。 語彙
  • STAS SR ISO 7503-2:1996 表面汚染の評価。 パート 2: トリチウム表面汚染
  • STAS SR ISO 3274:1995 形状測定器は表面粗さを測定するための測定器です。 等高線シーケンス変換機能を備えた接触（スタイラス）タイプの機器。 接触面測定器 システムM

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 表面機器の表面分析

  • JIS B 0651:1996 表面性状 表面性状評価装置 断面法
  • JIS K 0147:2004 表面化学分析 用語集
  • JIS K 0142:2000 表面化学分析 情報フォーマット
  • JIS K 0141:2000 表面化学分析 - データ転送フォーマット
  • JIS B 0681-6:2014 幾何製品仕様書 (GPS)、表面性状: 表面、パート 6: 表面性状測定方法の分類
  • JIS K 0181:2021 表面化学分析 水の全反射蛍光X線分析
  • JIS K 0154:2017 表面化学分析 分析用試料の準備と設置に関するガイドライン
  • JIS K 0165:2011 表面化学分析 中分解能スパイラル電子分光計 元素分析用のエネルギースケールの校正
  • JIS B 0660:1998 表面粗さ 用語 第 1 部: 表面とそのパラメータ
  • JIS K 0161:2010 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
  • JIS B 0681-1:2023 製品の幾何学的仕様 (GPS) 表面性状: 面積 パート 1: 表面性状の表示
  • JIS K 0164:2023 シリコン中のホウ素の深さ分析のための表面化学分析二次イオン質量分析法
  • JIS K 0162:2010 表面化学分析、X 線光電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
  • JIS K 0148:2005 表面化学分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 測定を使用した、シリコン ウェーハ上の主な表面汚染物質の測定。
  • JIS K 0166:2011 表面化学分析 高分解能スパイラル電子分光計 元素および化学状態分析のためのエネルギースケールの校正

YU-JUS, 表面機器の表面分析

German Institute for Standardization, 表面機器の表面分析

  • DIN ISO/TS 13473-4:2009-02 表面プロファイルを使用した舗装テクスチャの特性評価パート 4: 表面プロファイルのスペクトル分析
  • DIN ISO/TS 13473-4:2009 表面プロファイルの使用による舗装構造の特性評価パート 4: 表面プロファイルのスペクトル分析
  • DIN VDE 0603-2-1:2017 計器パネル パート 2-1: 最大 63 A の直接測定用計器パネル
  • DIN VDE 0603-3-3 Berichtigung 1:2021 計器パネル パート 3-3: 計器用端子コネクタ、正誤表 1
  • DIN ISO 13473-3:2004-07 表面形状を用いた舗装質感の特性評価 第 3 部: 形状計の仕様と分類
  • DIN ISO 13473-3:2004 表面外観による舗装構造の特徴付け パート 3: 表面形状計の仕様と分類
  • DIN 43700:1982 計測と制御 インストルメントパネルに取り付けられた計測および制御機器 パネル正面および断面の公称寸法
  • DIN VDE 0603-3-2:2017 インストルメントパネル パート 3-2: 家庭用電気メーターの設置接続
  • DIN EN 61098:2008 放射線防護機器、固定式個人の表面汚染監視装置
  • DIN ISO 13473-2:2004 表面外観を利用した舗装構造の特性評価 第 2 部：舗装構造の外観解析に関する用語と基本要件
  • DIN ISO 13473-2:2004-07 表面プロファイルを使用した舗装テクスチャーの特性評価パート 2: 舗装テクスチャープロファイル解析に関連する用語と基本要件
  • DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 線光電子分光計 - エネルギースケール校正 (ISO 15472:2010)
  • DIN EN 14670:2005 界面活性剤、ラウリル硫酸ナトリウム、分析方法
  • DIN EN 61725:1998-03 毎日の太陽プロファイルの解析式 (IEC 61725:1997)
  • DIN 28400-6:1980-10 真空技術、用語と定義、表面分析技術
  • DIN EN 61207-6:1995 ガス分析計の性能表現 パート 6: 測光分析計
  • DIN 43870 Bb.1:1986 計器取付パネル 作用面に関する情報
  • DIN EN 61207-6:2016-03 ガス分析計の性能表現 第 6 部：測光分析計
  • DIN EN IEC 61207-3:2020-12 ガス分析計の性能表現その3：常磁性酸素分析計
  • DIN 68861-8:2001-04 家具の表面 パート 8: 湿気と熱の挙動
  • DIN EN 14670:2005-09 界面活性剤ラウリル硫酸ナトリウムの分析方法
  • DIN 28400-6:1980 真空技術 - 表面分析技術の用語と定義
  • DIN EN ISO 25178-1:2016-12 幾何製品仕様 (GPS) 表面テクスチャ: エリア パート 1: 表面テクスチャの表示
  • DIN ISO 15472:2020 表面化学分析用 X 線光電子分光計のエネルギー標準の校正 (ISO 15472:2010)、英語テキスト
  • DIN EN 15330-2:2017 主に屋外での使用を目的として設計されたスポーツサーフェス用の人工芝およびニードルパンチサーフェス パート 2: テニスおよびマルチスポーツサーフェス用のニードルパンチサーフェスの仕様
  • DIN 6094-13:1997-05 梱包 - 表面処理 - パート 13: 2 ねじの表面処理および 3 ねじの表面処理
  • DIN EN ISO 25178-6:2010-06 幾何製品仕様書 (GPS) - 表面性状: 面積 - 第 6 部: 表面性状測定方法の分類
  • DIN EN 15647:2009-04 界面活性剤 粉末分散に対する界面活性剤の影響の測定
  • DIN EN ISO 13473-1:2004 舗装構造を特徴付けるための表面外観の使用 パート 1: 平均セクション高さの決定
  • DIN EN 15647:2009 粉末中の界面活性剤の分散効果の測定
  • DIN CEN/TS 15901-2:2010-03*DIN SPEC 1142:2010-03 道路および空港の表面特性 - パート 2: 縦方向制御スキッド デバイス (LFCRNL) を使用して舗装のスキッド抵抗を決定する手順: ROAR (Norsemeter Road Analyzer and Recorder)
  • DIN CEN/TS 15901-5:2010-03*DIN SPEC 1145:2010-03 道路および空港の表面特性 - パート 5: 縦方向制御スキッド デバイス (LFCRDK) を使用して舗装のスキッド抵抗を決定する手順: ROAR (Norsemeter Road Analyzer and Recorder)
  • DIN 6094-3:2003-10 包装形態の表面処理その3：レバーストッパーの表面処理

Association Francaise de Normalisation, 表面機器の表面分析

  • NF X21-055:2006 表面化学分析、X線光電子分光装置、エネルギースケール校正
  • NF ISO 18117:2009 表面化学分析 分析前サンプルの前処理
  • NF X21-065*NF ISO 18117:2009 表面化学分析はサンプル処理を優先します
  • NF EN ISO 25178-700:2023 幾何製品仕様 (GPS) - 表面仕上げ: 表面 - パート 700: 表面地形測定器の校正、調整および検証
  • NF X21-052/A2:2008 表面化学分析、語彙、修正 2
  • NF X21-052/A1:2008 表面化学分析、語彙、修正 1
  • NF ISO 17973:2006 表面化学分析における分解能オージェ電子分光計の元素分析のためのエネルギースケールの校正
  • NF ISO 18116:2006 表面化学分析 分析サンプルの準備およびセットアップ ガイド
  • NF X21-054*NF ISO 17973:2006 表面化学分析 中分解能スパイラル電子分光計 元素分析用のエネルギースケールの校正
  • NF M60-702:1988 表面汚染の評価 その 2: トリチウム表面汚染
  • NF EN 61725:1998 太陽-太陽プロファイルの解析表現
  • NF EN ISO 25178-601:2010 幾何学的製品仕様 (GPS) - 表面仕上げ: 表面 - パート 601: 接触 (プローブ) 機器の公称特性
  • NF X21-056*NF ISO 18116:2006 表面化学分析用の分析試料の準備と組み立てに関するガイド
  • NF ISO 893:1990 界面活性剤 - 工業用アルカンスルホン酸塩 - 分析方法。
  • NF X21-071:2011 表面化学分析、X線光電子分光法、分析ガイドライン
  • NF E05-031-6*NF EN ISO 25178-6:2010 幾何製品仕様 (GPS) 表面性状: 表面のパート 6: 表面性状測定方法の分類
  • NF C46-251-3*NF EN IEC 61207-3:2019 ガス分析計の性能パート 3: 常磁性酸素分析計
  • NF EN 61207-6:2015 ガス分析計の性能表現 その6 測光分析計
  • NF EN IEC 61207-3:2019 ガス分析計の性能表現その3：常磁性酸素分析計
  • NF EN ISO 105-Z01:1996 繊維の表面処理における固体の研究 パート Z01: 表面処理における固体 表面処理: クロムめっき
  • NF EN ISO 25178-2:2022 幾何製品仕様 (GPS) - 表面仕上げ: 表面 - パート 2: 用語、定義、および表面仕上げパラメータ
  • NF T73-292*NF EN 14670:2005 界面活性剤、ラウリル硫酸ナトリウム、分析方法
  • NF EN 14670:2005 界面活性剤。 ドデシル硫酸ナトリウム。 分析方法
  • NF T73-428*NF EN 15647:2009 界面活性剤粉末の界面活性剤分散効果の測定
  • NF E05-031-1*NF EN ISO 25178-1:2016 幾何学的製品仕様 (GPS) 表面性状: 平面 パート 1: 表面性状の表示
  • NF EN ISO 25178-701:2010 幾何学的製品仕様 (GPS) - 表面仕上げ: 表面 - パート 701: 接触 (プローブ) 機器の校正および測定標準
  • NF P90-149-2*NF EN 15330-2:2017 主に屋外での使用を目的として設計されたスポーツサーフェス用の人工芝およびニードルパンチサーフェス パート 2: テニスおよびマルチスポーツサーフェス用のニードルパンチサーフェスの仕様
  • NF C46-251-6*NF EN 61207-6:2015 ガス分析計の性能表現パート 6: 光度計分析計
  • NF C46-256:1994 ガス分析計の性能表現 第 6 部: 光度計分析計
  • NF EN 15647:2009 界面活性剤 粉末上の界面活性剤の分散力の測定
  • NF S31-252-1:2004 表面外観を利用した舗装構造の特性評価 その 1: 平均断面高さの決定
  • NF EN ISO 25178-1:2016 幾何製品仕様 (GPS) - 表面仕上げ: 面積 - パート 1: 表面仕上げの表示
  • NF EN ISO 25178-606:2015 幾何学的製品仕様 (GPS) - 表面仕上げ: 表面 - パート 606: 非接触 (焦点変更) 機器の公称特性
  • FD X21-063*FD ISO/TR 22335:2008 表面化学分析 深さ方向プロファイリング スパッタリングレート測定：機械式触針式表面形状計を使用したグリッド複製法
  • NF T73-275:1982 界面活性剤工業用ヒドロキシエチル脂肪酸アミンの分析方法
  • NF T73-233*NF ISO 893:1990 界面活性剤、工業用アルキルスルホン酸ナトリウム、分析方法
  • XP CEN/TS 15901-13:2011 道路および空港の表面特性 - パート 13: 横摩擦係数 (CFTO) の測定による舗装表面の粘着力の決定手順: オドメーター
  • NF EN ISO 25178-73:2019 幾何製品仕様 (GPS) - 表面仕上げ: 表面 - パート 73: 物理化学的測定における表面欠陥の用語と定義
  • NF EN ISO 25178-607:2019 幾何製品仕様 (GPS) - 表面仕上げ: 表面 - パート 607: 非接触機器の公称特性 (共焦点顕微鏡)
  • NF EN IEC 60580:2020 医療用電気機器 - 露出表面製品測定器
  • NF ISO 17974:2009 元素および化学状態分析のための表面化学分析用の高分解能オージェ電子分光計のエネルギースケール校正
  • NF C46-253*NF EN 61207-3:2002 ガス分析計 性能表現 パート 3: 常磁性酸素分析計
  • NF EN 15042-1:2006 表面波を使用したコーティングの厚さと表面特性の測定 - パート 1: 表面波を使用してフィルムの弾性定数、密度、および厚さを決定するためのガイド
  • XP P98-832-5*XP CEN/TS 15901-5:2011 道路および空港の表面特性パート 5: 縦方向制御スキッド デバイス (LFCRDK) を使用して舗装のスキッド抵抗を決定する手順: ROAR (Norsemeter Road Analyzer and Recorder)
  • NF T73-232:1978 界面活性剤 工業用第二級アルキル硫酸ナトリウム 分析方法
  • NF T73-231:1978 界面活性剤、工業用第一級アルキル硫酸ナトリウム、分析方法
  • NF P98-857-1*NF EN 12274-1:2018 泥表面試験方法 パート 1: 泥表面混合物のサンプリング
  • NF EN ISO 25178-71:2017 幾何学的製品仕様 (GPS) - 表面仕上げ: 表面 - パート 71: ソフトウェア標準

Standard Association of Australia （SAA）, 表面機器の表面分析

  • AS ISO 18115:2006 表面化学分析。 語彙
  • AS ISO 14975:2006 表面化学分析。 メッセージフォーマット
  • AS ISO 14976:2006 表面化学分析。 データ転送フォーマット
  • AS ISO 18116:2006 表面化学分析。 分析用サンプルの準備と設置に関するガイドライン
  • AS 1627.7:1988 金属表面仕上げ 表面処理と前処理 第 7 部：金属表面の手による洗浄処理
  • AS ISO 15470:2006 表面化学分析。 X線光電子分光法。 選択した機器のパフォーマンスパラメータの説明

British Standards Institution (BSI), 表面機器の表面分析

  • BS ISO 13424:2013 表面化学分析・X線分光分析・薄膜分析レポート
  • BS EN IEC 61207-3:2019 ガス分析装置の性能 常磁性酸素分析装置
  • BS ISO 14975:2000 表面化学分析 情報フォーマット
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