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Electrónica de análisis cuantitativo

Electrónica de análisis cuantitativo, Total: 496 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Electrónica de análisis cuantitativo son: Equipo óptico, Química analítica, Óptica y medidas ópticas., Refractarios, Pruebas no destructivas, pruebas de metales, Condiciones y procedimientos de prueba en general., Metales no ferrosos, Gas natural, Vocabularios, Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., químicos inorgánicos, Medidas lineales y angulares., Educación, Materiales semiconductores, Protección del medio ambiente, Calidad del aire, Pruebas ambientales, ingenieria electrica en general, Minerales metalíferos, Papel y cartón, Componentes electrónicos en general., Equipo medico, Productos petrolíferos en general, Minerales no metalíferos, Tratamiento superficial y revestimiento., Combustibles, Protección contra el fuego, Productos de la industria química., Ferroaleaciones, Física. Química, Metales ferrosos, Plástica, ingeniería de energía nuclear, Corrosión de metales, Fertilizantes, Aceites y grasas comestibles. Semillas oleaginosas, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Maquinaria rotativa, AMBIENTE. PROTECCION DE LA SALUD. SEGURIDAD, Análisis del tamaño de partículas. tamizado.


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Electrónica de análisis cuantitativo

  • GB/T 17359-1998
  • GB/T 18873-2002 Especificación general del microscopio electrónico de transmisión (TEM): microanálisis cuantitativo del espectro dispersivo de energía de rayos X (EDS) para muestras biológicas delgadas
  • GB/T 18873-2008 Guía general de microanálisis cuantitativo con microscopio electrónico de transmisión (TEM) y espectrometría de dispersión de energía de rayos X (EDS) para muestras biológicas delgadas
  • GB/T 30704-2014 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
  • GB/T 19500-2004 Reglas generales para el método de análisis espectroscópico de fotoelectrones de rayos X.
  • GB/T 30702-2014 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
  • GB/T 15074-2008 Guía general de análisis cuantitativo por EPMA
  • GB/T 15074-1994 Guía general para el análisis cuantitativo EPMA.
  • GB/T 28632-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral.
  • GB/T 22571-2008 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.
  • GB/Z 32490-2016 Procedimiento para la determinación de fondo mediante espectroscopia fotoelectrónica de rayos X para análisis químico de superficies.
  • GB/T 15244-2002 Análisis cuantitativo de vidrio mediante microanálisis con sonda electrónica.
  • GB/T 15246-2022 Análisis de microhaz: análisis cuantitativo de minerales de sulfuro mediante microanálisis con sonda electrónica
  • GB/T 28634-2012 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis de puntos cuantitativos para muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.
  • GB/T 29556-2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones de barrena y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral, el área de análisis y el área de muestra vistas por el analizador.
  • GB/T 27896-2011 Método de prueba para el contenido de vapor de agua del gas natural utilizando analizadores de humedad electrónicos.
  • GB/T 17360-1998
  • GB/T 17360-2008 Método de análisis cuantitativo de bajo contenido de Si y Mn en acero con microanálisis con sonda electrónica.
  • GB/T 15617-2002 Análisis cuantitativo de minerales de silicato mediante microanálisis con sonda electrónica.
  • GB/T 15245-2002 Análisis cuantitativo de óxidos de elementos de tierras raras (REE) mediante microanálisis con sonda electrónica (EPMA)
  • GB/T 15246-2002 Análisis cuantitativo de minerales sulfurados mediante microanálisis con sonda electrónica.
  • GB/T 15616-1995
  • GB/T 15616-2008 Método cuantitativo para microanálisis con sonda electrónica de metales y aleaciones.
  • GB/T 5225-1985 Materiales metálicos--Análisis de fase cuantitativo--Método de difracción de rayos X del "valor K"
  • GB/T 15247-2008 Análisis por microhaz. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante el método de la curva de calibración.
  • GB/T 20726-2015
  • GB/T 21006-2007 Análisis químico de superficies. Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
  • GB/T 29858-2013 Directrices estándar para el análisis cuantitativo de calibración multivariante de espectroscopía molecular
  • GB/T 8359-1987 Carburos en acero rápido. Análisis de fase cuantitativa. Método de difractómetro de rayos X.
  • GB/T 20725-2006 Directrices de microanálisis con sonda electrónica para análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
  • GB/T 2679.11-2008 Papel y cartón. Análisis cualitativo de cargas minerales y recubrimientos minerales. Método SEM/EDAX
  • GB/T 17507-1998 Especificación general de estándares biológicos delgados para microanálisis EDS de rayos X en microscopio electrónico
  • GB/T 17416.2-1998 Método de análisis químico de minerales de circonio. Determinación del contenido de circonio y hafnio. Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • GB/T 17365-1998 Método de preparación de muestras de metal y aleaciones en microanálisis con sonda electrónica.
  • GB/T 8220.6-1998 Métodos de análisis químico del bismuto--Determinación del contenido de plomo--Método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica
  • GB/T 8220.12-1998 Métodos de análisis químico del bismuto--Determinación del contenido de níquel--Método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica
  • GB/T 6730.28-1986 Métodos para el análisis químico de minerales de hierro: método de electrodo selectivo de iones para la determinación del contenido de flúor.
  • GB/T 8151.9-1987 Métodos para el análisis químico de concentrados de zinc: método de electrodo selectivo de iones para la determinación del contenido de flúor.
  • GB/T 2679.11-1993 Papel y cartón. Análisis cualitativo de cargas minerales y recubrimientos minerales. Método SEM/EDAX
  • GB/T 25185-2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Informes de métodos utilizados para el control y corrección de carga.
  • GB/T 28893-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
  • GB/T 8220.13-1998 Métodos de análisis químico del bismuto--Determinación del contenido de plata y cadmio--Método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica
  • GB/T 1819.15-2006 Métodos de análisis químico de concentrados de estaño. Determinación del contenido en flúor. El método del electrodo selectivo de iones.
  • GB/T 8647.2-2006 Los métodos para el análisis químico del níquel. Determinación del contenido de aluminio. Método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica.
  • GB/T 8156.10-1987
  • GB/T 23273.6-2009 Métodos para el análisis químico de oxalato de cobalto. Parte 6: Determinación del contenido de iones cloro. Método de electrodo selectivo de iones
  • GB/T 28892-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados.
  • GB/T 28633-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Escala de repetibilidad y constancia de intensidad.
  • GB/T 6987.27-2001 Aluminio y aleaciones de aluminio. Determinación del contenido de boro. Método del electrodo selectivo de iones.
  • GB/T 14506.12-1993 Rocas de silicato. Determinación del contenido en flúor. Método de electrodo selectivo de iones
  • GB/T 11067.4-2006 Métodos de análisis químico de la plata. Determinación del contenido de antimonio. El método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
  • GB/T 4324.13-2008 Métodos de análisis químico de tungsteno Determinación del contenido de calcio Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
  • GB/T 17507-2008 Especificación general de estándares biológicos delgados para microanálisis EDS de rayos X en microscopio electrónico de transmisión
  • GB/T 17363.1-2009 Medición no destructiva del contenido de oro en los productos de oro. Parte 1: Método de microanálisis con sonda electrónica.
  • GB/T 23513.4-2009 Métodos de análisis químico para concentrado de germanio.Parte 4:Determinación del contenido de fluoruro.ISE
  • GB/T 3884.5-2012 Métodos para el análisis químico de concentrados de cobre. Parte 5: Determinación del contenido de fluoruro. Método del electrodo selectivo de iones.
  • GB/T 8151.9-2012 Métodos para el análisis químico de concentrados de zinc. Parte 9: Determinación del contenido de flúor. Método del electrodo selectivo de iones.
  • GB/T 3260.7-2013 Métodos de análisis químico del estaño.Parte 7:Determinación del contenido de aluminio.Método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica.
  • GB/T 25189-2010 Análisis de microhaz. Método de determinación de parámetros de análisis cuantitativo de SEM-EDS.
  • GB/T 4324.7-2012 Métodos para el análisis químico de tungsteno. Parte 7: Determinación del contenido de cobalto. Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
  • GB/T 4324.11-2012 Métodos para el análisis químico de tungsteno. Parte 11: Determinación del contenido de aluminio. Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
  • GB/T 4324.21-2012 Métodos para el análisis químico del tungsteno. Parte 21: Determinación del contenido de cromo. Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
  • GB/T 4324.22-2012 Métodos para el análisis químico del tungsteno. Parte 22: Determinación del contenido de manganeso. Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
  • GB/T 4325.12-2013 Métodos para el análisis químico del molibdeno.Parte 12:Determinación del contenido de silicio.Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
  • GB/T 4325.24-2013 Método de análisis químico del molibdeno.Parte 24:Determinación del contenido de tungsteno.Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
  • GB/T 4324.20-2012 Métodos para el análisis químico del tungsteno. Parte 20: Determinación del contenido de vanadio. Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
  • GB/T 30705-2014 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
  • GB/T 17417.2-1998 Método para el análisis químico de minerales de tierras raras--Determinación del contenido de escandio--Método ICP-AES
  • GB/T 11067.3-2006 Métodos de análisis químico de la plata. Determinación del contenido de selenio y telurio. Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
  • GB/T 20166.2-2006 Métodos de análisis químico del polvo de pulido de tierras raras - Determinación del contenido de flúor - Análisis de electrodos selectivos de iones
  • GB/T 12689.13-1990 Zinc y aleaciones de zinc. Determinación del contenido de aluminio. Método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica.
  • GB/T 13748.21-2009 Métodos de análisis químico de magnesio y aleaciones de magnesio. Parte 21: Determinación de elementos mediante espectrometría de emisión atómica de lectura directa fotoeléctrica.
  • GB/T 15076.6-2020 Métodos para el análisis químico de tantalio y niobio. Parte 6: Determinación del contenido de silicio. Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
  • GB/T 29732-2013 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
  • GB/T 23273.2-2009 Métodos de análisis químico de oxalato de cobalto. Parte 2: Determinación del contenido de plomo. Espectrometría de absorción atómica electrotérmica.
  • GB/T 14849.5-2010 Análisis químico del metal león.Parte 5: Determinación del contenido de elementos.Análisis mediante un método de fluorescencia de rayos X.
  • GB/T 4375.10-1984 Métodos para el análisis químico del galio: método espectrofotométrico de absorción atómica para la determinación del contenido de zinc.
  • GB/T 4324.16-1984 Métodos para el análisis químico del tungsteno: método espectrofotométrico de absorción atómica para la determinación del contenido de magnesio.
  • GB/T 4324.17-1984 Métodos para el análisis químico del tungsteno: método espectrofotométrico de absorción atómica para la determinación del contenido de sodio.
  • GB/T 4324.18-1984 Métodos para el análisis químico del tungsteno: método espectrofotométrico de absorción atómica para la determinación del contenido de potasio.
  • GB/T 4324.14-1984 Métodos para el análisis químico del tungsteno: método espectrofotométrico de absorción atómica para la determinación del contenido de calcio.
  • GB/T 4325.17-1984 Métodos para el análisis químico del molibdeno: método espectrofotométrico de absorción atómica para la determinación del contenido de sodio.
  • GB/T 4325.14-1984 Métodos para el análisis químico del molibdeno: método espectrofotométrico de absorción atómica para la determinación del contenido de calcio.
  • GB/T 4325.18-1984 Métodos para el análisis químico del molibdeno: método espectrofotométrico de absorción atómica para la determinación del contenido de potasio.
  • GB/T 4325.16-1984 Métodos para el análisis químico del molibdeno: método espectrofotométrico de absorción atómica para la determinación del contenido de magnesio.
  • GB/T 8647.7-2006 Los métodos para el análisis químico del níquel. Determinación de contenidos de arsénico, antimonio, bismuto, estaño y plomo. Método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica.

Association Francaise de Normalisation, Electrónica de análisis cuantitativo

  • NF X21-003:2006 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda.
  • NF X21-006:2007 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis puntual cuantitativo de muestras a granel mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva.
  • NF X21-071:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X - Directrices para el análisis.
  • NF X21-061:2008 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral.
  • NF X21-009:2008 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) - Vocabulario.
  • NF X21-001:2006 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM).
  • NF M07-095*NF EN ISO 14597:1999 Productos derivados del petróleo. Determinación del contenido de vanadio y níquel. Espectrometría de fluorescencia de rayos X de longitud de onda dispersiva.
  • NF X21-055:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía.
  • NF A09-230-3:1999 Ensayos no destructivos - Medición y evaluación de la tensión del tubo de rayos X - Parte 3: método espectrométrico.
  • NF X21-073*NF ISO 16243:2012 Análisis químico de superficies: registro y generación de informes de datos en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS).
  • NF ISO 16243:2012 Análisis químico de superficies: registro e informes de datos de espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
  • NF X21-002:2007 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
  • NF X21-007:2008 Análisis por microhaz - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para determinar el contenido de carbono del acero mediante un método de curva de calibración.
  • NF X21-011*NF ISO 24173:2009 Análisis de microhaces: directrices para la medición de la orientación mediante difracción de retrodispersión de electrones
  • NF ISO 17560:2006 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Determinación de boro en silicio mediante perfiles de espesor
  • FD T16-203:2011 Nanotecnologías: Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva
  • NF T51-241:2011 Plásticos: Determinación de la masa molecular y la distribución de masa molecular de especies de polímeros mediante espectrometría de masas de tiempo de vuelo de ionización/desorción láser asistida por matriz (MALDI-TOF-MS).
  • NF M60-404:1998 Determinación del contenido de plutonio en dióxido de plutonio (PuO2) de calidad nuclear. Método gravimétrico.
  • NF A09-230-1:1999 Pruebas no destructivas. Medición y evaluación del voltaje del tubo de rayos X. Parte 1: método del divisor de voltaje.
  • NF EN 62220-1-2:2007 Dispositivos electromédicos - Características de los dispositivos digitales de imágenes de rayos X - Parte 1-2: determinación de la eficiencia de detección cuántica - Detectores utilizados en mamografía
  • NF B40-670-3*NF EN ISO 21587-3:2007 Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 3: métodos de espectrometría de absorción atómica y plasma acoplado inductivamente
  • NF U44-145:1984 FERTILIZANTES Y ACONDICIONADORES DE SUELOS. DETERMINACIÓN DE MAGNESIO MEDIANTE EL MÉTODO ESPECTROMÉTRICO DE ABSORCIÓN ATÓMICA.
  • NF X21-004*NF ISO 22309:2012 Análisis de microhaces: análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS) para elementos con un número atómico de 11 (Na) o superior.
  • NF V03-918-2:1997 Colza. Determinación del contenido de glucosinolatos. Parte 2: método mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X.
  • NF T30-711:2011 Plásticos: Determinación de la masa molecular y la distribución de masa molecular de especies de polímeros mediante espectrometría de masas de tiempo de vuelo de ionización/desorción láser asistida por matriz (MALDI-TOF-MS).
  • NF C42-695:1985 Instrumentos electrónicos de medida. Expresión de las propiedades de los analizadores lógicos.
  • NF ISO 24173:2009 Análisis de microhaces: directrices para la medición de la orientación mediante difracción de electrones retrodispersados
  • NF C74-225*NF EN 61262-5:1994 Equipos eléctricos médicos. Características de los intensificadores de imágenes de rayos X electroópticos. Parte 5: determinación de la eficiencia cuántica detectivesca.
  • NF X21-058:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
  • NF EN 61676/A1:2009 Dispositivos electromédicos: instrumentos de dosimetría para la medición no invasiva del voltaje del tubo de rayos X en radiología diagnóstica
  • NF A09-230-2:2000 Ensayos no destructivos - Medición y evaluación de la tensión del tubo de rayos X - Parte 2: control de la constancia mediante el método del filtro grueso.
  • NF EN IEC 61676:2023 Appareils électromédicaux - Aparatos de dosificación para la medición no invasiva de la tensión del tubo radiogénico en la radiología de diagnóstico
  • NF C74-220-1:2005 Equipos electromédicos - Características de los dispositivos digitales de imágenes de rayos X - Parte 1: determinación de la eficiencia cuántica detectivesca.
  • NF X21-014:2012 Análisis de microhaces - Difracción de retrodispersión de electrones - Medición del tamaño medio de grano.

International Organization for Standardization (ISO), Electrónica de análisis cuantitativo

  • ISO 17470:2014 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis cualitativo de puntos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
  • ISO 22489:2006 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis de puntos cuantitativos para muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva
  • ISO 22489:2016 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis de puntos cuantitativos para muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda
  • ISO 10810:2019 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
  • ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para determinar la resolución de energía para el análisis del espectro de pérdida de energía de los electrones.
  • ISO 17470:2004 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis cualitativo de puntos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
  • ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Directrices para el análisis
  • ISO 18118:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
  • ISO 18118:2015
  • ISO/DIS 18118:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
  • ISO/FDIS 18118:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
  • ISO 14701:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.
  • ISO 22309:2006 Análisis de microhaces: análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS)
  • ISO/TR 18392:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Procedimientos para la determinación de fondos
  • ISO/CD TR 18392:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Procedimientos para determinar fondos.
  • ISO 18516:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
  • ISO 14701:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Medición del espesor del óxido de silicio
  • ISO 13424:2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Informes de resultados de análisis de películas delgadas.
  • ISO 18554:2016 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Procedimientos para identificar, estimar y corregir la degradación no deseada por rayos X en un material sometido a análisis mediante espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
  • ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
  • ISO 16129:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X.
  • ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
  • ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
  • ISO 25498:2018 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de áreas seleccionadas mediante un microscopio electrónico de transmisión
  • ISO 23833:2013 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) - Vocabulario
  • ISO 23833:2006 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) - Vocabulario
  • ISO 23692:2021 Análisis por microhaz - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis cuantitativo de la segregación dendrítica de Mn en productos de acero fundido continuamente
  • ISO 14595:2003 Analyse par microfaisceaux - Microanalyse par sonde à électrons - Lignes directrices pour les spécifications des matériaux de référence certifiés (CRM) (Première édition)
  • ISO 14595:2014 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM)
  • ISO 24237:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Escala de repetibilidad y constancia de intensidad
  • ISO/TR 19319:2003
  • ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
  • ISO 19830:2015 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
  • ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
  • ISO 23749:2022 Análisis de microhaces. Difracción por retrodispersión de electrones. Determinación cuantitativa de austenita en acero.
  • ISO/DIS 14594 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
  • ISO 15472:2010 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • ISO 15472:2001 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • ISO 17109:2015 Análisis químico de superficies - Perfilado de profundidad - Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X, espectroscopía de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas
  • ISO 14595:2003/Cor 1:2005 Analyse par microfaisceaux - Microanalyse par sonde à électrons - Lignes directrices pour les spécifications des matériaux de référence certifiés (CRM) TÉCNICA DE RECTIFICACIÓN 1 (Edición inaugural)
  • ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • ISO 16243:2011 Análisis químico de superficies: registro y generación de informes de datos en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
  • ISO 20903:2011 Análisis químico de superficies: espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X: métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
  • ISO 16592:2006 Análisis por microhaz - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante un método de curva de calibración
  • ISO 16592:2012 Análisis por microhaz - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante un método de curva de calibración
  • ISO 24173:2009 Análisis de microhaces: directrices para la medición de la orientación mediante difracción de retrodispersión de electrones
  • ISO/PRF 14595 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM).
  • ISO 14595:2023 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM).
  • ISO 14594:2003 Analyse par microfaisceaux - Analyse par microsonde électronique (Microsonde de Castaing) - Líneas directrices para la determinación de parámetros experimentales para la espectrometría de dispersión de longitud de onda
  • ISO 14594:2014 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda
  • ISO 20903:2019 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
  • ISO 11938:2012 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Métodos para el análisis de mapeo elemental mediante espectroscopía de longitud de onda dispersiva
  • ISO/CD 19214:2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método de determinación de la dirección de crecimiento aparente de cristales en forma de alambre mediante microscopía electrónica de transmisión.
  • ISO 10469:1994 Concentrados de sulfuro de cobre - Determinación del contenido de cobre - Método electrogravimétrico
  • ISO 19463:2018 Análisis de microhaces - Microanalizador de sonda electrónica (EPMA) - Directrices para realizar procedimientos de garantía de calidad
  • ISO 17109:2022 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para determinar la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Profundidad de pulverización p.
  • ISO/DIS 19430 Determinación de la distribución del tamaño de partículas y la concentración numérica mediante análisis de seguimiento de partículas (PTA)

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Electrónica de análisis cuantitativo

  • KS D ISO 22489:2012 Análisis de microhaz－Microanálisis con sonda electrónica－Análisis puntual cuantitativo para muestras a granel mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva
  • KS D ISO 22489:2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis puntual cuantitativo de muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.
  • KS D ISO 15472-2003(2018) Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Calibración de escala de energía
  • KS D ISO 18118-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de h
  • KS D ISO 18118:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
  • KS D ISO 19319-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
  • KS D ISO 14595:2012 Análisis de microhaces-Microanálisis con sonda electrónica-Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM)
  • KS M 1068-2005 Cribado cualitativo/cuantitativo mediante espectrometría XRF
  • KS D ISO 15632:2018 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sondas electrónicas.
  • KS D ISO 23833:2018 Análisis de microhaces — Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) — Vocabulario
  • KS D ISO TR 17270:2007 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de transmisión analítica－Informe técnico sobre la determinación de los parámetros experimentales para la espectroscopía de pérdida de energía electrónica.
  • KS D ISO 19319:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
  • KS D ISO 16592-2011(2021) Análisis de microhaz－Microanálisis con sonda electrónica－Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante un método de curva de calibración
  • KS D ISO 15470-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
  • KS D ISO 14594:2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
  • KS D ISO 21270-2005(2020) Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
  • KS D ISO 19318-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Informes de métodos utilizados para el control y la corrección de carga
  • KS D ISO 16592:2011 Análisis de microhaz－Microanálisis con sonda electrónica－Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante un método de curva de calibración
  • KS D ISO 16592-2011(2016) Análisis de microhaz－Microanálisis con sonda electrónica－Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante un método de curva de calibración
  • KS D ISO 15472:2003 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X-Calibración de escalas de energía
  • KS C IEC 61262-5-2003(2018) Equipos electromédicos. Características de los intensificadores de imágenes de rayos X electroópticos. Parte 5: Determinación de la eficiencia de la detección cuántica.
  • KS M ISO 14597:2003 Productos derivados del petróleo－Determinación del contenido de vanadio y níquel－Espectrometría de fluorescencia de rayos X de longitud de onda dispersiva
  • KS D ISO 14595:2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM).
  • KS D ISO 14594:2012 Análisis de microhaces－Microanálisis con sonda electrónica－Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda
  • KS D ISO 13898-3:2010 Acero y hierro-Determinación del contenido de níquel, cobre y cobalto-Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente-Parte 3: Determinación del contenido de cobre
  • KS D ISO 13898-4:2010 Acero y hierro－Determinación del contenido de níquel, cobre y cobalto－Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente－Parte 4:Determinación del contenido de cobalto
  • KS D ISO 13898-2:2010 Acero y hierro－Determinación del contenido de níquel, cobre y cobalto－Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente－Parte 2:Determinación del contenido de níquel
  • KS D ISO 13898-2-2010(2020) Acero y hierro－Determinación del contenido de níquel, cobre y cobalto－Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente－Parte 2:Determinación del contenido de níquel
  • KS D ISO 13898-4-2010(2020) Acero y hierro－Determinación del contenido de níquel, cobre y cobalto－Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente－Parte 4:Determinación del contenido de cobalto
  • KS D ISO 13898-3-2010(2020) Acero y hierro－Determinación del contenido de níquel, cobre y cobalto－Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente－Parte 3:Determinación del contenido de cobre
  • KS D ISO 11435-2006(2016) Aleaciones de níquel－Determinación de molibdeno－Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
  • KS D ISO 22033-2006(2016) Aleaciones de níquel－Determinación de niobio－Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
  • KS C IEC/TR 62725-2017(2022) Análisis de metodologías de cuantificación de emisiones de gases de efecto invernadero de productos y sistemas eléctricos y electrónicos
  • KS C IEC 62220-1:2005 Equipo eléctrico médico－Características del dispositivo digital de imágenes de rayos X－Parte 1: Determinación de la eficiencia cuántica de detección
  • KS C IEC 61262-5:2003 Equipos electromédicos－Características de los intensificadores de imágenes de rayos X electroópticos－Parte 5: Determinación de la eficiencia cuántica de detección
  • KS C IEC 62220-1-2005(2016) Equipo eléctrico médico－Características del dispositivo digital de imágenes de rayos X－Parte 1: Determinación de la eficiencia cuántica de detección
  • KS D 1702-2005 Platino-Determinación del contenido de oligoelementos mediante análisis espectrométrico de plasma acoplado inductivamente-Método de coincidencia de matrices

KR-KS, Electrónica de análisis cuantitativo

  • KS D ISO 22489-2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis puntual cuantitativo de muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.
  • KS D ISO 22489-2018(2023) Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis puntual cuantitativo de muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.
  • KS D ISO 15472-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Calibración de escala de energía
  • KS D ISO 15632-2018 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sondas electrónicas.
  • KS D ISO 23833-2018 Análisis de microhaces — Microanálisis con sonda electrónica (EPMA) — Vocabulario
  • KS D ISO TR 17270-2007 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de transmisión analítica－Informe técnico sobre la determinación de los parámetros experimentales para la espectroscopía de pérdida de energía electrónica.
  • KS D ISO 14594-2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
  • KS D ISO 14594-2018(2023) Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
  • KS D ISO 14595-2018(2023) Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM).
  • KS D ISO 14595-2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM).

British Standards Institution (BSI), Electrónica de análisis cuantitativo

  • BS ISO 22489:2007 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis de puntos cuantitativos para muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva
  • BS ISO 22489:2016 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis de puntos cuantitativos para muestras a granel mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda
  • BS ISO 23420:2021 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
  • BS ISO 10810:2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Pautas para el análisis
  • BS ISO 15472:2010 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • BS ISO 17470:2014 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para el análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
  • 20/30380369 DC BS ISO 23420. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Método para la determinación de la resolución energética para el análisis del espectro de pérdida de energía de electrones.
  • 23/30461294 DC BS ISO 18118. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
  • BS ISO 10810:2019 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Pautas para el análisis
  • BS ISO 18516:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
  • BS ISO 14701:2011 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.
  • BS ISO 18118:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
  • BS ISO 23692:2021 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis cuantitativo de la segregación dendrítica de Mn en productos de acero fundido continuamente.
  • BS ISO 18118:2015 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos.
  • BS ISO 18554:2016 Análisis químico de superficies. Espectroscopias electrónicas. Procedimientos para identificar, estimar y corregir la degradación no deseada por rayos X en un material sometido a análisis mediante espectroscopía de fotoelectrones de rayos X.
  • 20/30393735 DC BS ISO 23692. Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis cuantitativo de la segregación dendrítica de Mn en productos de acero fundido continuamente.
  • BS 3727-14:1964 Métodos para el análisis de níquel para uso en tubos y válvulas electrónicas - Determinación de tungsteno (método gravimétrico)
  • 19/30394914 DC BS ISO 15632. Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía para uso en un microscopio de sonda electrónica o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
  • BS ISO 24639:2022 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
  • BS 3727-3:1966 Métodos para el análisis de níquel para uso en tubos y válvulas electrónicas - Determinación de carbono
  • BS ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
  • BS ISO 14701:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.
  • BS 3727-12:1970 Métodos para el análisis de níquel para uso en tubos y válvulas electrónicas - Determinación de azufre (método de combustión)
  • BS ISO 25498:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica analítica - Análisis de difracción de electrones de área seleccionada utilizando un microscopio electrónico de transmisión
  • BS 3727-1:1966 Métodos para el análisis de níquel para uso en tubos y válvulas electrónicas - Determinación de aluminio (método fotométrico)
  • BS 3727-2:1968 Métodos para el análisis de níquel para uso en tubos y válvulas electrónicas - Determinación de boro (método fotométrico)
  • BS 3727-4:1964 Métodos para el análisis de níquel para uso en tubos y válvulas electrónicas - Determinación de cromo (método fotométrico)
  • BS 3727-5:1964 Métodos para el análisis de níquel para uso en tubos y válvulas electrónicas - Determinación de cobalto (método fotométrico)
  • BS 3727-6:1964 Métodos para el análisis de níquel para uso en tubos y válvulas electrónicas - Determinación de cobre (método fotométrico)
  • BS 3727-7:1964 Métodos para el análisis de níquel para uso en tubos y válvulas electrónicas - Determinación de hierro (método fotométrico)
  • BS 3727-8:1964 Métodos para el análisis de níquel para uso en tubos y válvulas electrónicas - Determinación de manganeso (método fotométrico)
  • BS 3727-9:1967 Métodos para el análisis de níquel para uso en tubos y válvulas electrónicas - Determinación de magnesio (método fotométrico)
  • BS 3727-13:1965 Métodos para el análisis de níquel para uso en tubos y válvulas electrónicas - Determinación de titanio (método fotométrico)
  • BS 3727-15:1968 Métodos para el análisis de níquel para uso en tubos y válvulas electrónicas - Determinación de zinc (método fotométrico)
  • BS ISO 23833:2013 Análisis de microhaces. Vocabulario del microanálisis con sonda electrónica (EPMA)
  • BS ISO 16129:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
  • 21/30404763 DC BS ISO 24639. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica analítica. Procedimiento de calibración de escala de energía para análisis elemental mediante espectroscopia de pérdida de energía electrónica.
  • BS 3727-21:1966 Métodos para el análisis de níquel para uso en tubos y válvulas electrónicas - Determinación de magnesio (método de absorción atómica)
  • BS ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
  • BS 3727-22:1966
  • BS 3727-10:1964 Métodos para el análisis de níquel para uso en válvulas y tubos electrónicos. Determinación de silicio 0,020-0,25 por ciento (método fotométrico)
  • BS 3727-11:1965 Métodos para el análisis de níquel para uso en válvulas y tubos electrónicos. Determinación de silicio 0,001-0,020 por ciento (método fotométrico)
  • BS ISO 19830:2015 Análisis químico de superficies. Espectroscopias electrónicas. Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
  • BS ISO 24237:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Escala de repetibilidad y constancia de intensidad
  • BS ISO 15632:2012 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica
  • BS ISO 15632:2021 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para su uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
  • BS ISO 17109:2022 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, espectroscopía electrónica Auger y perfilado del departamento de pulverización catódica por espectrometría de masas de iones secundarios utilizando una o varias capas delgadas...
  • 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1. Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando sistemas simples y...
  • BS ISO 23749:2022 Análisis de microhaces. Difracción por retrodispersión de electrones. Determinación cuantitativa de austenita en acero.
  • BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
  • BS 3727-16:1966 Métodos para el análisis de níquel para uso en tubos y válvulas electrónicas - Determinación de magnesio combinado y libre
  • BS ISO 17109:2015 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia electrónica Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas.
  • BS 7020-19:1989 Análisis de minerales de hierro. Método para la determinación del contenido de flúor. Método de electrodo selectivo de iones
  • BS 7020-19:1988 Análisis de minerales de hierro. Método para la determinación del contenido de flúor. Método de electrodo selectivo de iones
  • BS ISO 16592:2012 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante un método de curva de calibración
  • BS ISO 16243:2011 Análisis químico de superficies. Registro y presentación de informes de datos en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
  • BS ISO 19463:2018 Análisis de microhaces. Microanalizador de sonda electrónica (EPMA). Directrices para realizar procedimientos de garantía de calidad.
  • 23/30425940 DC BS ISO 14594. Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
  • 21/30398224 DC BS ISO 23749. Análisis de microhaces. Difracción por retrodispersión de electrones. Determinación cuantitativa de austenita en acero.
  • DD ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.
  • BS ISO 14595:2023 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM)
  • PD IEC TS 63109:2022 Módulos y células fotovoltaicas (PV). Medición del factor de idealidad del diodo mediante análisis cuantitativo de imágenes de electroluminiscencia.
  • BS ISO 14594:2003 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda
  • BS ISO 14594:2014 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la determinación de parámetros experimentales para espectroscopía dispersiva de longitud de onda.
  • BS 3762-3.24:1988 Análisis de detergentes formulados - Métodos de prueba cuantitativos - Método para la determinación del contenido de alcoholes de bajo peso molecular
  • BS ISO 14595:2003 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM)
  • BS ISO 14595:2014 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM)
  • BS ISO 11938:2012 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Métodos para el análisis de mapeo elemental mediante espectroscopia de dispersión de longitud de onda.
  • 20/30423741 DC BS ISO 19318. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Informe de los métodos utilizados para el control y la corrección de cargos.
  • BS ISO 17560:2002 Análisis químico de superficies - Espectrometría de masas de iones secundarios - Método para perfilar en profundidad el boro en silicio
  • BS ISO 17560:2014 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad boro en silicio.
  • 22/30430960 DC BS ISO 14595. Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Directrices para la especificación de materiales de referencia certificados (CRM)
  • BS ISO 20903:2011 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
  • BS ISO 19318:2021 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Informe de los métodos utilizados para el control y la corrección de cargos.
  • PD ISO/TR 23173:2021 Análisis químico de superficies. Espectroscopias electrónicas. Medición del espesor y composición de recubrimientos de nanopartículas.
  • BS EN 62220-1:2004 Equipos eléctricos médicos. Características de los dispositivos digitales de obtención de imágenes de rayos X. Determinación de la eficiencia cuántica detectivesca.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Electrónica de análisis cuantitativo

  • JIS K 0167:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
  • JIS K 0145:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • JIS K 0190:2010 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
  • JIS K 0189:2013 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Determinación de parámetros experimentales para espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.
  • JIS K 0152:2014 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Escala de repetibilidad y constancia de intensidad.
  • JIS T 0306:2002 Análisis de estado de películas pasivas formadas sobre biomateriales metálicos mediante espectroscopía de fotoelectrones de rayos X.

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Electrónica de análisis cuantitativo

  • YB/T 172-2000 Análisis cuantitativo de fases de ladrillos de sílice. Método de difracción de rayos X.
  • YB/T 5320-2006 Método del valor K de difracción de rayos X para el análisis de fase cuantitativo de materiales metálicos
  • YB/T 5336-2006 Análisis cuantitativo de la fase de carburo en acero de alta velocidad mediante el método de difracción de rayos X
  • YB/T 190.10-2001 Métodos para el análisis químico del polvo de molde de colada continua El método del electrodo selectivo de iones para la determinación del contenido de flúor

工业和信息化部, Electrónica de análisis cuantitativo

  • YB/T 172-2020 Análisis de fase cuantitativa de ladrillos de sílice mediante el método de difracción de rayos X.
  • YS/T 1160-2016 Análisis de fase cuantitativa del polvo de silicio industrial Determinación del contenido de sílice Método del valor K de difracción de rayos X
  • YS/T 1033-2015 Determinación del contenido de elementos de materiales secos antifiltración mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X.
  • YS/T 1569.5-2022 Métodos para el análisis químico del manganato de litio y níquel. Parte 5: Determinación del contenido de iones cloruro. Método del electrodo selectivo de iones.
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  • YS/T 1179.1-2017 Métodos para el análisis químico de escoria de aluminio Parte 1: Determinación del contenido de flúor Método del electrodo selectivo de iones
  • YS/T 1057.2-2020 Métodos para el análisis químico del tetróxido de cobalto Parte 2: Determinación del contenido de iones cloruro Método de electrodo selectivo de iones
  • YS/T 1531-2022 Métodos de análisis químico para rodio carbono - Determinación del contenido de rodio - Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
  • YS/T 581.15-2012 Métodos para el análisis químico y la determinación de las propiedades físicas del fluoruro de aluminio Parte 15: Determinación del contenido elemental mediante el método de espectrometría de fluorescencia de rayos X (prensado de tabletas)
  • YS/T 1497-2021 Método de análisis para compuestos de platino Determinación del contenido de aniones de impurezas Cromatografía iónica
  • YS/T 1496-2021 Método de análisis para compuestos de paladio Determinación del contenido de aniones de impurezas Cromatografía iónica
  • YS/T 1171.4-2017 Métodos para el análisis químico de materias primas de zinc recicladas Parte 4: Determinación del contenido de flúor Método del electrodo selectivo de iones
  • YS/T 1476-2021 Métodos de análisis químico para la determinación del contenido de bario en arena de circonio Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
  • YB/T 4700-2018 Determinación de la cantidad de fase precipitada de sulfuro de manganeso en hierro y acero mediante espectrometría de absorción atómica de llama de separación electrolítica.

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  • ASTM E1588-07e1 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
  • ASTM E1588-07 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
  • ASTM E1588-10e1 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
  • ASTM E1588-20 Práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
  • ASTM E1588-16 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
  • ASTM E3063-17 Método de prueba para el contenido de antimonio mediante análisis de activación de neutrones (NAA)
  • ASTM E3063-16 Método de prueba para el contenido de antimonio mediante análisis de activación de neutrones (NAA)
  • ASTM UOP481-10 Agua en Hidrocarburos Líquidos por Coulometría
  • ASTM E1588-16a Práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
  • ASTM E1588-17 Práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
  • ASTM D4940-10 Método de prueba estándar para análisis conductimétrico de contaminación iónica soluble en agua de abrasivos de voladura
  • ASTM E1097-97 Guía estándar para el análisis de espectrometría de emisión de plasma de corriente directa
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Standard Association of Australia （SAA）, Electrónica de análisis cuantitativo

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  • AS ISO 15472:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • AS ISO 15470:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • AS ISO 19319:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia electrónica Augur y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vista por el analizador
  • AS ISO 24237:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Escala de repetibilidad y constancia de intensidad
  • AS ISO 19318:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X - Informes de métodos utilizados para el control y la corrección de carga
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未注明发布机构, Electrónica de análisis cuantitativo

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国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Electrónica de análisis cuantitativo

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  • GB/T 41073-2021 Análisis químico de superficies—Espectroscopias electrónicas—Requisitos mínimos de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
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Professional Standard - Petroleum, Electrónica de análisis cuantitativo

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国家能源局, Electrónica de análisis cuantitativo

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German Institute for Standardization, Electrónica de análisis cuantitativo

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  • DIN ISO 15472:2020-05 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles
  • DIN 51418-2:2015 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
  • DIN 51418-2:1996 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
  • DIN 29571-3:1990-10 Aeroespacial; equipo eléctrico; Análisis de capacidad de carga y fuente de energía.
  • DIN ISO 16129:2020 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
  • DIN 51418-2:2015-03 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
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  • DIN ISO 16592:2015 Análisis por microhaz - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para determinar el contenido de carbono de los aceros mediante un método de curva de calibración (ISO 16592:2012)
  • DIN 6855-4:2004 Control de calidad de instrumentos de medicina nuclear - Parte 4: Pruebas de constancia de tomógrafos por emisión de positrones (PET)
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  • DIN 51418-2 Bb.1:2000 Espectrometría de rayos X - Análisis de emisión de rayos X y fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados; información adicional y ejemplos de cálculo

Professional Standard - Aviation, Electrónica de análisis cuantitativo

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  • HB/Z 5091.6-1999 Método de análisis de solución de cromado Determinación del contenido de cobre mediante espectrometría de absorción atómica
  • HB/Z 5088.6-1999 Método analítico de solución de galvanoplastia de níquel Determinación del contenido de cobre mediante espectrometría de absorción atómica
  • HB/Z 5088.5-1999 Método de análisis de solución de niquelado Determinación de contenido ferroso mediante espectrometría de absorción atómica
  • HB 5219.11-1998 Métodos de análisis químico de aleaciones de magnesio: determinación del contenido de níquel mediante espectrometría de absorción atómica
  • HB 5219.13-1998 Métodos de análisis químico de aleación de magnesio Análisis espectroscópico de absorción atómica Determinación del contenido de zinc
  • HB 5219.20-1998 Métodos de análisis químico de aleaciones de magnesio. Determinación del contenido de plata mediante espectrometría de absorción atómica.
  • HB 5219.3-1998 Métodos de análisis químico de aleaciones de magnesio. Determinación del contenido de cobre mediante espectrometría de absorción atómica.
  • HB 5219.8-1998 Métodos de análisis químico de aleaciones de magnesio. Determinación del contenido de manganeso mediante espectrometría de absorción atómica.
  • HB 5219.5-1998 Métodos de análisis químico de aleaciones de magnesio. Determinación del contenido de hierro mediante espectrometría de absorción atómica.
  • HB/Z 5218.25-2004 Métodos para el análisis químico de aleaciones de aluminio. Parte 25: Determinación del contenido de boro mediante el método del electrodo selectivo de iones.
  • HB/Z 5086.7-2000 Método analítico de solución de galvanoplastia de cianuro de cobre Determinación del contenido de plomo mediante espectrometría de absorción atómica
  • HB/Z 5086.8-2000 Método analítico de solución de galvanoplastia de cianuro de cobre Determinación del contenido de plata mediante espectrometría de absorción atómica
  • HB/Z 5093.6-2000 Método analítico de solución de estaño para galvanoplastia alcalina Determinación del contenido de plomo mediante espectrometría de absorción atómica
  • HB/Z 5093.7-2000 Método analítico de solución de estaño para galvanoplastia alcalina Determinación del contenido de cobre mediante espectrometría de absorción atómica
  • HB/Z 5084.5-2000 Método analítico de solución de zinc para galvanoplastia con cianuro: determinación del contenido de hierro mediante espectrometría de absorción atómica
  • HB/Z 5084.6-2000 Método analítico de solución de zinc para galvanoplastia con cianuro. Determinación del contenido de cobre mediante espectrometría de absorción atómica.
  • HB/Z 5085.7-1999 Método analítico de solución de galvanoplastia de cadmio en galvanoplastia de cianuro Espectrometría de absorción atómica Determinación del contenido de hierro
  • HB/Z 5085.8-1999 Método analítico de solución de galvanoplastia de cadmio en revestimiento de cianuro Determinación del contenido de cobre mediante espectrometría de absorción atómica
  • HB/Z 5089.1-2004 Métodos para el análisis de soluciones de níquel negro enchapado Parte 1: Determinación del contenido de sulfato de amonio y níquel mediante el método de electrodo selectivo de iones
  • HB 7716.14-2002 Análisis espectrométrico de aleaciones de titanio Parte 14: Determinación del contenido de itrio. Método espectrométrico de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
  • HB 6731.1-1993 Determinación del contenido de cobre en aleaciones de aluminio mediante espectrometría de absorción atómica
  • HB 6731.9-1993 Determinación del contenido de cromo en aleaciones de aluminio mediante espectrometría de absorción atómica
  • HB 6731.4-1993 Determinación del contenido de plomo en aleaciones de aluminio mediante espectrometría de absorción atómica
  • HB 6731.5-1993 Determinación del contenido de cadmio en aleaciones de aluminio mediante espectrometría de absorción atómica
  • HB 6731.6-1993 Determinación del contenido de hierro en aleaciones de aluminio mediante espectrometría de absorción atómica
  • HB 6731.7-1993 Determinación del contenido de manganeso en aleaciones de aluminio mediante espectrometría de absorción atómica
  • HB 6731.8-1993 Determinación del contenido de níquel en aleaciones de aluminio mediante espectrometría de absorción atómica
  • HB 6731.10-1993 Determinación del contenido de vanadio en aleaciones de aluminio mediante espectrometría de absorción atómica
  • HB 6731.3-1993 Determinación del contenido de zinc en aleaciones de aluminio mediante espectrometría de absorción atómica
  • HB/Z 339.2-1999 Método analítico de una solución anodizante de ácido crómico de aleación de aluminio para la determinación del contenido de iones cloruro mediante valoración potenciométrica.
  • HB/Z 5104.3-1999 Método de análisis para solución de anodizado ácido de sulfuro de aleación de aluminio Determinación del contenido de iones cloruro mediante valoración potenciométrica
  • HB/Z 5086.9-2000 Método analítico de solución de galvanoplastia de cianuro de cobre Determinación del contenido de zinc y cadmio mediante espectrometría de absorción atómica

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Electrónica de análisis cuantitativo

  • JJF 1029-1991 La norma técnica para el desarrollo de materiales de referencia certificados utilizados en el análisis cuantitativo de microsonda electrónica

RU-GOST R, Electrónica de análisis cuantitativo

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海关总署, Electrónica de análisis cuantitativo

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Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Electrónica de análisis cuantitativo

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Professional Standard - Education, Electrónica de análisis cuantitativo

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Professional Standard - Electron, Electrónica de análisis cuantitativo

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  • SJ/T 11028-2015 Métodos analíticos para soldadura fuerte de cobre y oro para dispositivos electrónicos Determinación de cobre mediante volumetría con EDTA
  • SJ/T 11020-1996 Métodos de análisis para soldadura fuerte de plata-cobre para componentes electrónicos - Determinación de cobre (método yodimétrico)
  • SJ/T 11018-2016 Métodos analíticos para soldadura fuerte con plata pura para dispositivo electrónico. Determinación de azufre por combustión-yodimetría.
  • SJ/T 11028-1996 Métodos de análisis para soldadura fuerte de oro-cobre para componentes electrónicos - Determinación de cobre (Método Volumétrico-EDTA)
  • SJ/T 11029-1996 Métodos de análisis para soldadura fuerte de oro-cobre para componentes electrónicos - Determinación de níquel (método volumétrico-EDTA)
  • SJ/T 11018-1996 Métodos de análisis para soldadura fuerte con plata pura para componentes electrónicos - Determinación de azufre (método de combustión yodimétrica)
  • SJ/T 10906-1996 Determinación de BaO en vidrio electrónico - Método de peso del sulfato de bario

International Electrotechnical Commission (IEC), Electrónica de análisis cuantitativo

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  • IEC 62220-1-2:2007 Equipos electromédicos. Características de los dispositivos digitales de obtención de imágenes de rayos X. Parte 1-2: Determinación de la eficiencia cuántica de detección. Detectores utilizados en mamografía.
  • IEC 62220-1:2003 Equipos electromédicos. Características de los dispositivos digitales de imágenes de rayos X. Parte 1: Determinación de la eficiencia cuántica detectiva.

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Electrónica de análisis cuantitativo

  • YS/T 536.6-2006 Método de análisis químico de bismuto Espectrometría de absorción atómica electrotérmica Determinación de plomo
  • YS/T 536.12-2006 Método de análisis químico del bismuto Espectrometría de absorción atómica electrotérmica Determinación del contenido de níquel
  • YS/T 536.2-2009 Métodos de análisis químico del bismuto. Determinación del contenido de hierro. Método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica.
  • YS/T 536.6-2009 Métodos de análisis químico del bismuto. Determinación del contenido de plomo. Método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica.
  • YS/T 536.12-2009 Métodos de análisis químico del bismuto. Determinación del contenido de níquel. Método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica.
  • YS/T 536.13-2009 Métodos de análisis químico del bismuto. Determinación del contenido de cadmio. Método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica.
  • YS/T 536.13-2006 Método de análisis químico de bismuto Espectrometría de absorción atómica electrotérmica Determinación de plata y cadmio
  • YS/T 990.5-2014 Métodos para el análisis químico de la mata de cobre. Parte 5: Determinación del contenido de flúor. Método del electrodo selectivo de iones.
  • YS/T 273.14-2008 Métodos de análisis químico y determinación del rendimiento físico de la criolita sintética. Parte 14: Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X para la determinación del contenido de elementos.
  • YS/T 581.10-2006 Determinación del contenido químico y de las propiedades físicas del fluoruro de aluminio. Parte 10: Determinación del contenido de azufre mediante el método espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • YS/T 273.11-2006 Métodos de análisis químico y propiedades físicas de la criolita. Parte 11: Determinación del contenido de azufre mediante el método espectrométrico de fluorescencia de rayos X
  • YS/T 1593.3-2023 Métodos para el análisis químico de carbonato de litio crudo. Parte 3: Determinación del contenido de iones fluoruro. Método de electrodo selectivo de iones.
  • YS/T 581.16-2008 Métodos de análisis químico y determinación del rendimiento físico del fluoruro de aluminio industrial. Parte 16: Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X para la determinación del contenido de elementos.
  • YS/T 74.3-2010 Métodos de análisis químico de cadmio- Parte 3: Determinación del contenido de níquel- Método espectrométrico de absorción atómica electrotérmica
  • YS/T 254.5-1994 Métodos para el análisis químico de concentrados de berilio-berilo El método del electrodo selectivo de iones para la determinación del contenido de flúor
  • YS/T 1072-2015 Métodos de análisis químico de paladio-carbono. Determinación del contenido de paladio. Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
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  • YS/T 227.7-2010 Métodos para el análisis químico del teluro-Parte 7: Determinación del contenido de azufre-Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
  • YS/T 281.12-1994 Cobalto - Determinación del contenido de arsénico, antimonio, bismuto, estaño y plomo - Método espectrofotométrico de absorción atómica de llama
  • YS/T 581.18-2012 Métodos de análisis químico y propiedades físicas del fluoruro de aluminio. Parte 18: Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X para la determinación del contenido de elementos utilizando tabletas de polvo prensado.
  • YS/T 273.15-2012 Métodos de análisis químico y propiedades físicas de la criolita. Parte 15: Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X para la determinación del contenido de elementos utilizando tabletas de polvo prensado.
  • YS/T 739-2010 Determinación de la tasa de criolita y componentes principales del método de análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X de electrolitos.
  • YS/T 1073-2015 Métodos de análisis químico de paladio-carbono. Determinación del contenido de plomada, cuprum y hierro. Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente.
  • YS/T 575.23-2009 Método para el análisis químico de minerales de aluminio. Parte 23: Determinación del contenido de elementos Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • YS/T 520.10-2006 Métodos de análisis químico de galio Espectrofotometría de absorción atómica Determinación del contenido de zinc
  • YS/T 519.4-2009 Métodos para el análisis químico de arsénico.Parte 4:Determinación del contenido de bismuto,antimonio y azufre.Espectrometría de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente

Professional Standard - Commodity Inspection, Electrónica de análisis cuantitativo

  • SN/T 2003.5-2006 Determinación de plomo, mercurio, cromo, cadmio y bromo en equipos eléctricos y electrónicos. Parte 5: Detección cuantitativa mediante método espectrométrico de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva.
  • SN/T 2003.3-2006 Determinación de plomo, mercurio, cromo, cadmio y bromo en equipos eléctricos y electrónicos. Parte 3: Detección cualitativa mediante el método espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
  • SN/T 2003.4-2006 Determinación de plomo, mercurio, cromo, cadmio y bromo en aparatos eléctricos y electrónicos. Parte 4: Detección cualitativa mediante método espectrométrico de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva

(U.S.) Ford Automotive Standards, Electrónica de análisis cuantitativo

  • FORD FLTM BI 017-03-2001 DETERMINACIÓN DEL PESO DEL RECUBRIMIENTO - MÉTODO DE ANÁLISIS DE RAYOS X PORTASPEC DEL COMPLEJO DE CROMO/POLVO DE ZINC
  • FORD FLTM BI 017-3-2001 DETERMINACIÓN DEL PESO DEL RECUBRIMIENTO - MÉTODO DE ANÁLISIS DE RAYOS X PORTASPEC DEL COMPLEJO DE CROMO/POLVO DE ZINC

SE-SIS, Electrónica de análisis cuantitativo

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Professional Standard - Electricity, Electrónica de análisis cuantitativo

  • DL/T 1028-2006 Código de verificación para analizador de calidad eléctrica.

Professional Standard - Geology, Electrónica de análisis cuantitativo

  • DZ/T 0279.21-2016 Métodos de análisis de muestras geoquímicas regionales - Parte 21: Determinación de flúor mediante el método de electrodo selectivo de iones

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CZ-CSN, Electrónica de análisis cuantitativo

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