포토다이오드를 감지하는 방법

모두 104항목의 포토다이오드를 감지하는 방법와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 포토다이오드를 감지하는 방법와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 광섬유 통신, 광전자공학, 레이저 장비, 반도체 개별 장치, 인쇄 회로 및 인쇄 회로 기판, TV 방송 및 라디오 방송, 오디오, 비디오 및 시청각 엔지니어링, 원자력공학, 도로 차량 장치, 전등 및 관련 기기, 전자관, 전자 디스플레이 장치, 태양광 공학.

Professional Standard - Post and Telecommunication, 포토다이오드를 감지하는 방법

YD/T 835-1996 눈사태 포토다이오드 감지 방법
YD/T 834-1996 분산 피드백 레이저 다이오드 검출 방법

邮电部, 포토다이오드를 감지하는 방법

YD/T 0835-1996 눈사태 포토다이오드 감지 방법
YD/T 0834-1996 분산 피드백 레이저 다이오드 검출 방법

Professional Standard - Military and Civilian Products, 포토다이오드를 감지하는 방법

WJ 2100-2004 실리콘 포토다이오드, 실리콘 애벌런치 포토다이오드 테스트 방법
WJ 2506-1998 포토다이오드 동적 테스터 교정 절차

British Standards Institution (BSI), 포토다이오드를 감지하는 방법

BS IEC 60747-5-8:2019 반도체소자, 광전자소자, 발광다이오드, 발광다이오드의 광전효율 시험방법
BS IEC 60747-5-11:2019 반도체 장치, 광전자 장치, 발광 다이오드, 발광 다이오드의 방사 및 비방사 전류에 대한 테스트 방법
BS IEC 60747-5-16:2023 반도체 소자 - 광전자 소자 발광 다이오드 GaN 기반 발광 다이오드 광전류 스펙트럼 기반 플랫 밴드 전압 테스트 방법
18/30367363 DC BS IEC 60747-5-8 반도체 장치 5-8부 광전자 장치 발광 다이오드 발광 다이오드의 광전 효율 테스트 방법
PD IEC/TS 62916:2017 태양광 모듈 바이패스 다이오드 정전기 방전 감수성 테스트
BS ISO 13207-1:2012 도로 차량 전구 호환성 결함 감지를 위한 LED(발광 다이오드) 전구의 특성 방향 표시 LED(발광 다이오드) 전구
18/30388245 DC BS EN IEC 60747-5-11 반도체 장치 파트 5-11 광전자 장치 발광 다이오드 발광 다이오드 방사 및 비방사 전류에 대한 테스트 방법
PD IEC TR 60747-5-12:2021 반도체소자 광전자소자 발광다이오드 LED 효율 시험 방법
BS EN 62341-6-1:2011 유기발광다이오드(OLED) 디스플레이 광학 및 광전자 매개변수 측정 방법
BS IEC 60747-5-15:2022 전기반사스펙트럼을 기반으로 한 반도체소자-광전자소자 발광다이오드 플랫밴드 전압 테스트 방법
PD IEC TS 63109:2022 광전지(PV) 모듈 및 셀은 전자발광 이미지 정량 분석을 통해 다이오드 이상성 인자를 측정합니다.
BS IEC 60747-5-9:2019 온도변화 전계발광 기반 반도체소자 광전자소자 발광다이오드 내부양자효율 시험 방법
14/30313209 DC BS EN 62341-6-1 유기발광다이오드(OLED) 디스플레이 파트 6-1 광학 및 전기광학 매개변수 측정 방법
BS IEC 60747-5-10:2019 상온기준점 기반 반도체소자 광전자소자 발광다이오드 내부양자효율 시험방법
23/30475452 DC BS EN IEC 62341-6-1 유기발광다이오드(OLED) 디스플레이 파트 6-1 광학 및 전기광학 매개변수 측정 방법
20/30430108 DC BS EN IEC 62341-6-1 유기발광다이오드(OLED) 디스플레이 파트 6-1 광학 및 전기광학 매개변수 측정 방법
21/30440970 DC BS EN IEC 60747-5-16 반도체 장치 파트 5-16 광전자 장치 발광 다이오드 광전류 스펙트럼을 기반으로 한 플랫 밴드 전압 테스트 방법
20/30422995 DC BS EN IEC 60747-5-15 반도체 장치 파트 5-15 광전자 장치 발광 다이오드 전기 반사 분광법을 기반으로 한 플랫 밴드 전압 테스트 방법
BS EN 62341-6-2:2012 유기 전계 발광 다이오드(OLED) 디스플레이 시각적 품질 및 환경 성능 측정 방법
18/30367367 DC BS IEC 60747-5-62 반도체 장치 5-9부 광전자 장치 발광 다이오드 온도 변화 전기발광을 기반으로 한 내부 양자 효율 테스트 방법

CZ-CSN, 포토다이오드를 감지하는 방법

CSN 35 8761-1973 반도체 장비. 포토트랜지스터 포토다이오드. 광전류 측정
CSN 35 8762-1973 반도체 장비. 포토트랜지스터 포토다이오드. 암전류 측정
CSN 35 8781-1983 반도체 UHF 다이오드를 혼합하고 감지합니다. 전기적 매개변수의 측정 방법

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 포토다이오드를 감지하는 방법

KS C 6991-2013 광섬유 전송 포토다이오드의 테스트 방법
KS C 6991-2001(2011) 광투과 테스트 방법에 설명된 포토다이오드
KS C IEC 62341-6-1:2020 유기발광다이오드(OLED) 디스플레이 - 파트 6-1: 광학 및 전기광학 매개변수 측정 방법
KS C IEC 62341-6:2007 유기발광다이오드(OLED) 디스플레이 6-1부: 광학 매개변수 및 광전자 매개변수의 측정 방법

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 포토다이오드를 감지하는 방법

JIS C 5991:1997 광섬유 전송을 위한 포토다이오드 측정 방법

Professional Standard - Electron, 포토다이오드를 감지하는 방법

SJ/T 2214-2015 반도체 포토다이오드 및 포토트랜지스터 테스트 방법
SJ/T 2354-2015 PIN, 애벌런치 포토다이오드 테스트 방법
SJ/T 2354-2015/0352 PIN, 애벌런치 포토다이오드 테스트 방법
SJ 2354.5-1983 PIN 및 애벌런치 포토다이오드 커패시턴스 테스트 방법
SJ 2354.1-1983 PIN 및 애벌런치 포토다이오드의 광전 매개변수에 대한 테스트 방법 일반 원리
SJ 2214.10-1982 반도체 포토다이오드 및 삼극관의 광전류 테스트 방법
SJ 2354.3-1983 PIN 및 애벌런치 포토다이오드 암전류 테스트 방법
SJ 2354.6-1983 PIN 및 애벌런치 포토다이오드 응답성을 테스트하는 방법
SJ 2354.13-1983 애벌런치 포토다이오드 증배율 테스트 방법
SJ 2214.3-1982 반도체 포토다이오드의 암전류 테스트 방법
SJ 2214.5-1982 반도체 포토다이오드 접합 용량 테스트 방법
SJ 2354.10-1983 PIN 및 애벌런치 포토다이오드 배열 스트링 광학 요소에 대한 테스트 방법
SJ 1230-1977 게르마늄 검출 다이오드의 고주파 정류 전류 시험 방법
SJ 2354.4-1983 PIN 및 애벌런치 포토다이오드 순방향 전압 강하 테스트 방법
SJ 2354.2-1983 PIN 및 애벌런치 포토다이오드의 역항복 전압 테스트 방법
SJ 2354.14-1983 애벌런치 포토다이오드 과잉 잡음 지수 테스트 방법
SJ 2215.6-1982 반도체 광커플러(다이오드) 접합 용량 테스트 방법
SJ 2354.11-1983 PIN 및 애벌런치 포토다이오드 어레이의 사각지대 폭 테스트 방법
SJ 2215.3-1982 반도체 광커플러(다이오드)의 순방향 전류 테스트 방법
SJ 2214.4-1982 반도체 포토다이오드의 역항복 전압 테스트 방법
SJ 2215.4-1982 반도체 광커플러(다이오드)의 역전류 테스트 방법
SJ 2354.9-1983 PIN 및 애벌런치 포토다이오드 잡음 등가 전력 테스트 방법
SJ 2658.4-1986 반도체 적외선 발광다이오드의 시험방법, 정전용량의 시험방법
SJ 2354.12-1983 애벌런치 포토다이오드의 역항복 전압 온도 계수 테스트 방법
SJ 2658.3-1986 반도체 적외선 발광다이오드 시험방법 역전압 시험방법
SJ 2354.7-1983 PIN 및 애벌런치 포토다이오드의 스펙트럼 응답 곡선 및 스펙트럼 응답 범위에 대한 테스트 방법
SJ 2354.8-1983 PIN 및 애벌런치 포토다이오드의 펄스 상승 및 하강 시간 테스트 방법
SJ 2215.5-1982 반도체 광커플러(다이오드)의 역항복 전압 테스트 방법
SJ 2658.5-1986 반도체 적외선 발광 다이오드 테스트 방법 순방향 직렬 저항 테스트 방법
SJ/T 2658.16-2016 반도체 적외선 방출 다이오드의 측정 방법 제16부: 광전 변환 효율

Group Standards of the People's Republic of China, 포토다이오드를 감지하는 방법

T/CVIA 11-2016 유기발광다이오드(OLED) TV 측정 방법
T/CVIA 59-2016 유기발광다이오드(OLED) TV 측정 방법
T/CSA 048-2019 일반 조명용 발광 다이오드의 가변 전류/온도 광전 특성 시험 방법

Professional Standard - Commodity Inspection, 포토다이오드를 감지하는 방법

SN/T 3723-2013 레이저와 발광 다이오드가 장착된 장난감의 방사선을 감지하는 방법

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 포토다이오드를 감지하는 방법

GB/T 23729-2009 섬광 검출기용 포토다이오드 테스트 방법
GB/T 20871.61-2013 유기발광다이오드 디스플레이 - 파트 61: 광학 및 광전자 매개변수에 대한 테스트 방법

German Institute for Standardization, 포토다이오드를 감지하는 방법

DIN IEC 62088:2002 원자력 계측 장비 섬광 검출기용 포토다이오드 테스트 절차(IEC 62088:2001)
DIN IEC 62088:2002-09 원자력 기기 섬광 검출기 포토다이오드 테스트 절차
DIN EN 62341-6-1:2011-07 유기발광다이오드(OLED) 디스플레이 6-1부: 광학 및 전기광학 매개변수 측정 방법
DIN EN 62595-2:2013 LCD(액정 디스플레이) 백라이트 모듈 2부: LED(발광 다이오드) 백라이트 모듈에 대한 전기 광학 측정 방법(IEC 62595-2-2012) 독일어 버전 EN 62595-2-2013
DIN EN 62341-6-1:2011 유기발광다이오드 디스플레이 6-1부: 광학 및 광전자 매개변수 측정 방법(IEC 62341-6-1-2009), 독일어 버전 EN 62341-6-1-2011

IEC - International Electrotechnical Commission, 포토다이오드를 감지하는 방법

TS 62916-2017 태양광 모듈 - 바이패스 다이오드 정전기 방전 민감도 테스트(버전 1.0)

International Organization for Standardization (ISO), 포토다이오드를 감지하는 방법

ISO 13207-1:2012 도로 차량 램프 호환성 결함 감지를 위한 발광 다이오드 램프 전구의 특성 1부: 방향 표시 발광 다이오드 램프 전구

RU-GOST R, 포토다이오드를 감지하는 방법

GOST 21107.10-1978 가스방전장치, 글로방전다이오드 및 트랜지스터의 사용 및 측정방법에 대한 전기적 매개변수 측정방법
GOST 19656.7-1974 초고주파 검출용 반도체 다이오드 전류감도 측정방법
GOST 19656.1-1974 초고주파 혼합 및 검출 반도체 다이오드 전압 정재파 계수 측정 방법

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 포토다이오드를 감지하는 방법

GB/T 33762-2017 유기발광다이오드(OLED) TV 디스플레이 성능 측정 방법

GB-REG, 포토다이오드를 감지하는 방법

REG NASA-LLIS-1840--2006 교훈 CALIPSO APD(Avalanche Photodiode) 감지기 어셈블리 전기 고장

HU-MSZT, 포토다이오드를 감지하는 방법

MSZ 11453/2-1987 도구 및 집적 회로에 직접 연결됩니다. 다이오드 감지 정의 수정

KR-KS, 포토다이오드를 감지하는 방법

KS C IEC 62341-6-1-2020 유기발광다이오드(OLED) 디스플레이 - 파트 6-1: 광학 및 전기광학 매개변수 측정 방법

Danish Standards Foundation, 포토다이오드를 감지하는 방법

DS/EN 62341-6-1:2011 유기발광다이오드(OLED) 디스플레이 파트 6-1: 광학 및 광전자 매개변수 측정 방법

International Electrotechnical Commission (IEC), 포토다이오드를 감지하는 방법

IEC 62341-6-3:2017/COR1:2019 유기발광다이오드(OLED) 디스플레이 파트 6-1: 광학 및 광전자 매개변수 측정 방법
IEC 62341-6-1:2022 RLV 유기발광다이오드(OLED) 디스플레이 6-1부: 광학 및 전기광학 매개변수 측정 방법
IEC 62341-6-1:2017 RLV 유기발광다이오드(OLED) 디스플레이 6-1부: 광학 및 전기광학 매개변수 측정 방법
IEC 62341-6-1:2022 유기발광다이오드(OLED) 디스플레이 파트 6-1: 광학 및 광전자 매개변수 측정 방법
IEC 62595-2:2012 액정 디스플레이(LCD) 백라이트 모듈 2부: 발광 다이오드(LED) 백라이트 모듈의 전기광학 측정 방법
IEC TS 63109:2022 태양광(PV) 모듈 및 셀 전자발광 이미지의 정량적 분석을 통한 다이오드 이상성 인자 측정
IEC 62341-6-1:2017 유기발광다이오드(OLED) 디스플레이 6-1부: 광학 매개변수 및 광전자 매개변수의 측정 방법
IEC 62341-6-1:2009 유기발광다이오드(OLED) 디스플레이 6-1부: 광학 매개변수 및 광전자 매개변수의 측정 방법

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, 포토다이오드를 감지하는 방법

EN 62341-6-1:2011 유기발광다이오드(OLED) 디스플레이 파트 6-1: 광학 및 광전자 매개변수 측정 방법

GOSTR, 포토다이오드를 감지하는 방법

GOST IEC 62341-6-1-2016 유기발광다이오드(OLED) 디스플레이 부분 6-1 광학 및 광전자 매개변수 측정 방법

Association Francaise de Normalisation, 포토다이오드를 감지하는 방법

NF EN 62341-6-1:2011 유기발광다이오드(OLED) 디스플레이 - 파트 6-1: 광학 및 전기광학 매개변수의 측정 방법
NF C96-565-2*NF EN 62595-2:2013 액정 디스플레이(LCD) 백라이트 모듈 2부: 발광 다이오드(LED) 백라이트 모듈의 전기광학 측정 방법
NF C96-541-6-1*NF EN 62341-6-1:2011 유기발광다이오드(OLED) 디스플레이 6-1부: 광학 매개변수 및 광전자 매개변수의 측정 방법.

Lithuanian Standards Office , 포토다이오드를 감지하는 방법

LST EN 62341-6-1-2011 유기발광다이오드(OLED) 디스플레이 파트 6-1: 광학 및 광전자 매개변수 측정 방법(IEC 62341-6-1:2009)

American Society for Testing and Materials (ASTM), 포토다이오드를 감지하는 방법

ASTM F3095-17 회전 레이저 다이오드 및 폐쇄 회로 텔레비전 카메라 시스템을 사용하여 파이프 및 도관의 단면 형상을 직접 측정하기 위한 레이저 기술의 표준 사례
ASTM F3095-14 회전 레이저 다이오드 및 폐쇄 회로 텔레비전 카메라 시스템을 사용하여 파이프 및 도관 단면 형상을 직접 측정하기 위한 레이저 기술의 표준 사례
ASTM F3095-17a 회전 레이저 다이오드 및 폐쇄 회로 텔레비전 카메라 시스템을 사용하여 파이프 및 도관 단면 형상을 직접 측정하기 위한 레이저 기술의 표준 사례
ASTM F3095-17a(2022) 회전 레이저 다이오드 및 폐쇄 회로 텔레비전 카메라 시스템을 사용하여 파이프 및 도관의 단면 형상을 직접 측정하기 위한 레이저 기술의 표준 사례

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, 포토다이오드를 감지하는 방법

JEDEC JESD51-51-2012 노출된 냉각 상태에서 발광다이오드의 실제 열저항 및 임피던스를 측정하기 위한 전기적 테스트 방법 구현