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irradiación de una sola partícula

irradiación de una sola partícula, Total: 5 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en irradiación de una sola partícula son: Dispositivos semiconductores.

American Society for Testing and Materials (ASTM), irradiación de una sola partícula

• ASTM F1192-11 Guía estándar para la medición de fenómenos de evento único (SEP) inducidos por irradiación de iones pesados de dispositivos semiconductores

ES-UNE, irradiación de una sola partícula

• UNE-EN 60749-44:2016 Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Parte 44: Método de ensayo de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores (Ratificada por AENOR en diciembre de 2016.)
• UNE-EN 300386 V1.5.1:2016 Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Parte 44: Método de ensayo de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores (Ratificada por AENOR en diciembre de 2016.)

German Institute for Standardization, irradiación de una sola partícula

• DIN EN 60749-44:2017-04 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 44: Método de prueba de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores (IEC 60749-44:2016); Versión alemana EN 60749-44:2016

PH-BPS, irradiación de una sola partícula

• PNS IEC 60749-44:2021 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 44: Método de prueba de efecto de evento único (SEE) irradiado con haz de neutrones para dispositivos semiconductores.

Otros:   efecto de radiación de una sola partícula, irradiación de una sola partícula, Guía de prueba de efecto de evento único de iones pesados para dispositivos semiconductores aeroespaciales, rastreo de una sola partícula, rastreo de una sola partícula, partícula única de oro, partícula única, irradiación de una sola partícula, irradiación de partículas, efecto de evento único, Detección de partículas individuales, Trescientas partículas individuales por día.