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ダイオード

ダイオードは全部で 500 項標準に関連している。

ダイオード 国際標準分類において、これらの分類：半導体ディスクリートデバイス、 電子表示装置、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 語彙、 電灯および関連器具、 光ファイバー通信、 半導体材料、 電子管、 電気および電子試験、 ガラス、 道路車両装置、 整流器、コンバータ、安定化電源、 プリント回路およびプリント回路基板、 航空宇宙用電気機器およびシステム、 旅客輸送機器およびコックピット機器、 電子機器、 無線通信、 商品の総合的な梱包と輸送、 分析化学、 車両、 太陽工学、 テレビ放送とラジオ放送、 インク、インク、 電気工学総合、 オーディオ、ビデオ、およびオーディオビジュアル エンジニアリング、 原子力工学、 包装資材および副資材、 環境を守ること、 小さなボート。


Korean Agency for Technology and Standards (KATS), ダイオード

  • KS C IEC 60747-3-1:2006 半導体デバイス ディスクリートデバイス パート 3: 信号ダイオード (スイッチング ダイオードを含む) および調整ダイオード セクション 1: 信号ダイオード、スイッチング ダイオード、および制御されたアバランシェ ダイオードの詳細仕様は空白
  • KS C IEC 60747-3:2006 半導体デバイス、ディスクリートデバイス、パート 3: 信号ダイオード (スイッチング ダイオード、ツェナー ダイオードを含む)
  • KS C IEC 60747-3:2016 半導体デバイス ディスクリートデバイス 第3部：信号ダイオード（スイッチングダイオード、ツェナーダイオードを含む）
  • KS C IEC 60747-3-2:2006 半導体デバイス ディスクリートデバイス パート 3: 信号ダイオード (スイッチング ダイオードを含む) および調整ダイオード セクション 2: ツェナー ダイオードおよび基準電圧ダイオードの詳細仕様は空白 (温度補償された高精度基準ダイオードを除く)
  • KS C 5205-2002 信頼性が保証されたツェナーダイオードと基準電圧ダイオード
  • KS C IEC 60747-3-1-2006(2016) 半導体デバイスディスクリート パート 3: 信号 (スイッチングを含む) およびツェナー ダイオード セクション 1: 信号ダイオード、スイッチング ダイオード、および制御型アバランシェ ダイオードの詳細仕様は空白
  • KS C IEC 60747-3-1-2006(2021) 半導体デバイスのディスクリート部品 パート 3: 信号 (スイッチングを含む) および調整ダイオード セクション 1: 信号ダイオード、スイッチング ダイオード、および制御型アバランシェ ダイオードの詳細仕様は空白
  • KS C 7120-1990 発光ダイオード（表示用）
  • KS C 7120-1990(2016) LED（表示用）
  • KS C 7120-1990(2021) LED（表示用）
  • KS C IEC 60747-3-2-2006(2021) 半導体デバイスのディスクリート部品 パート 3: 信号 (スイッチを含む) およびツェナー ダイオード セクション 2: 電圧調整ダイオードおよび基準電圧ダイオード ブランク 詳細仕様 温度補償された高精度基準ダイオードは含まれません
  • KS C IEC 60747-3-2-2006(2016) 半導体デバイス ディスクリート デバイス パート 3: 信号 (スイッチを含む) およびツェナー ダイオード セクション 2: 電圧調整ダイオードおよび電圧基準ダイオード ブランク 詳細仕様には温度補償高精度基準ダイオードは含まれません
  • KS C 7003-1996 小信号ダイオードの測定方法
  • KS C 5205-1980(2000) 信頼性保証型ツェナーダイオード
  • KS C 7003-1981 小信号ダイオードの測定方法
  • KS C 7003-2017 小信号ダイオードの測定方法
  • KS C 5300-1992 光透過用発光ダイオードの通則
  • KS C 6990-2001 光透過用フォトダイオードの一般規則
  • KS C 7003-2017(2022) 小信号ダイオードの測定方法
  • KS C 6905-2001 光電伝送用レーザーダイオードの通則
  • KS C 7121-1990 発光ダイオード（ディスプレイ用）の測定方法
  • KS C 5301-1992 発光ダイオードの光透過性試験方法
  • KS C 6991-2001 フォトダイオードの光透過率試験方法
  • KS C 7121-1990(2021) 発光ダイオードの測定方法（目安）
  • KS C 5300-1992(2022) 光ファイバー伝送用発光ダイオード通則
  • KS C 5203-1980(2000) 信頼性を高める小信号ダイオード
  • KS C 6905-2001(2021) 光ファイバー伝送用レーザーダイオードの通則
  • KS C 6045-1991(2001) 半導体整流ダイオードの試験方法
  • KS C 5203-1980 信頼性を高める小信号ダイオード
  • KS C 6045-1986 半導体整流ダイオードの試験方法
  • KS C IEC 60747-2-1-2006(2016) 半導体デバイスディスクリート パート 2: 整流ダイオード セクション 1: 100 A 以下の周囲定格およびケース定格の整流ダイオード (アバランシェ整流ダイオードを含む) の詳細仕様は空白
  • KS C IEC 60747-2-1-2006(2021) 半導体デバイスのディスクリート部品 パート 2: 整流ダイオード セクション 1: 最大 100 A の周囲およびケース定格整流ダイオード (アバランシェ整流ダイオードを含む) の詳細仕様は空白
  • KS C 6906-2001 光電伝送用レーザーダイオードの試験方法
  • KS C 5203-2002 信頼性が保証された小信号ダイオード
  • KS C 5213-1981(1997) 低電流スイッチングダイオードの信頼性を保証
  • KS C 5213-1981 低電流スイッチングダイオードの信頼性を保証
  • KS C IEC 60747-2-2-2006(2021) 半導体デバイス ディスクリートデバイス パート 2: 整流ダイオード セクション 2: 定格周囲電流およびケース電流が 100A を超える整流ダイオード (アバランシェ整流ダイオードを含む) の詳細仕様は空白
  • KS C IEC 60747-2-2-2006(2016) 半導体デバイス ディスクリートデバイス パート 2: 整流ダイオード セクション 2: 定格周囲電流およびケース電流が 100A を超える整流ダイオード (アバランシェ整流ダイオードを含む) の詳細仕様は空白
  • KS C 7104-2005 発光ダイオード（LED）の性能評価方法
  • KS C 6942-2014 光ファイバー伝送用レーザーダイオードモジュール通則
  • KS C 6990-2013 フォトダイオードの光ファイバー伝送に関する一般規則
  • KS C 6991-2013 光ファイバー伝送フォトダイオードのテスト方法
  • KS C 5204-1980(2000) 信頼性が保証された低電流整流ダイオード
  • KS C 5217-1983(1998) 信頼性保証キョンリュウダイオード（インチ大電流）
  • KS C 7104-2005(2020) 発光ダイオードの性能を測定するための規格
  • KS C 5204-1980 信頼性が保証された低電流整流ダイオード
  • KS C IEC 60747-2-2:2006 半導体デバイス、ディスクリートデバイス、パート 2: 整流ダイオード、セクション 1: 100A を超える電流に対する指定された環境および筐体を備えた整流ダイオード (アバランシェ整流ダイオードを含む) の詳細仕様は空白です。
  • KS C IEC 60747-2-1:2006 半導体デバイス、ディスクリートデバイス、パート 2: 整流ダイオード、セクション 1: 100A 未満の電流用に指定された環境および筐体を備えた整流ダイオード (アバランシェ整流ダイオードを含む) の詳細仕様は空白です。
  • KS C 5204-2002 信頼性が保証された低電流整流ダイオード
  • KS C 5213-2002 信頼性が保証された低電流スイッチング ダイオード
  • KS C 6990-2001(2011) 光透過のための公理的なフォトダイオード
  • KS C 5301-1992(2017) 光ファイバー伝送試験方法に使用される発光ダイオード
  • KS C 6906-2001(2016) ファイバー伝送テスト方法で使用されるレーザーダイオード
  • KS C 5301-1992(2022) 光ファイバー伝送用発光ダイオードの試験方法
  • KS C 6906-2001(2021) 光ファイバー伝送用レーザーダイオードの試験方法
  • KS C 6943-2014 光ファイバー伝送用レーザーダイオードモジュールの試験方法
  • KS C 5217-2002 信頼性が保証された整流ダイオード（中電流および大電流）
  • KS C 5300-1992(2017) 光ファイバー伝送用発光ダイオードの一般規則
  • KS C 6704-1991(2001) Play 録音用のレーザー ダイオード テスト方法
  • KS C 5217-1983 信頼性が保証された整流ダイオード（中電流および大電流）
  • KS C IEC 62031:2011 一般照明用発光ダイオード（LED）モジュール 安全仕様

International Electrotechnical Commission (IEC), ダイオード

  • IEC 60747-3-1:1986 半導体デバイス ディスクリートデバイス 第 3 部：信号ダイオード（スイッチングダイオードを含む）および調整ダイオード 第 1 部：信号ダイオード、スイッチングダイオードおよび制御可能なアバランシェダイオードの詳細仕様は空白
  • IEC 60747-3:2013 半導体デバイス パート 3: ディスクリート デバイス: 信号ダイオード、スイッチング ダイオード、および調整ダイオード
  • IEC 60747-3:1985 半導体デバイス ディスクリートデバイス 第3部：信号用ダイオード（スイッチングダイオードを含む）および調整用ダイオード
  • IEC 60747-3-2:1986 半導体デバイス ディスクリートデバイス 第 3 部：信号ダイオード（スイッチングダイオードを含む）および調整用ダイオード 第 2 部：電圧調整用ダイオードおよび電圧基準ダイオード（温度補償高精度基準ダイオードを除く） ブランク 詳細仕様
  • IEC 60747-3/AMD2:1993 半導体デバイス ディスクリートデバイス その３：信号用ダイオード（スイッチングダイオードを含む）および調整用ダイオード 修正２
  • IEC 60747-3/AMD1:1991 半導体デバイス ディスクリートデバイス その３：信号用ダイオード（スイッチングダイオードを含む）および調整用ダイオード 修正１
  • IEC TS 62504:2011 一般照明、発光ダイオードおよび発光ダイオードモジュール、用語と定義
  • IEC TS 62861:2017 発光ダイオード (LED) 光源および発光ダイオード (LED) 照明器具の主要コンポーネントの信頼性試験に関するガイドライン
  • IEC 91/926/PAS:2010 高輝度LED基板
  • IEC 60747-5-8:2019 半導体デバイス 第5部-8：光電子デバイス 発光ダイオード 発光ダイオード 光電効率試験方法
  • IEC 60747-2-2:1993 半導体デバイス ディスクリートデバイス パート 2: 整流ダイオード セクション 1: 100A を超える電流に対する環境およびケース定格の整流ダイオード (アバランシェ整流ダイオードを含む) の詳細仕様は空白
  • IEC 60747-2-1:1989 半導体デバイス ディスクリートデバイス パート 2: 整流ダイオード セクション 1: 最大 100A の電流に対する周囲定格およびケース定格の整流ダイオード (アバランシェ整流ダイオードを含む) の詳細な仕様は空白
  • IEC 62979:2017 太陽光発電モジュール - バイパス ダイオード - 熱暴走テスト
  • IEC 62931:2017 GX16t-5端子の発光ダイオード(LED)チューブライト、安全仕様
  • IEC 60747-5-11:2019 半導体デバイス - パート 5-11: 光電子デバイス、発光ダイオード、発光ダイオードの放射電流および非放射電流の試験方法
  • IEC 91/928/PAS:2010 高輝度発光ダイオード用回路基板の試験方法
  • IEC 60747-7:1988 半導体デバイス、ディスクリートデバイス、パート 7: ダイオード
  • IEC 62031:2008 一般照明用発光ダイオード（LED）モジュール 安全仕様
  • IEC 62031:2008/AMD1:2012 一般照明用発光ダイオード（LED）モジュール 安全仕様

British Standards Institution (BSI), ダイオード

  • BS IEC 60747-3:2013 半導体デバイス、ディスクリートデバイス: 信号ダイオード、スイッチングダイオード、調整ダイオード
  • BS IEC 60747-5-8:2019 半導体デバイス、光電子デバイス、発光ダイオード、発光ダイオードの光電効率の試験方法
  • BS EN 120001:1993 電子部品の品質評価のための調整システム 内部ロジックと抵抗を含まない発光ダイオード、発光ダイオードアレイ、発光ダイオードディスプレイのブランク詳細仕様
  • BS PD IEC/TS 62861:2017 発光ダイオード (LED) 光源および発光ダイオード (LED) 照明器具の主要コンポーネントの信頼性試験に関するガイドライン
  • BS 9300 C678-721:1971 シリコンレギュレータダイオードの詳細仕様
  • BS EN 120001:1991 電子部品の品質評価のための調整システム 詳細仕様は空白 内部ロジック部品や抵抗器を含まない発光ダイオード、発光ダイオードアレイ、発光ダイオードディスプレイ
  • BS IEC 60747-5-11:2019 半導体デバイス、光電子デバイス、発光ダイオード、発光ダイオードの放射電流および非放射電流の試験方法
  • BS EN 120005:1986 電子部品の品質評価・調整システム ブランク詳細仕様 フォトダイオード、フォトダイオードアレイ（非ファイバ用）
  • BS EN 120002:1993 電子部品の品質評価連携システム 仕様欄空白 詳細仕様書：赤外発光ダイオード、赤外発光ダイオードアレイ
  • BS 9300 C762:1971 Xバンド用ミキサダイオード詳細仕様
  • BS IEC 60747-2:2016 半導体デバイス、ディスクリートデバイス、整流ダイオード
  • BS EN 60747-2:2016 半導体デバイス ディスクリート機器 整流ダイオード
  • 18/30367363 DC BS IEC 60747-5-8 半導体デバイス パート 5-8 光電子デバイス 発光ダイオード 発光ダイオードの光電効率の試験方法
  • BS IEC 60747-5-16:2023 半導体デバイス - オプトエレクトロニクスデバイス 発光ダイオード GaNベースの発光ダイオード 光電流スペクトルに基づくフラットバンド電圧試験方法
  • BS EN 62341-1-1:2009 有機発光ダイオード (OLED) ディスプレイの一般仕様
  • BS EN 62931:2017 GX16t-5端子の発光ダイオード(LED)チューブライト、安全仕様
  • BS EN 120005:1993 電子部品の品質評価のための調整システム 仕様書 フォトダイオード、フォトダイオードアレイの空白の詳細仕様書 (光ファイバー用途には適用されない)
  • BS EN ISO 19009:2015 小型船舶 電気航海灯 LED灯の性能
  • BS ISO 13207-1:2012 道路車両、電球互換性障害検出用の発光ダイオード (LED) 電球の特性、方向指示用発光ダイオード (LED) 電球
  • 18/30388245 DC BS EN IEC 60747-5-11 半導体デバイス パート 5-11 光電子デバイス 発光ダイオード 発光ダイオード 放射電流および非放射電流の試験方法
  • BS PD IEC/TS 62916:2017 太陽光発電モジュール、バイパスダイオードの静電気放電感度テスト
  • BS EN 62707-1:2014 発光ダイオード (LED) の梱包、一般要件および白色グリッド
  • BS EN 62031:2008+A1:2013 一般照明用発光ダイオード（LED）モジュール 安全仕様
  • BS EN 62031:2008 一般照明用発光ダイオード（LED）モジュール 安全仕様

Defense Logistics Agency, ダイオード

工业和信息化部, ダイオード

  • SJ/T 11624-2016 発光ダイオード (LED) ディスプレイで使用される発光ダイオードの仕様
  • SJ/T 2749-2016 半導体レーザーダイオードの試験方法
  • QC/T 1038-2016 車載用発光ダイオード (LED) およびモジュール
  • SJ/T 11767-2020 ダイオード低周波ノイズパラメータ試験方法
  • QB/T 5478-2020 UV発光ダイオード光硬化型オフセット印刷インキ

Japan Electronics and Information Technology Industries Association, ダイオード

JP-JEITA, ダイオード

Professional Standard - Education, ダイオード

Association Francaise de Normalisation, ダイオード

  • NF C96-832:1981 半導体.マイクロ波ダイオード.ショットキーダイオード.一般要件
  • NF EN 120002:1992 特定のフレームワーク仕様: 赤外線発光ダイオード、赤外線発光ダイオード ネットワーク
  • NF C93-120-001*NF EN 120001:1992 空白 詳細仕様: LED、LED アレイ、内部ロジックと抵抗を含まない LED ディスプレイ
  • NF EN 120001:1992 ブランク仕様: LED、LED アレイ、抵抗または内部ロジック回路のない LED ディスプレイ
  • NF EN 120005:1992 ブランク仕様: フォトダイオード、フォトダイオード アレイ (光ファイバー用途には適しません)
  • NF C93-120-002*NF EN 120002:1992 ブランク詳細仕様: 赤外線発光ダイオード、赤外線発光ダイオードアレイ
  • NF C93-120-005*NF EN 120005:1992 空白 詳細仕様: フォトダイオード、フォトダイオード アレイ (光ファイバー用途には適していません)
  • NF C93-871:1987 LEDデジタル送信機
  • NF C86-502:1983 電子部品の統一品質レビューシステム 赤外発光ダイオード、赤外発光ダイオードアレイ
  • NF C86-508:1993 詳細仕様は空白です。 光ファイバー システムまたはサブシステムで使用する発光ダイオードおよび赤外発光ダイオード
  • NF C86-501:1983 電子部品品質評価調整システム 詳細仕様書空白 発光ダイオード、発光ダイオード配列
  • NF C93-872:1987 ピンオンフォトダイオードデジタルレシーバー
  • NF C96-821:1981 半導体デバイス用高出力整流ダイオード
  • NF C86-818/A1:1981 指定された周囲温度における整流ダイオード
  • NF C86-815:1981 電子部品の品質評価のための連携システム ブランク 詳細仕様: 電圧調整ダイオードおよび電圧基準ダイオード
  • NF C57-379*NF EN 62979:2017 太陽光発電モジュール - バイパス ダイオード - 熱暴走テスト
  • NF EN 62979:2017 太陽光発電モジュール - バイパス ダイオード - 熱暴走テスト
  • NF C96-811/A3:1974 半導体専門用途ダイオード一般記事一覧
  • NF C96-811/A4:1974 半導体専門用途ダイオード一般記事一覧
  • NF C86-505:1986 半導体デバイス 電子部品の品質評価調整システム フォトダイオード、フォトダイオード配列 ブランク詳細仕様書 CECC 20 005
  • NF C86-815/A3:1983 電子部品ツェナー ダイオードおよび基準電圧ダイオード用のフランス規格 NF C 86-010 および NF C 86-815 (CECC 50 000 および CECC 50 000) の詳細仕様マニュアル

Danish Standards Foundation, ダイオード

  • DS/IEC 747-3:1986 半導体デバイス、ディスクリートデバイス、パート 3: 信号ダイオード (スイッチング ダイオード、ツェナー ダイオードを含む)
  • DS/IEC 747-3-2:1987 半導体デバイス ディスクリートデバイス パート 3: 信号ダイオード (スイッチング ダイオードおよびツェナー ダイオードを含む) セクション 2: ツェナー ダイオードおよび基準電圧ダイオードの詳細仕様は空白 (温度補償された高精度基準ダイオードを除く)
  • DS/IEC 747-3-1:1987 半導体デバイス。 個別のデバイス。 パート 3: 信号 (スイッチを含む) とレギュレーター ダイオード。 サブパート 1: 信号ダイオード、スイッチング ダイオード、および制御可能なアバランシェ ダイオードの空白の詳細仕様
  • DS/IEC 747-2-1:1990 半導体デバイス、ディスクリートデバイス、パート 2: 整流ダイオード、セクション 1: 100A 未満の電流用に指定された環境および筐体を備えた整流ダイオード (アバランシェ整流ダイオードを含む) の詳細仕様は空白です。

Professional Standard - Military and Civilian Products, ダイオード

  • WJ 2100-2004 シリコンフォトダイオード、シリコンアバランシェフォトダイオードの試験方法
  • WJ 2539-1999 サーモダイオード測定器の校正手順
  • WJ 2265-1995 プリアンプ型シリコンアバランシェフォトダイオードの仕様
  • WJ 2506-1998 フォトダイオードダイナミックテスターの校正手順

IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components, ダイオード

  • PQC 105-1992 発光ダイオードアレイの詳細仕様は空白
  • QC 750101-1986 半導体デバイス ディスクリート パート 3: 信号 (スイッチングを含む) およびツェナー ダイオード パート 1 信号ダイオード スイッチング ダイオードおよび制御されたアバランシェ ダイオードの空白の詳細仕様 (IEC 747-3-1 ED 1)
  • PQC 75-1991 空白 半導体デバイスのディスクリートデバイスの詳細仕様 整流ダイオード: 整流ダイオード (アバランシェ整流ダイオードを含む) 環境および筐体定格 100 A を超える
  • QC 750105-1986 半導体装置、ディスクリートデバイス パート 3: 信号 (スイッチを含む) およびツェナーダイオードセクション 温度補償された高精度基準ダイオードを除く、電圧調整ダイオードおよび電圧基準ダイオードのダブルブランク詳細仕様 (IEC)
  • QC 750101/GB 0001 ISSUE 1-1990 プラスチック封止シリコン環境対応型高速スイッチング ダイオード
  • QC 750101/SU 0004-1990 電子部品の環境定格に関する詳細仕様 KD805A テレビ受信機のスイッチング ダイオード (Sw) 回路に指定された半導体ダイオード

ES-UNE, ダイオード

  • UNE-EN 120001:1992 BDS: LED、LED アレイ、内部ロジックと抵抗を使用しない LED ディスプレイ
  • UNE-EN 120005:1992 BDS: フォトダイオード、フォトダイオード アレイ (光ファイバー用途には適していません)。
  • UNE-EN 120002:1992 ブランク 詳細仕様: 赤外線発光ダイオード、赤外線発光ダイオードアレイ
  • UNE-EN 120008:1993 BDS: 光ファイバーシステムまたはサブシステム用の発光ダイオードおよび赤外線発光ダイオード
  • UNE-EN 120006:1992 BDS: 光ファイバー用途向けの PIN フォトダイオード
  • UNE-EN 62979:2017 太陽電池モジュールのバイパスダイオードの熱暴走試験

Professional Standard - Electron, ダイオード

  • SJ 2216-1982 シリコンフォトダイオード
  • SJ/T 11470-2014 LEDエピタキシャルウエハ
  • SJ 1226-1977 2AP9～2AP10型ゲルマニウム検波ダイオード
  • SJ 1229-1977 2AK1～20型ゲルマニウムスイッチングダイオード
  • SJ 2005-1982 マイクロ波ダイオードの寸法
  • SJ/T 2216-2015 シリコンフォトダイオードの技術仕様
  • SJ 1381-1978 実験用ダイオードの構造とプロセス
  • SJ 1805-1981 2CC126 シリコン周波数変調バラクタ ダイオード
  • SJ 1225-1977 2AP11 および 2AP17 ゲルマニウム検出ダイオード
  • SJ 1228-1977 2AP30～2AP31型ゲルマニウム広帯域検波ダイオード
  • SJ 1946-1981 2CN4C、2DN4C、2CN5C、2DN5C シリコン昇圧ダイオード
  • SJ 1947-1981 2CZ33B、2DZ33B シリコン電力整流ダイオード
  • SJ 1227-1977 2AP1～2AP8、2AP21、2AP27タイプゲルマニウム検波ダイオード
  • SJ/T 2354-2015 PIN、アバランシェフォトダイオードのテスト方法
  • SJ/T 2354-2015/0352 PIN、アバランシェフォトダイオードのテスト方法
  • SJ 909-1974 2CW50～149 シリコン半導体ツェナーダイオード
  • SJ 2749-1987 半導体レーザーダイオードの試験方法
  • SJ 2750-1987 半導体レーザーダイオードの寸法
  • SJ 2137-1982 シリコンツェナーダイオードのテスト方法 一般原則
  • SJ/T 11471-2014 発光ダイオードエピタキシャルウェーハの検査方法
  • SJ/T 11394-2009 半導体発光ダイオードの試験方法
  • SJ/T 11397-2009 半導体発光ダイオード用蛍光体
  • SJ 1388-1978 ノイズダイオードのアノードコンダクタンスの試験方法
  • SJ 2218-1982 半導体フォトダイオード型フォトカプラ
  • SJ 20788-2000 半導体ダイオードの熱インピーダンス試験方法
  • SJ 2747-1987 ステップリカバリダイオードブランク詳細仕様
  • SJ/T 11141-2017 発光ダイオード (LED) ディスプレイの一般仕様
  • SJ/T 11281-2017 発光ダイオード (LED) ディスプレイのテスト方法
  • SJ/T 11281-2007 発光ダイオード (LED) ディスプレイのテスト方法
  • SJ 1389-1978 ノイズダイオードの電極間漏れ電流試験方法
  • SJ 2140-1982 シリコンツェナーダイオードの制限電圧試験方法
  • SJ 50033/102-1995 GD218タイプ InGaAs/InP PINフォトダイオード 詳細仕様
  • SJ 1806-1981 2CC110、210、2CC310、410、2CC130 シリコン周波数帯域変換ダイオード
  • SJ 1392-1978 ノイズダイオードスーパーノイズパワーの試験方法
  • SJ 20785-2000 超放射発光ダイオード部品の試験方法
  • SJ 2725-1986 2CZ311型シリコン普通整流ダイオード詳細仕様
  • SJ 2727-1986 2CZ313型シリコン普通整流ダイオード詳細仕様
  • SJ 910-1974 2DW50～202シリコン半導体ツェナーダイオード（仮）
  • SJ/T 11399-2009 半導体発光ダイオードチップの検査方法
  • SJ/T 11401-2009 半導体発光ダイオード製品シリーズのスペクトル
  • SJ 2726-1986 2CZ312型シリコン普通整流ダイオード詳細仕様
  • SJ 2717-1986 2CZ301型シリコン普通整流ダイオード詳細仕様
  • SJ 2139-1982 シリコンツェナーダイオードの動的インピーダンスの試験方法
  • SJ 2722-1986 2CZ306型シリコンブロックスイッチング整流ダイオード詳細仕様
  • SJ 2731-1986 2CZ317型シリコン高速スイッチング整流ダイオード詳細仕様
  • SJ 50033/101-1995 GJ1325 半導体レーザー ダイオード アセンブリ詳細仕様
  • SJ 2724-1986 2CZ308型シリコン高速スイッチング整流ダイオード詳細仕様
  • SJ 2138-1982 シリコン安定化ダイオードの電流安定化試験方法
  • SJ 2141-1982 シリコンツェナーダイオードの耐圧試験方法
  • SJ 2354.5-1983 PIN およびアバランシェフォトダイオード静電容量のテスト方法
  • SJ/T 11396-2009 窒化ガリウム系発光ダイオードサファイア基板
  • SJ 2721-1986 2CZ305型シリコンブロックスイッチング整流ダイオード詳細仕様
  • SJ 2732-1986 2CZ318型シリコン高速スイッチング整流ダイオード詳細仕様
  • SJ 2723-1986 2CZ307型シリコン高速スイッチング整流ダイオード詳細仕様
  • SJ 2729-1986 2CZ315型シリコン中速スイッチング整流ダイオード詳細仕様
  • SJ 2718-1986 2CZ302型シリコン中速スイッチング整流ダイオードの詳細仕様
  • SJ 2354.3-1983 PINおよびアバランシェフォトダイオードの暗電流の試験方法
  • SJ 2354.6-1983 PIN およびアバランシェフォトダイオードの応答性のテスト方法
  • SJ 2354.13-1983 アバランシェフォトダイオード増倍率の試験方法
  • SJ 2214.3-1982 半導体フォトダイオードの暗電流試験方法
  • SJ 2214.5-1982 半導体フォトダイオードの接合容量の試験方法
  • SJ 50033/41-1994 GR9414型半導体赤外線放射ダイオードの詳細仕様
  • SJ 2658.1-1986 半導体赤外発光ダイオードの試験方法 一般原理
  • SJ/T 11398-2009 パワー半導体発光ダイオードチップの技術仕様
  • SJ 2720-1986 2CZ304型シリコン中速スイッチング整流ダイオード詳細仕様
  • SJ 2728-1986 タイプ 2CZ314 シリコン中速スイッチング整流ダイオードの詳細仕様
  • SJ 2730-1986 2CZ316型シリコン中速スイッチング整流ダイオード詳細仕様
  • SJ/T 11880-2022 発光ダイオード製造業界のグリーンファクトリー評価要件
  • SJ 1386-1978 ノイズダイオードとガス放電ノイズ管の試験条件
  • SJ 1230-1977 ゲルマニウム検波ダイオードの高周波整流電流の試験方法
  • SJ 1804-1981 2CC101～104（201～204、301～304、401～404）タイプシリコン同調バラクタダイオード
  • SJ 2354.4-1983 PINとアバランシェフォトダイオードの順方向電圧降下の試験方法
  • SJ 2142-1982 シリコンツェナーダイオードの電流温度係数の試験方法
  • SJ 911-1974 2DW230～236 シリコン面温度補償用ツェナーダイオード（仮）
  • SJ 966-1975 シリコンスイッチングダイオードの逆耐圧試験方法
  • SJ 2214.2-1982 半導体フォトダイオードの順方向電圧降下試験方法
  • SJ 50033/164-2003 半導体ディスクリートデバイス詳細仕様 PIN0002タイプ PINダイオード
  • SJ 50033/165-2003 半導体ディスクリートデバイス詳細仕様 PIN0003タイプ PINダイオード

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., ダイオード

  • IEEE 256-1963 半導体ダイオード
  • IEEE 503-1978 ダイオードタイプのカメラチューブの測定と特性評価のための規格

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, ダイオード

SE-SIS, ダイオード

  • SIS SS-CECC 20001-1991 詳細な仕様については空白です。 内部ロジックや抵抗を持たない発光ダイオード、発光ダイオードアレイ、発光ダイオードディスプレイ
  • SIS SS CECC 20002-1984 詳細な仕様については空白です。 赤外発光ダイオード、赤外発光ダイオードアレイ
  • SIS SS CECC 20005-1988 詳細な仕様については空白です。 フォトダイオード、フォトダイオードアレイ (光ファイバー用途ではありません)
  • SIS SS-CECC 50009-1991 詳細な仕様については空白です。 ケース定格整流ダイオード
  • SIS SS CECC 50001-1981 詳細な仕様については空白です。 汎用半導体ダイオード
  • SIS SS-CECC 50008-1991 詳細な仕様については空白です。 環境定格整流ダイオード
  • SIS SS CECC 20006-1988 詳細な仕様については空白です。 光ファイバー用途向けのPINフォトダイオード

Lithuanian Standards Office , ダイオード

  • LST EN 120001-2001 内部ロジックと抵抗を含まない発光ダイオード、発光ダイオードアレイ、発光ダイオードディスプレイの詳細な仕様は空白です
  • LST EN 120002-2001 赤外発光ダイオード、赤外発光ダイオードアレイの空白の詳細仕様
  • LST EN 120005-2001 フォトダイオード、フォトダイオード アレイの空白の詳細仕様 (光ファイバー用途には適用されません)

U.S. Military Regulations and Norms, ダイオード

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, ダイオード

German Institute for Standardization, ダイオード

  • DIN EN 120005:1996 ブランク 詳細仕様: フォトダイオード、フォトダイオードアレイ (非ファイバー用途)
  • DIN EN 120002:1997-02 ブランク 詳細仕様: 赤外線発光ダイオード、赤外線発光ダイオードアレイ
  • DIN EN 120001:1993-06 空白 詳細仕様: LED、LED アレイ、内部ロジックと抵抗を含まない LED ディスプレイ
  • DIN EN 120002:1997 詳細仕様は空白 赤外発光ダイオードおよび赤外発光ダイオードアレイ
  • DIN EN 120005:1996-11 空白の詳細仕様 - フォトダイオード、フォトダイオード アレイ (光ファイバー用途には適していません)
  • DIN 4000-18:1988-12 半導体ダイオードの製品特性の表レイアウト

TH-TISI, ダイオード

  • TIS 1970-2000 半導体デバイス ディスクリート パート 3: 信号 (スイッチングを含む) およびツェナー ダイオードのセクション 信号ダイオード、スイッチング ダイオード、および制御されたアバランシェ ダイオードの詳細な仕様を 1 ページにまとめたもの
  • TIS 1971-2000 半導体デバイス ディスクリート パート 3: 信号 (スイッチを含む) およびツェナー ダイオード セクション 温度補償された高精度基準ダイオードを除く、ツェナー ダイオードおよび電圧基準ダイオードのダブル ブランク詳細仕様
  • TIS 1596-1999 半導体デバイス、ディスクリートデバイス、パート 2: 整流ダイオード、セクション 2: 100A を超える電流に対する周囲定格およびケース定格の整流ダイオード (アバランシェ整流ダイオードを含む) の詳細な仕様は空白です。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, ダイオード

  • GB/T 6588-2000 半導体デバイスのディスクリート部品パート 3; 信号 (スイッチングを含む) および調整ダイオードパート 1 ブランク信号ダイオード、スイッチング ダイオードおよび制御アバランシェ ダイオードの詳細仕様
  • GB/T 6589-2002 半導体デバイス ディスクリートデバイス パート 3-2; 信号（スイッチを含む）および調整ダイオード 電圧調整ダイオードおよび電圧基準ダイオード（温度補償された高精度基準ダイオードを除く） ブランク 詳細仕様
  • GB/T 15178-1994 バラクタダイオードの詳細仕様は空白
  • GB 51209-2016 発光ダイオードの工場設計仕様
  • GB/T 16894-1997 空白 100 A を超える整流ダイオード (アバランシェ整流ダイオードを含む) の詳細仕様、環境およびケース定格
  • GB/T 6351-1998 半導体デバイス ディスクリート デバイス パート 2、整流ダイオード パート 1 空白 周囲 100A 以下またはケース定格の整流ダイオード (アバランシェ整流ダイオードを含む) の詳細仕様
  • GB/T 15137-1994 ボディエフェクトダイオードブランク詳細仕様
  • GB/T 15649-1995 半導体レーザーダイオードの詳細仕様は空白です
  • GB/T 15177-1994 マイクロ波検出および混合ダイオードの空白の詳細仕様
  • GB/T 23729-2009 シンチレーション検出器用フォトダイオード テスト方法
  • GB/T 36356-2018 パワー半導体発光ダイオードチップの技術仕様
  • GB/T 36357-2018 中出力半導体発光ダイオードチップの技術仕様

RU-GOST R, ダイオード

  • GOST R 54814-2018 一般用途向けの発光ダイオードおよび発光ダイオードモジュール 用語と定義
  • GOST R 54814-2011 一般用途向けの発光ダイオードおよび発光ダイオードモジュール 用語と定義
  • GOST 17465-1980 半導体ダイオード 基本パラメータ
  • GOST R 51106-1997 インジェクションレーザー、レーザーヘッド、レーザーダイオードマトリックス、レーザーダイオード、パラメータの測定方法
  • GOST 28625-1990 半導体デバイス ディスクリートデバイス パート 3. 信号ダイオード (スイッチング ダイオードを含む) および電流および電圧ダイオード レギュレータ セクション 2. 温度補償付き精密ツェナー ダイオードを除くツェナー管および電圧レギュレータ ツェナー ダイオードの仕様フォーム
  • GOST 18986.10-1974 半導体ダイオード、インダクタンスの測定方法
  • GOST 20693-1975 高電圧整流ダイオード 用語と定義
  • GOST 21011.1-1976 高電圧整流ダイオード アノードの測定方法
  • GOST 18986.4-1973 半導体ダイオード、静電容量の決定方法
  • GOST 18986.6-1973 半導体ダイオード、回復電荷の決定方法
  • GOST 18986.24-1983 半導体ダイオードの耐圧測定方法
  • GOST 18986.0-1974 半導体ダイオード、電気パラメータの決定方法、一般原理
  • GOST 23448-1979 半導体赤外線放射ダイオード 基本寸法
  • GOST 18986.5-1973 半導体ダイオード、オフタイムの決定方法
  • GOST 20215-1984 超高周波半導体ダイオード 一般的な技術条件
  • GOST 21011.3-1977 高電圧整流ダイオード フィラメント電流の測定方法
  • GOST 21011.4-1977 高電圧整流ダイオード 耐電圧試験方法
  • GOST 21011.7-1980 高電圧整流ダイオード、放出電流の測定方法
  • GOST 18986.1-1973 半導体ダイオード 逆直流電流の求め方
  • GOST 21011.2-1976 高電圧整流ダイオード。 パルス状アノード電流の測定方法
  • GOST R 56230-2014 一般照明用の発光ダイオード (LED) モジュール 性能要件
  • GOST 18986.14-1985 半導体ダイオード、微分抵抗および動的抵抗の測定方法

Jiangxi Provincial Standard of the People's Republic of China, ダイオード

Professional Standard - Aerospace, ダイオード

  • QJ 1907-1990 PINダイオードスクリーニング仕様
  • QJ 2362-1992 ステップリカバリダイオードのスクリーニング仕様
  • QJ 1299-1987 シリコンマイクロ波混合および検出ダイオードのスクリーニング仕様

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, ダイオード

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), ダイオード

  • JIS C 8152-2:2012 一般照明用白色発光ダイオードの測光 その2：発光ダイオード（LED）モジュールと発光ダイオード（LED）ライトスタータ
  • JIS C 5942:1997 記録および再生用レーザーダイオードの一般規則
  • JIS C 5942:2010 記録および再生用レーザーダイオードの一般規則
  • JIS C 8152-2 AMD 1:2014 一般照明用白色発光ダイオードの測光 その2：発光ダイオード（LED）モジュールと発光ダイオード（LED）ライトスタータ（修正1）
  • JIS C 8152-1:2012 一般照明用白色発光ダイオードの測光 その1：発光ダイオード（LED）のパッケージング
  • JIS C 7031:1993 小信号ダイオードの測定方法
  • JIS C 5940:1997 光ファイバー伝送用レーザーダイオードの一般原理
  • JIS C 5943:1997 記録再生用レーザーダイオードの測定方法
  • JIS C 5950:1997 光ファイバー伝送用発光ダイオードの一般原理
  • JIS C 5990:1997 光ファイバー伝送用フォトダイオードの一般原理
  • JIS C 5943:2010 記録再生用レーザーダイオードの測定方法
  • JIS C 5941:1997 光ファイバー伝送におけるレーザーダイオードの測定方法
  • JIS C 5951:1997 光ファイバー伝送用発光ダイオードの測定方法
  • JIS C 5991:1997 光ファイバ伝送用フォトダイオード測定方法

YU-JUS, ダイオード

International Commission on Illumination (CIE), ダイオード

Professional Standard - Machinery, ダイオード

  • JB/T 7624-2013 整流ダイオードの試験方法
  • JB/T 5186-1991 カメラ用シリコンフォトダイオード
  • JB/T 10875-2008 発光ダイオードの光学性能試験方法
  • JB/T 5837-1991 ZP シリーズ ケース定格整流ダイオード 2000A 以上
  • JB/T 5841-1991 ZHシリーズ 200A以上のチューブシェル英定高電圧整流ダイオード

RO-ASRO, ダイオード

  • STAS 7128/7-1986 半導体装置および集積回路のパラメータ記号。 バラクタおよびミキサ ダイオードの記号
  • STAS 12123/3-1983 半導体デバイスの基準電圧ダイオードおよび電圧調整ダイオードの電気的特性の測定方法
  • STAS 12123/2-1983 スイッチングダイオードなど、半導体デバイス用の小電力信号用ダイオードの電気的特性の測定方法
  • STAS 10228-1984 シリコン整流ダイオード。 一般的な品質技術要件
  • STAS 9368-1973 ゲルマニウム点接触ダイオード。 一般的な品質技術要件

Group Standards of the People's Republic of China, ダイオード

  • T/QDAS 050-2020 ダイオードディフューザーの研究開発手順
  • T/CSA 047-2019 発光ダイオードの熱インピーダンス試験方法
  • T/QGCML 097-2021 ダイオードディフューザーパッケージの技術仕様
  • T/QGCML 030-2020 ダイオードディフューザーの一般的な電気規格
  • T/CIECCPA 003-2019 発光ダイオードのグリーン生産および加工仕様
  • T/CSA 015-2012 有機発光ダイオードの点灯試験方法
  • T/CPIA 0052-2023 太陽光発電モジュール接続箱用モジュールダイオード
  • T/QDAS 070-2021 ダイオードディフューザーボロン拡散液体ソース配合
  • T/COEMA 004LCD-2022 テレビ用有機発光ダイオード (OLED) 偏光板
  • T/ZZB 2332-2021 発光ダイオード用研磨サファイア基板
  • T/CVIA 11-2016 有機発光ダイオード (OLED) TV の測定方法
  • T/QDAS 094-2022 ダイオード GPP トレンチ洗浄用の混合酸配合
  • T/CIECCPA 004-2019 発光ダイオードのグリーン原料調達仕様
  • T/CSTM 01039-2023 ファインピッチ発光ダイオード用基板ガラス
  • T/CVIA 59-2016 有機発光ダイオード (OLED) TV の測定方法
  • T/CEMIA 031-2022 有機ELディスプレイ用ポジ型ゲル現像液
  • T/CSTM 00410-2021 有機発光ダイオード表示装置用基板ガラス
  • T/CSA 014-2012 有機発光ダイオード照明の用語と文字記号
  • T/CPF 0055-2023 UV発光ダイオード光硬化アイロンオフセット印刷インキ
  • T/CVIA 49-2016 有機発光ダイオード表示装置の用語と記号
  • T/CESA 1084-2020 発光ダイオード製造業界のグリーンファクトリー評価要件
  • T/CVIA 10-2016 有機発光ダイオード (OLED) TV の一般的な技術要件
  • T/CVIA 58-2016 有機発光ダイオード (OLED) TV の一般的な技術要件
  • T/CASAS 001-2018 炭化ケイ素ショットキーバリアダイオードの一般技術仕様

Professional Standard - Urban Construction, ダイオード

  • CJ/T 361-2011 水用発光ダイオード (LED) ライトの機能

AIA/NAS - Aerospace Industries Association of America Inc., ダイオード

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, ダイオード

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, ダイオード

  • GJB 3930-2000 赤外発光ダイオードの一般仕様
  • GJB 3519-1999 半導体レーザーダイオードの一般仕様
  • GJB 2146-1994 発光ダイオードソリッドステートディスプレイの一般仕様
  • GJB 2146A-2011 半導体発光ダイオード素子の一般規格
  • GJB 1557A-2021 半導体ディスクリートデバイスのマイクロ波ダイオードの寸法

PT-IPQ, ダイオード

  • NP 3234-2-1987 電子オリジナル。 エレクトロルミネセンスダイオード。 エレクトロルミネッセンスダイオードマトリックス、詳細仕様
  • NP 3234-3-1987 電子オリジナル。 赤外線放射ダイオード。 赤外線発光ダイオードマトリックス、詳細仕様

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, ダイオード

Indonesia Standards, ダイオード

European Standard for Electrical and Electronic Components, ダイオード

CZ-CSN, ダイオード

  • CSN 35 8775-1987 導かれた。 順方向ノイズ測定
  • CSN 35 8736-1964 半導体ダイオード。 電極間静電容量の測定
  • CSN 35 8732-1964 半導体ダイオード。 順電流測定
  • CSN 35 8786-1983 バラクタダイオード。 電気的パラメータの測定方法
  • CSN IEC 747-2-1:1993 半導体装置。 ディスクリート機器。 パート 2: 整流ダイオード セクション 1。 整流ダイオードの詳細仕様は空白 (アバランシェ整流ダイオードを含む、周囲定格およびケース定格は最大 100A)
  • CSN 35 8734-1975 半導体デバイス。 ダイオード。 逆電流測定。
  • CSN 35 8767-1982 半導体ダイオード。 電気的パラメータの測定方法
  • CSN 35 8737-1975 半導体装置。 ダイオード。 微分抵抗の測定
  • CSN 35 8760-1973 半導体。 ツェナーダイオード。 電圧温度係数測定
  • CSN 35 8735-1964 半導体ダイオード。 直流電流および直流電圧の測定
  • CSN 35 8769-1983 半導体ツェナーダイオード。 電気的パラメータの測定方法
  • CSN 35 8768-1983 半導体スイッチングダイオード。 電気的パラメータの測定方法
  • CSN 35 8766-1976 半導体デバイス。 スイッチングダイオード。 順電圧測定
  • CSN 35 8731-1975 半導体装置。 ダイオード。 直流順電圧の測定
  • CSN 35 8763-1973 半導体装置。 ダイオード。 逆耐電圧の測定

United States Navy, ダイオード

Professional Standard - Post and Telecommunication, ダイオード

  • YD/T 835-1996 アバランシェフォトダイオード検出方式
  • YD/T 834-1996 分布帰還型レーザーダイオード検出法
  • YD/T 701-1993 半導体レーザーダイオードの組立て試験方法

Underwriters Laboratories (UL), ダイオード

  • UL 8752-2012 有機発光ダイオード（OLED）ディスプレイパネル
  • UL SUBJECT 8752-2011 有機発光ダイオード（OLED）パネルに関する調査概要
  • UL 1598C-2014 発光ダイオード (LED) スタイルの後付け光源変換キット
  • UL 8750 BULLETIN-2008 照明製品用発光ダイオード光源の調査概要

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, ダイオード

  • GB/T 36613-2018 発光ダイオードチップのスポット試験方法
  • GB/T 36919-2019 有機発光ダイオード照明の用語と文字記号
  • GB/T 38621-2020 発光ダイオードモジュールの熱特性の過渡試験方法

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), ダイオード

邮电部, ダイオード

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, ダイオード

  • EN 120008:1993 空白 詳細仕様: 光ファイバー システムまたはサブシステムで使用する発光ダイオードおよび赤外線発光ダイオード
  • EN 150006:1991 ブランク 詳細仕様: 可変容量ダイオード

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, ダイオード

  • GJB 5905-2006 600A以上のファストリカバリーダイオード仕様

Society of Automotive Engineers (SAE), ダイオード

PL-PKN, ダイオード

(U.S.) Telecommunications Industries Association , ダイオード

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, ダイオード

SAE - SAE International, ダイオード

American National Standards Institute （ANSI), ダイオード

NEMA - National Electrical Manufacturers Association, ダイオード

JP-JARI, ダイオード

  • JRIS R1647-2021 鉄道車両用発光ダイオード（LED）テールライト

TIA - Telecommunications Industry Association, ダイオード

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, ダイオード

  • EN 62979:2017 太陽光発電モジュール - バイパス ダイオード - 熱暴走テスト

Professional Standard - Light Industry, ダイオード

Guizhou Provincial Standard of the People's Republic of China, ダイオード

  • DB52/T 861-2013 タイプ 2CB003 シリコン アバランシェ整流ダイオードの詳細仕様

机械电子工业部, ダイオード

  • JB 5837-1991 ZP シリーズ ケース定格整流ダイオード 2000A 以上

Canadian Standards Association (CSA), ダイオード

Professional Standard - Construction Industry, ダイオード

  • JG/T 467-2014 建物内装用発光ダイオード（LED）照明器具

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, ダイオード

Professional Standard - Automobile, ダイオード

  • QC/T 706-2004 自動車用シリコンアバランシェ整流ダイオードの技術仕様

Illuminating Engineering Society of North America, ダイオード

  • IESNA TM-16-2005 発光ダイオード (LED) 光源とシステムの技術覚書

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, ダイオード

未注明发布机构, ダイオード

  • BS EN 120008:1995(2000) 電子部品の品質評価のための調和システムの仕様 - ブランク 詳細仕様 - 光ファイバー システムまたはサブシステム用の発光ダイオードおよび赤外発光ダイオード

  UVダイオード, UVダイオード, ダイオードアレイ, ダイオードの修正, ダイオードbr, ダイオードCP, ダイオード, バイパスダイオード, ダイオードの品質, ダイオード測定, フォトダイオード, レーザーダイオード, レーザーダイオード, ダイオードのテスト, ダイオードレーザー, ダイオードパラメータ, 高速ダイオード, ダイオードパラメータ, ガラスダイオード, スイッチングダイオード.

 



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