단결정 X선 분석

모두 500항목의 단결정 X선 분석와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 단결정 X선 분석와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 기르다, 금속 재료 테스트, 무기화학, 분석 화학, 물리학, 화학, 반도체 소재, 입자 크기 분석, 스크리닝, 세라믹, 검은 금속, 어휘, 비철금속, 광학 및 광학 측정, 내화물, 공기질, 원자력공학, 건축 자재, 비파괴 검사, 방사선 측정, 발전소 종합, 페인트 성분, 철강 제품, 화학 제품, 방사선방호, 전자관, 금속 광석, 산업안전, 산업위생, 합금철, 비철금속 제품, 토공, 굴착, 기초 공사, 지하 공사, 전기 및 전자 테스트, 광학 장비, 비금속 광물, 의료 장비, 실험실 의학, 수질, 의료 과학 및 의료 기기 통합, 석유제품 종합, 석탄, 소방, 사진 기술, 연료, 길이 및 각도 측정.

Professional Standard - Education, 단결정 X선 분석

JY/T 0588-2020 단결정 X선 회절분석기를 이용한 저분자 화합물의 결정 및 분자 구조 분석을 위한 일반 원리
JY/T 008-1996 4원 단결정 X선 회절계를 사용하여 소분자 화합물의 결정 및 분자 구조 분석을 위한 일반 원리.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 단결정 X선 분석

GB/T 42676-2023 반도체 단결정 품질검사 X선 회절법
GB/T 30904-2014 무기화학제품의 결정구조 분석을 위한 X선 회절법
GB/T 32188-2015 질화갈륨 단결정 기판의 X선 쌍결정 로킹 커브의 반치폭 시험 방법
GB/T 19421.1-2003 층상 결정질 이규산나트륨의 시험 방법 델타상 층상 결정질 이규산나트륨의 정성 분석 X선 회절법
GB/T 19140-2003 시멘트의 X선 형광 분석을 위한 일반 원리
GB/T 42360-2023 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분광 분석
GB/T 13710-1992 분석용 X선관 블랭크 상세 사양
GB 16355-1996 X선 회절계 및 형광 분석기의 방사선 방호 표준
GB/T 30704-2014 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
GB/T 19500-2004 X선 광전자 분광학 분석 방법의 일반 원리
GB/T 16597-1996 야금제품 분석을 위한 X선 형광 분광법의 일반 원리
GB/T 17362-2008 금제품의 주사전자현미경 및 X선 에너지분광법 분석방법
GB/T 17362-1998 금 장신구의 주사전자현미경 및 X선 에너지 분광법 분석방법
GB/Z 42520-2023 철광석 X선 형광 분광법 실험실 운영 가이드
GB/T 18873-2002 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
GB/T 18873-2008 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
GB/T 17359-1998 전자탐침과 주사전자현미경을 이용한 X선 에너지 분광법의 정량분석 일반원리
GB/T 29513-2013 주조 유리판법을 이용한 철 함유 먼지 슬러지의 X선 형광 분광화학 분석
GB/T 21114-2007 내화물의 X선 형광 분광화학 분석 - 주조 유리판법
GB/Z 32490-2016 표면 화학 분석을 위해 X선 광전자 분광법을 사용한 배경 측정 절차
GB/T 17507-2008 생물학적 얇은 표준의 투과전자현미경 및 X선 에너지 분광학 분석을 위한 일반 기술 조건
GB/T 22571-2008 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 척도 교정
GB/T 20726-2015 마이크로빔 분석 전자탐침 미세분석 X선 에너지 분광기의 주요 성능변수 및 검증방법
GB/T 17507-1998 생물학적 얇은 표준시료의 전자현미경 및 X선 에너지 분광학 분석을 위한 일반 기술 조건
GB/T 17416.2-1998 지르코늄 광석의 화학적 분석 방법 X-선 형광 분광법을 통한 지르코늄 함량 및 하프늄 함량 측정.
GB/T 43610-2023 마이크로빔 분석과 전자현미경을 이용하여 선형 결정의 겉보기 성장 방향을 결정하는 투과전자현미경 방법
GB/T 21006-2007 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
GB/T 28892-2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 선택된 기기 성능 매개변수의 표현

PT-IPQ, 단결정 X선 분석

E E 14-1971 X선 회절 분석

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 단결정 X선 분석

JJF 1256-2010 X선 단결정 배향 장비의 교정 사양
JJF 1133-2005 X선 형광 분광법 금 함량 분석기의 교정 사양

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 단결정 X선 분석

KS M 0043-2009 X선 회절 분석
KS M 0043-2009(2019) X선 회절 분석의 일반 규칙
KS M 0017-2010 X선 형광 분석의 일반 원리
KS E 3076-2002 원패스 실리카 및 실리카의 X선 형광 분석
KS L 5222-2009 시멘트의 형광X선 분석방법
KS D 1898-1993 구리합금 형광X선 분석방법
KS D 1654-1993 강철의 X선 형광 분광학 분석에 대한 일반 규칙
KS D 1654-2003(2016) 강철의 X선 형광 분광학 분석에 대한 일반 규칙
KS D 2710-2019 페로니오븀의 X선 형광 분광법
KS E 3045-2002(2007) 철광석의 X선 형광 분석 방법
KS L 5222-2019 X선 형광을 이용한 시멘트의 화학적 분석방법
KS D 1654-2021 철 및 강철의 X선 형광 분광 분석에 대한 일반 규칙
KS D 1655-1993 철강의 X선 형광분광분석법
KS M 0017-1995 X선 형광 분광 분석에 대한 일반 규칙
KS D 1898-2019 구리 합금의 X선 형광 분광 분석
KS D 1655-2019 철 및 강철의 X선 형광 분광 분석 방법
KS M 0017-2020 X선 형광 분광 분석에 대한 일반 규칙
KS L 3316-2014 내화제품의 X선 형광분광법 분석방법
KS D 1686-2011(2021) 철합금의 X선 형광분광분석법
KS L 3316-2014(2019) 내화제품의 X선 형광분광법 분석방법
KS L 3316-1998 내화제품의 X선 형광분광법 분석방법
KS L 3316-1988 내화제품의 X선 형광분광법 분석방법
KS D 1686-2021 합금철의 X선 형광 분광 분석 방법
KS L 3316-2019 내화물의 X선 형광 분광 분석 방법
KS M 1068-2005 형광X-ray 분석을 이용한 유해물질의 정성/정량분석
KS L 5222-2009(2019) X선 형광을 이용한 시멘트의 화학적 분석 방법
KS D 1656-1991 X선 형광을 이용한 페라이트계 스테인레스강의 분석방법
KS D ISO 14706-2003(2018) 표면 화학 분석 - 전반사 X선 형광 분석기는 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 불순물을 측정합니다.
KS E 3076-2017 규사와 규사의 X선 형광분광분석법
KS E 3076-2022 규사와 규사의 X선 형광분광분석법
KS D 2597-1996(2021) 지르코늄 및 지르코늄 합금에 대한 X선 형광 분광학 분석 방법
KS D 2597-2021 지르코늄 및 지르코늄 합금의 X선 형광 분광 분석 방법
KS L 3316-2009 내화 벽돌 및 내화 모르타르의 X선 형광 분광법
KS E 3075-2002 석회석 및 백운석의 X선 형광 분광법 분석 방법
KS D 1655-2008(2019) 철강의 X선 형광분광분석법
KS E 3075-2017 석회석 및 백운석의 X선 형광분광분석법
KS D 1686-2011(2016) 철합금의 X선 형광분광법 분석방법
KS E 3075-2022 석회석 및 백운석의 X선 형광분광분석법
KS D ISO 15472-2003(2018) 표면 화학 분석-X선 광전자 분광계-에너지 규모 보정
KS D ISO 15472:2003 표면 화학 분석.X선 광전 분광계.에너지 규모 교정
KS D 2597-1996(2016) 지르코늄 및 지르코늄 합금의 X선 형광 분광법 분석 방법
KS D ISO 15470-2005(2020) 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광계의 일부 성능 매개변수에 대한 설명
KS L ISO 21587-2:2012 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 습식 화학 분석
KS L ISO 21587-2-2022 알루미노실리케이트 내화제품의 화학분석(형광X선법 대체) - 제2부: 습식 화학분석
KS M ISO 14597:2003 액체 연료 검사, 바나듐 및 니켈 함량 측정, X선 형광 분석
KS D ISO 17054:2018 X선 형광 분광법(XRF)을 이용한 고합금강 분석의 기존 방법
KS E ISO 10086-2:2007 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 습식 화학 분석
KS D ISO 22489:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
KS D ISO 22489:2018 마이크로빔 분석 - 전자탐침 미세분석 - 파장 분산형 X선 분광법을 이용한 벌크 시료의 정량적 점 분석
KS D ISO 22489-2023 마이크로빔 분석 — 전자 탐침 미세분석 — 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 표본의 정량적 점 분석
KS D 2085-1987 X선 형광을 이용한 선철, 주철, 탄소강 및 저합금강의 화학적 분석 방법
KS L ISO 21587-2-2012(2017) 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(X선 형광의 대안) 파트 2: 습식 화학적 분석
KS D ISO 15470-2020 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 - 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
KS D ISO 14706:2003 표면 화학 분석 전반사 X선 형광 분광법을 이용한 실리콘 웨이퍼 표면의 주요 오염물질 측정
KS L ISO 10058-2:2012 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
KS L ISO 20565-2-2012(2022) 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광법 대신) 2부: 습식 화학 분석
KS L ISO 10058-2-2012(2022) 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(X선 형광법 대신) 파트 2: 습식 화학 분석
KS L ISO 21587-2-2012(2022) 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광의 대안) 파트 2: 습식 화학 분석
KS L ISO 10058-2-2022 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(X선 형광법 대체) - 2부: 습식 화학적 분석
KS D ISO 21270:2005 표면 화학 분석X선 광전자 분광계 및 오제 전자 분광계강도 규모의 선형성
KS D ISO 21270-2020 표면 화학 분석 - X선 광전자 및 오제 전자 분광계 - 강도 척도의 선형성
KS M ISO 12980-2004(2009) 원료 코크스 및 소성 코크스의 X선 형광법을 이용한 알루미늄 생산용 탄소재료 전극 분석

Professional Standard - Aviation, 단결정 X선 분석

HB 6742-1993 X선 후면 조명 Laue 사진을 통한 단결정 블레이드의 결정 방향 결정

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 단결정 X선 분석

GB/T 39123-2020 X선 및 감마선 검출기에 사용되는 단결정 카드뮴 아연 텔루라이드 재료 사양
GB/T 36923-2018 진주분말 식별법 X선 회절분석
GB/T 40407-2021 포틀랜드 시멘트 클링커의 광물상의 X선 회절분석법
GB/T 36401-2018 표면화학분석 X선 광전자분광법 박막분석 결과 보고
GB/T 16597-2019 야금제품 분석을 위한 X선 형광 분광법의 일반 원리
GB/T 21114-2019 내화물의 X선 형광 분광화학 분석을 위한 주조 유리 시트 방법
GB/T 40110-2021 표면 화학 분석 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염에 대한 TXRF(전반사 X선 형광 분광법) 측정
GB/T 41064-2021 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 단층 및 다층 필름을 사용하는 X선 광전자 분광법, 오제 전자 분광법 및 2차 이온 질량 분석법에서 깊이 프로파일링 스퍼터링 속도를 결정하는 방법

Group Standards of the People's Republic of China, 단결정 X선 분석

T/IAWBS 017-2022 다이아몬드 단결정 X선 이중결정 요동곡선의 반치폭 시험방법
T/IAWBS 015-2021 산화갈륨 단결정 웨이퍼의 X선 쌍요동곡선의 반치폭 시험방법
T/IAWBS 016-2022 탄화규소 단결정 웨이퍼의 X선 트윈 로킹 곡선의 반높이 폭 시험 방법
T/CSTM 01102-2023-2023 마이크로빔 X선 형광 분광법을 이용한 용접 조인트 부품의 현장 통계 분포 분석
T/CSTM 01199-2024 다층 금속박막층 구조 측정 및 분석 방법 X선 광전자 분광법

KR-KS, 단결정 X선 분석

KS D ISO 14706-2003(2023) 표면 화학 분석 - 전반사 X선 형광 분석기는 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 불순물을 측정합니다.
KS D 1655-2008(2019)(英文版) 철강의 X선 형광분석방법
KS D ISO 17054-2018 X선 형광 분광법(XRF)을 이용한 고합금강 분석의 기존 방법
KS D ISO 15472-2003(2023) 표면화학분석-X선 광전자분광기-에너지 규모 교정
KS D ISO 22489-2018 마이크로빔 분석 - 전자탐침 미세분석 - 파장 분산형 X선 분광법을 이용한 벌크 시료의 정량적 점 분석
KS D ISO 22489-2018(2023) 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석

British Standards Institution (BSI), 단결정 X선 분석

BS ISO 17867:2015 입자 크기 분석 소각 X선 산란
BS ISO 22278:2020 파인세라믹(Advanced Ceramics, Advanced Technology Ceramics) 평행 X선빔 X선 회절법을 이용한 단결정박막(웨이퍼)의 결정질 결정시험방법
BS ISO 17867:2020 입자 크기 분석 소각 X선 산란(SAXS)
DD ISO/TS 13762:2001 입자 크기 분석 소각 X선 산란
20/30360821 DC BS ISO 22278 파인 세라믹스(첨단 세라믹, 첨단 기술 세라믹) 평행 X선 빔 X선 회절 방법을 사용하여 단결정 박막(웨이퍼)의 결정 품질을 결정하는 테스트 방법
BS DD ISO/TS 13762:2002 입자 크기 분석 소각 X선 산란법
BS ISO 20289:2018 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분석
BS ISO 13424:2013 표면 화학 분석.X선 분광학.박막 분석 보고서
BS ISO 10810:2019 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
BS ISO 10810:2010 표면 화학 분석, X선 광전자 분광학, 분석 가이드
23/30442725 DC BS ISO 5861 초안. 표면 화학 분석. X선 광전자 분광학. 석영 결정체 단색 Al Kα XPS 기기의 강도 교정 방법
BS ISO 16258-2:2015 작업장 공기 X선 회절을 이용한 호흡성 석영 분석 간접 분석 방법
BS EN 15305:2008(2009) 비파괴검사 X선 회절 잔류응력 분석 시험방법
BS ISO 16129:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
PD ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에서의 전반사 X선 형광 분광학 응용
BS ISO 18554:2016 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광법으로 분석한 X선 물질의 예상치 못한 분해를 식별, 평가 및 수정하기 위한 절차입니다.
BS ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
BS ISO 29581-2:2010 시멘트 시험방법 X선 형광법에 의한 화학적 분석
BS EN ISO 12677:2011(2014) 내화물의 X선 형광(XRF) 화학적 분석 - 캐스트 비드 방법
BS EN 15305:2008 비파괴 시험 X선 회절을 이용한 잔류 응력 분석 시험 방법
BS 6870-3:1989(1999) 알루미늄 광석 분석 3부: 파장 분산형 X선 형광 다원소 분석 방법
BS PD ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에 전반사 X선 형광 분광법 활용
BS EN ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화제품의 화학적 분석(X선 형광법 선택사항) 습식 화학적 분석
BS ISO 15472:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 수준 교정
BS ISO 16258-1:2015 작업장 공기 X선 회절을 이용한 호흡성 석영 분석 직접 여과법
BS ISO 17470:2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 정성적 점 분석 안내
BS ISO 17109:2022 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 및 다층 필름의 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법...
21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 표면 화학 분석의 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 이온 질량 분석법을 사용하는 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도 결정 방법...
PD ISO/TR 12389:2009 시멘트 테스트 방법 테스트 계획 보고서 X선 형광 화학 분석
BS ISO 14701:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 산화규소 두께 측정
BS EN ISO 10058-2:2009 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 습식 화학 분석
BS EN ISO 10058-2:2008 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 습식 화학 분석
DD ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
BS ISO 14701:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 실리카 두께 측정
BS ISO 21270:2005 표면 화학 분석 X선 광전자 및 오제 전자 분광계 강도 척도의 선형성
BS ISO 17109:2015 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법, 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 프로파일링에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
BS ISO 16243:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
BS ISO 22489:2007 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
BS ISO 22489:2016 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
BS EN ISO 20565-2:2008(2010) 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광법 대체) 파트 2: 습식 화학 분석

International Organization for Standardization (ISO), 단결정 X선 분석

ISO 17867:2015 입자 크기 분석 소각 X선 산란
ISO 22278:2020 파인 세라믹스(첨단 세라믹 및 첨단 산업용 세라믹) 평행 X선 빔 X선 회절법에 의한 단결정 박막(웨이퍼)의 결정 품질 측정 시험 방법
ISO/TS 13762:2001 입자 크기 분석 소각 X선 스퍼터링 방법
ISO 17867:2020 입자 크기 분석 SAXS(소각 X선 산란)
ISO/CD 5861 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 석영 결정 단색 Al Ka XPS 장비 강도 교정 방법
ISO/DIS 5861:2023 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 수정 결정 단색 Al Kα XPS 기기 강도 교정 방법
ISO/PRF 5861:2024 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법 - 석영 결정 단색 Al Kα XPS 기기의 강도 교정 방법
ISO 20289:2018 표면 화학 분석 - 물의 전반사 X선 형광 분석
ISO 16258-2:2015 작업장 공기 X선 회절을 통한 호흡성 결정질 실리카 분석 2부: 간접 분석 방법
ISO 10810:2019 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 분석 가이드
ISO 10810:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
ISO 14706:2000 표면 화학 분석 TXRF(전반사 X선 형광) 측정을 사용한 실리콘 웨이퍼의 기본 표면 오염 확인
ISO 14706:2014 표면 화학 분석 TXRF(전반사 X선 형광) 측정을 사용한 실리콘 웨이퍼의 기본 표면 오염 확인
ISO 16258-1:2015 작업장 공기 X-선 회절을 통한 호흡성 결정질 실리카 분석 1부: 직접 여과 방법
ISO 16129:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하는 방법
ISO 13424:2013 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법, 박막 분석 결과 보고
ISO 18554:2016 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광법으로 분석한 X선 물질의 예상치 못한 분해를 식별, 평가 및 수정하기 위한 절차입니다.
ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에 전반사 X선 형광 분광법 활용
ISO 17470:2004 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 질량점 분석 안내
ISO/TS 10798:2011 나노기술 주사전자현미경과 X선 에너지 분광학을 이용한 단일암 탄소나노튜브의 특성 규명.
ISO 15472:2010 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
ISO 15472:2001 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 스케일 교정
ISO 29581-2:2010 시멘트 시험 방법 2부: X선 형광법에 의한 화학적 분석
ISO 17470:2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 정성적 점 분석 안내
ISO/TR 18392:2005 표면 화학 분석X선 광전자 분광법배경 결정 절차
ISO/CD TR 18392:2023 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 배경 측정 절차
ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 습식 화학 분석
ISO 14701:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법 - 산화규소 두께 측정
ISO 12677:2011 X선 형광(XRF)을 이용한 내화물의 화학적 분석 캐스트 비드법
ISO 22489:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
ISO 22489:2016 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
ISO 14701:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 이산화규소 두께 측정
ISO 17109:2015 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법, 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 프로파일링에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
ISO/TR 12389:2009 시멘트 시험방법, 형광X선을 이용한 화학분석 시험절차 보고
ISO 12980:2000 알루미늄 생산에 사용되는 탄소재료 전극용 생코크스 및 소성코크스의 X선 형광분석
ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 기기 성능 매개변수 설명
ISO 16243:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
ISO 10058-2:2008 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
ISO/CD 19214:2023 마이크로빔 분석, 분석전자현미경 및 투과전자현미경을 사용하여 선형 결정의 겉보기 성장 방향을 결정하는 방법.
ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 척도의 선형성
ISO 17054:2010 X선 형광 분광법(XRF) 근사 기법을 사용하여 고합금강을 분석하는 기존 방법

GSO, 단결정 X선 분석

GSO ISO 17867:2017 입자 크기 분석 - 소각 X선 산란
OS GSO ISO 17867:2017 입자 크기 분석 - 소각 X선 산란
GSO ISO 16258-2:2021 작업장 공기 - X선 회절을 통한 호흡성 결정질 실리카 분석 - 2부: 간접 분석 방법
BH GSO ISO 16258-2:2022 작업장 공기 - X선 회절을 통한 호흡성 결정질 실리카 분석 - 2부: 간접 분석 방법
OS GSO IEC 62495:2014 원자력 계측 - 소형 X선관을 활용한 휴대용 X선 형광 분석 장비
BH GSO IEC 62495:2016 원자력 계측 - 소형 X선관을 활용한 휴대용 X선 형광 분석 장비
GSO ISO 10810:2013 표면 화학 분석 -- X선 광전자 분광학 -- 분석 지침
OS GSO ISO 10810:2013 표면 화학 분석 -- X선 광전자 분광학 -- 분석 지침
BH GSO ISO 10810:2016 표면 화학 분석 -- X선 광전자 분광학 -- 분석 지침
GSO ISO 16258-1:2021 작업장 공기 - X선 회절을 통한 호흡성 결정질 실리카 분석 - 1부: 필터 직접법
BH GSO ISO 16258-1:2022 작업장 공기 - X선 회절을 통한 호흡성 결정질 실리카 분석 - 1부: 필터 직접법
GSO ISO 16129:2014 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법 - X선 광전자 분광계의 일상 성능을 평가하는 절차
GSO ISO 29581-2:2013 시멘트 - 시험 방법 - 2부: X선 형광을 이용한 화학적 분석
GSO IEC 61335:2014 핵 계측 - X선 형광 분석을 위한 시추공 장치
GSO ISO 15472:2013 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광계 - 에너지 척도 교정
GSO ISO 12677:2014 X선 형광(XRF)을 이용한 내화 제품의 화학적 분석 - 융합 주조-비드 방법
GSO IEC 62495:2014 원자력 계측 - 소형 X선관을 활용한 휴대용 X선 형광 분석 장비
GSO ISO 14706:2013 표면 화학 분석 - 전반사 X선 형광(TXRF) 분광법을 통한 실리콘 웨이퍼의 표면 원소 오염 측정
GSO ISO 13424:2015 표면화학분석 -- X선 광전자분광학 -- 박막분석 결과 보고
OS GSO ISO 13424:2015 표면화학분석 -- X선 광전자분광학 -- 박막분석 결과 보고
BH GSO ISO 13424:2017 표면화학분석 -- X선 광전자분광학 -- 박막분석 결과 보고
OS GSO IEC 61335:2014 핵 계측 - X선 형광 분석을 위한 시추공 장치
BH GSO IEC 61335:2016 핵 계측 - X선 형광 분석을 위한 시추공 장치
OS GSO ISO 16129:2014 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법 - X선 광전자 분광계의 일상 성능을 평가하는 절차
BH GSO ISO 16129:2015 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법 - X선 광전자 분광계의 일상 성능을 평가하는 절차
OS GSO ISO 29581-2:2013 시멘트 - 시험 방법 - 2부: X선 형광을 이용한 화학적 분석
BH GSO ISO 29581-2:2016 시멘트 - 시험 방법 - 2부: X선 형광을 이용한 화학적 분석
BH GSO ISO 17470:2017 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세분석 - 파장 분산형 X선 분광법을 통한 정성적 점 분석 지침
GSO ISO 18554:2017 표면 화학 분석 -- 전자 분광학 -- X선 광전자 분광법으로 분석 중인 물질의 X선에 의한 의도하지 않은 분해를 식별, 추정 및 수정하는 절차
OS GSO ISO 18554:2017 표면 화학 분석 -- 전자 분광학 -- X선 광전자 분광법으로 분석 중인 물질의 X선에 의한 의도하지 않은 분해를 식별, 추정 및 수정하는 절차
GSO ISO/TR 12389:2013 시멘트 시험방법 - 시험프로그램 보고 - 형광X선을 이용한 화학적 분석
GSO ISO 22489:2015 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석 - 파장 분산형 X선 분광법을 이용한 벌크 시료의 정량적 점 분석
GSO ISO/TR 18392:2013 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 - 배경 결정 절차
GSO ISO 14701:2013 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법 - 산화규소 두께 측정
OS GSO ISO/TR 12389:2013 시멘트 시험방법 - 시험프로그램 보고 - 형광X선을 이용한 화학적 분석
GSO ISO 17470:2015 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세분석 - 파장 분산형 X선 분광법을 통한 정성적 점 분석 지침
BH GSO ISO 15472:2016 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광계 - 에너지 척도 교정
OS GSO ISO 21587-2:2015 알루미노실리케이트 내화 제품의 화학적 분석(X선 형광법 대체) - 2부: 습식 화학 분석
BH GSO ISO 22489:2017 마이크로빔 분석 - 전자 탐침 미세 분석 - 파장 분산형 X선 분광법을 이용한 벌크 시료의 정량적 점 분석
GSO ISO 16243:2015 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법(XPS)으로 데이터 기록 및 보고
OS GSO ISO 16243:2015 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법(XPS)으로 데이터 기록 및 보고
BH GSO ISO 16243:2017 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법(XPS)으로 데이터 기록 및 보고
GSO ISO 20565-2:2015 크롬 함유 내화 제품 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광법 대체) - 2부: 습식 화학 분석
GSO ISO 21587-2:2015 알루미노실리케이트 내화 제품의 화학적 분석(X선 형광법 대체) - 2부: 습식 화학 분석

RU-GOST R, 단결정 X선 분석

GOST 28033-1989 Steel.X-ray 형광 분석 방법
GOST R 55410-2013 내화물 X선 형광(XRF) 분석
GOST R 55080-2012 주철.X선 형광 분광법(XRF) 분석 방법
GOST R ISO 16258-1-2017 X선 회절을 이용한 작업장 공기의 호흡성 결정질 실리카 분석 1부. 직접 여과법
GOST 16865-1979 X선 구조 및 분광 분석 장치 - 용어 및 정의
GOST 19647-1974 X선 측정 분석을 위한 방법 및 장비 용어 및 정의

German Institute for Standardization, 단결정 X선 분석

DIN 51418-2:2015 X선 분광 분석 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 2부: 측정, 교정 및 평가의 정의 및 기본 원리
DIN 51418-2:1996 X선 분광 분석 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 2부: 측정, 교정 및 평가의 정의 및 기본 원리
DIN 51418-1:2008 X선 분광법 X선 산란 및 X선 형광 분석(XRF) 1부: 정의 및 기본 원리
DIN EN 13925-2:2003 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 2부: 절차
DIN EN 13925-1:2003 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 1부: 일반 원리
DIN EN 13925-3:2005 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 3부: 기기
DIN EN 13925-3:2005-07 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 3부: 계측
DIN EN 13925-2:2003-07 비파괴 검사 - 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 - 2부: 절차
DIN 51418-1:1996 X선 분광법 X선 산란 및 X선 형광 분석(RFA) 1부: 정의 및 기본 원리
DIN 51418-1:2008-08 방사선 분광학 X선 방출 및 X선 형광 분석(XRF) 1부: 정의 및 기본 원리
DIN EN 13925-1:2003-07 비파괴 검사 - 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 - 1부: 일반 원리
DIN 51418-2:2015-03 X선 분광법 X선 방출 및 X선 형광 분석(XRF) 2부: 측정, 교정 및 결과 평가의 정의 및 기본 원리
DIN EN 1330-11:2007-09 비파괴 검사 용어 11부: 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 사용되는 용어
DIN IEC 62495:2011 핵 장비 소형 X선관을 이용한 휴대용 X선 형광 분석 장비(IEC 62495-2011)
DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 비파괴검사 X선 회절 잔류응력 분석 시험방법
DIN EN 15305:2009-01 비파괴검사 X선 회절 잔류응력 분석 시험방법
DIN ISO 16129:2020-11 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
DIN 51418-2 Bb.1:2000 X선 광도법 X선 산란 및 X선 형광 분석(XRF) 2부: 측정, 보정 및 결과 평가의 정의 및 기본 원리 추가 정보 및 계산 예
DIN EN 1330-11:2007 비파괴 검사 용어 11부: 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 사용되는 용어
DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 X-선 회절 분석을 이용한 비파괴 시험 잔류 응력 분석 시험 방법
DIN 55912-2 Bb.2:1999 안료 이산화티타늄 안료 분석 방법 X선 형광 분석을 통한 검량선 개발
DIN EN 15305:2009 비파괴 시험 X선 회절에 의한 잔류 응력 분석 시험 방법.
DIN 50443-1:1988 반도체 공정에 사용되는 재료 검사 1부: X선 프로파일로법을 통한 반도체 단결정 실리콘의 결정 결함 및 불균일 검출
DIN 55912-2 Bb.1:1999 안료 이산화티타늄 안료 분석 방법 X선 형광 분석을 통한 미량 성분 측정의 예
DIN EN 12698-2:2007 질화물 결합 탄화규소 내화물의 화학적 분석 2부: X선 회절(XRD) 방법
DIN EN ISO 21587-2:2007-12 알루미노실리케이트 내화물의 화학적 분석(X선 형광법 대체) - 2부: 습식 화학 분석
DIN EN ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화물 제품의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 습식 화학 분석
DIN ISO 16129:2020 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하기 위한 절차(ISO 16129-2018), 영어 텍스트
DIN 6855-2:2005 핵 의료 기기의 품질 관리 2부: 단광자 단층 촬영용 회전 감지 헤드를 갖춘 앵글형 감마선 카메라와 평면 신티그라피용 단결정 감마선 카메라의 안정성 테스트
DIN 6855-2:2013 핵 의료 기기의 품질 관리 2부: 단광자 단층 촬영용 회전 감지 헤드를 갖춘 앵글형 감마선 카메라와 평면 신티그라피용 단결정 감마선 카메라의 안정성 테스트
DIN EN ISO 12677:2013-02 X선 형광(XRF) 캐스트 비드 방법을 통한 내화 제품의 화학적 분석
DIN 51440-1:2003 휘발유 테스트 인 함량 측정 1부: 파장 분산형 X선 분광법.
DIN ISO 15472:2020-05 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광계 - 에너지 스케일 교정(ISO 15472:2010)
DIN EN ISO 10058-2:2009-04 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(X선 형광법 대체) - 2부: 습식 화학 분석
DIN EN ISO 10058-2:2009 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 파트 2: 습식 화학 분석
DIN EN ISO 20565-2:2009-06 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광법 대체) - 2부: 습식 화학 분석

工业和信息化部, 단결정 X선 분석

YS/T 1178-2017 알루미늄 슬래그 상 분석 X선 회절법
YB/T 172-2020 X-선 회절법을 이용한 실리카 벽돌의 정량적 상 분석
YS/T 1344.3-2020 주석 도핑된 산화인듐 분말의 화학적 분석 방법 제3부: 상 분석 X선 회절 분석 방법
YS/T 1160-2016 산업용 실리콘 분말의 정량상 분석 실리카 함량 결정 X선 회절 K 값 방법
YS/T 483-2022 구리 및 구리 합금 X선 형광 분광법(파장 분산형) 분석 방법
YS/T 1033-2015 X선 형광 분광법을 이용한 건식 누출 방지 재료의 원소 함량 측정

SCC, 단결정 X선 분석

DANSK DS/ISO 17867:2020 입자 크기 분석 – 소각 X선 산란(SAXS)
SPC GB/T 16597-2019 야금 제품의 분석 방법 - X선 형광 분광법에 대한 일반 규칙(문서 텍스트는 중국어로 되어 있음)
ISO 17109:2015/DAmd 1 표면 화학 분석 - 깊이 프로파일링 - X선 광전자 분광법, 오제 전자 분광법 및 2차 이온 질량 분석법의 스퍼터 속도 결정 방법 단층 및 다층 박막을 사용한 스퍼터 깊이 프로파일링 - A...
ISO 15472:2001/DAmd 1 표면의 화학적 분석 - X선 광전자 분광계 - 에너지 교정 - 수정안 1
DIN ISO 16129 E:2020 초안 문서 - 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법 - X선 광전자 분광계의 일상 성능을 평가하기 위한 절차(ISO 16129:2018) 영어로 된 텍스트

Professional Standard - Machinery, 단결정 X선 분석

JB/T 9401-1999 측면 창 형광 분석 X선관
JB/T 9399-1999 X선 분석 기기 주요 매개변수 시리즈
JB/T 9399-2010 X선 분석 기기 주요 매개변수 시리즈

American Society for Testing and Materials (ASTM), 단결정 X선 분석

ASTM F847-94(1999) 단결정 실리콘 웨이퍼 기준면의 결정학적 방향에 대한 X선 측정을 위한 표준 테스트 방법
ASTM E1621-21 X선 방출 분광학 분석을 위한 표준 가이드
ASTM D5380-93(2009) X-선 회절 분석을 통해 페인트의 결정성 안료 및 충전재를 식별하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM D5380-93(2003) X선 회절 분석을 통해 코팅 내 결정성 안료 및 증량제를 식별하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM D5380-93(1998) X-선 회절 분석을 통해 페인트의 결정성 안료 및 충전재를 식별하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM D5380-93(2021) X선 회절 분석을 통해 코팅 내 결정성 안료 및 증량제를 식별하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM D5380-93(2014) X-선 회절 분석을 통해 페인트의 결정성 안료 및 충전재를 식별하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM E1621-05 X선 발산 분광학 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1085-95(2004) 금속의 X선 방사선 분광법을 위한 분석 시험 방법
ASTM E1085-95(2000) 금속의 X선 방사선 분광법을 위한 분석 시험 방법
ASTM E1085-95(2004)e1 금속의 X선 방사선 분광법을 위한 분석 시험 방법
ASTM E572-94(2000) 스테인레스 강의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E572-02a(2006)e1 스테인레스 강의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E572-02a(2006) 스테인레스 강의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E572-02a 스테인레스 강의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E1361-90(1999) X선 분광 분석의 입사 효과 보정을 위한 표준 가이드
ASTM E572-94(2000)e1 스테인레스 강의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E1361-02(2021) X선 분광 분석의 입사 효과 보정을 위한 표준 가이드
ASTM E322-96e1 저합금강 및 주철의 X선 방출분광분석법
ASTM D5381-93(2003) 안료 및 필러의 X선 형광(XRF) 분광 분석
ASTM D5381-93(1998) 안료 및 필러의 X선 형광(XRF) 분광 분석
ASTM C1271-99(2006) 석회 및 석회석의 X선 분광분석을 위한 표준시험방법
ASTM C1271-99 석회석회석의 X선 분광분석을 위한 표준시험방법
ASTM C1271-99(2020) 석회석회석의 X선 분광분석을 위한 표준시험방법
ASTM E322-96(2004) 저합금강 및 주철의 X선 방출 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E2465-11e1 X-선 분광학을 이용한 니켈 기반 합금 분석을 위한 표준 테스트 방법
ASTM C1271-99(2012) 석회 및 석회석의 X선 분광분석을 위한 표준시험방법
ASTM E3294-22 분말 X선 회절을 이용한 지질학적 물질의 법의학적 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1621-13 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 원소 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E996-94(1999) Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 데이터 보고를 위한 표준 관행
ASTM D2332-84(1999) 파장 분산 X선 형광을 이용한 수중 퇴적물 분석의 표준 사례
ASTM E539-90(1996)e1 6 알루미늄 4 바나듐 티타늄 합금의 X선 방사선 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E539-02 6 알루미늄 4 바나듐 티타늄 합금의 X선 방사선 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E539-06 6 알루미늄 4 바나듐 티타늄 합금의 X선 방사선 분광 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E3294-23 분말 X선 회절을 이용한 지질학적 물질의 법의학적 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1588-10e1 주사전자현미경/에너지 산란 X선 분광법을 통한 탄 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1085-09 X선 형광 분광법을 이용한 저합금강 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E2465-19 X선 형광 분광법을 이용한 니켈 기반 합금 분석을 위한 표준 테스트 방법
ASTM E539-11 X선 형광 분광법을 이용한 티타늄 합금 분석의 표준 시험 방법
ASTM E1361-02 X-선 분광분석에서 공존하는 원소 효과의 보정을 위한 표준 가이드
ASTM E1361-02(2007) X-선 분광분석에서 공존하는 원소 효과의 보정을 위한 표준 가이드
ASTM E1361-02(2014)e1 X-선 분광분석에서 공존하는 원소 효과의 보정을 위한 표준 가이드
ASTM C1416-99 X선 형광을 이용한 천연 및 폐수 내 우라늄 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM C1416-04 X선 형광을 이용한 천연 및 폐수 내 우라늄 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E1621-94(1999) 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 원소 분석을 위한 표준 가이드
ASTM D2332-08 파장 분산형 X선 형광을 이용한 퇴적물 분석의 표준 사례
ASTM E1621-22 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 원소 분석을 위한 표준 가이드
ASTM D2332-13 파장 분산형 X선 형광을 이용한 퇴적물 분석을 위한 표준 작업 절차
ASTM D2332-84(2003) 파장 분산형 X선 형광을 이용한 퇴적물 분석을 위한 표준 작업 절차
ASTM C1416-04(2009) X선 형광을 이용한 천연 및 폐수 내 우라늄 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM E2465-23 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 Ni 기반 합금 분석을 위한 표준 테스트 방법
ASTM E1588-16 주사전자현미경/에너지 산란 X선 분광법을 이용한 촬영 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E539-19 파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 티타늄 합금 분석의 표준 시험 방법

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, 단결정 X선 분석

YB/T 172-2000 실리카 벽돌의 정량상 분석.X선 회절법
YB/T 4177-2008 슬래그 X선 형광분광법 분석방법
YB/T 5320-2006 금속재료의 정량상 분석을 위한 X선 회절 K 값 방법
YB/T 5336-2006 X-선 회절법을 이용한 고속도강의 탄화물 상의 정량 분석

Association Francaise de Normalisation, 단결정 X선 분석

NF X43-600-2*NF ISO 16258-2:2015 X선 회절을 이용한 작업장 공기 호흡성 결정질 실리카 분석 2부: 간접 분석 방법
NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 3부: 기기
NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 X선 회절을 이용한 다결정 및 비정질 재료의 비파괴 검사 2부: 절차
NF EN 1330-11:2007 비파괴 검사 - 용어 - 파트 11: 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절
NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 1부: 기본 원리
NF EN 13925-2:2003 비파괴 검사 - 다결정 및 비정질 재료에 적용되는 X선 회절 - 2부: 절차
NF EN 13925-3:2005 비파괴 검사 - 다결정 및 비정질 재료에 적용되는 X선 회절 - 3부: 장비
NF EN 13925-1:2003 비파괴 검사 - 다결정 및 비정질 재료에 적용되는 X선 회절 - 1부: 일반 원리
NF X43-600-1*NF ISO 16258-1:2015 X선 회절을 통한 작업장 공기의 호흡성 결정질 실리카 분석 1부: 직접 여과 방법
NF A09-020-11*NF EN 1330-11:2007 비파괴 검사 용어 11부: 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 용어.
NF X21-071:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
NF EN 15305:2009 비파괴검사 X선 회절 잔류응력 분석 시험방법
NF ISO 16258-2:2015 작업장 공기 중 X선 회절을 통한 결정질 실리카의 호흡 가능 분율 측정 2부: 간접 분석 방법
NF ISO 16258-1:2015 작업장 공기 X선 회절 방법을 통한 결정질 실리카의 호흡 가능 분율 측정 1부: 직접 여과 분석 방법
NF EN ISO 12677:2011 X선 형광법에 의한 내화물의 화학적 분석 - 용융 비드법
NF T25-111-3:1991 탄소 섬유 - 질감 및 구조 - 3부: X선 회절의 방위각 분석
NF A09-185*NF EN 15305:2009 비파괴 시험 - X선 회절에 의한 잔류 응력 분석 시험 방법
NF S92-502:2006 의료 생물 분석 실험실 인체 방사선학 폐 계수 저에너지 X선 및 알파선 방출기(200keV 미만)
NF X21-003:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세분석 파장 분포 X선 분광법의 정량 분석 가이드
NF A09-285:1999 비파괴 시험 X선 회절에 의한 잔류 응력 분석 시험 방법
NF X21-055:2006 표면 화학 분석.X선 광전자 분광계.에너지 스케일 교정
NF M07-095*NF EN ISO 14597:1999 X선 형광 분석을 통한 석유 제품의 바나듐 및 니켈 함량 측정
NF A11-103:1977 페로니오븀 합금의 화학적 분석 X선 형광 분광법을 통한 니오븀 측정
XP A06-379-1999 파장 산란 X선 형광 분광법의 일상적인 사용을 위한 표준 개발 지침
NF B49-422-2*NF EN 12698-2:2008 질화물 결합 탄화규소 내화물의 화학적 분석 2부: X선 회절(XRD) 방법.
NF B40-670-2*NF EN ISO 21587-2:2007 규산알루미늄 내화물의 화학적 분석(선택적 X선 형광 방법) 2부: 습식 화학적 분석
NF B40-677*NF EN ISO 12677:2011 X선 형광(XRF) 비드 용융 방법을 통한 내화물의 화학적 분석
FD T16-203:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
NF X21-073*NF ISO 16243:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
NF X11-683:1981 액체 내 다양한 높이에서 중력에 의해 침전된 분말 입자를 분석합니다.
NF ISO 16243:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)의 데이터 로깅 및 보고
NF X21-006:2007 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 단결정 X선 분석

JIS K 0181:2021 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분석
JIS G 1256:1997 Steel.X선 형광 분광법
JIS H 1292:2018 구리 합금.X선 형광 분광법
JIS K 0131:1996 X선 회절계 측정 분석에 대한 일반 규칙
JIS H 1292:2005 구리 합금의 X선 형광 분광법
JIS M 8205:2000 철광석 X선 형광 분광계 분석
JIS R 2216:2005 내화제품의 X선 형광분광법 분석방법
JIS K 0148:2005 표면 화학 분석 TXRF(전반사 X선 형광) 측정을 사용하여 실리콘 웨이퍼의 주요 표면 오염 물질을 측정합니다.
JIS H 1631:2008 티타늄 합금 X선 형광 분광법 분석 방법
JIS G 1256 AMD 1:2010 강철.X선형광분광분석법
JIS G 1351:2006 철 합금 X-선 형광 분광법의 분석 방법
JIS H 1292:1997 구리 및 구리 합금의 X선 형광 분광법
JIS H 1287:2015 니켈 및 니켈 합금 X선 형광 분광 분석 방법
JIS G 1256 AMD 2:2013 강철 X선 형광 분광법(수정 사항 2)
JIS R 2216:1995 내화벽돌 및 내화모르타르의 X선 형광분광법 분석방법
JIS R 5204:2002 X선 형광을 이용한 시멘트의 화학적 분석 방법
JIS R 5204:2019 X선 형광을 이용한 시멘트의 화학적 분석 방법
JIS K 0190:2010 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 질량점 분석 안내
JIS K 0145:2002 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 에너지 척도 교정
JIS K 0152:2014 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 분석 강도 척도의 반복성 및 일관성
JIS K 0189:2013 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 파장 분산형 X선 분광법을 위한 실험 매개변수 결정.
JIS Z 4752-2-6:2001 의료 영상 부서의 평가 및 일상 테스트 파트 2-6: 안정성 테스트 컴퓨터 단층 촬영용 X선 장비
JIS Z 4752-2-6:2012 의료 영상 부서의 평가 및 일상 테스트 파트 2-6: 안정성 테스트 컴퓨터 단층 촬영용 X선 장비
JIS A 1481-3:2014 건축 자재 제품의 석면 측정 3부: X선 회절을 통한 석면 함량 정량 분석

Professional Standard - Building Materials, 단결정 X선 분석

JC/T 1085-2008 시멘트용 X선 형광 분석기

Professional Standard - Nuclear Industry, 단결정 X선 분석

EJ/T 1067-1998 X선 형광 분석을 위한 Americium 241 소스
EJ/T 1068-1998 X선 형광 분석을 위한 플루토늄-238 소스
EJ/T 767-1993 방사성 소스에 의해 여기되는 X선 형광 분석기
EJ/T 805-1993 X선 형광 분석을 위한 저에너지 광자 소스
EJ/T 684-1992 휴대용 소스 여기 X선 형광 분석기
EJ/T 684-2016 휴대용 에너지 분산형 X선 형광 분석기

European Committee for Standardization (CEN), 단결정 X선 분석

EN 13925-2:2003 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 2부: 절차
EN 13925-3:2005 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 3부: 기기
EN 13925-1:2003 비파괴 검사 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절 1부: 일반 원리
CEN/TR 10354:2011 철금속 재료의 화학적 분석 규소철 분석 X선 형광 분광법 규소 및 알루미늄 측정
EN 12698-2:2007 질화물 결합 탄화규소 내화물의 화학적 분석 2부: X선 회절(XRD) 방법
PD CEN/TR 10354:2011 철 재료의 화학적 분석 페로실리콘 분석 X선 형광 분광법을 통한 실리콘 및 알루미늄 측정

Danish Standards Foundation, 단결정 X선 분석

DS/EN 13925-2:2003 X선 회절을 이용한 다결정 및 비정질 재료의 비파괴 검사 2부: 절차
DS/EN 13925-3:2005 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 3부: 계측
DS/EN 13925-1:2003 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 1부: 일반 원리
DS/EN 15305/AC:2009 비파괴검사를 위한 X선 회절을 이용한 잔류응력 분석 시험방법
DS/EN 15305:2008 비파괴검사를 위한 X선 회절을 이용한 잔류응력 분석 시험방법
DS/CEN/TR 10354:2012 철금속 재료의 화학적 분석 규소철 분석 X선 형광 분광법 Si 및 Al 측정
DS/EN ISO 21587-2:2007 알루미노실리케이트 내화물의 화학 분석(X선 형광 대체) 파트 2: 습식 화학 분석
DS/EN ISO 12677:2011 X선 형광(XRF) 캐스트 비드 방법을 통한 내화 제품의 화학적 분석
DS/ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
DS/EN ISO 10058-2:2009 마그네사이트 및 백운석 내화물의 화학 분석(X선 형광 대체) 파트 2: 습식 화학 분석
DS/EN ISO 20565-2:2009 크롬 함유 내화물 및 크롬 함유 원료의 화학적 분석(X선 형광법 대체) 파트 2: 습식 화학 분석

Lithuanian Standards Office , 단결정 X선 분석

LST EN 13925-3-2005 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 3부: 계측
LST EN 13925-2-2004 X선 회절을 이용한 다결정 및 비정질 재료의 비파괴 검사 2부: 절차
LST EN 13925-1-2004 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 1부: 일반 원리
LST EN 15305-2008 비파괴검사를 위한 X선 회절을 이용한 잔류응력 분석 시험방법
LST EN 15305-2008/AC-2009 비파괴검사를 위한 X선 회절을 이용한 잔류응력 분석 시험방법
LST EN ISO 21587-2:2007 알루미노실리케이트 내화물의 화학 분석(X선 형광 방법 대체) 파트 2: 습식 화학 분석(ISO 21587-2:2007)

AENOR, 단결정 X선 분석

UNE-EN 13925-2:2004 X선 회절을 이용한 다결정 및 비정질 재료의 비파괴 검사 2부: 절차
UNE-EN 13925-3:2006 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 3부: 계측
UNE-EN 13925-1:2006 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 대한 비파괴 검사 1부: 일반 원리
UNE-EN 1330-11:2008 비파괴 검사 용어 11부: 다결정 및 비정질 재료의 X선 회절에 사용되는 용어
UNE-EN 15305:2010 비파괴검사를 위한 X선 회절을 이용한 잔류응력 분석 시험방법
UNE-EN ISO 21587-2:2008 알루미노실리케이트 내화물의 화학 분석(X선 형광 방법 대체) 파트 2: 습식 화학 분석(ISO 21587-2:2007)

Professional Standard - Energy, 단결정 X선 분석

NB/SH/T 6015-2020 X-선 회절법에 의한 ZSM-23 분자체의 단위 셀 매개변수 결정
NB/SH/T 6033-2021 X-선 회절법에 의한 ZSM-22 분자체의 단위 셀 매개변수 결정
NB/SH/T 6024-2021 X선 회절법을 이용한 ZSM-5 분자체의 상대적 결정화도 측정
NB/SH/T 0339-2021 X선 회절법을 이용한 포자사이트 제올라이트의 단위 셀 매개변수 결정

Professional Standard - Electricity, 단결정 X선 분석

DL/T 1151.22-2012 화력 발전소의 스케일 및 부식 생성물 분석 방법 22부: X선 형광 분광법 및 X선 회절 분석

American National Standards Institute （ANSI), 단결정 X선 분석

ANSI N43.2-2001 X선 회절 및 형광 분석 장비의 방사선 안전성

International Electrotechnical Commission (IEC), 단결정 X선 분석

IEC 62495:2011 핵감시 장비, 마이크로 X선관을 활용한 휴대용 X선 형광 분석 장비
IEC 61335:1997 핵기기 X선 형광분석용 드릴링 장비

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, 단결정 X선 분석

GBZ 115-2002 X선 회절 및 형광 분석기의 위생 보호 표준

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 단결정 X선 분석

GB/T 36017-2018 비파괴검사기 X선형광분석관
GB/T 22571-2017 표면 화학 분석을 위한 X선 광전자 분광기의 에너지 규모 교정
GB/T 35734-2017 휴대용 튜브 여기 X선 형광 분석기의 분류, 안전 요구 사항 및 테스트

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 단결정 X선 분석

CNS 11942.23-2000 구리 및 구리 합금의 형광 X선 분석
CNS 11942-23-2000 구리 및 구리 합금의 형광 X선 분석

VDE - VDE Verlag GmbH@ Berlin@ Germany, 단결정 X선 분석

VDE 0412-20-2011 원자력 계측 - 소형 X선관을 활용한 휴대용 X선 형광 분석 장비(IEC 62495:2011)

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 단결정 X선 분석

DB44/T 1602-2015 석재 조성 분석 방법 - X선 형광 분광법

Professional Standard - Non-ferrous Metal, 단결정 X선 분석

YS/T 273.14-2008 빙정석의 화학적 분석 및 물리적 특성을 위한 방법 14부: X선 형광 분광법을 통한 원소 함량 측정
YS/T 273.11-2006 빙정석의 화학적 분석 및 물리적 특성 측정 방법 11부: X선 형광 분광법을 통한 황 함량 측정
YS/T 869-2013 4A 제올라이트 X선 형광법의 화학성분 분석방법
YS/T 273.15-2012 빙정석의 화학적 분석 및 물리적 특성 측정 방법 15부: X선 형광 분광법(정제 압착) 방법에 의한 원소 함량 측정
YS/T 273.11-2023 빙정석의 화학적 분석 및 물리적 특성 시험 방법 - 파트 11: 원소 함량 측정 - X선 형광 분광법
YS/T 483-2005 구리 및 구리 합금 X선 형광 분광법(파장 분산형) 분석 방법
YS/T 703-2014 석회석 화학 분석 방법 원소 함량 결정 X선 형광 분광법

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 단결정 X선 분석

IEEE 759-1984 반도체 X선 에너지 스펙트럼 분석기의 테스트 절차

Professional Standard - Geology, 단결정 X선 분석

DZ/T 0370-2021 휴대용 X선 형광 현장 분석에 대한 기술 규정

未注明发布机构, 단결정 X선 분석

DIN 51418-2 E:2014-06 X선 분광법 - X선 방출 및 X선 형광 분석(XRF) - 2부: 측정, 교정 및 결과 평가를 위한 정의 및 기본 원리
DIN ISO 16129 E:2020-01 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법 - X선 광전자 분광계의 일상 성능을 평가하는 절차
DIN ISO 15472 E:2019-09 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광계 - 에너지 스케일 교정
ASTM RR-E01-1061 2006 E0539-파장 분산형 X선 형광 분광법에 의한 티타늄 합금 분석을 위한 테스트 방법
ASTM RR-E01-1114 2011 E0539-파장 분산형 X선 형광 분광법에 의한 티타늄 합금 분석을 위한 테스트 방법
DIN 51440-1:1988 휘발유 테스트 - 인 함량 측정 - 1부: 파장 분산형 X선 분광법(XRS)을 통한 분석
ASTM RR-E01-1060 2006 E2465-파장 분산형 X선 형광 분광법을 이용한 Ni 기반 합금 분석을 위한 테스트 방법

Professional Standard - Petroleum, 단결정 X선 분석

SY/T 5163-1995 퇴적암 내 점토광물의 상대적 함량에 대한 X선 회절분석법
SY/T 5163-2010 퇴적암의 점토광물과 일반적인 비점토광물의 X선 회절분석법
SY/T 6210-1996 퇴적암 내 총점토광물과 일반 비점토광물에 대한 X선 회절 정량분석 방법

IN-BIS, 단결정 X선 분석

IS 12803-1989 X선 형광분광기를 이용한 수경시멘트 분석방법

Professional Standard - Customs, 단결정 X선 분석

HS/T 12-2006 X선 회절법을 이용한 활석, 녹니석, 마그네사이트의 혼합상의 정량분석

Professional Standard - Commodity Inspection, 단결정 X선 분석

SN/T 2079-2008 스테인레스강 및 합금강 X선 형광 분광법 분석 방법

ES-UNE, 단결정 X선 분석

UNE 53934:2016 고분자 재료의 원소에 대한 플라스틱 X선 형광 분석
UNE-EN ISO 10058-2:2008 마그네사이트 및 백운석 내화 제품의 화학적 분석(X선 형광 대체) 파트 2: 습식 화학 분석

工业和信息化部/国家能源局, 단결정 X선 분석

JB/T 12962.2-2016 에너지 분산형 X선 형광 분광계 파트 2: 원소 분석기
JB/T 12962.3-2016 에너지 분산형 X선 형광 분광계 3부: 코팅 두께 분석기

Standard Association of Australia （SAA）, 단결정 X선 분석

AS 4392.1:1996 무거운 미네랄 모래. 파장 분산형 X선 형광 분광법 분석. 티타늄 광석
AS 4392.2:1997 무거운 미네랄 모래. 파장 분산형 X선 형광 분광법 분석. 석재
AS 4392.1:1996/Amdt 2:1999 중광물 모래의 파장분산형 X선 형광분광법을 이용한 티타늄 함유 광석 분석
AS 4392.1:1996/Amdt 1:1996 중광물 모래의 파장분산형 X선 형광분광법을 이용한 티타늄 함유 광석 분석
AS ISO 15472:2006 표면 화학 분석. X선 광전자 분광학. 에너지 규모의 교정

国家能源局, 단결정 X선 분석

SY/T 5163-2018 퇴적암의 점토광물과 일반적인 비점토광물의 X선 회절분석법

Professional Standard - Chemical Industry, 단결정 X선 분석

HG/T 6227-2023 접촉분해촉매 X선 형광분광법의 화학성분 분석방법
HG/T 6150-2023 윤활유 수소화 이성화 촉매 X선 형광 분광법의 화학 조성 분석 방법

(U.S.) Ford Automotive Standards, 단결정 X선 분석

FORD FLTM BI 017-03-2001 크롬산염/아연 분말 복합 코팅의 중량 결정. PORTASPEC X선 분석
FORD FLTM BI 017-3-2001 도금량 결정 크로메이트/아연 분말 복합재 PORTASPEC X-ray 분석

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, 단결정 X선 분석

DB37/T 266-1999 건축자재 제품의 폐잔류량 측정방법 X선 형광분석

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, 단결정 X선 분석

DB35/T 110-2000 페인트 증거물 검출을 위한 전자탐침 및 주사전자현미경 X선 에너지 분광분석 방법