단결정 X선 분석

모두 500항목의 단결정 X선 분석와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 단결정 X선 분석와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 기르다, 금속 재료 테스트, 무기화학, 분석 화학, 물리학, 화학, 반도체 소재, 입자 크기 분석, 스크리닝, 검은 금속, 세라믹, 비철금속, 어휘, 광학 및 광학 측정, 내화물, 원자력공학, 건축 자재, 비파괴 검사, 공기질, 방사선 측정, 발전소 종합, 페인트 성분, 철강 제품, 화학 제품, 방사선방호, 전자관, 금속 광석, 산업안전, 산업위생, 합금철, 비철금속 제품, 토공, 굴착, 기초 공사, 지하 공사, 광학 장비, 비금속 광물, 의료 장비, 실험실 의학, 수질, 의료 과학 및 의료 기기 통합, 석유제품 종합, 석탄, 소방, 연료, 사진 기술, 길이 및 각도 측정, 고무 및 플라스틱 산업의 생산 공정, 쓰레기, 윤활유, 산업용 오일 및 관련 제품, 석유, 석유 제품, 천연가스 저장 및 운송 장비, 표면 처리 및 도금, 금속 부식.

Professional Standard - Education, 단결정 X선 분석

JY/T 0588-2020 단결정 X선 회절분석기를 이용한 저분자 화합물의 결정 및 분자 구조 분석을 위한 일반 원리
JY/T 008-1996 4원 단결정 X선 회절계를 사용하여 소분자 화합물의 결정 및 분자 구조 분석을 위한 일반 원리.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 단결정 X선 분석

GB/T 42676-2023 반도체 단결정 품질검사 X선 회절법
GB/T 30904-2014 무기화학제품의 결정구조 분석을 위한 X선 회절법
GB/T 32188-2015 질화갈륨 단결정 기판의 X선 쌍결정 로킹 커브의 반치폭 시험 방법
GB/T 19140-2003 시멘트의 X선 형광 분석을 위한 일반 원리
GB/T 19421.1-2003 층상 결정질 이규산나트륨의 시험 방법 델타상 층상 결정질 이규산나트륨의 정성 분석 X선 회절법
GB/T 42360-2023 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분광 분석
GB/T 13710-1992 분석용 X선관 블랭크 상세 사양
GB 16355-1996 X선 회절계 및 형광 분석기의 방사선 방호 표준
GB/T 30704-2014 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
GB/T 19500-2004 X선 광전자 분광학 분석 방법의 일반 원리
GB/T 16597-1996 야금제품 분석을 위한 X선 형광 분광법의 일반 원리
GB/T 17362-2008 금제품의 주사전자현미경 및 X선 에너지분광법 분석방법
GB/T 17362-1998 금 장신구의 주사전자현미경 및 X선 에너지 분광법 분석방법
GB/Z 42520-2023 철광석 X선 형광 분광법 실험실 운영 가이드
GB/T 18873-2002 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
GB/T 18873-2008 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
GB/T 17359-1998 전자탐침과 주사전자현미경을 이용한 X선 에너지 분광법의 정량분석 일반원리
GB/T 29513-2013 주조 유리판법을 이용한 철 함유 먼지 슬러지의 X선 형광 분광화학 분석
GB/T 21114-2007 내화물의 X선 형광 분광화학 분석 - 주조 유리판법
GB/Z 32490-2016 표면 화학 분석을 위해 X선 광전자 분광법을 사용한 배경 측정 절차
GB/T 17507-2008 생물학적 얇은 표준의 투과전자현미경 및 X선 에너지 분광학 분석을 위한 일반 기술 조건
GB/T 22571-2008 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 척도 교정
GB/T 20726-2015 마이크로빔 분석 전자탐침 미세분석 X선 에너지 분광기의 주요 성능변수 및 검증방법
GB/T 17507-1998 생물학적 얇은 표준시료의 전자현미경 및 X선 에너지 분광학 분석을 위한 일반 기술 조건
GB/T 17416.2-1998 지르코늄 광석의 화학적 분석 방법 X-선 형광 분광법을 통한 지르코늄 함량 및 하프늄 함량 측정.
GB/T 43610-2023 마이크로빔 분석과 전자현미경을 이용하여 선형 결정의 겉보기 성장 방향을 결정하는 투과전자현미경 방법
GB/T 21006-2007 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
GB/T 28892-2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수의 표현
GB/T 28633-2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 강도 척도의 반복성과 일관성
GB/T 14849.5-2010 산업용 실리콘의 화학적 분석 방법 5부: 원소 함량 측정 X선 형광 분광법
GB/T 28632-2012 표면 화학 분석오거 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법측면 분해능 결정
GB/T 14506.28-1993 규산염 암석의 화학적 분석 방법 X-선 형광 분광법을 통한 주원소 및 부원소 측정.

PT-IPQ, 단결정 X선 분석

E E 14-1971 X선 회절 분석

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 단결정 X선 분석

JJF 1256-2010 X선 단결정 배향 장비의 교정 사양
JJF 1133-2005 X선 형광 분광법 금 함량 분석기의 교정 사양

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 단결정 X선 분석

KS M 0043-2009 X선 회절 분석
KS M 0043-2009(2019) X선 회절 분석의 일반 규칙
KS M 0017-2010 X선 형광 분석의 일반 원리
KS E 3076-2002 원패스 실리카 및 실리카의 X선 형광 분석
KS L 5222-2009 시멘트의 형광X선 분석방법
KS D 1898-1993 구리합금 형광X선 분석방법
KS D 1654-1993 강철의 X선 형광 분광학 분석에 대한 일반 규칙
KS D 1654-2003(2016) 강철의 X선 형광 분광학 분석에 대한 일반 규칙
KS D 2710-2019 페로니오븀의 X선 형광 분광법
KS E 3045-2002(2007) 철광석의 X선 형광 분석 방법
KS D 1655-1993 철강의 X선 형광분광분석법
KS M 0017-1995 X선 형광 분광 분석에 대한 일반 규칙
KS D 1898-2019 구리 합금의 X선 형광 분광 분석
KS L 3316-2014 내화제품의 X선 형광분광법 분석방법
KS D 1686-2011(2021) 철합금의 X선 형광분광분석법
KS L 3316-2014(2019) 내화제품의 X선 형광분광법 분석방법
KS L 3316-1998 내화제품의 X선 형광분광법 분석방법
KS L 3316-1988 내화제품의 X선 형광분광법 분석방법
KS M 1068-2005 형광X-ray 분석을 이용한 유해물질의 정성/정량분석
KS L 5222-2009(2019) X선 형광을 이용한 시멘트의 화학적 분석 방법
KS D ISO 14706-2003(2018) 표면 화학 분석 - 전반사 X선 형광 분석기는 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 불순물을 측정합니다.
KS E 3076-2017 규사와 규사의 X선 형광분광분석법
KS E 3076-2022 규사와 규사의 X선 형광분광분석법
KS D 2597-1996(2021) 지르코늄 및 지르코늄 합금에 대한 X선 형광 분광학 분석 방법
KS L 3316-2009 내화 벽돌 및 내화 모르타르의 X선 형광 분광법
KS E 3075-2002 석회석 및 백운석의 X선 형광 분광법 분석 방법
KS D 1655-2008(2019) 철강의 X선 형광분광분석법
KS E 3075-2017 석회석 및 백운석의 X선 형광분광분석법
KS D 1686-2011(2016) 철합금의 X선 형광분광법 분석방법
KS E 3075-2022 석회석 및 백운석의 X선 형광분광분석법
KS D ISO 15472-2003(2018) 표면 화학 분석-X선 광전자 분광계-에너지 규모 보정
KS D ISO 15472:2003 표면 화학 분석.X선 광전 분광계.에너지 규모 교정
KS D 2597-1996(2016) 지르코늄 및 지르코늄 합금의 X선 형광 분광법 분석 방법
KS D ISO 15470-2005(2020) 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광계의 일부 성능 매개변수에 대한 설명
KS L ISO 21587-2:2012 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 습식 화학 분석
KS M ISO 14597:2003 액체 연료 검사, 바나듐 및 니켈 함량 측정, X선 형광 분석
KS D ISO 17054:2018 X선 형광 분광법(XRF)을 이용한 고합금강 분석의 기존 방법
KS E ISO 10086-2:2007 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 습식 화학 분석
KS D ISO 22489:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
KS D ISO 22489:2018 마이크로빔 분석 - 전자탐침 미세분석 - 파장 분산형 X선 분광법을 이용한 벌크 시료의 정량적 점 분석
KS L ISO 21587-2-2012(2017) 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(X선 형광의 대안) 파트 2: 습식 화학적 분석
KS D ISO 14706:2003 표면 화학 분석 전반사 X선 형광 분광법을 이용한 실리콘 웨이퍼 표면의 주요 오염물질 측정
KS L ISO 10058-2:2012 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
KS L ISO 20565-2-2012(2022) 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광법 대신) 2부: 습식 화학 분석
KS L ISO 10058-2-2012(2022) 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(X선 형광법 대신) 파트 2: 습식 화학 분석
KS L ISO 21587-2-2012(2022) 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광의 대안) 파트 2: 습식 화학 분석
KS D ISO 21270:2005 표면 화학 분석X선 광전자 분광계 및 오제 전자 분광계강도 규모의 선형성
KS M ISO 12980-2004(2009) 원료 코크스 및 소성 코크스의 X선 형광법을 이용한 알루미늄 생산용 탄소재료 전극 분석
KS D ISO 19319-2005(2020) 표면 화학 분석 - 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 - 분석기 측면 해상도, 분석 영역 및 샘플 영역 결정
KS D ISO 21270-2005(2020) 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모의 선형성
KS D ISO 15632:2012 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산형 X선 분광계에 대한 기기 사양
KS D ISO 15470:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
KS L ISO 20565-2-2012(2017) 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광 대체) 파트 2: 습식 화학 분석
KS L ISO 10058-2-2012(2017) 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(X선 형광의 대안) 파트 2: 습식 화학 분석
KS D ISO 19318-2005(2020) 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 전하 제어 및 전하 보정 방법 보고서

Professional Standard - Aviation, 단결정 X선 분석

HB 6742-1993 X선 후면 조명 Laue 사진을 통한 단결정 블레이드의 결정 방향 결정

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 단결정 X선 분석

GB/T 39123-2020 X선 및 감마선 검출기에 사용되는 단결정 카드뮴 아연 텔루라이드 재료 사양
GB/T 36923-2018 진주분말 식별법 X선 회절분석
GB/T 40407-2021 포틀랜드 시멘트 클링커의 광물상의 X선 회절분석법
GB/T 36401-2018 표면화학분석 X선 광전자분광법 박막분석 결과 보고
GB/T 16597-2019 야금제품 분석을 위한 X선 형광 분광법의 일반 원리
GB/T 21114-2019 내화물의 X선 형광 분광화학 분석을 위한 주조 유리 시트 방법
GB/T 40110-2021 표면 화학 분석 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염에 대한 TXRF(전반사 X선 형광 분광법) 측정
GB/T 41064-2021 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 단층 및 다층 필름을 사용하는 X선 광전자 분광법, 오제 전자 분광법 및 2차 이온 질량 분석법에서 깊이 프로파일링 스퍼터링 속도를 결정하는 방법

Group Standards of the People's Republic of China, 단결정 X선 분석

T/IAWBS 017-2022 다이아몬드 단결정 X선 이중결정 요동곡선의 반치폭 시험방법
T/IAWBS 015-2021 산화갈륨 단결정 웨이퍼의 X선 쌍요동곡선의 반치폭 시험방법
T/IAWBS 016-2022 탄화규소 단결정 웨이퍼의 X선 트윈 로킹 곡선의 반높이 폭 시험 방법
T/CSTM 01102-2023-2023 마이크로빔 X선 형광 분광법을 이용한 용접 조인트 부품의 현장 통계 분포 분석
T/CSTM 01199-2024 다층 금속박막층 구조 측정 및 분석 방법 X선 광전자 분광법
T/IMPCA 0001-2021 화학공업설비의 철강 및 제품에 함유된 합금원소의 X선 형광분광분석법
T/NAIA 0128-2022 원소 함량을 측정하기 위한 수산화알루미늄 X선 형광 분광법(정제 압착) 방법의 신속한 측정

KR-KS, 단결정 X선 분석

KS D ISO 14706-2003(2023) 표면 화학 분석 - 전반사 X선 형광 분석기는 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 불순물을 측정합니다.
KS D 1655-2008(2019)(英文版) 철강의 X선 형광분석방법
KS D ISO 17054-2018 X선 형광 분광법(XRF)을 이용한 고합금강 분석의 기존 방법
KS D ISO 15472-2003(2023) 표면화학분석-X선 광전자분광기-에너지 규모 교정
KS D ISO 22489-2018 마이크로빔 분석 - 전자탐침 미세분석 - 파장 분산형 X선 분광법을 이용한 벌크 시료의 정량적 점 분석
KS D ISO 22489-2018(2023) 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
KS D ISO 17054-2018(2023) 근거리장 기술을 사용하는 X선 형광 분광법(XRF)을 사용하여 고합금강을 분석하는 기존 방법

British Standards Institution (BSI), 단결정 X선 분석

BS ISO 17867:2015 입자 크기 분석 소각 X선 산란
BS ISO 22278:2020 파인세라믹(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 평행 X선빔 X선 회절법을 이용한 단결정박막(웨이퍼)의 결정질 결정시험방법
BS ISO 17867:2020 입자 크기 분석 소각 X선 산란(SAXS)
DD ISO/TS 13762:2001 입자 크기 분석 소각 X선 산란
BS DD ISO/TS 13762:2002 입자 크기 분석 소각 X선 산란법
BS ISO 20289:2018 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분석
20/30360821 DC BS ISO 22278 파인 세라믹스(첨단 세라믹, 첨단 기술 세라믹) 평행 X선 빔 X선 회절 방법을 사용하여 단결정 박막(웨이퍼)의 결정 품질을 결정하는 테스트 방법
BS ISO 13424:2013 표면 화학 분석.X선 분광학.박막 분석 보고서
BS ISO 10810:2019 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
BS ISO 10810:2010 표면 화학 분석, X선 광전자 분광학, 분석 가이드
BS ISO 16258-2:2015 작업장 공기 X선 회절을 이용한 호흡성 석영 분석 간접 분석 방법
BS ISO 16129:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
PD ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에서의 전반사 X선 형광 분광학 응용
BS ISO 18554:2016 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광법으로 분석한 X선 물질의 예상치 못한 분해를 식별, 평가 및 수정하기 위한 절차입니다.
BS ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
BS ISO 29581-2:2010 시멘트 시험방법 X선 형광법에 의한 화학적 분석
BS EN 15305:2008 비파괴 시험 X선 회절을 이용한 잔류 응력 분석 시험 방법
BS PD ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에 전반사 X선 형광 분광법 활용
BS EN ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화제품의 화학적 분석(X선 형광법 선택사항) 습식 화학적 분석
BS ISO 15472:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 수준 교정
BS ISO 16258-1:2015 작업장 공기 X선 회절을 이용한 호흡성 석영 분석 직접 여과법
BS ISO 17470:2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 정성적 점 분석 안내
BS ISO 17109:2022 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 및 다층 필름의 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법...
21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 표면 화학 분석의 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 이온 질량 분석법을 사용하는 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도 결정 방법...
PD ISO/TR 12389:2009 시멘트 테스트 방법 테스트 계획 보고서 X선 형광 화학 분석
BS ISO 14701:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 산화규소 두께 측정
BS EN ISO 10058-2:2009 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 습식 화학 분석
BS EN ISO 10058-2:2008 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 습식 화학 분석
DD ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
BS ISO 14701:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 실리카 두께 측정
BS ISO 21270:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 및 오제 전자 분광계 강도 척도의 선형성
BS ISO 17109:2015 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법, 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 프로파일링에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
BS ISO 16243:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
BS ISO 22489:2007 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
BS ISO 22489:2016 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
BS ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
BS ISO 15470:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
BS ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
BS 1902-9.1:1987 내화물 시험 방법 제9부: 화학 분석법 제1부: 규산알루미늄 내화물의 X선 형광 분석 방법
BS EN 10315:2006 인접 기술을 사용하는 X선 형광 분광법(XRF)을 사용하여 고합금강을 분석하는 기존 방법

International Organization for Standardization (ISO), 단결정 X선 분석

ISO 17867:2015 입자 크기 분석 소각 X선 산란
ISO 22278:2020 파인 세라믹스(첨단 세라믹 및 첨단 산업용 세라믹) 평행 X선 빔 X선 회절법에 의한 단결정 박막(웨이퍼)의 결정 품질 측정 시험 방법
ISO/TS 13762:2001 입자 크기 분석 소각 X선 스퍼터링 방법
ISO 17867:2020 입자 크기 분석 SAXS(소각 X선 산란)
ISO 20289:2018 표면 화학 분석 - 물의 전반사 X선 형광 분석
ISO/CD 5861 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 석영 결정 단색 Al Ka XPS 장비 강도 교정 방법
ISO/DIS 5861:2023 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 수정 결정 단색 Al Kα XPS 기기 강도 교정 방법
ISO 16258-2:2015 작업장 공기 X선 회절을 통한 호흡성 결정질 실리카 분석 2부: 간접 분석 방법
ISO 10810:2019 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 분석 가이드
ISO 10810:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
ISO 14706:2000 표면 화학 분석 TXRF(전반사 X선 형광) 측정을 사용한 실리콘 웨이퍼의 기본 표면 오염 확인
ISO 14706:2014 표면 화학 분석 TXRF(전반사 X선 형광) 측정을 사용한 실리콘 웨이퍼의 기본 표면 오염 확인
ISO 16258-1:2015 작업장 공기 X-선 회절을 통한 호흡성 결정질 실리카 분석 1부: 직접 여과 방법
ISO 16129:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하는 방법
ISO 13424:2013 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법, 박막 분석 결과 보고
ISO 18554:2016 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광법으로 분석한 X선 물질의 예상치 못한 분해를 식별, 평가 및 수정하기 위한 절차입니다.
ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에 전반사 X선 형광 분광법 활용
ISO 17470:2004 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 질량점 분석 안내
ISO/TS 10798:2011 나노기술 주사전자현미경과 X선 에너지 분광학을 이용한 단일암 탄소나노튜브의 특성 규명.
ISO 15472:2010 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
ISO 15472:2001 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 스케일 교정
ISO 29581-2:2010 시멘트 시험 방법 2부: X선 형광법에 의한 화학적 분석
ISO 17470:2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 정성적 점 분석 안내
ISO/TR 18392:2005 표면 화학 분석X선 광전자 분광법배경 결정 절차
ISO/CD TR 18392:2023 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 배경 측정 절차
ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 습식 화학 분석
ISO 14701:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법 - 산화규소 두께 측정
ISO 12677:2011 X선 형광(XRF)을 이용한 내화물의 화학적 분석 캐스트 비드법
ISO 22489:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
ISO 22489:2016 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
ISO 14701:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 이산화규소 두께 측정
ISO 17109:2015 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법, 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 프로파일링에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
ISO/TR 12389:2009 시멘트 시험방법, 형광X선을 이용한 화학분석 시험절차 보고
ISO 12980:2000 알루미늄 생산에 사용되는 탄소재료 전극용 생코크스 및 소성코크스의 X선 형광분석
ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 기기 성능 매개변수 설명
ISO 16243:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
ISO 10058-2:2008 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
ISO/CD 19214:2023 마이크로빔 분석, 분석전자현미경 및 투과전자현미경을 사용하여 선형 결정의 겉보기 성장 방향을 결정하는 방법.
ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 척도의 선형성
ISO 17054:2010 X선 형광 분광법(XRF) 근사 기법을 사용하여 고합금강을 분석하는 기존 방법
ISO 15632:2021 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산 X선 분광계에 대한 기기 사양
ISO 15632:2012 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산 X선 분광계에 대한 기기 사양
ISO 15632:2002 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산형 X선 분광계에 대한 기기 사양
ISO 15470:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
ISO 24237:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 반복성 및 강도 안정성

RU-GOST R, 단결정 X선 분석

GOST 28033-1989 Steel.X-ray 형광 분석 방법
GOST R 55410-2013 내화물 X선 형광(XRF) 분석
GOST R 55080-2012 주철.X선 형광 분광법(XRF) 분석 방법
GOST R ISO 16258-1-2017 X선 회절을 이용한 작업장 공기의 호흡성 결정질 실리카 분석 1부. 직접 여과법
GOST 16865-1979 X선 구조 및 분광 분석 장치 - 용어 및 정의
GOST 19647-1974 X선 측정 분석을 위한 방법 및 장비 용어 및 정의

工业和信息化部, 단결정 X선 분석

YS/T 1178-2017 알루미늄 슬래그 상 분석 X선 회절법
YB/T 172-2020 X-선 회절법을 이용한 실리카 벽돌의 정량적 상 분석
YS/T 1344.3-2020 주석 도핑된 산화인듐 분말의 화학적 분석 방법 제3부: 상 분석 X선 회절 분석 방법
YS/T 1160-2016 산업용 실리콘 분말의 정량상 분석 실리카 함량 결정 X선 회절 K 값 방법
YS/T 1033-2015 X선 형광 분광법을 이용한 건식 누출 방지 재료의 원소 함량 측정
YS/T 483-2022 구리 및 구리 합금 X선 형광 분광법(파장 분산형) 분석 방법
YS/T 806-2020 알루미늄 및 알루미늄 합금의 화학적 분석 방법 원소 함량 측정 X선 형광 분광법
YS/T 575.23-2021 보크사이트 광석의 화학적 분석 방법 파트 23: 원소 함량 결정 X선 형광 분광법

German Institute for Standardization, 단결정 X선 분석

DIN 51418-2:2015 X선 분광 분석 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 2부: 측정, 교정 및 평가의 정의 및 기본 원리
DIN 51418-2:1996 X선 분광 분석 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 2부: 측정, 교정 및 평가의 정의 및 기본 원리
DIN 51418-1:2008 X선 분광법 X선 산란 및 X선 형광 분석(XRF) 1부: 정의 및 기본 원리
DIN EN 13925-2:2003 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 2부: 절차
DIN EN 13925-1:2003 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 1부: 일반 원리
DIN EN 13925-3:2005 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 3부: 기기
DIN EN 13925-3:2005-07 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 3부: 계측
DIN EN 13925-2:2003-07 비파괴 검사 - 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 - 2부: 절차
DIN 51418-1:1996 X선 분광법 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 1부: 정의 및 기본 원리
DIN 51418-1:2008-08 방사선 분광학 X선 방출 및 X선 형광 분석(XRF) 1부: 정의 및 기본 원리
DIN EN 13925-1:2003-07 비파괴 검사 - 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 - 1부: 일반 원리
DIN 51418-2:2015-03 X선 분광법 X선 방출 및 X선 형광 분석(XRF) 2부: 측정, 교정 및 결과 평가의 정의 및 기본 원리
DIN IEC 62495:2011 핵 장비 소형 X선관을 이용한 휴대용 X선 형광 분석 장비(IEC 62495-2011)
DIN EN 1330-11:2007-09 비파괴 검사 용어 11부: 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 사용되는 용어
DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 비파괴검사 X선 회절 잔류응력 분석 시험방법
DIN EN 15305:2009-01 비파괴검사 X선 회절 잔류응력 분석 시험방법
DIN ISO 16129:2020-11 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
DIN 51418-2 Bb.1:2000 X선 광도법 X선 산란 및 X선 형광 분석(XRF) 2부: 측정, 보정 및 결과 평가의 정의 및 기본 원리 추가 정보 및 계산 예
DIN EN 1330-11:2007 비파괴 검사 용어 11부: 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 사용되는 용어
DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 X-선 회절 분석을 이용한 비파괴 시험 잔류 응력 분석 시험 방법
DIN 55912-2 Bb.2:1999 안료 이산화티타늄 안료 분석 방법 X선 형광 분석을 통한 검량선 개발
DIN EN 15305:2009 비파괴 시험 X선 회절에 의한 잔류 응력 분석 시험 방법.
DIN 50443-1:1988 반도체 공정에 사용되는 재료 검사 1부: X선 프로파일로법을 통한 반도체 단결정 실리콘의 결정 결함 및 불균일 검출
DIN 55912-2 Bb.1:1999 안료 이산화티타늄 안료 분석 방법 X선 형광 분석을 통한 미량 성분 측정의 예
DIN EN 12698-2:2007 질화물 결합 탄화규소 내화물의 화학적 분석 2부: X선 회절(XRD) 방법
DIN EN ISO 21587-2:2007-12 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광법 대체) - 2부: 습식 화학 분석
DIN EN ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화물 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 습식 화학 분석
DIN ISO 16129:2020 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하기 위한 절차(ISO 16129-2018), 영어 텍스트
DIN 6855-2:2005 핵 의료 기기의 품질 관리 2부: 단광자 단층 촬영용 회전 감지 헤드를 갖춘 앵글형 감마선 카메라와 평면 신티그라피용 단결정 감마선 카메라의 안정성 테스트
DIN 6855-2:2013 핵 의료 기기의 품질 관리 2부: 단광자 단층 촬영용 회전 감지 헤드를 갖춘 앵글형 감마선 카메라와 평면 신티그라피용 단결정 감마선 카메라의 안정성 테스트
DIN EN ISO 12677:2013-02 X선 형광(XRF) 캐스트 비드 방법을 통한 내화 제품의 화학적 분석
DIN 51440-1:2003 휘발유 테스트 인 함량 측정 1부: 파장 분산형 X선 분광법.
DIN ISO 15472:2020-05 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광계 - 에너지 스케일 교정(ISO 15472:2010)
DIN EN ISO 10058-2:2009-04 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(X선 형광법 대체) - 2부: 습식 화학 분석
DIN EN ISO 10058-2:2009 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
DIN EN ISO 20565-2:2009-06 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광법 대체) - 2부: 습식 화학 분석
DIN 51729-10:1996 고체 연료 테스트 연료 재의 화학적 조성 결정 파트 10: X선 형광 분석(RFA)
DIN EN ISO 14597:1999 미네랄 오일 제품, 바나듐 및 니켈 함량 측정, 파장 분산형 X선 형광 분석 방법
DIN 51729-10:2011-04 고체 연료 테스트 연료 재의 화학적 조성 결정 파트 10: X선 형광 분석
DIN 51729-10:2011 고체 연료 테스트 연료 재의 화학적 조성 결정 파트 10: X선 형광 분석
DIN EN 10315:2006 인접 기술을 사용하는 X선 형광 분광법(XRF)을 사용한 고합금강 분석을 위한 기존 방법
DIN ISO 15472:2020 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광계의 에너지 표준 교정(ISO 15472:2010), 영어 텍스트
DIN 51396-2:1998 윤활제 테스트 마모된 부품 확인 2부: 파장 분산형 X선 형광 분석(XRS)
DIN 51431-2:2004 윤활제 테스트 마그네슘 함량 측정 2부: 파장 분산 X선 분광법(XRF)
DIN 51396-2:2008 윤활제 테스트 마모된 부품 확인 2부: 파장 분산형 X선 형광 분석(XRS)
DIN 51390-2:1997 미네랄 오일 제품에 대한 테스트 실리콘 함량 측정 2부: 파장 소산형 X선 형광 분석(RFA) 방법

Professional Standard - Machinery, 단결정 X선 분석

JB/T 9401-1999 측면 창 형광 분석 X선관
JB/T 9399-1999 X선 분석 기기 주요 매개변수 시리즈
JB/T 9399-2010 X선 분석 기기 주요 매개변수 시리즈

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, 단결정 X선 분석

YB/T 172-2000 실리카 벽돌의 정량상 분석.X선 회절법
YB/T 4177-2008 슬래그 X선 형광분광법 분석방법
YB/T 5320-2006 금속재료의 정량상 분석을 위한 X선 회절 K 값 방법
YB/T 5336-2006 X-선 회절법을 이용한 고속도강의 탄화물 상의 정량 분석

American Society for Testing and Materials (ASTM), 단결정 X선 분석

ASTM E1621-21 X선 방출 분광학 분석을 위한 표준 가이드
ASTM F847-94(1999) 단결정 실리콘 웨이퍼 기준면의 결정학적 방향에 대한 X선 측정을 위한 표준 테스트 방법
ASTM D5380-93(2009) X-선 회절 분석을 통해 페인트의 결정성 안료 및 충전재를 식별하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM D5380-93(2003) X선 회절 분석을 통해 코팅 내 결정성 안료 및 증량제를 식별하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM D5380-93(1998) X-선 회절 분석을 통해 페인트의 결정성 안료 및 충전재를 식별하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM D5380-93(2021) X선 회절 분석을 통해 코팅 내 결정성 안료 및 증량제를 식별하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM D5380-93(2014) X-선 회절 분석을 통해 페인트의 결정성 안료 및 충전재를 식별하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM E1621-05 X선 발산 분광학 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1085-95(2004) 금속의 X선 방사선 분광법을 위한 분석 시험 방법
ASTM E1085-95(2000) 금속의 X선 방사선 분광법을 위한 분석 시험 방법
ASTM E1085-95(2004)e1 금속의 X선 방사선 분광법을 위한 분석 시험 방법
ASTM E572-94(2000) 스테인레스 강의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E572-02a(2006)e1 스테인레스 강의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E572-02a(2006) 스테인레스 강의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E572-02a 스테인레스 강의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E1361-90(1999) X선 분광 분석의 입사 효과 보정을 위한 표준 가이드
ASTM E572-94(2000)e1 스테인레스 강의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E1361-02(2021) X선 분광 분석의 입사 효과 보정을 위한 표준 가이드
ASTM E322-96e1 저합금강 및 주철의 X선 방출분광분석법
ASTM D5381-93(2003) 안료 및 필러의 X선 형광(XRF) 분광 분석
ASTM D5381-93(1998) 안료 및 필러의 X선 형광(XRF) 분광 분석
ASTM C1271-99(2006) 석회 및 석회석의 X선 분광분석을 위한 표준시험방법
ASTM C1271-99 석회석회석의 X선 분광분석을 위한 표준시험방법
ASTM C1271-99(2020) 석회석회석의 X선 분광분석을 위한 표준시험방법
ASTM E322-96(2004) 저합금강 및 주철의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E2465-11e1 X-선 분광학을 이용한 니켈 기반 합금 분석을 위한 표준 테스트 방법
ASTM C1271-99(2012) 석회 및 석회석의 X선 분광분석을 위한 표준시험방법
ASTM E3294-22 분말 X선 회절을 이용한 지질학적 물질의 법의학적 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1621-13 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 원소 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E996-94(1999) Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 데이터 보고를 위한 표준 관행
ASTM D2332-84(1999) 파장 분산 X선 형광을 이용한 수중 퇴적물 분석의 표준 사례
ASTM E539-90(1996)e1 6 알루미늄 4 바나듐 티타늄 합금의 X선 방사선 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E539-02 6 알루미늄 4 바나듐 티타늄 합금의 X선 방사선 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E539-06 6 알루미늄 4 바나듐 티타늄 합금의 X선 방사선 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E3294-23 분말 X선 회절을 이용한 지질학적 물질의 법의학적 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1588-10e1 주사전자현미경/에너지 산란 X선 분광법을 통한 탄 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1085-09 X선 형광 분광법을 이용한 저합금강 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E2465-19 X선 형광 분광법을 이용한 니켈 기반 합금 분석을 위한 표준 테스트 방법
ASTM E539-11 X선 형광 분광법을 이용한 티타늄 합금 분석의 표준 시험 방법
ASTM E1361-02 X-선 분광분석에서 공존하는 원소 효과의 보정을 위한 표준 가이드
ASTM E1361-02(2007) X-선 분광분석에서 공존하는 원소 효과의 보정을 위한 표준 가이드
ASTM E1361-02(2014)e1 X-선 분광분석에서 공존하는 원소 효과의 보정을 위한 표준 가이드
ASTM C1416-99 X선 형광을 이용한 천연 및 폐수 내 우라늄 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM C1416-04 X선 형광을 이용한 천연 및 폐수 내 우라늄 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E1621-94(1999) 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 원소 분석을 위한 표준 가이드
ASTM D2332-08 파장 분산형 X선 형광을 이용한 퇴적물 분석의 표준 사례
ASTM E1621-22 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 원소 분석을 위한 표준 가이드
ASTM D2332-13 파장 분산형 X선 형광을 이용한 퇴적물 분석을 위한 표준 작업 절차
ASTM D2332-84(2003) 파장 분산형 X선 형광을 이용한 퇴적물 분석을 위한 표준 작업 절차
ASTM C1416-04(2009) X선 형광을 이용한 천연 및 폐수 내 우라늄 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E1588-16 주사전자현미경/에너지 산란 X선 분광법을 이용한 촬영 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E539-19 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 티타늄 합금 분석의 표준 시험 방법
ASTM D2332-13(2021) 파장 분산형 X선 형광을 이용한 수성 퇴적물 분석의 표준 관행
ASTM E539-07 6 알루미늄 4 바나듐 티타늄 합금의 X선 형광 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E2465-11 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 니켈 기반 합금 분석을 위한 표준 테스트 방법
ASTM E1085-22 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 저합금강 분석의 표준 시험 방법
ASTM E2465-13 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 니켈 기반 합금 분석을 위한 표준 테스트 방법
ASTM D6247-98(2004) X선 형광 분광법을 이용한 폴리올레핀의 원소 함량 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E1031-96 X선 분광법을 이용한 제철 및 제강 슬래그 분석을 위한 표준 시험 방법(2002년 철회)
ASTM E1588-16a 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 통한 샷 잔류물 분석의 표준 관행
ASTM E1588-17 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 통한 샷 잔류물 분석의 표준 관행
ASTM D8064-16 다중 단색 여기빔을 이용한 단색 에너지 분산형 X선 형광 분광법에 의한 토양 및 고형 폐기물의 원소 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D6247-98 X선 형광 분광법을 이용한 폴리올레핀의 원소 함량 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E572-02a(2006)e2 X선 형광 분광법을 이용한 스테인리스강 및 합금강 분석의 표준 시험 방법
ASTM D7751-11e1 X선 형광분석을 이용한 윤활유 첨가원소 측정의 표준시험방법

Association Francaise de Normalisation, 단결정 X선 분석

NF X43-600-2*NF ISO 16258-2:2015 X선 회절을 이용한 작업장 공기 호흡성 결정질 실리카 분석 2부: 간접 분석 방법
NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 3부: 기기
NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 X선 회절을 이용한 다결정 및 비정질 재료의 비파괴 검사 2부: 절차
NF EN 1330-11:2007 비파괴 검사 - 용어 - 파트 11: 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절
NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 1부: 기본 원리
NF EN 13925-2:2003 비파괴 검사 - 다결정 및 비정질 재료에 적용되는 X선 회절 - 2부: 절차
NF EN 13925-3:2005 비파괴 검사 - 다결정 및 비정질 재료에 적용되는 X선 회절 - 3부: 장비
NF EN 13925-1:2003 비파괴 검사 - 다결정 및 비정질 재료에 적용되는 X선 회절 - 1부: 일반 원리
NF X43-600-1*NF ISO 16258-1:2015 X선 회절을 통한 작업장 공기의 호흡성 결정질 실리카 분석 1부: 직접 여과 방법
NF A09-020-11*NF EN 1330-11:2007 비파괴 검사 용어 11부: 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 용어.
NF X21-071:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
NF EN 15305:2009 비파괴검사 X선 회절 잔류응력 분석 시험방법
NF ISO 16258-2:2015 작업장 공기 중 X선 회절을 통한 결정질 실리카의 호흡 가능 분율 측정 2부: 간접 분석 방법
NF ISO 16258-1:2015 작업장 공기 X선 회절 방법을 통한 결정질 실리카의 호흡 가능 분율 측정 1부: 직접 여과 분석 방법
NF EN ISO 12677:2011 X선 형광법에 의한 내화물의 화학적 분석 - 용융 비드법
NF T25-111-3:1991 탄소 섬유 - 질감 및 구조 - 3부: X선 회절의 방위각 분석
NF A09-185*NF EN 15305:2009 비파괴 시험 - X선 회절에 의한 잔류 응력 분석 시험 방법
NF S92-502:2006 의료 생물 분석 실험실 인체 방사선학 폐 계수 저에너지 X선 및 알파선 방출기(200keV 미만)
NF X21-003:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세분석 파장 분포 X선 분광법의 정량 분석 가이드
NF A09-285:1999 비파괴 시험 X선 회절에 의한 잔류 응력 분석 시험 방법
NF X21-055:2006 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
NF M07-095*NF EN ISO 14597:1999 X선 형광 분석을 통한 석유 제품의 바나듐 및 니켈 함량 측정
NF A11-103:1977 페로니오븀 합금의 화학적 분석 X선 형광 분광법을 통한 니오븀 측정
XP A06-379-1999 파장 산란 X선 형광 분광법의 일상적인 사용을 위한 표준 개발 지침
NF B49-422-2*NF EN 12698-2:2008 질화물 결합 탄화규소 내화물의 화학적 분석 2부: X선 회절(XRD) 방법.
NF B40-670-2*NF EN ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 습식 화학적 분석
NF B40-677*NF EN ISO 12677:2011 X선 형광(XRF) 비드 용융 방법을 통한 내화물의 화학적 분석
FD T16-203:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
NF X21-073*NF ISO 16243:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
NF ISO 16243:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)의 데이터 로깅 및 보고
NF X11-683:1981 액체 내 다양한 높이에서 중력에 의해 침전된 분말 입자를 분석합니다.
NF X21-006:2007 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
NF X21-008:2012 마이크로빔 분석 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산 X선 분광계의 기기 사양
FD A06-326*FD CEN/TR 10354:2011 철금속 재료의 화학적 분석 페로실리콘 분석 X선 형광 분광법을 통한 페로실리콘 내 Si 및 Al 측정
NF B49-329-2*NF EN ISO 10058-2:2009 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 수분 화학 분석
NF EN ISO 21587-2:2007 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광의 대안) 파트 2: 습식 화학적 분석 방법
NF EN 16424:2014 폐기물 특성화 - 휴대용 X선 형광 분석기를 사용한 원소 조성 결정을 위한 스크리닝 방법
NF B49-401*NF ISO 16169:2018 ISO 12677 X선 형광(XRF) 분석을 위한 탄화규소 및 유사 물질 준비를 위한 캐스트 비드 방법
NF EN ISO 10058-2:2009 산화마그네슘 및 백운석 제품의 화학적 분석(X선 형광 대체) 2부: 습식 화학 분석 방법

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 단결정 X선 분석

JIS K 0181:2021 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분석
JIS H 1292:2018 구리 합금.X선 형광 분광법
JIS G 1256:1997 Steel.X선 형광 분광법
JIS K 0131:1996 X선 회절계 측정 분석에 대한 일반 규칙
JIS H 1292:2005 구리 합금의 X선 형광 분광법
JIS M 8205:2000 철광석 X선 형광 분광계 분석
JIS R 2216:2005 내화제품의 X선 형광분광법 분석방법
JIS K 0148:2005 표면 화학 분석 TXRF(전반사 X선 형광) 측정을 사용하여 실리콘 웨이퍼의 주요 표면 오염 물질을 측정합니다.
JIS H 1631:2008 티타늄 합금 X선 형광 분광법 분석 방법
JIS G 1256 AMD 1:2010 강철.X선형광분광분석법
JIS G 1351:2006 철 합금 X-선 형광 분광법의 분석 방법
JIS H 1292:1997 구리 및 구리 합금의 X선 형광 분광법
JIS H 1287:2015 니켈 및 니켈 합금 X선 형광 분광 분석 방법
JIS G 1256 AMD 2:2013 강철 X선 형광 분광법(수정 사항 2)
JIS R 2216:1995 내화벽돌 및 내화모르타르의 X선 형광분광법 분석방법
JIS R 5204:2002 X선 형광을 이용한 시멘트의 화학적 분석 방법
JIS R 5204:2019 X선 형광을 이용한 시멘트의 화학적 분석 방법
JIS K 0190:2010 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 질량점 분석 안내
JIS K 0145:2002 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 척도 교정
JIS K 0152:2014 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 분석 강도 척도의 반복성 및 일관성
JIS K 0189:2013 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 파장 분산형 X선 분광법을 위한 실험 매개변수 결정.
JIS Z 4752-2-6:2001 의료 영상 부서의 평가 및 일상 테스트 파트 2-6: 안정성 테스트 컴퓨터 단층 촬영용 X선 장비
JIS Z 4752-2-6:2012 의료 영상 부서의 평가 및 일상 테스트 파트 2-6: 안정성 테스트 컴퓨터 단층 촬영용 X선 장비
JIS A 1481-3:2014 건축 자재 제품의 석면 측정 3부: X선 회절을 통한 석면 함량 정량 분석
JIS K 0162:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택한 기기 성능 매개변수에 대한 설명
JIS T 0306:2002 X-선 광전자 분광법을 이용한 금속 생체재료로 형성된 부동태막의 상태 분석

Professional Standard - Building Materials, 단결정 X선 분석

JC/T 1085-2008 시멘트용 X선 형광 분석기

Professional Standard - Nuclear Industry, 단결정 X선 분석

EJ/T 1067-1998 X선 형광 분석을 위한 Americium 241 소스
EJ/T 1068-1998 X선 형광 분석을 위한 플루토늄-238 소스
EJ/T 767-1993 방사성 소스에 의해 여기되는 X선 형광 분석기
EJ/T 805-1993 X선 형광 분석을 위한 저에너지 광자 소스
EJ/T 684-1992 휴대용 소스 여기 X선 형광 분석기
EJ/T 684-2016 휴대용 에너지 분산형 X선 형광 분석기

European Committee for Standardization (CEN), 단결정 X선 분석

EN 13925-2:2003 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 2부: 절차
EN 13925-3:2005 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 3부: 기기
EN 13925-1:2003 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 1부: 일반 원리
CEN/TR 10354:2011 철금속 재료의 화학적 분석 규소철 분석 X선 형광 분광법 규소 및 알루미늄 측정
EN 12698-2:2007 질화물 결합 탄화규소 내화물의 화학적 분석 2부: X선 회절(XRD) 방법
PD CEN/TR 10354:2011 철 재료의 화학적 분석 페로실리콘 분석 X선 형광 분광법을 통한 실리콘 및 알루미늄 측정
EN 15305:2008 비파괴 시험 X선 회절을 이용한 잔류 응력 분석 시험 방법 정오표 포함 - 2009년 1월
EN 10315:2006 인접 기술을 사용하는 X선 형광 분광법(XRF)을 사용한 고합금강 분석을 위한 기존 방법
EN ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석 [대체: CEN EN 955-2]

Danish Standards Foundation, 단결정 X선 분석

DS/EN 13925-2:2003 X선 회절을 이용한 다결정 및 비정질 재료의 비파괴 검사 2부: 절차
DS/EN 13925-3:2005 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 3부: 계측
DS/EN 13925-1:2003 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 1부: 일반 원리
DS/EN 15305/AC:2009 비파괴검사를 위한 X선 회절을 이용한 잔류응력 분석 시험방법
DS/EN 15305:2008 비파괴검사를 위한 X선 회절을 이용한 잔류응력 분석 시험방법
DS/CEN/TR 10354:2012 철금속 재료의 화학적 분석 규소철 분석 X선 형광 분광법 Si 및 Al 측정
DS/EN ISO 21587-2:2007 알루미노실리케이트 내화물의 화학 분석(X선 형광 대체) 파트 2: 습식 화학 분석
DS/EN ISO 12677:2011 X선 형광(XRF) 캐스트 비드 방법을 통한 내화 제품의 화학적 분석
DS/ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
DS/EN ISO 10058-2:2009 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학 분석(X선 형광 대체) 파트 2: 습식 화학 분석
DS/EN ISO 20565-2:2009 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광법 대체) 파트 2: 습식 화학 분석
DS/EN 10315:2006 근거리장 기술을 이용한 X선 형광 분광법(XRF)을 이용한 고합금강 분석을 위한 기존 방법

Lithuanian Standards Office , 단결정 X선 분석

LST EN 13925-3-2005 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 3부: 계측
LST EN 13925-2-2004 X선 회절을 이용한 다결정 및 비정질 재료의 비파괴 검사 2부: 절차
LST EN 13925-1-2004 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 1부: 일반 원리
LST EN 15305-2008 비파괴검사를 위한 X선 회절을 이용한 잔류응력 분석 시험방법
LST EN 15305-2008/AC-2009 비파괴검사를 위한 X선 회절을 이용한 잔류응력 분석 시험방법
LST EN ISO 21587-2:2007 알루미노실리케이트 내화물의 화학 분석(X선 형광 방법 대체) 파트 2: 습식 화학 분석(ISO 21587-2:2007)
LST EN ISO 12677:2012 X선 형광(XRF) 캐스트 비드 방법을 통한 내화 제품의 화학적 분석(ISO 12677:2011)
LST EN 10315-2006 근거리장 기술을 이용한 X선 형광 분광법(XRF)을 이용한 고합금강 분석을 위한 기존 방법

AENOR, 단결정 X선 분석

UNE-EN 13925-2:2004 X선 회절을 이용한 다결정 및 비정질 재료의 비파괴 검사 2부: 절차
UNE-EN 13925-3:2006 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 3부: 계측
UNE-EN 13925-1:2006 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 1부: 일반 원리
UNE-EN 1330-11:2008 비파괴 검사 용어 11부: 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 사용되는 용어
UNE-EN 15305:2010 비파괴검사를 위한 X선 회절을 이용한 잔류응력 분석 시험방법
UNE-EN ISO 21587-2:2008 알루미노실리케이트 내화물의 화학 분석(X선 형광 방법 대체) 파트 2: 습식 화학 분석(ISO 21587-2:2007)
UNE-EN ISO 12677:2012 X선 형광(XRF) 캐스트 비드 방법을 통한 내화 제품의 화학적 분석(ISO 12677:2011)
UNE-EN 10315:2007 근거리장 기술을 이용한 X선 형광 분광법(XRF)을 이용한 고합금강 분석을 위한 기존 방법

Professional Standard - Energy, 단결정 X선 분석

NB/SH/T 6015-2020 X-선 회절법에 의한 ZSM-23 분자체의 단위 셀 매개변수 결정
NB/SH/T 6033-2021 X-선 회절법에 의한 ZSM-22 분자체의 단위 셀 매개변수 결정
NB/SH/T 6024-2021 X선 회절법을 이용한 ZSM-5 분자체의 상대적 결정화도 측정
NB/SH/T 0339-2021 X선 회절법을 이용한 포자사이트 제올라이트의 단위 셀 매개변수 결정

Professional Standard - Electricity, 단결정 X선 분석

DL/T 1151.22-2012 화력 발전소의 스케일 및 부식 생성물 분석 방법 22부: X선 형광 분광법 및 X선 회절 분석

American National Standards Institute （ANSI), 단결정 X선 분석

ANSI N43.2-2001 X선 회절 및 형광 분석 장비의 방사선 안전성
ANSI/ASTM D6247:1998 X선 형광 분광법을 이용한 폴리올레핀의 원소 함량 분석 시험 방법

International Electrotechnical Commission (IEC), 단결정 X선 분석

IEC 62495:2011 핵감시 장비, 마이크로 X선관을 활용한 휴대용 X선 형광 분석 장비
IEC 61335:1997 핵기기 X선 형광분석용 드릴링 장비

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, 단결정 X선 분석

GBZ 115-2002 X선 회절 및 형광 분석기의 위생 보호 표준

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 단결정 X선 분석

GB/T 36017-2018 비파괴검사기 X선형광분석관
GB/T 22571-2017 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광기의 에너지 규모 교정
GB/T 35734-2017 휴대용 튜브 여기 X선 형광 분석기의 분류, 안전 요구 사항 및 테스트
GB/T 33502-2017 표면 화학 분석을 위한 XPS(X선 광전자 분광학) 데이터 기록 및 보고에 대한 사양 요구 사항

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 단결정 X선 분석

CNS 11942.23-2000 구리 및 구리 합금의 형광 X선 분석
CNS 11942-23-2000 구리 및 구리 합금의 형광 X선 분석

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 단결정 X선 분석

DB44/T 1602-2015 석재 조성 분석 방법 - X선 형광 분광법

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 단결정 X선 분석

YS/T 273.14-2008 빙정석의 화학적 분석 및 물리적 특성을 위한 방법 14부: X선 형광 분광법을 통한 원소 함량 측정
YS/T 273.11-2006 빙정석의 화학적 분석 및 물리적 특성 측정 방법 11부: X선 형광 분광법을 통한 황 함량 측정
YS/T 869-2013 4A 제올라이트 X선 형광법의 화학성분 분석방법
YS/T 273.15-2012 빙정석의 화학적 분석 및 물리적 특성 측정 방법 15부: X선 형광 분광법(정제 압착) 방법에 의한 원소 함량 측정
YS/T 483-2005 구리 및 구리 합금 X선 형광 분광법(파장 분산형) 분석 방법
YS/T 703-2014 석회석 화학 분석 방법 원소 함량 결정 X선 형광 분광법
YS/T 575.23-2009 보크사이트 광석의 화학적 분석 방법 파트 23: X선 형광 분광법을 통한 원소 함량 측정

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 단결정 X선 분석

IEEE 759-1984 반도체 X선 에너지 스펙트럼 분석기의 테스트 절차

Professional Standard - Geology, 단결정 X선 분석

DZ/T 0370-2021 휴대용 X선 형광 현장 분석에 대한 기술 규정

Professional Standard - Petroleum, 단결정 X선 분석

SY/T 5163-1995 퇴적암 내 점토광물의 상대적 함량에 대한 X선 회절분석법
SY/T 5163-2010 퇴적암의 점토광물과 일반적인 비점토광물의 X선 회절분석법
SY/T 6210-1996 퇴적암 내 총점토광물과 일반 비점토광물에 대한 X선 회절 정량분석 방법

未注明发布机构, 단결정 X선 분석

BS EN 15305:2008(2009) 비파괴검사 X선 회절 잔류응력 분석 시험방법
BS EN ISO 12677:2011(2014) 내화물의 X선 형광(XRF) 화학적 분석 - 캐스트 비드 방법
BS 6870-3:1989(1999) 알루미늄 광석 분석 3부: 파장 분산형 X선 형광 다원소 분석 방법
BS EN ISO 20565-2:2008(2010) 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광법 대체) 파트 2: 습식 화학 분석
BS ISO 21270:2004(2010) 표면 화학 분석X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계강도 규모 선형성
BS ISO 18516:2006(2010) 표면 화학 분석 Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법의 측면 분해능 결정

IN-BIS, 단결정 X선 분석

IS 12803-1989 X선 형광분광기를 이용한 수경시멘트 분석방법

Professional Standard - Customs, 단결정 X선 분석

HS/T 12-2006 X선 회절법을 이용한 활석, 녹니석, 마그네사이트의 혼합상의 정량분석

Professional Standard - Commodity Inspection, 단결정 X선 분석

SN/T 2079-2008 스테인레스강 및 합금강 X선 형광 분광법 분석 방법

ES-UNE, 단결정 X선 분석

UNE 53934:2016 고분자 재료의 원소에 대한 플라스틱 X선 형광 분석
UNE-EN ISO 10058-2:2008 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(X선 형광 대체) 파트 2: 습식 화학 분석

工业和信息化部/国家能源局, 단결정 X선 분석

JB/T 12962.2-2016 에너지 분산형 X선 형광 분광계 파트 2: 원소 분석기
JB/T 12962.3-2016 에너지 분산형 X선 형광 분광계 3부: 코팅 두께 분석기

Standard Association of Australia （SAA）, 단결정 X선 분석

AS 4392.1:1996 무거운 미네랄 모래. 파장 분산형 X선 형광 분광법 분석. 티타늄 광석
AS 4392.2:1997 무거운 미네랄 모래. 파장 분산형 X선 형광 분광법 분석. 석재
AS 4392.1:1996/Amdt 2:1999 중광물 모래의 파장분산형 X선 형광분광법을 이용한 티타늄 함유 광석 분석
AS 4392.1:1996/Amdt 1:1996 중광물 모래의 파장분산형 X선 형광분광법을 이용한 티타늄 함유 광석 분석
AS ISO 15472:2006 표면 화학 분석. X선 광전자 분광학. 에너지 규모의 교정
AS ISO 15470:2006 표면 화학 분석. X선 광전자 분광학. 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
ISO 7291:2010/Amd.1:2015 표면 화학 분석 기준 물질을 사용하는 실리콘 웨이퍼 표면에서 원소를 수집하는 화학적 방법 및 전반사 X선 형광(TXRF) 분광학을 통한 결정 수정 1
AS ISO 24237:2006 표면 화학 분석. X선 광전자 분광학. 강도 척도 반복성 및 불변성

国家能源局, 단결정 X선 분석

SY/T 5163-2018 퇴적암의 점토광물과 일반적인 비점토광물의 X선 회절분석법

Professional Standard - Chemical Industry, 단결정 X선 분석

HG/T 6227-2023 Analysis method of chemical composition of catalytic cracking catalyst X-ray fluorescence spectrometry
HG/T 6150-2023 윤활유 수소화 이성화 촉매 X선 형광 분광법의 화학 조성 분석 방법

(U.S.) Ford Automotive Standards, 단결정 X선 분석

FORD FLTM BI 017-03-2001 크롬산염/아연 분말 복합 코팅의 중량 결정. PORTASPEC X선 분석
FORD FLTM BI 017-3-2001 도금량 결정 크로메이트/아연 분말 복합재 PORTASPEC X-ray 분석

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, 단결정 X선 분석

DB37/T 266-1999 건축자재 제품의 폐잔류량 측정방법 X선 형광분석

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, 단결정 X선 분석

DB35/T 110-2000 페인트 증거물 검출을 위한 전자탐침 및 주사전자현미경 X선 에너지 분광분석 방법

Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, 단결정 X선 분석

DB53/T 639.7-2014 직접 환원철의 화학적 분석 방법 7부: 다중 원소 측정 X선 형광 분광법