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iec60749 23

모두 8항목의 iec60749 23와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 iec60749 23와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 반도체 개별 장치.

International Electrotechnical Commission (IEC), iec60749 23

• IEC 60749-23:2011 반도체 장치 기계 및 기후 테스트 방법 파트 23: 고온에서의 작동 수명
• IEC 60749-23:2004 반도체 장치 기계 및 기후 테스트 방법 파트 23: 고온 작동 수명
• IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 반도체 장치 기계 및 기후 테스트 방법 파트 23: 고온 작동 수명
• IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV 반도체 장치 기계 및 기후 테스트 방법 파트 23: 고온 작동 수명

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), iec60749 23

• KS C IEC 60749-23:2006 반도체 장치 기계 및 기후 테스트 방법 파트 23: 고온 작동 수명
• KS C IEC 60749-23:2021 반도체 장치 기계 및 기후 테스트 방법 파트 23: 고온 작동 수명
• KS C IEC 60749-23-2006(2016) 반도체 장치의 기계적 및 기후적 테스트 방법 - 파트 23: 고온 작동 수명

KR-KS, iec60749 23

• KS C IEC 60749-23-2021 반도체 장치 기계 및 기후 테스트 방법 파트 23: 고온 작동 수명

기타:   IEC60749, iec60749 26, ISO 23, iec60749 12, iec60749 23, iso23, IEC 60749 23, iec61851-23-23, h23+, 온도iec60749, iec60749 25, AS23, IEC607496, 23차, GB/23, 칼륨 23, 환적 23, 아쉬래 23, TSG 23, GBT 23.