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IEC 60749 23

모두 6항목의 IEC 60749 23와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 IEC 60749 23와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 반도체 개별 장치.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, IEC 60749 23

• EN 60749-23:2004 반도체 장치 기계 및 기후 테스트 방법 파트 23: 고온 작동 수명 IEC 60749-23-2004

Lithuanian Standards Office , IEC 60749 23

• LST EN 60749-23-2004 반도체 장치의 기계적 및 기후적 테스트 방법 파트 23: 고온 작동 수명(IEC 60749-23:2004)
• LST EN 60749-23-2004/A1-2011 반도체 장치의 기계적 및 기후적 테스트 방법 파트 23: 고온 작동 수명(IEC 60749-23:2004/A1:2011)

German Institute for Standardization, IEC 60749 23

• DIN EN 60749-23:2011 반도체 장치 기계 및 기후 테스트 방법 파트 23: 고온 수명 주기(IEC 60749-23-2004 + A1-2011) 독일어 버전 EN 60749-23-2004 + A1-2011

International Electrotechnical Commission (IEC), IEC 60749 23

• IEC 60749-23:2011 반도체 장치 기계 및 기후 테스트 방법 파트 23: 고온에서의 작동 수명
• IEC 60749-23:2004 반도체 장치 기계 및 기후 테스트 방법 파트 23: 고온 작동 수명

기타:   IEC60749, IEC 60749, IEC 61851 23, IEC+60749, IEC 60749 26, iec23, iec60749+, IEC 60749-23, +++++iec 60749, IEC 60749-20, IEC+60749-20, iec60749 23, IEC 60749 23, iec61851-23-23, IEC60749-23, IEC+60749+, IEC 60749 10, IEC-60749, IEC 60749 12, IEC 60749-23-2004.