ZH
EN
ES

Количественный анализ Электроника x

Количественный анализ Электроника x, Всего: 496 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Количественный анализ Электроника x, являются: Оптическое оборудование, Аналитическая химия, Оптика и оптические измерения, Огнеупоры, Неразрушающий контроль, Испытание металлов, Условия и процедуры испытаний в целом, Цветные металлы, Натуральный газ, Словари, Медицинские науки и учреждения здравоохранения в целом, Неорганические химикаты, Линейные и угловые измерения, Образование, Полупроводниковые материалы, Защита окружающей среды, Качество воздуха, Экологические испытания, Электротехника в целом, Металлоносные полезные ископаемые, Бумага и картон, Электронные компоненты в целом, Медицинское оборудование, Нефтепродукты в целом, Нерудные полезные ископаемые, Обработка поверхности и покрытие, Топливо, Защита от огня, Продукция химической промышленности, Ферросплавы, Физика. Химия, Черные металлы, Пластмассы, Атомная энергетика, Коррозия металлов, Удобрения, Пищевые масла и жиры. Масличные культуры, Электричество. Магнетизм. Электрические и магнитные измерения, Вращающиеся машины, СРЕДА. ОХРАНА ЗДОРОВЬЯ. БЕЗОПАСНОСТЬ, Анализ размера частиц. просеивание.


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Количественный анализ Электроника x

  • GB/T 17359-1998 Общие характеристики количественного анализа рентгеновской ЭДС для EPMA и SEM
  • GB/T 18873-2002 Общие характеристики просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ) — количественный микроанализ рентгеновского энергодисперсионного спектра (ЭДС) для тонких биологических образцов.
  • GB/T 18873-2008 Общее руководство по трансмиссионному электронному микроскопу (ТЕМ) – рентгеновской энергодисперсионной спектрометрии (ЭДС) для количественного микроанализа тонких биологических образцов
  • GB/T 30704-2014 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Рекомендации по проведению анализа.
  • GB/T 19500-2004 Общие правила метода рентгенофотоэлектронно-спектроскопического анализа
  • GB/T 30702-2014 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
  • GB/T 15074-2008 Общее руководство по количественному анализу от EPMA
  • GB/T 15074-1994 Общее руководство по количественному анализу EPMA
  • GB/T 28632-2012 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
  • GB/T 22571-2008 Химический анализ поверхности.Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры.Калибровка энергетических шкал.
  • GB/Z 32490-2016 Методика определения фона методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии для химического анализа поверхности
  • GB/T 15244-2002 Количественный анализ стекла методом электронно-зондового микроанализа
  • GB/T 15246-2022 Микролучевой анализ. Количественный анализ сульфидных минералов методом электронно-зондового микроанализа.
  • GB/T 28634-2012 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
  • GB/T 29556-2013 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
  • GB/T 27896-2011 Метод определения содержания водяного пара в природном газе. Электронные анализаторы влажности.
  • GB/T 17360-1998 Метод количественного электронно-зондового микроанализа на низкое содержание Si и Mn в сталях
  • GB/T 17360-2008 Метод количественного анализа низкого содержания Si и Mn в стали с помощью электронно-зондового микроанализа
  • GB/T 15617-2002 Количественный анализ силикатных минералов методом электронно-зондового микроанализа
  • GB/T 15245-2002 Количественный анализ оксидов редкоземельных элементов (РЗЭ) методом электронно-зондового микроанализа (ЭПМА)
  • GB/T 15246-2002 Количественный анализ сульфидных минералов методом электронно-зондового микроанализа
  • GB/T 15616-1995 Количественный метод электронно-зондового микроанализа металлов и сплавов
  • GB/T 15616-2008 Количественный метод электронно-зондового микроанализа металлов и сплавов
  • GB/T 5225-1985 Металлические материалы. Количественный фазовый анализ. Метод рентгеновской дифракции с «величиной К».
  • GB/T 15247-2008 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению содержания углерода в сталях методом калибровочных кривых.
  • GB/T 20726-2015 Микролучевой анализ. Отдельные параметры аппаратуры для спецификации и проверки энергодисперсионных рентгеновских спектрометров для использования в электронно-зондовом микроанализе.
  • GB/T 21006-2007 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
  • GB/T 29858-2013 Стандартные рекомендации по количественному анализу многомерной калибровки молекулярной спектроскопии
  • GB/T 8359-1987 Карбиды в быстрорежущей стали. Количественный фазовый анализ. Метод рентгеновской дифрактометрии.
  • GB/T 20725-2006 Рекомендации по электронно-зондовому микроанализу для качественного точечного анализа с помощью рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны
  • GB/T 2679.11-2008 Бумага и картон. Качественный анализ минерального наполнителя и минерального покрытия. Метод SEM/EDAX.
  • GB/T 17507-1998 Общая спецификация тонких биологических стандартов для рентгено-ЭДС-микроанализа в электронном микроскопе
  • GB/T 17416.2-1998 Метод химического анализа циркониевых руд. Определение содержания циркония и гафния. Рентгенофлуоресцентный спектрометрический метод.
  • GB/T 17365-1998 Способ подготовки образцов металла и сплава для электронно-зондового микроанализа
  • GB/T 8220.6-1998 Методы химического анализа висмута. Определение содержания свинца. Электротермический атомно-абсорбционный спектрометрический метод.
  • GB/T 8220.12-1998 Методы химического анализа висмута. Определение содержания никеля. Электротермический атомно-абсорбционный спектрометрический метод.
  • GB/T 6730.28-1986 Методы химического анализа железных руд. Ионоселективный электродный метод определения содержания фтора.
  • GB/T 8151.9-1987 Методы химического анализа цинковых концентратов. Ионоселективный электродный метод определения содержания фтора.
  • GB/T 2679.11-1993 Бумага и картон. Качественный анализ минерального наполнителя и минерального покрытия. Метод СЭМ/EDAX
  • GB/T 25185-2010 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о методах контроля и коррекции заряда.
  • GB/T 28893-2012 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая при сообщении о результатах.
  • GB/T 8220.13-1998 Методы химического анализа висмута. Определение содержания серебра и кадмия. Электротермический атомно-абсорбционный спектрометрический метод.
  • GB/T 1819.15-2006 Методы химического анализа оловянных концентратов. Определение содержания фтора. Метод ионоселективного электрода
  • GB/T 8647.2-2006 Методы химического анализа никеля. Определение содержания алюминия. Электротермический атомно-абсорбционный спектрометрический метод
  • GB/T 8156.10-1987 Алюминий фторид для промышленного использования. Определение содержания серы. Рентгенофлуоресцентный спектрометрический метод.
  • GB/T 23273.6-2009 Методы химического анализа оксалата кобальта. Часть 6. Определение содержания ионов хлора. Ионно-селективный электродный метод.
  • GB/T 28892-2012 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
  • GB/T 28633-2012 Химический анализ поверхности.Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
  • GB/T 6987.27-2001 Алюминий и алюминиевые сплавы. Определение содержания бора. Метод ионно-селективного электрода.
  • GB/T 14506.12-1993 Силикатные породы. Определение содержания фтора. Ионселективный электродный метод
  • GB/T 11067.4-2006 Методы химического анализа серебра. Определение содержания сурьмы. Атомно-эмиссионный спектрометрический метод с индуктивно связанной плазмой
  • GB/T 4324.13-2008 Методы химического анализа вольфрама Определение содержания кальция Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой
  • GB/T 17507-2008 Общая спецификация тонких биологических стандартов для рентгеновского ЭДС-микроанализа в просвечивающем электронном микроскопе
  • GB/T 17363.1-2009 Неразрушающий контроль содержания золота в золотых изделиях. Часть 1. Метод электронно-зондового микроанализа.
  • GB/T 23513.4-2009 Методы химического анализа германиевого концентрата.Часть 4.Определение содержания фторидов.ISE
  • GB/T 3884.5-2012 Методы химического анализа медных концентратов. Часть 5. Определение содержания фторидов. Ионно-селективный электродный метод.
  • GB/T 8151.9-2012 Методы химического анализа цинковых концентратов. Часть 9. Определение содержания фтора. Ионселективный электродный метод.
  • GB/T 3260.7-2013 Методы химического анализа олова. Часть 7. Определение содержания алюминия. Электротермический атомно-абсорбционный спектрометрический метод.
  • GB/T 25189-2010 Микролучевой анализ. Метод определения параметров количественного анализа SEM-EDS.
  • GB/T 4324.7-2012 Методы химического анализа вольфрама.Часть 7.Определение содержания кобальта.Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой.
  • GB/T 4324.11-2012 Методы химического анализа вольфрама.Часть 11.Определение содержания алюминия.Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой.
  • GB/T 4324.21-2012 Методы химического анализа вольфрама. Часть 21. Определение содержания хрома. Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой.
  • GB/T 4324.22-2012 Методы химического анализа вольфрама. Часть 22. Определение содержания марганца. Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой.
  • GB/T 4325.12-2013 Методы химического анализа молибдена. Часть 12. Определение содержания кремния. Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой.
  • GB/T 4325.24-2013 Метод химического анализа молибдена. Часть 24. Определение содержания вольфрама. Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой.
  • GB/T 4324.20-2012 Методы химического анализа вольфрама.Часть 20.Определение содержания ванадия.Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой.
  • GB/T 30705-2014 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.
  • GB/T 17417.2-1998 Метод химического анализа редкоземельных руд. Определение содержания скандия. Метод ICP-AES.
  • GB/T 11067.3-2006 Методы химического анализа серебра. Определение содержания селена и теллура. Атомно-эмиссионный спектрометрический метод с индуктивно связанной плазмой
  • GB/T 20166.2-2006 Методы химического анализа полировального порошка из редкоземельных металлов. Определение содержания фтора. Ионно-селективный электродный анализ.
  • GB/T 12689.13-1990 Цинк и цинковые сплавы. Определение содержания алюминия. Электротермический атомно-абсорбционный спектрометрический метод.
  • GB/T 13748.21-2009 Методы химического анализа магния и магниевых сплавов. Часть 21. Определение элементов методом фотоэлектрической атомно-эмиссионной спектрометрии прямого считывания.
  • GB/T 15076.6-2020 Методы химического анализа тантала и ниобия. Часть 6. Определение содержания кремния. Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой.
  • GB/T 29732-2013 Химический анализ поверхности. Электронные оже-спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.
  • GB/T 23273.2-2009 Методы химического анализа оксалата кобальта. Часть 2. Определение содержания свинца. Электротермическая атомно-абсорбционная спектрометрия.
  • GB/T 14849.5-2010 Химический анализ слиона-металла. Часть 5. Определение содержания элементов. Анализ рентгенофлуоресцентным методом.
  • GB/T 4375.10-1984 Методы химического анализа галлия. Атомно-абсорбционный спектрофотометрический метод определения содержания цинка.
  • GB/T 4324.16-1984 Методы химического анализа вольфрама. Атомно-абсорбционный спектрофотометрический метод определения содержания магния.
  • GB/T 4324.17-1984 Методы химического анализа вольфрама. Атомно-абсорбционный спектрофотометрический метод определения содержания натрия.
  • GB/T 4324.18-1984 Методы химического анализа вольфрама. Атомно-абсорбционный спектрофотометрический метод определения содержания калия.
  • GB/T 4324.14-1984 Методы химического анализа вольфрама. Атомно-абсорбционный спектрофотометрический метод определения содержания кальция.
  • GB/T 4325.17-1984 Методы химического анализа молибдена. Атомно-абсорбционный спектрофотометрический метод определения содержания натрия.
  • GB/T 4325.14-1984 Методы химического анализа молибдена. Атомно-абсорбционный спектрофотометрический метод определения содержания кальция.
  • GB/T 4325.18-1984 Методы химического анализа молибдена. Атомно-абсорбционный спектрофотометрический метод определения содержания калия.
  • GB/T 4325.16-1984 Методы химического анализа молибдена. Атомно-абсорбционный спектрофотометрический метод определения содержания магния.
  • GB/T 8647.7-2006 Методы химического анализа никеля. Определение содержания мышьяка, сурьмы, висмута, олова и свинца. Электротермический атомно-абсорбционный спектрометрический метод

Association Francaise de Normalisation, Количественный анализ Электроника x

  • NF X21-003:2006 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по качественному точечному анализу с помощью рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны.
  • NF X21-006:2007 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
  • NF X21-071:2011 Химический анализ поверхности - Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по анализу.
  • NF X21-061:2008 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Определение латерального разрешения.
  • NF X21-009:2008 Микролучевой анализ - Электронно-зондовый микроанализ (ЭПМА) - Словарь.
  • NF X21-001:2006 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по спецификации сертифицированных эталонных материалов (CRM).
  • NF M07-095*NF EN ISO 14597:1999 Нефтяные продукты. Определение содержания ванадия и никеля. Волново-дисперсионная рентгенофлуоресцентная спектрометрия.
  • NF X21-055:2006 Химический анализ поверхности - Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры - Калибровка энергетических шкал.
  • NF A09-230-3:1999 Неразрушающий контроль. Измерение и оценка напряжения рентгеновской трубки. Часть 3: спектрометрический метод.
  • NF X21-073*NF ISO 16243:2012 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS).
  • NF ISO 16243:2012 Химический анализ поверхностей - регистрация и отчетность данных рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
  • NF X21-002:2007 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.
  • NF X21-007:2008 Микролучевой анализ - Электронно-зондовый микроанализ - Рекомендации по определению содержания углерода в стали методом калибровочной кривой.
  • NF X21-011*NF ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
  • NF ISO 17560:2006 Химический анализ поверхностей. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Дозировка бора в кремнии методом профилирования толщины.
  • FD T16-203:2011 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
  • NF T51-241:2011 Пластмассы. Определение молекулярной массы и молекулярно-массового распределения полимерных частиц методом матричной лазерной десорбции/ионизации времяпролетной масс-спектрометрии (MALDI-TOF-MS).
  • NF M60-404:1998 Определение содержания плутония в диоксиде плутония (PuO2) ядерного качества. Гравиметрический метод.
  • NF A09-230-1:1999 Неразрушающий контроль. Измерение и оценка напряжения рентгеновской трубки. Часть 1: метод делителя напряжения.
  • NF EN 62220-1-2:2007 Электромедицинские устройства. Характеристики устройств цифровой рентгеновской визуализации. Часть 1-2. Определение эффективности квантового обнаружения. Детекторы, используемые в маммографии.
  • NF B40-670-3*NF EN ISO 21587-3:2007 Химический анализ алюмосиликатных огнеупорных изделий (альтернатива рентгенофлуоресцентному методу) - Часть 3: методы индуктивно-связанной плазмы и атомно-абсорбционной спектрометрии
  • NF U44-145:1984 УДОБРЕНИЯ И КОНДИЦИОНЕРЫ ПОЧВЫ. ОПРЕДЕЛЕНИЕ МАГНИЯ АТОМНО-АБСОРБЦИОННЫМ СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКИМ МЕТОДОМ.
  • NF X21-004*NF ISO 22309:2012 Микролучевой анализ. Количественный анализ с использованием энергодисперсионной спектрометрии (ЭДС) для элементов с атомным номером 11 (Na) или выше.
  • NF V03-918-2:1997 Рапс. Определение содержания глюкозинолатов. Часть 2: метод с использованием рентгенофлуоресцентной спектрометрии.
  • NF T30-711:2011 Пластмассы. Определение молекулярной массы и молекулярно-массового распределения полимерных частиц методом матричной лазерной десорбции/ионизации времяпролетной масс-спектрометрии (MALDI-TOF-MS).
  • NF C42-695:1985 Электронные измерительные приборы. Выражение свойств логических анализаторов.
  • NF ISO 24173:2009 Микролучевой анализ — рекомендации по измерению ориентации методом дифракции обратно рассеянных электронов
  • NF C74-225*NF EN 61262-5:1994 Медицинское электрооборудование. Характеристики электрооптических усилителей рентгеновского изображения. Часть 5: определение квантовой эффективности детектива.
  • NF X21-058:2006 Химический анализ поверхности — электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия — методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
  • NF EN 61676/A1:2009 Электромедицинские приборы - Дозиметрические приборы для неинвазивного измерения напряжения рентгеновской трубки в диагностической радиологии
  • NF A09-230-2:2000 Неразрушающий контроль. Измерение и оценка напряжения рентгеновской трубки. Часть 2. Проверка постоянства методом толстого фильтра.
  • NF EN IEC 61676:2023 Электромедицинское оборудование - Дозиметрическое оборудование для неинвазивного измерения напряжения радиогенной трубки в диагностической радиологии
  • NF C74-220-1:2005 Медицинское электрооборудование. Характеристики цифровых рентгеновских устройств. Часть 1. Определение квантовой эффективности детектора.
  • NF X21-014:2012 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Измерение среднего размера зерна.

International Organization for Standardization (ISO), Количественный анализ Электроника x

  • ISO 17470:2014 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны.
  • ISO 22489:2006 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
  • ISO 22489:2016 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
  • ISO 10810:2019 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу.
  • ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра потерь энергии электронов.
  • ISO 17470:2004 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны.
  • ISO 10810:2010 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу
  • ISO 18118:2004 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
  • ISO 18118:2015 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
  • ISO/DIS 18118:2023 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
  • ISO/FDIS 18118:2023 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
  • ISO 14701:2018 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния.
  • ISO 22309:2006 Микролучевой анализ. Количественный анализ с использованием энергодисперсионной спектрометрии (ЭДС).
  • ISO/TR 18392:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы определения фона.
  • ISO/CD TR 18392:2023 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы определения фона.
  • ISO 18516:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
  • ISO 14701:2011 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния.
  • ISO 13424:2013 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о результатах тонкопленочного анализа.
  • ISO 18554:2016 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Процедуры идентификации, оценки и коррекции непреднамеренной деградации под действием рентгеновских лучей в материале, подвергающемся анализу с помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
  • ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
  • ISO 16129:2018 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра.
  • ISO 16129:2012 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра.
  • ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
  • ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
  • ISO 23833:2013 Микролучевой анализ - Электронно-зондовый микроанализ (ЭПМА) - Словарь
  • ISO 23833:2006 Микролучевой анализ - Электронно-зондовый микроанализ (ЭПМА) - Словарь
  • ISO 23692:2021 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный анализ дендритной сегрегации Mn в непрерывнолитом стальном изделии.
  • ISO 14595:2003 Анализ микросхем - Микроанализ с помощью электронов - Линии направления для спецификаций справочных материалов (CRM) (Премьерное издание)
  • ISO 14595:2014 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по спецификации сертифицированных эталонных материалов (CRM).
  • ISO 24237:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
  • ISO/TR 19319:2003 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
  • ISO 24639:2022 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Процедура калибровки энергетической шкалы для элементного анализа методом спектроскопии потерь энергии электронов.
  • ISO 19830:2015 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
  • ISO 21270:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
  • ISO 23749:2022 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали.
  • ISO/DIS 14594 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.
  • ISO 15472:2010 Химический анализ поверхности - Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры - Калибровка энергетических шкал
  • ISO 15472:2001 Химический анализ поверхности - Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры - Калибровка энергетических шкал
  • ISO 17109:2015 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием однослойных и многослойных тонких пленок.
  • ISO 14595:2003/Cor 1:2005 Анализ микросхем - Микроанализ с помощью электронов - Линии управления спецификациями материалов, справочных сертификатов (CRM) МЕТОД ИСПРАВЛЕНИЯ 1 (Премьерное издание)
  • ISO 15470:2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
  • ISO 16243:2011 Химический анализ поверхности - запись и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
  • ISO 20903:2011 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
  • ISO 16592:2006 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению содержания углерода в сталях методом калибровочной кривой.
  • ISO 16592:2012 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению содержания углерода в сталях методом калибровочной кривой.
  • ISO 24173:2009 Микролучевой анализ. Рекомендации по измерению ориентации с использованием дифракции обратного рассеяния электронов
  • ISO/PRF 14595 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по спецификации сертифицированных эталонных материалов (CRM).
  • ISO 14595:2023 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по спецификации сертифицированных эталонных материалов (CRM).
  • ISO 14594:2003 Анализ по микрофайсу - Анализ по электронному микрозонду (Microsonde de Castaing) - Линии направления для определения экспериментальных параметров для спектрометрии по дисперсии по длине света
  • ISO 14594:2014 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.
  • ISO 20903:2019 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
  • ISO 11938:2012 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Методы элементного картографического анализа с использованием спектроскопии с дисперсией по длине волны.
  • ISO/CD 19214:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
  • ISO 10469:1994 Медные сульфидные концентраты. Определение содержания меди. Электрогравиметрический метод.
  • ISO 19463:2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализатор (ЭПМА). Рекомендации по выполнению процедур обеспечения качества.
  • ISO 17109:2022 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Глубина распыления p
  • ISO/DIS 19430 Определение распределения частиц по размерам и числовой концентрации методом отслеживания частиц (PTA)

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Количественный анализ Электроника x

  • KS D ISO 22489:2012 Микролучевой анализ－Электронно-зондовый микроанализ－Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны
  • KS D ISO 22489:2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
  • KS D ISO 15472-2003(2018) Химический анализ поверхности — рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия — коррекция калибровки по энергии
  • KS D ISO 18118-2005(2020) Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа h.
  • KS D ISO 18118:2005 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
  • KS D ISO 19319-2005(2020) Химический анализ поверхности – электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
  • KS D ISO 14595:2012 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по спецификации сертифицированных эталонных материалов (CRM).
  • KS M 1068-2005 Качественный/количественный скрининг методом РФА-спектрометрии.
  • KS D ISO 15632:2018 Микролучевой анализ. Отдельные параметры рабочих характеристик прибора для спецификации и проверки энергодисперсионных рентгеновских спектрометров для использования в электронно-зондовом микроанализе.
  • KS D ISO 23833:2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ (ЭПМА). Словарь.
  • KS D ISO TR 17270:2007 Микролучевой анализ－Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия－Технический отчет по определению экспериментальных параметров для спектроскопии потерь энергии электронов
  • KS D ISO 19319:2005 Химический анализ поверхности – электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
  • KS D ISO 16592-2011(2021) Микролучевой анализ－Электронно-зондовый микроанализ－Руководство по определению содержания углерода в сталях методом калибровочной кривой
  • KS D ISO 15470-2005(2020) Химический анализ поверхности－Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия－Описание выбранных параметров работы прибора
  • KS D ISO 21270:2005 Химический анализ поверхности－Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры－Линейность шкалы интенсивности
  • KS D ISO 14594:2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.
  • KS D ISO 21270-2005(2020) Химический анализ поверхности－Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры－Линейность шкалы интенсивности
  • KS D ISO 19318-2005(2020) Химический анализ поверхности – рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
  • KS D ISO 16592:2011 Микролучевой анализ－Электронно-зондовый микроанализ－Руководство по определению содержания углерода в сталях методом калибровочной кривой
  • KS D ISO 16592-2011(2016) Микролучевой анализ－Электронно-зондовый микроанализ－Руководство по определению содержания углерода в сталях методом калибровочной кривой
  • KS D ISO 15472:2003 Химический анализ поверхности-Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры-Калибровка энергетических шкал
  • KS C IEC 61262-5-2003(2018) Медицинская техника. Характеристики временных волн на электронно-оптических рентгеновских изображениях. Часть 5. Определение эффективности квантового обнаружения.
  • KS M ISO 14597:2003 Нефтепродукты－Определение содержания ванадия и никеля－Длинно-дисперсионная рентгенофлуоресцентная спектрометрия
  • KS D ISO 14595:2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по спецификации сертифицированных эталонных материалов (CRM).
  • KS D ISO 14594:2012 Микролучевой анализ－Электронно-зондовый микроанализ－Руководство по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны
  • KS D ISO 13898-3:2010 Сталь и железо. Определение содержания никеля, меди и кобальта. Атомно-эмиссионный спектрометрический метод с индуктивно связанной плазмой. Часть 3: Определение содержания меди.
  • KS D ISO 13898-4:2010 Сталь и железо – Определение содержания никеля, меди и кобальта – Атомно-эмиссионный спектрометрический метод с индуктивно-связанной плазмой – Часть 4: Определение содержания кобальта
  • KS D ISO 13898-2:2010 Сталь и железо – Определение содержания никеля, меди и кобальта – Атомно-эмиссионный спектрометрический метод с индуктивно-связанной плазмой – Часть 2: Определение содержания никеля
  • KS D ISO 13898-2-2010(2020) Сталь и железо – Определение содержания никеля, меди и кобальта – Атомно-эмиссионный спектрометрический метод с индуктивно-связанной плазмой – Часть 2: Определение содержания никеля
  • KS D ISO 13898-4-2010(2020) Сталь и железо – Определение содержания никеля, меди и кобальта – Атомно-эмиссионный спектрометрический метод с индуктивно-связанной плазмой – Часть 4: Определение содержания кобальта
  • KS D ISO 13898-3-2010(2020) Сталь и железо – Определение содержания никеля, меди и кобальта – Атомно-эмиссионный спектрометрический метод с индуктивно-связанной плазмой – Часть 3: Определение содержания меди
  • KS D ISO 11435-2006(2016) Никелевые сплавы – Определение молибдена – Атомно-эмиссионный спектрометрический метод с индуктивно связанной плазмой.
  • KS D ISO 22033-2006(2016) Никелевые сплавы－Определение ниобия－Атомно-эмиссионный спектрометрический метод с индуктивно связанной плазмой
  • KS C IEC/TR 62725-2017(2022) Анализ методологий количественного определения выбросов парниковых газов для электрических и электронных продуктов и систем
  • KS C IEC 62220-1:2005 Медицинское электрическое оборудование. Характеристики устройства цифровой рентгеновской визуализации. Часть 1. Определение квантовой эффективности детектора.
  • KS C IEC 61262-5:2003 Медицинское электрооборудование. Характеристики электрооптических усилителей рентгеновского изображения. Часть 5. Определение квантовой эффективности детектора.
  • KS C IEC 62220-1-2005(2016) Медицинское электрическое оборудование. Характеристики устройства цифровой рентгеновской визуализации. Часть 1. Определение квантовой эффективности детектора.
  • KS D 1702-2005 Платиум-Определение содержания микроэлементов методом спектрометрического анализа с индуктивно-связанной плазмой-Метод сопоставления матриц

KR-KS, Количественный анализ Электроника x

  • KS D ISO 22489-2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
  • KS D ISO 22489-2018(2023) Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
  • KS D ISO 15472-2003(2023) Химический анализ поверхности. Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр. Калибровка энергетической шкалы.
  • KS D ISO 15632-2018 Микролучевой анализ. Отдельные параметры рабочих характеристик прибора для спецификации и проверки энергодисперсионных рентгеновских спектрометров для использования в электронно-зондовом микроанализе.
  • KS D ISO 23833-2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ (ЭПМА). Словарь.
  • KS D ISO TR 17270-2007 Микролучевой анализ－Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия－Технический отчет по определению экспериментальных параметров для спектроскопии потерь энергии электронов
  • KS D ISO 14594-2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.
  • KS D ISO 14594-2018(2023) Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.
  • KS D ISO 14595-2018(2023) Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по спецификации сертифицированных эталонных материалов (CRM).
  • KS D ISO 14595-2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по спецификации сертифицированных эталонных материалов (CRM).

British Standards Institution (BSI), Количественный анализ Электроника x

  • BS ISO 22489:2007 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
  • BS ISO 22489:2016 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны
  • BS ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
  • BS ISO 10810:2010 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Рекомендации по анализу
  • BS ISO 15472:2010 Химический анализ поверхности - Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры - Калибровка энергетических шкал
  • BS ISO 17470:2014 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны
  • 20/30380369 DC BS ISO 23420. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
  • 23/30461294 DC BS ISO 18118. Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов
  • BS ISO 10810:2019 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Рекомендации по анализу
  • BS ISO 18516:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
  • BS ISO 14701:2011 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния
  • BS ISO 18118:2005 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
  • BS ISO 23692:2021 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный анализ дендритной сегрегации Mn в непрерывнолитом стальном изделии
  • BS ISO 18118:2015 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов
  • BS ISO 18554:2016 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Процедуры выявления, оценки и коррекции непреднамеренной деградации под действием рентгеновских лучей в материале, подвергаемом анализу методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
  • 20/30393735 DC BS ISO 23692. Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный анализ дендритной сегрегации Mn в непрерывнолитом стальном изделии
  • BS 3727-14:1964 Методы анализа никеля для использования в электронных лампах и лампах. Определение вольфрама (гравиметрический метод)
  • 19/30394914 DC BS ISO 15632. Микролучевой анализ. Отдельные рабочие параметры прибора для спецификации и проверки энергодисперсионных рентгеновских спектрометров для использования в электронно-зондовом микроскопе или электронно-зондовом микроанализаторе (ЭПМА)
  • BS ISO 24639:2022 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Процедура калибровки энергетической шкалы для элементного анализа методом спектроскопии энергетических потерь электронов
  • BS 3727-3:1966 Методы анализа никеля для использования в электронных лампах и лампах. Определение углерода.
  • BS ISO 16129:2012 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра
  • BS ISO 14701:2018 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Измерение толщины оксида кремния
  • BS 3727-12:1970 Методы анализа никеля для использования в электронных лампах и лампах. Определение серы (метод сжигания)
  • BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
  • BS 3727-1:1966 Методы анализа никеля для использования в электронных лампах и лампах. Определение алюминия (фотометрический метод)
  • BS 3727-2:1968 Методы анализа никеля для использования в электронных лампах и лампах. Определение бора (фотометрический метод)
  • BS 3727-4:1964 Методы анализа никеля для использования в электронных лампах и лампах. Определение хрома (фотометрический метод)
  • BS 3727-5:1964 Методы анализа никеля для использования в электронных лампах и лампах. Определение кобальта (фотометрический метод)
  • BS 3727-6:1964 Методы анализа никеля для использования в электронных лампах и лампах. Определение меди (фотометрический метод)
  • BS 3727-7:1964 Методы анализа никеля для использования в электронных лампах и лампах - Определение железа (фотометрический метод)
  • BS 3727-8:1964 Методы анализа никеля для использования в электронных лампах и лампах. Определение марганца (фотометрический метод)
  • BS 3727-9:1967 Методы анализа никеля для использования в электронных лампах и лампах. Определение магния (фотометрический метод)
  • BS 3727-13:1965 Методы анализа никеля для использования в электронных лампах и лампах. Определение титана (фотометрический метод)
  • BS 3727-15:1968 Методы анализа никеля для использования в электронных лампах и лампах. Определение цинка (фотометрический метод)
  • BS ISO 23833:2013 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ (ЭПМА) Словарь
  • BS ISO 16129:2018 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра
  • 21/30404763 DC BS ISO 24639. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Процедура калибровки энергетической шкалы для элементного анализа методом спектроскопии энергетических потерь электронов
  • BS 3727-21:1966 Методы анализа никеля для использования в электронных лампах и лампах. Определение магния (метод атомной абсорбции)
  • BS ISO 21270:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
  • BS 3727-22:1966 Методы анализа никеля для использования в электронных лампах и лампах. Определение цинка (метод атомной абсорбции)
  • BS 3727-10:1964 Методы анализа никеля для использования в электронных лампах и лампах. Определение кремния 0,020-0,25 процента (фотометрический метод)
  • BS 3727-11:1965 Методы анализа никеля для использования в электронных лампах и лампах. Определение кремния 0,001-0,020 процентов (фотометрический метод)
  • BS ISO 19830:2015 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
  • BS ISO 24237:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
  • BS ISO 15632:2012 Микролучевой анализ. Отдельные параметры аппаратуры для спецификации и проверки энергодисперсионных рентгеновских спектрометров для использования в электронно-зондовом микроанализе
  • BS ISO 15632:2021 Микролучевой анализ. Отдельные параметры рабочих характеристик прибора для спецификации и проверки энергодисперсионных рентгеновских спектрометров (EDS) для использования со сканирующим электронным микроскопом (SEM) или электронно-зондовым микроанализатором (EPMA)
  • BS ISO 17109:2022 Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и вторично-ионной масс-спектрометрии, определение профиля глубины распыления с использованием одно- и многослойных тонких…
  • 21/30433862 DC БС ИСО 17109 АМД1. Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием одиночных и…
  • BS ISO 23749:2022 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали
  • BS ISO 21270:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности
  • BS 3727-16:1966 Методы анализа никеля для использования в электронных лампах и вентилях. Определение связанного и свободного магния
  • BS ISO 17109:2015 Химический анализ поверхности. Глубинное профилирование. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и вторично-ионной масс-спектрометрии. Профилирование глубины распыления с использованием одно- и многослойных тонких пленок.
  • BS 7020-19:1989 Анализ железных руд. Метод определения содержания фтора. Ионоселективный электродный метод
  • BS 7020-19:1988 Анализ железных руд. Метод определения содержания фтора. Ионоселективный электродный метод
  • BS ISO 16592:2012 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению содержания углерода в сталях методом калибровочной кривой
  • BS ISO 16243:2011 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
  • BS ISO 19463:2018 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализатор (ЭПМА). Руководство по выполнению процедур обеспечения качества
  • 23/30425940 DC BS ISO 14594. Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны
  • 21/30398224 DC BS ISO 23749. Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали
  • DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
  • BS ISO 14595:2023 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по спецификации сертифицированных стандартных образцов (CRM)
  • PD IEC TS 63109:2022 Фотоэлектрические (PV) модули и элементы. Измерение коэффициента идеальности диода путем количественного анализа электролюминесцентных изображений
  • BS ISO 14594:2003 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.
  • BS ISO 14594:2014 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны
  • BS 3762-3.24:1988 Анализ рецептур моющих средств. Количественные методы испытаний. Метод определения содержания низкомолекулярных спиртов.
  • BS ISO 14595:2003 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по спецификации сертифицированных эталонных материалов (CRM).
  • BS ISO 14595:2014 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по спецификации сертифицированных стандартных образцов (CRM)
  • BS ISO 11938:2012 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Методы элементного картографического анализа с использованием спектроскопии с дисперсией по длине волны
  • 20/30423741 DC BS ISO 19318. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчетность о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда
  • BS ISO 17560:2002 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профилирования бора в кремнии.
  • BS ISO 17560:2014 Химический анализ поверхности. Вторично-ионная масс-спектрометрия. Метод глубинного профилирования бора в кремнии
  • 22/30430960 DC BS ISO 14595. Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по спецификации сертифицированных стандартных образцов (CRM)
  • BS ISO 20903:2011 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивности пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
  • BS ISO 19318:2021 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчетность о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда
  • PD ISO/TR 23173:2021 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Измерение толщины и состава покрытий наночастиц
  • BS EN 62220-1:2004 Медицинское электрооборудование. Характеристики цифровых рентгеновских аппаратов. Определение квантовой эффективности детектива

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Количественный анализ Электроника x

  • JIS K 0167:2011 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
  • JIS K 0145:2002 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибровка энергетических шкал.
  • JIS K 0190:2010 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Руководство по качественному точечному анализу методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны.
  • JIS K 0189:2013 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Определение экспериментальных параметров для волнодисперсионной рентгеновской спектроскопии.
  • JIS K 0152:2014 Химический анализ поверхности.Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
  • JIS T 0306:2002 Анализ состояния пассивной пленки, сформированной на металлических биоматериалах, методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Количественный анализ Электроника x

  • YB/T 172-2000 Фазовый количественный анализ силикатного кирпича. Рентгеноструктурный метод.
  • YB/T 5320-2006 Рентгеноструктурный метод значения K для количественного фазового анализа металлических материалов
  • YB/T 5336-2006 Количественный анализ карбидной фазы в быстрорежущей стали методом рентгеновской дифракции
  • YB/T 190.10-2001 Методы химического анализа порошка кристаллизатора непрерывной разливки. Ионселективный электродный метод определения содержания фтора.

工业和信息化部, Количественный анализ Электроника x

  • YB/T 172-2020 Рентгеноструктурный метод количественного фазового анализа силикатного кирпича
  • YS/T 1160-2016 Количественный фазовый анализ промышленного порошка кремнезема. Определение содержания кремнезема. Метод рентгеновской дифракции значения K.
  • YS/T 1033-2015 Определение содержания элементов в сухих противофильтрационных материалах методом рентгенофлуоресцентной спектрометрии.
  • YS/T 1569.5-2022 Методы химического анализа манганата лития-никеля Часть 5. Определение содержания хлорид-ионов Ионоселективный электродный метод
  • YB/T 4799-2018 Определение фазового количества осажденного нитрида алюминия в железе и стали. Атомно-эмиссионная спектрометрия с электролитическим разделением и индуктивно-связанной плазмой.
  • YS/T 1179.1-2017 Методы химического анализа алюминиевых шлаков Часть 1. Определение содержания фтора Ион-селективный электродный метод
  • YS/T 1057.2-2020 Методы химического анализа четырехокиси кобальта. Часть 2. Определение содержания хлорид-ионов методом ионселективного электрода.
  • YS/T 1531-2022 Методы химического анализа углерода родия. Определение содержания родия. Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой.
  • YS/T 581.15-2012 Методы химического анализа и определения физических свойств фторида алюминия Часть 15. Определение содержания элементов рентгенофлуоресцентно-спектроскопическим методом (таблеточным)
  • YS/T 1497-2021 Метод анализа соединений платины. Определение содержания примесных анионов. Ионная хроматография.
  • YS/T 1496-2021 Метод анализа соединений палладия. Определение содержания примесных анионов. Ионная хроматография.
  • YS/T 1171.4-2017 Методы химического анализа вторичного цинкового сырья Часть 4. Определение содержания фтора Ион-селективный электродный метод
  • YS/T 1476-2021 Методы химического анализа цирконового песка. Определение содержания бария в индуктивно-связанной плазме. Атомно-эмиссионная спектрометрия.
  • YB/T 4700-2018 Определение фазового количества осажденного сульфида марганца в чугуне и стали электролитической разделительно-пламенной атомно-абсорбционной спектрометрией

American Society for Testing and Materials (ASTM), Количественный анализ Электроника x

  • ASTM E996-94(1999) Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
  • ASTM E2108-10 Стандартная практика калибровки шкалы энергии связи электронов рентгеновского фотоэлектронного спектрометра
  • ASTM E1588-07e1 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
  • ASTM E1588-07 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
  • ASTM E1588-10e1 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
  • ASTM E1588-20 Стандартная практика анализа остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
  • ASTM E1588-16 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
  • ASTM E3063-17 Метод определения содержания сурьмы с использованием нейтронно-активационного анализа (NAA)
  • ASTM E3063-16 Метод определения содержания сурьмы с использованием нейтронно-активационного анализа (NAA)
  • ASTM UOP481-10 Вода в жидких углеводородах методом кулонометрии
  • ASTM E1588-16a Стандартная практика анализа остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
  • ASTM E1588-17 Стандартная практика анализа остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
  • ASTM D4940-10 Стандартный метод испытаний для кондуктиметрического анализа водорастворимых ионных загрязнений абразивов для струйной обработки
  • ASTM E1097-97 Стандартное руководство по эмиссионному спектрометрическому анализу плазмы постоянного тока
  • ASTM E10-08 Стандартный метод определения твердости металлических материалов по Бринеллю
  • ASTM E10-15 Стандартный метод определения твердости металлических материалов по Бринеллю

Standard Association of Australia （SAA）, Количественный анализ Электроника x

  • AS ISO 18118:2006 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
  • AS ISO 15472:2006 Химический анализ поверхности - Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры - Калибровка энергетических шкал
  • AS ISO 15470:2006 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
  • AS ISO 19319:2006 Химический анализ поверхности - электронная спектроскопия Augur и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - определение латерального разрешения, области анализа и площади образца, просматриваемой анализатором.
  • AS ISO 24237:2006 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
  • AS ISO 19318:2006 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
  • AS 1696.2:1997 Медь. Определение содержания меди. Электрогравиметрический метод.
  • AS/NZS 4356.5:1996 Медицинское электрооборудование. Характеристики электрооптических усилителей рентгеновского изображения. Определение квантовой эффективности детектора.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Количественный анализ Электроника x

  • GB/T 22571-2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибровка энергетических шкал.
  • GB/T 34500.1-2017 Методы химического анализа остатков редкоземельных элементов и сточных вод. Часть 1. Определение содержания фтора. Ионно-селективный электродный анализ.
  • GB/T 1819.15-2017 Методы химического анализа оловянных концентратов. Часть 15. Определение содержания фтора. Метод ионоселективного электрода.
  • GB/T 15076.5-2017 Методы химического анализа тантала и ниобия. Часть 5. Определение содержания молибдена и вольфрама. Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой.
  • GB/T 33502-2017 Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS).

未注明发布机构, Количественный анализ Электроника x

  • BS ISO 18516:2006(2010) Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
  • BS ISO 21270:2004(2010) Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные и электронные оже-спектрометры. Линейность шкалы интенсивности.
  • YY 0457.5-2003 Медицинское электрооборудование. Характеристики фотоэлектрических усилителей рентгеновского изображения. Часть 5: Определение квантовой эффективности обнаружения

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Количественный анализ Электроника x

  • GB/T 17360-2020 Микролучевой анализ — метод количественного определения низкого содержания кремния и марганца в сталях с использованием электронно-зондового микроанализатора.
  • GB/T 36401-2018 Химический анализ поверхности — рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия — отчет о результатах анализа тонких пленок.
  • GB/T 41076-2021 Микролучевой анализ. Дифракция обратного рассеяния электронов. Количественное определение аустенита в стали.
  • GB/T 27896-2018 Метод определения содержания водяного пара в природном газе. Электронные анализаторы влажности.
  • GB/T 41073-2021 Химический анализ поверхности. Электронная спектроскопия. Минимальные требования к отчетности для подбора пиков в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
  • GB/T 41064-2021 Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, электронной оже-спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование глубины распыления с использованием однослойных и многослойных тонких пленок.
  • GB/T 29732-2021 Химический анализ поверхности. Оже-электронные спектрометры среднего разрешения. Калибровка энергетических шкал для элементного анализа.

Professional Standard - Petroleum, Количественный анализ Электроника x

  • SY/T 6027-2012 Метод количественного анализа горных пород и минералов методом электронно-зондового микроанализа.
  • SY/T 6027-1994 Метод электронно-зондового количественного анализа кислородсодержащих минералов
  • SY/T 6210-1996 Рентгеноструктурный метод количественного анализа суммы глинистых минералов и распространенных неглинистых минералов в осадочных породах

国家能源局, Количественный анализ Электроника x

  • SY/T 6027-2019 Электронно-зондовый метод количественного анализа минералов горных пород

German Institute for Standardization, Количественный анализ Электроника x

  • DIN ISO 16129:2020-11 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методики оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра (ISO 16129:2018); Текст на английском языке
  • DIN ISO 15472:2020-05 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибровка энергетических шкал (ISO 15472:2010)
  • DIN 51418-2:2015 Рентгеновская спектрометрия. Рентгеновская эмиссия и рентгенофлуоресцентный анализ (РФА). Часть 2. Определения и основные принципы измерений, калибровки и оценки результатов.
  • DIN 51418-2:1996 Рентгеновская спектрометрия. Рентгеновско-эмиссионный и рентгенофлуоресцентный анализ (РФА). Часть 2. Определения и основные принципы измерений, калибровки и оценки результатов.
  • DIN 29571-3:1990-10 Аэрокосмическая промышленность; электрическое оборудование; анализ нагрузки и мощности источника питания
  • DIN ISO 16129:2020 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методики оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра (ISO 16129:2018); Текст на английском языке
  • DIN 51418-2:2015-03 Рентгеновская спектрометрия. Рентгеновская эмиссия и рентгенофлуоресцентный анализ (РФА). Часть 2. Определения и основные принципы измерений, калибровки и оценки результатов.
  • DIN 25703:1993 Определение содержания урана и плутония в растворах азотной кислоты методом волнодисперсионного рентгенофлуоресцентного анализа
  • DIN 51440-1:2003 Испытание бензинов. Определение содержания фосфора. Часть 1. Анализ методом рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны (XRS).
  • DIN EN 61262-5:1995 Медицинское электрооборудование. Характеристики электрооптических усилителей рентгеновского изображения. Часть 5. Определение детекторной квантовой эффективности (IEC 61262-5:1994); Немецкая версия EN 61262-5:1994.
  • DIN ISO 15472:2020 Химический анализ поверхности. Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры. Калибровка энергетических шкал (ISO 15472:2010); Текст на английском языке
  • DIN ISO 16592:2015 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению содержания углерода в сталях с использованием метода калибровочной кривой (ISO 16592:2012)
  • DIN 6855-4:2004 Контроль качества приборов ядерной медицины. Часть 4. Проверка постоянства позитронно-эмиссионных томографов (ПЭТ)
  • DIN EN ISO 14597:1999 Нефтепродукты. Определение содержания ванадия и никеля. Рентгенофлуоресцентная спектрометрия с дисперсией по длине волны (ISO 14597:1997); Немецкая версия EN ISO 14597:1999.
  • DIN 51418-2 Bb.1:2000 Рентгеновская спектрометрия. Рентгеновско-эмиссионный и рентгенофлуоресцентный анализ (РФА). Часть 2. Определения и основные принципы измерений, калибровки и оценки результатов; дополнительная информация и примеры расчета

Professional Standard - Aviation, Количественный анализ Электроника x

  • HB 8422-2014 Количественный метод обнаружения ЭПМА микроэлементов в сплавах
  • HB/Z 5091.5-1999 Метод анализа раствора хромирования. Определение содержания железа методом атомно-абсорбционной спектрометрии.
  • HB/Z 5091.6-1999 Метод анализа раствора хромирования. Определение содержания меди методом атомно-абсорбционной спектрометрии.
  • HB/Z 5088.6-1999 Аналитический метод гальванического нанесения раствора никеля. Определение содержания меди методом атомно-абсорбционной спектрометрии.
  • HB/Z 5088.5-1999 Метод анализа раствора никелирования. Определение содержания железа методом атомно-абсорбционной спектрометрии.
  • HB 5219.11-1998 Методы химического анализа магниевых сплавов. Определение содержания никеля методом атомно-абсорбционной спектрометрии.
  • HB 5219.13-1998 Методы химического анализа магниевого сплава. Атомно-абсорбционный спектроскопический анализ. Определение содержания цинка.
  • HB 5219.20-1998 Методы химического анализа магниевых сплавов. Определение содержания серебра методом атомно-абсорбционной спектрометрии.
  • HB 5219.3-1998 Методы химического анализа магниевых сплавов. Определение содержания меди методом атомно-абсорбционной спектрометрии.
  • HB 5219.8-1998 Методы химического анализа магниевых сплавов. Определение содержания марганца методом атомно-абсорбционной спектрометрии.
  • HB 5219.5-1998 Методы химического анализа магниевых сплавов. Определение содержания железа методом атомно-абсорбционной спектрометрии.
  • HB/Z 5218.25-2004 Методы химического анализа алюминиевых сплавов. Часть 25. Определение содержания бора методом ионоселективного электрода.
  • HB/Z 5086.7-2000 Аналитический метод гальванического раствора цианида меди. Определение содержания свинца методом атомно-абсорбционной спектрометрии.
  • HB/Z 5086.8-2000 Аналитический метод гальванического раствора цианида меди. Определение содержания серебра методом атомно-абсорбционной спектрометрии.
  • HB/Z 5093.6-2000 Аналитический метод щелочного гальванического раствора олова. Определение содержания свинца методом атомно-абсорбционной спектрометрии.
  • HB/Z 5093.7-2000 Аналитический метод щелочного гальванического раствора олова. Определение содержания меди методом атомно-абсорбционной спектрометрии.
  • HB/Z 5084.5-2000 Аналитический метод цианидного гальванического раствора цинка. Определение содержания железа методом атомно-абсорбционной спектрометрии.
  • HB/Z 5084.6-2000 Аналитический метод цианидного гальванического раствора цинка. Определение содержания меди методом атомно-абсорбционной спектрометрии.
  • HB/Z 5085.7-1999 Аналитический метод гальванического раствора кадмия при цианидной гальванике. Атомно-абсорбционная спектрометрия. Определение содержания железа.
  • HB/Z 5085.8-1999 Аналитический метод гальванического раствора кадмия при цианидном покрытии. Определение содержания меди методом атомно-абсорбционной спектрометрии.
  • HB/Z 5089.1-2004 Методы анализа растворов гальванического черного никеля. Часть 1. Определение содержания сульфата аммония и никеля методом ионоселективного электрода.
  • HB 7716.14-2002 Спектрометрический анализ титановых сплавов. Часть 14. Определение содержания иттрия. Атомно-эмиссионный спектрометрический метод с индуктивно связанной плазмой.
  • HB 6731.1-1993 ОПРЕДЕЛЕНИЕ СОДЕРЖАНИЯ МЕДИ В алюминиевых сплавах методом атомно-абсорбционной спектрометрии
  • HB 6731.9-1993 Определение содержания хрома в алюминиевых сплавах методом атомно-абсорбционной спектрометрии
  • HB 6731.4-1993 Определение содержания свинца в алюминиевых сплавах методом атомно-абсорбционной спектрометрии
  • HB 6731.5-1993 Определение содержания кадмия в алюминиевых сплавах методом атомно-абсорбционной спектрометрии
  • HB 6731.6-1993 Определение содержания железа в алюминиевых сплавах методом атомно-абсорбционной спектрометрии
  • HB 6731.7-1993 Определение содержания марганца в алюминиевых сплавах методом атомно-абсорбционной спектрометрии
  • HB 6731.8-1993 Определение содержания никеля в алюминиевых сплавах методом атомно-абсорбционной спектрометрии
  • HB 6731.10-1993 Определение содержания ванадия в алюминиевых сплавах методом атомно-абсорбционной спектрометрии
  • HB 6731.3-1993 Определение содержания цинка в алюминиевых сплавах методом атомно-абсорбционной спектрометрии
  • HB/Z 339.2-1999 Аналитический метод раствора анодирования хромовой кислоты алюминиевого сплава для определения содержания хлорид-ионов методом потенциометрического титрования
  • HB/Z 5104.3-1999 Метод анализа раствора сульфидно-кислотного анодирования алюминиевых сплавов. Определение содержания хлорид-ионов методом потенциометрического титрования.
  • HB/Z 5086.9-2000 Аналитический метод гальванического раствора цианида меди. Определение содержания цинка и кадмия методом атомно-абсорбционной спектрометрии.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Количественный анализ Электроника x

  • JJF 1029-1991 Технический норматив на разработку стандартных образцов, используемых при количественном анализе электронного микрозонда

RU-GOST R, Количественный анализ Электроника x

  • GOST 19647-1974 Методы и средства радиоизотопного рентгеноструктурного анализа. Понятия и определения
  • GOST R 50706.4-1994 Азотная кислота для промышленного использования. Определение содержания хлорид-ионов. Потенциометрический метод
  • GOST IEC 61262-5-2011 Медицинское электрооборудование. Характеристики электрооптических усилителей рентгеновского изображения. Часть 5. Определение квантовой эффективности детектива
  • GOST R ISO 16243-2016 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Регистрация и отчетность данных в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
  • GOST R IEC 61262-5-1999 Медицинское электрооборудование. Характеристики электрооптических усилителей рентгеновского изображения. Часть 5. Определение квантовой эффективности детектива
  • GOST R IEC 62220-1-2006 Медицинское электрооборудование. Характеристики цифровых рентгеновских аппаратов. Часть 1. Определение квантовой эффективности детектива

海关总署, Количественный анализ Электроника x

  • HS/T 52-2016 Метод количественного рентгенофлуоресцентного анализа минеральных продуктов, содержащих оксид магния

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Количественный анализ Электроника x

  • DB35/T 110-2000 Электронный зонд и сканирующий электронный микроскоп. Метод рентгеновского энергетического спектрального анализа для обнаружения красочных вещественных доказательств.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Количественный анализ Электроника x

  • JJG 901-1995 Регламент поверки электронно-зондового микроанализатора

Professional Standard - Education, Количественный анализ Электроника x

  • JY/T 0588-2020 Общие правила определения кристаллической и молекулярной структуры низкомолекулярных соединений методом рентгеновской дифракции монокристаллов
  • JY/T 008-1996 Общие правила определения кристаллической и молекулярной структуры низкомолекулярных соединений с помощью четырехкружного монокристаллического рентгеновского дифрактометра

Professional Standard - Electron, Количественный анализ Электроника x

  • SJ/T 10904-1996 Определение фтора в электронном стекле - Ионселективный электродный метод
  • SJ/T 11029-2015 Аналитические методы пайки золото-никелевым припоем для электронных устройств. Определение никеля методом ЭДТА.
  • SJ/T 11028-2015 Аналитические методы пайки золотой меди для электронных устройств. Определение меди методом ЭДТА.
  • SJ/T 11020-1996 Методы анализа пайки серебро-медь для электронных компонентов. Определение меди (йодиметрический метод)
  • SJ/T 11018-2016 Аналитические методы пайки чистым серебром электронных устройств. Определение серы методом горения иодиметрии.
  • SJ/T 11028-1996 Методы анализа пайки золото-медь для электронных компонентов. Определение меди (объемный метод ЭДТА)
  • SJ/T 11029-1996 Методы анализа пайки золото-медь для электронных компонентов. Определение никеля (объемный метод ЭДТА)
  • SJ/T 11018-1996 Методы анализа пайки чистым серебром для электронных компонентов. Определение серы (йодиметрический метод сжигания)
  • SJ/T 10906-1996 Определение BaO в электронном стекле - весовой метод сульфата бария

International Electrotechnical Commission (IEC), Количественный анализ Электроника x

  • IEC TR 62725:2013 Анализ методологий количественного определения выбросов парниковых газов для электрических и электронных продуктов и систем
  • IEC 62220-1-2:2007 Медицинское электрооборудование. Характеристики цифровых рентгеновских устройств. Часть 1-2. Определение детекторной квантовой эффективности. Детекторы, используемые в маммографии.
  • IEC 62220-1:2003 Медицинское электрооборудование. Характеристики цифровых рентгеновских аппаратов. Часть 1. Определение детекторной квантовой эффективности.

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Количественный анализ Электроника x

  • YS/T 536.6-2006 Метод химического анализа висмута. Электротермическая атомно-абсорбционная спектрометрия. Определение свинца.
  • YS/T 536.12-2006 Метод химического анализа висмута. Электротермическая атомно-абсорбционная спектрометрия. Определение содержания никеля.
  • YS/T 536.2-2009 Методы химического анализа висмута.Определение содержания железа.Электротермический атомно-абсорбционный спектрометрический метод.
  • YS/T 536.6-2009 Методы химического анализа висмута.Определение содержания свинца.Электротермический атомно-абсорбционный спектрометрический метод.
  • YS/T 536.12-2009 Методы химического анализа висмута.Определение содержания никеля.Электротермический атомно-абсорбционный спектрометрический метод.
  • YS/T 536.13-2009 Методы химического анализа висмута.Определение содержания кадмия.Электротермический атомно-абсорбционный спектрометрический метод.
  • YS/T 536.13-2006 Метод химического анализа висмута. Электротермическая атомно-абсорбционная спектрометрия. Определение серебра и кадмия.
  • YS/T 990.5-2014 Методы химического анализа медного штейна. Часть 5. Определение содержания фтора. Ионоселективный электродный метод.
  • YS/T 273.14-2008 Методы химического анализа и определение физических показателей синтетического криолита. Часть 14. Рентгенофлуоресцентный спектрометрический метод определения содержания элементов.
  • YS/T 581.10-2006 Определение химического состава и физических свойств фторида алюминия Часть 10. Определение содержания серы рентгенофлуоресцентно-спектрометрическим методом
  • YS/T 273.11-2006 Химические методы анализа и физические свойства криолита. Часть 11:Определение содержания серы рентгенофлуоресцентно-спектрометрическим методом.
  • YS/T 1593.3-2023 Методы химического анализа сырого карбоната лития. Часть 3. Определение содержания фторид-ионов. Метод ионоселективного электрода.
  • YS/T 581.16-2008 Методы химического анализа и определение физических показателей фторида алюминия технического. Часть 16. Рентгенофлуоресцентно-спектрометрический метод определения содержания элементов.
  • YS/T 74.3-2010 Методы химического анализа кадмия. Часть 3. Определение содержания никеля. Электротермический атомно-абсорбционный спектрометрический метод.
  • YS/T 254.5-1994 Методы химического анализа бериллиевых концентратов-берилла Ионселективный электродный метод определения содержания фтора
  • YS/T 1072-2015 Химические методы анализа палладия-углерода.Определение содержания палладия.Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой.
  • YS/T 703-2014 Метод химического анализа известняков. Определение содержания элементов. Рентгенофлуоресцентный спектрометрический метод.
  • YS/T 227.7-2010 Методы химического анализа теллура. Часть 7. Определение содержания серы. Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой.
  • YS/T 281.12-1994 Кобальт. Определение содержания мышьяка, сурьмы, висмута, олова и свинца. Пламенный атомно-абсорбционный спектрофотометрический метод.
  • YS/T 581.18-2012 Методы химического анализа и физические свойства фторида алюминия. Часть 18: Рентгенофлуоресцентный спектрометрический метод определения содержания элементов с использованием прессованных порошковых таблеток.
  • YS/T 273.15-2012 Методы химического анализа и физические свойства криолита. Часть 15: Рентгенофлуоресцентный спектрометрический метод определения содержания элементов с использованием прессованных порошковых таблеток.
  • YS/T 739-2010 Определение содержания криолита и основных компонентов электролита рентгенофлуоресцентно-спектрометрическим методом анализа.
  • YS/T 1073-2015 Химические методы анализа палладия-углерода.Определение содержания свинца, меди и железа.Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой.
  • YS/T 575.23-2009 Метод химического анализа алюминиевых руд. Часть 23. Определение содержания элементов рентгенофлуоресцентно-спектрометрическим методом.
  • YS/T 520.10-2006 Методы химического анализа галлия. Атомно-абсорбционная спектрофотометрия. Определение содержания цинка.
  • YS/T 519.4-2009 Методы химического анализа мышьяка. Часть 4. Определение содержания висмута, сурьмы и серы. Атомно-комиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой.

Professional Standard - Commodity Inspection, Количественный анализ Электроника x

  • SN/T 2003.5-2006 Определение свинца, ртути, хрома, кадмия и брома в электрическом и электронном оборудовании. Часть 5. Количественный скрининг энергодисперсионным рентгенофлуоресцентным спектрометрическим методом.
  • SN/T 2003.3-2006 Определение свинца, ртути, хрома, кадмия и брома в электрическом и электронном оборудовании. Часть 3. Качественный скрининг рентгенофлуоресцентным спектрометрическим методом.
  • SN/T 2003.4-2006 Определение свинца, ртути, хрома, кадмия и брома в электрическом и электронном оборудовании. Часть 4. Качественный скрининг энергодисперсионным рентгенофлуоресцентным спектрометрическим методом.

(U.S.) Ford Automotive Standards, Количественный анализ Электроника x

  • FORD FLTM BI 017-03-2001 ОПРЕДЕЛЕНИЕ ВЕСА ПОКРЫТИЯ – КОМПЛЕКС ХРОМАТ/ЦИНКОВАЯ ПЫЛЬ PORTASPEC РЕНТГЕНОВСКИЙ МЕТОД АНАЛИЗА
  • FORD FLTM BI 017-3-2001 ОПРЕДЕЛЕНИЕ ВЕСА ПОКРЫТИЯ – КОМПЛЕКС ХРОМАТ/ЦИНКОВАЯ ПЫЛЬ PORTASPEC РЕНТГЕНОВСКИЙ МЕТОД АНАЛИЗА

SE-SIS, Количественный анализ Электроника x

  • SIS SS IEC 746:1984 Электронное измерительное оборудование. Выражение характеристик электрохимических анализаторов.
  • SIS SS IEC 714:1983 Электронное измерительное оборудование. Выражение свойств анализаторов спектра.
  • SIS SS IEC 776:1986 Электронное измерительное оборудование. Выражение свойств логических анализаторов.
  • SIS SS IEC 528:1984 Электронное измерительное оборудование. Оценка производительности инфракрасных анализаторов качества воздуха.
  • SIS SS-ISO 8963:1990 Дозиметрия эталонного X- и γ-излучений для радиационной защиты в диапазоне энергий от 8 кэВ до 1,3 МэВ

RO-ASRO, Количественный анализ Электроника x

  • STAS 6908/3-1990 Газообразные углеводороды. Сероводород. Буферы. Формы и размеры

Professional Standard - Customs, Количественный анализ Электроника x

  • HS/T 12-2006 Количественный анализ смешанной фазы талька, хлорита, магнезита. Метод рентгеновской дифрактометрии.

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, Количественный анализ Электроника x

  • DB37/T 266-1999 Метод рентгенофлуоресцентного анализа для определения количества шлаков, добавляемых в изделия из строительных материалов.

Group Standards of the People's Republic of China, Количественный анализ Электроника x

  • T/NAIA 0128-2022 Быстрое определение содержания гидроксида алюминия методом рентгенофлуоресцентного спектроскопического анализа (таблетка)

Danish Standards Foundation, Количественный анализ Электроника x

  • DS/ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
  • DS/IEC/TR 62725:2013 Анализ методологий количественного определения выбросов парниковых газов для электрических и электронных продуктов и систем
  • DS/EN 61262-5:2013 Медицинское электрооборудование. Характеристики электрооптических усилителей рентгеновского изображения. Часть 5. Определение квантовой эффективности детектора.

Professional Standard - Medicine, Количественный анализ Электроника x

  • YY/T 0457.5-2003 Медицинское электрооборудование. Характеристики электрооптических усилителей рентгеновского изображения. Часть 5. Определение квантовой эффективности детектора.
  • YY/T 0590.1-2005 Медицинское электрооборудование. Характеристики цифровых рентгеновских аппаратов. Часть 1. Определение детекторной квантовой эффективности.

Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, Количественный анализ Электроника x

  • DB53/T 443-2012 Метод пожарно-технической экспертизы Метод электронно-зондового анализа

AENOR, Количественный анализ Электроника x

  • UNE-EN 61262-5:1996 МЕДИЦИНСКАЯ ЭЛЕКТРОТЕХНИКА. ХАРАКТЕРИСТИКИ ЭЛЕКТРООПТИЧЕСКИХ Усилителей рентгеновского изображения. ЧАСТЬ 5: ОПРЕДЕЛЕНИЕ ДЕТЕКТИВНОЙ КВАНТОВОЙ ЭФФЕКТИВНОСТИ.

Professional Standard - Machinery, Количественный анализ Электроника x

  • JB/T 10392-2002 Методы модального анализа и измерения вибрации сердечника и рамы статора турбогенераторов
  • JB/T 6237.5-1992 Метод химического анализа порошка серебра для электрических контактов. Определение содержания никеля методом пламенной атомно-абсорбционной спектрометрии.
  • JB/T 6237.6-1992 Метод химического анализа серебряного порошка для электрических контактов. Определение содержания натрия методом пламенной атомно-абсорбционной спектрометрии.
  • JB/T 6237.8-1992 Определение содержания магния методом пламенной атомно-абсорбционной спектрометрии для химического анализа порошка серебра для электрических контактов

Professional Standard - Electricity, Количественный анализ Электроника x

  • DL/T 1028-2006 Код проверки для анализатора качества электроэнергии

Professional Standard - Geology, Количественный анализ Электроника x

  • DZ/T 0279.21-2016 Методы анализа региональных геохимических проб. Часть 21. Определение фтора методом ионселективного электрода

Professional Standard-Ships, Количественный анализ Электроника x

  • CB 20042-2012 Методы сплава железа с медью.Определение содержания микроциркония.Атомно-эмиссионный спектрометрический метод с индуктивно связанной плазмой.

CZ-CSN, Количественный анализ Электроника x

  • CSN 44 1693-1988 Химический анализ тетраэдрита. Определение свинца

  энергия рентгеновских электронов, рентгеновский количественный анализ, рентгеновский количественный анализ, электронный рентген, рентгеновская электронная спектроскопия, Электронный спектр x, количественный анализ рентгеновской дифракции, Количественный анализx, рентгеновский электрон, Скан Электроника х, рентгеновский фотоэлектрон, Количественный анализ Электроника x, Количественный анализ Электроника, рентгеновский электрон, Рентгеноструктурный анализ + количественный анализ, рентгеновские электроны, Рентгеновский электрон, электронный рентген, электрон+рентгеновский, xПолуколичественный анализ.

 



©2007-2023 ANTPEDIA, Все права защищены.