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실리카 질량 분석법

모두 11항목의 실리카 질량 분석법와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 실리카 질량 분석법와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 광학 및 광학 측정, 분석 화학, 유기화학, 반도체 소재.


Group Standards of the People's Republic of China, 실리카 질량 분석법

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 실리카 질량 분석법

  • GB/T 40109-2021 표면 화학 분석 실리콘 내 붕소의 깊이 프로파일링을 위한 2차 이온 질량 분석 방법

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 실리카 질량 분석법

  • JIS K 0164:2023 실리콘 내 붕소의 깊이 분석을 위한 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석 방법

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 실리카 질량 분석법

  • GB/T 32495-2016 실리콘 내 비소에 대한 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 깊이 프로파일링 방법
  • GB/T 24582-2009 산성 침출 유도 결합 플라즈마 질량 분석기를 사용하여 다결정 실리콘 표면의 금속 불순물을 측정합니다.

International Organization for Standardization (ISO), 실리카 질량 분석법

  • ISO 17560:2014 표면 화학 분석 - 2차 이온 질량 분석법 - 실리콘 내 실리콘의 심층 분석 방법
  • ISO 12406:2010 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 실리콘 내 비소의 깊이 프로파일링

Professional Standard - Chemical Industry, 실리카 질량 분석법

  • HG/T 6153-2023 가스 크로마토그래피 질량 분석법을 통한 메틸클로로실란 내 에틸디클로로실란 측정

KR-KS, 실리카 질량 분석법

  • KS D ISO 17560-2003(2023) 실리콘의 표면화학 분석 - 2차 이온 질량 분석 - 붕소 깊이 분포 측정 현장 방법

工业和信息化部, 실리카 질량 분석법

  • YS/T 1300-2019 가스 크로마토그래피 질량 분석법을 통한 클로로실란 내 메틸디클로로실란, 트리메틸클로로실란 및 메틸트리클로로실란 측정

British Standards Institution (BSI), 실리카 질량 분석법

  • BS ISO 12406:2010 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석법 실리콘 내 비소의 깊이 프로파일링




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