이온 스퍼터링 기기 사용 방법

모두 37항목의 이온 스퍼터링 기기 사용 방법와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 이온 스퍼터링 기기 사용 방법와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 진공 기술, 분석 화학, 반도체 소재, 방사선 측정, 어휘, 길이 및 각도 측정, 쓰레기, 비철금속, 건축 자재, 원자력공학, 종합 전자 부품.

Professional Standard - Electron, 이온 스퍼터링 기기 사용 방법

SJ 1781-1981 스퍼터 이온 펌프 - 테스트 방법

Professional Standard - Machinery, 이온 스퍼터링 기기 사용 방법

JB/T 2965-1992 스퍼터 이온펌프 성능 시험 방법

British Standards Institution (BSI), 이온 스퍼터링 기기 사용 방법

BS ISO 17109:2015 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법, 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 프로파일링에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
BS ISO 17109:2022 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 및 다층 필름의 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법...
21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 표면 화학 분석의 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 이온 질량 분석법을 사용하는 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도 결정 방법...
PD ISO/TR 22335:2007 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 스퍼터링 속도 측정 기계식 스타일러스 프로파일로미터를 이용한 그리드 복제 방법
BS IEC 60692:1999 전리방사선을 활용한 원자력 계측기의 밀도계 정의 및 테스트 방법
BS IEC 60692:2000 핵 계측 방법 전리 방사선을 사용하는 농도계 정의 및 테스트 방법
BS ISO 22415:2019 표면 화학 분석 2차 이온 질량 분석 분석 유기 물질의 아르곤 클러스터 스퍼터링 깊이 프로파일링의 수율 결정 방법
BS IEC 61336:1996 원자력 계측용 전리방사선을 활용한 두께 측정 시스템의 정의 및 시험 방법

International Organization for Standardization (ISO), 이온 스퍼터링 기기 사용 방법

ISO 17109:2015 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법, 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 프로파일링에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
ISO 22415:2019 표면 화학 분석, 2차 이온 질량 분석법, 유기 물질의 아르곤 클러스터 스퍼터링 깊이 프로파일을 통한 수율량 결정 방법.
ISO/TR 22335:2007 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 스퍼터링 속도 측정: 기계식 광학 스타일러스 프로파일로미터를 사용한 메쉬 복제 방법.
ISO 17109:2022 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.

American Society for Testing and Materials (ASTM), 이온 스퍼터링 기기 사용 방법

ASTM E1438-91(2001) 2차 이온 질량 분석기(SIMS)를 사용하여 스퍼터링 깊이 형성 계면의 폭 측정
ASTM E1438-91(1996) 2차 이온 질량 분석기(SIMS)를 사용하여 스퍼터링 깊이 형성 계면의 폭 측정
ASTM C110-08 유도결합플라즈마-원자방출분광법을 이용한 핵폐기물 침출수 분석 시험방법
ASTM C110-09 유도결합플라즈마-원자방출분광법을 이용한 핵폐기물 침출수 분석 시험방법
ASTM C1109-98 유도결합플라즈마-원자방출분광법을 이용한 핵폐기물 침출수 분석 시험방법
ASTM E1552-08 직류 플라즈마 원자 방출 분광법을 사용하여 지르코늄 및 지르코늄 합금에서 하프늄을 측정하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM C1109-10(2015) 유도결합플라즈마-원자방출분광법을 이용한 핵폐기물 침출수 분석 시험방법
ASTM D5542-94(1999)e1 이온 크로마토그래피를 사용한 고순도 물의 미량 음이온 측정을 위한 표준 테스트 방법
ASTM F1467-99(2005)e1 마이크로 전자 장치에 대한 이온화 방사선의 영향을 테스트할 때 X선 테스터(대략 10keV 방사선 양자와 동일) 사용에 대한 표준 가이드
ASTM UOP407-09 건식회화법을 이용한 유기물 내 미량 금속 측정 유도 결합 플라즈마 광방출 분광계(ICP-OES)
ASTM E1097-12 직류 플라즈마 원자방출분광법을 이용한 다양한 원소 측정을 위한 표준 가이드
ASTM F1467-11 반도체 장치 및 집적 회로용 전리 방사선 효과 X선 테스터 사용에 대한 표준 가이드(10keV 광자 수량)

International Electrotechnical Commission (IEC), 이온 스퍼터링 기기 사용 방법

IEC 60181:1964 전리방사선 관련 전기측정기기 색인
IEC 60181/AMD1:1967 전리방사선 관련 전기측정기기 색인 1차 개정
IEC 61151:1992 전리 방사선 검출기를 사용한 핵 계측용 증폭기 및 전치 증폭기 테스트 절차
IEC 60692:1999 전리방사선을 활용한 핵기기의 농도계 정의 및 시험방법

German Institute for Standardization, 이온 스퍼터링 기기 사용 방법

DIN IEC 61336:1999 핵 측정 장비, 전리 방사선을 이용한 두께 측정 시스템, 정의 및 테스트 방법
DIN IEC 61336:1999-05 원자력 계측용 전리방사선을 활용한 두께 측정 시스템의 정의 및 시험 방법

Association Francaise de Normalisation, 이온 스퍼터링 기기 사용 방법

FD X21-063*FD ISO/TR 22335:2008 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 스퍼터링 속도 측정: 기계식 스타일러스 프로파일로미터를 사용한 그리드 복제 방법
FD ISO/TR 22335:2008 표면 화학 분석 깊이 분석 스퍼터링 속도 측정: 기계식 스타일러스가 있는 프로파일로미터를 사용한 그리드 임프린트에 의한 방법

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 이온 스퍼터링 기기 사용 방법

KS F 2587-2010(2020) 염화물 이온 선택성 전극법을 이용한 신선한 콘크리트의 염화물 이온에 대한 표준 테스트 방법

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 이온 스퍼터링 기기 사용 방법

GB/T 41064-2021 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 단층 및 다층 필름을 사용하는 X선 광전자 분광법, 오제 전자 분광법 및 2차 이온 질량 분석법에서 깊이 프로파일링 스퍼터링 속도를 결정하는 방법

未注明发布机构, 이온 스퍼터링 기기 사용 방법

BS IEC 61336:1996(1999) 원자력 계측 - 전리 방사선을 활용한 두께 측정 시스템 - 정의 및 테스트 방법