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반도체 테스트 장비

모두 8항목의 반도체 테스트 장비와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 반도체 테스트 장비와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 반도체 개별 장치, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 원자력공학, 분석 화학.

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 반도체 테스트 장비

• JEDEC JESD22-B108A-2003 표면 실장 반도체 장비의 동일 평면성 테스트

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 반도체 테스트 장비

• JJG(电子) 310002-2006 반도체 개별 장치용 DC 매개변수 테스터의 교정 절차
• JJG(电子) 310003-2006 반도체 개별 장치용 정전 용량 매개변수 테스터의 교정 절차

International Electrotechnical Commission (IEC), 반도체 테스트 장비

• IEC 60333:1993 원자력 기기 반도체 하전입자 검출기 테스트 절차

SE-SIS, 반도체 테스트 장비

• SIS SS IEC 333:1986 핵실험 장비. 반도체 하전입자 검출기 테스트 절차

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 반도체 테스트 장비

• GB/T 13974-1992 반도체 튜브 특성 그래픽 계측기 테스트 방법
• GB/T 20726-2006 반도체 검출기 X선 분광기의 일반 원리
• GB/T 11685-2003 반도체 X선 검출기 시스템 및 반도체 X선 에너지 분광계의 측정 방법

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