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반도체 테스트

모두 18항목의 반도체 테스트와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 반도체 테스트와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 소프트웨어 개발 및 시스템 문서화, 무기화학, 반도체 개별 장치, 길이 및 각도 측정.

HU-MSZT, 반도체 테스트

• MSZ 700/23.lap-1965 STMicroelectronics, 콜라 테스트
• MSZ 700/36.lap-1961 탄광에서의 반도체 테스트 실험
• MSZ 700/27.lap-1962 STMicroelectronics 테스트 플래시 정의
• MNOSZ 700-8.lap-1955 STMicroelectronics, 탄소 및 황달 테스트
• MSZ 700/26.lap-1961 STMicroelectronics 테스트. 회분 함량을 측정하는 신속한 방법
• MSZ 700/41.lap-1961 STMicroelectronics 테스트. 총 황 함량을 신속하게 결정
• MSZ 700/24.lap-1965 STMicroelectronics 콜라 테스트

Group Standards of the People's Republic of China, 반도체 테스트

• T/SHDSGY 113-2022 RF 프런트엔드 반도체 테스트 소프트웨어
• T/ZACA 041-2022 혼합신호 반도체 소자 테스트 장비
• T/ZZB Q041-2022 혼합신호 반도체 소자 테스트 장비

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 반도체 테스트

• KS M 1804-2008(2018) 반도체 테스트 방법에 사용되는 불산

Danish Standards Foundation, 반도체 테스트

• DS/EN 60191-6-16:2007 반도체 장치의 기계적 표준화 6-16부: BGA, LGA, FBGA 및 FLGA용 반도체 테스트 및 번인 소켓 용어집

German Institute for Standardization, 반도체 테스트

• DIN EN 60191-6-16:2007-11 반도체 장치의 기계적 표준화 6-16부: BGA, LGA, FBGA 및 FLGA용 반도체 테스트 및 번인 소켓 용어집

Defense Logistics Agency, 반도체 테스트

• DLA MIL-STD-750 F-2012 반도체 장치 테스트 방법 표준

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 반도체 테스트

• JJG(电子) 04008-1987 QE1A 이중 베이스 반도체 튜브 테스터 파일럿 교정 절차

Lithuanian Standards Office , 반도체 테스트

• LST EN 60191-6-16-2007 반도체 장치의 기계적 표준화 6-16부: BGA, LGA, FBGA 및 FLGA용 반도체 테스트 및 번인 소켓 용어집(IEC 60191-6-16:2007)

ES-UNE, 반도체 테스트

• UNE-EN 60191-6-16:2007 반도체 장치의 기계적 표준화 6-16부: BGA, LGA, FBGA 및 FLGA용 반도체 테스트 및 번인 소켓 용어집(IEC 60191-6-16:2007)

British Standards Institution (BSI), 반도체 테스트

• 13/30284029 DC BS EN 60191-6-16 반도체 장치의 기계적 표준화 파트 6-16 BGA, LGA, FBGA 및 FLGA용 반도체 테스트 및 번인 소켓 용어집

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