iec60749 23

本专题涉及iec60749 23的标准有12条。

国际标准分类中，iec60749 23涉及到半导体分立器件。

在中国标准分类中，iec60749 23涉及到半导体分立器件综合。

，关于iec60749 23的标准

• KS C IEC 60749-23-2021 半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温工作寿命
• KS C IEC 60749-23-2006(2016) 半导体器件机械和气候试验方法第23部分:高温工作寿命

德国标准化学会，关于iec60749 23的标准

• DIN EN 60749-23-2011 半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温寿命周期(IEC 60749-23-2004 + A1-2011).德文版本EN 60749-23-2004 + A1-2011

国际电工委员会，关于iec60749 23的标准

• IEC 60749-23:2004+AMD1:2011 CSV 半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温工作寿命
• IEC 60749-23 Edition 1.1-2011 半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温下的工作寿命
• IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 修改件1.半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温工作寿命
• IEC 60749-23 AMD 1-2011 半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温寿命周期
• IEC 60749-23:2004 半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第23部分:高温工作寿命
• IEC 60749-23-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温操作寿命

韩国标准，关于iec60749 23的标准

• KS C IEC 60749-23-2006 半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温操作寿命

欧洲电工标准化委员会，关于iec60749 23的标准

• EN 60749-23-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温操作寿命 IEC 60749-23-2004

未注明发布机构，关于iec60749 23的标准

• IEC 60749-23-2011 IEC 60749-23-2011

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