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定量分析电子x

本专题涉及定量分析电子x的标准有496条。

国际标准分类中,定量分析电子x涉及到光学设备、分析化学、光学和光学测量、耐火材料、无损检测、金属材料试验、试验条件和规程综合、有色金属、天然气、词汇、医学科学和保健装置综合、无机化学、长度和角度测量、教育、半导体材料、环境保护、空气质量、环境试验、电气工程综合、金属矿、纸和纸板、电子元器件综合、医疗设备、石油产品综合、非金属矿、表面处理和镀涂、燃料、消防、化工产品、铁合金、物理学、化学、黑色金属、塑料、核能工程、金属的腐蚀、肥料、食用油和脂肪、含油种子、电学、磁学、电和磁的测量、旋转电机、环保、保健和安全、粒度分析、筛分。

在中国标准分类中,定量分析电子x涉及到电子光学与其他物理光学仪器、化学、基础标准与通用方法、电化学、热化学、光学式分析仪器、物理学与力学、硅质耐火材料、耐火材料综合、其他物质成份分析仪器、石油地质勘探、电子技术专用材料、天然气、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、金属理化性能试验方法综合、金属物理性能试验方法、金属无损检验方法、化学计量、电磁计量、工程技术特性标准物质、轻金属矿、颜料、教学专用仪器、金相检验方法、轻金属及其合金分析方法、实验室基础设备、造纸综合、基础标准和通用方法、化学助剂基础标准与通用方法、稀有金属矿、重金属及其合金分析方法、铁矿、教育、学位、学衔、纸、无机化工原料综合、钢铁与铁合金分析方法、重金属矿、燃料油、冶金原料与辅助材料综合、建材原料矿、色谱仪、材料防护、重金属及其合金、贵金属及其合金、其他钢铁产品、非金属矿、贵金属及其合金分析方法、稀有金属及其合金分析方法、医用射线设备、、合成树脂、塑料基础标准与通用方法、粉末冶金分析方法、核材料、核燃料及其分析试验方法、工艺美术品、稀有分散金属及其合金、牙膏、肥皂、洗涤剂、一般有机化工原料、稀有高熔点金属及其合金、化肥、化学土壤调理剂、油料作物与产品、电子测量与仪器综合、医用核仪器、旋转电机综合、石油产品综合、轻金属及其合金、电能测量和负荷控制系统、机械、仪表制造业工程、无机盐、冷加工工艺、航空与航天用金属铸锻材料、医用电子仪器设备、半金属及半导体材料分析方法。


国家质检总局,关于定量分析电子x的标准

  • GB/T 17359-1998 电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则
  • GB/T 18873-2002 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线 能谱定量分析通则
  • GB/T 18873-2008 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线能谱定量分析通则
  • GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
  • GB/T 19500-2004 X射线光电子能谱分析方法通则
  • GB/T 30702-2014 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南
  • GB/T 15074-2008 电子探针定量分析方法通则
  • GB/T 15074-1994 电子探针定量分析方法通则
  • GB/T 28632-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.横向分辨率测定
  • GB/T 22571-2008 表面化学分析.X射线光电子能谱仪.能量标尺的校准
  • GB/Z 32490-2016 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序
  • GB/T 15244-2002 玻璃的电子探针定量分析方法
  • GB/T 15246-2022 微束分析 硫化物矿物的电子探针定量分析方法
  • GB/T 28634-2012 微束分析.电子探针显微分析.块状试样波谱法定量点分析
  • GB/T 29556-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定
  • GB/T 27896-2011 天然气中水含量的测定.电子分析法
  • GB/T 17360-1998 钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法
  • GB/T 17360-2008 钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法
  • GB/T 15617-2002 硅酸盐矿物的电子探针定量分析方法
  • GB/T 15245-2002 稀土氧化物的电子探针定量分析方法
  • GB/T 15246-2002 硫化物矿物的电子探针定量分析方法
  • GB/T 15616-1995 金属及合金的电子探针定量分析方法
  • GB/T 15616-2008 金属及合金的电子探针定量分析方法
  • GB/T 5225-1985 金属材料定量相分析 X射线衍射K值法
  • GB/T 15247-2008 微束分析.电子探针显微分析.测定钢中碳含量的校正曲线法
  • GB/T 20726-2015 微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
  • GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
  • GB/T 29858-2013 分子光谱多元校正定量分析通则
  • GB/T 8359-1987 高速钢中碳化物相的定量分析 X射线衍射仪法
  • GB/T 20725-2006 波谱法定性点分析电子探针显微分析导则
  • GB/T 2679.11-2008 纸和纸板 无机填料和无机涂料的定性分析.电子显微镜/X射线能谱法
  • GB/T 17507-1998 电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样通用技术条件
  • GB/T 17416.2-1998 锆矿石化学分析方法 X射线荧光光谱法测定锆量和铪量
  • GB/T 17365-1998 金属与合金电子探针定量分析样品的制备方法
  • GB/T 8220.6-1998 铋化学分析方法 电热原子吸收光谱法测定铅量
  • GB/T 8220.12-1998 铋化学分析方法 电热原子吸收光谱法测定镍量
  • GB/T 6730.28-1986 铁矿石化学分析方法 离子选择电极法测定氟量
  • GB/T 8151.9-1987 锌精矿化学分析方法 离子选择电极法测定氟量
  • GB/T 25185-2010 表面化学分析.X射线光电子能谱.荷电控制和荷电校正方法的报告
  • GB/T 2679.11-1993 纸和纸板中无机填料和无机涂料的定性分析 电子显微镜/X射线能谱法
  • GB/T 28893-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
  • GB/T 8220.13-1998 铋化学分析方法 电热原子吸收光谱法测定银、镉量
  • GB/T 1819.15-2006 锡精矿化学分析方法.氟量的测定.离子选择电极法
  • GB/T 8647.2-2006 镍化学分析方法 铝量的测定 电热原子吸收光谱法
  • GB/T 23273.6-2009 草酸钴化学分析方法.第6部分:氯离子量的测定 离子选择性电极法
  • GB/T 8156.10-1987 工业用氟化铝中硫量的测定 X射线荧光光谱分析法
  • GB/T 28892-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.选择仪器性能参数的表述
  • GB/T 28633-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.强度标的重复性和一致性
  • GB/T 6987.27-2001 铝及铝合金化学分析方法 离子选择电极法测定硼量
  • GB/T 14506.12-1993 硅酸盐岩石化学分析方法 离子选择电极法测定氟量
  • GB/T 11067.4-2006 银化学分析方法 锑量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • GB/T 4324.13-2008 钨化学分析方法 钙量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • GB/T 17507-2008 透射电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样的通用技术条件
  • GB/T 17363.1-2009 黄金制品金含量无损测定方法.第1部分:电子探针微分析法
  • GB/T 23513.4-2009 锗精矿化学分析方法.第4部分:氟量的测定.离子选择电极法
  • GB/T 3884.5-2012 铜精矿化学分析方法 第5部分:氟量的测定 离子选择电极法
  • GB/T 8151.9-2012 锌精矿化学分析方法 第9部分:氟量的测定 离子选择电极法
  • GB/T 3260.7-2013 锡化学分析方法 第7部分:铝量的测定 电热原子吸收光谱法
  • GB/T 25189-2010 微束分析.扫描电镜能谱仪定量分析参数的测定方法
  • GB/T 4324.7-2012 钨化学分析方法.第7部分:钴量的测定.电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • GB/T 4324.11-2012 钨化学分析方法 第11部分:铝量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • GB/T 4324.21-2012 钨化学分析方法 第21部分:铬量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • GB/T 4324.22-2012 钨化学分析方法 第22部分:锰量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • GB/T 4325.12-2013 钼化学分析方法 第12部分:硅量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • GB/T 4325.24-2013 钼化学分析方法 第24部分:钨量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • GB/T 4324.20-2012 钨化学分析方法 第20部分:钒量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • GB/T 30705-2014 微束分析 电子探针显微分析 波谱法实验参数测定导则
  • GB/T 17417.2-1998 稀土矿石化学分析方法 电感耦合等离子体原子发射光谱法测定钪量
  • GB/T 11067.3-2006 银化学分析方法 硒和碲量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • GB/T 20166.2-2006 稀土抛光粉化学分析方法.氟量的测定.离子选择性电极法
  • GB/T 12689.13-1990 锌及锌合金化学分析方法 电热原子吸收光谱法测定铝量
  • GB/T 13748.21-2009 镁及镁合金化学分析方法.第21部分:光电直读原子发射光谱分析方法测定元素含量
  • GB/T 15076.6-2020 钽铌化学分析方法 第6部分:硅量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • GB/T 29732-2013 表面化学分析 中等分辨率俄歇电子谱仪 元素分析用能量标校准
  • GB/T 23273.2-2009 草酸钴化学分析方法.第2部分:铅量的测定.电热原子吸收光谱法
  • GB/T 14849.5-2010 工业硅化学分析方法.第5部分:元素含量的测定.X射线荧光光谱法
  • GB/T 4375.10-1984 镓化学分析方法 原子吸收分光光度法测定锌量
  • GB/T 4324.16-1984 钨化学分析方法 原子吸收分光光度法测定镁量
  • GB/T 4324.18-1984 钨化学分析方法 原子吸收分光光度法测定钾量
  • GB/T 4325.14-1984 钼化学分析方法 原子吸收分光光度法测定钙量
  • GB/T 4324.14-1984 钨化学分析方法 原子吸收分光光度法测定钙量
  • GB/T 4325.17-1984 钼化学分析方法 原子吸收分光光度法测定钠量
  • GB/T 4325.18-1984 钼化学分析方法 原子吸收分光光度法测定钾量
  • GB/T 4325.16-1984 钼化学分析方法 原子吸收分光光度法测定镁量
  • GB/T 4324.17-1984 钨化学分析方法 原子吸收分光光度法测定钠量
  • GB/T 8647.7-2006 镍化学分析方法 砷、锑、铋、锡、铅量的测定 电热原子吸收光谱法

法国标准化协会,关于定量分析电子x的标准

  • NF X21-003:2006 微光束分析.电子探针显微分析.波长分布X射线光谱测量法定量分析指南
  • NF X21-006:2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法进行块状样品的定量点分析
  • NF X21-071:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析用导则
  • NF X21-061:2008 表面化学分析.螺旋电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
  • NF X21-009:2008 微光束分析.电子探针微量分析(EPMA).词汇
  • NF X21-001:2006 微光束分析.电子探测微量分析.检定标样(CRMs)的规范指南
  • NF M07-095*NF EN ISO 14597:1999 石油产品 钒和镍含量的测定 X射线荧光分析法
  • NF X21-055:2006 表面化学分析.X射线光电谱仪.能量刻度表校准
  • NF A09-230-3:1999 无损检验.X射线电子管电压的测量和评价.第3部分:光谱测定法
  • NF X21-073*NF ISO 16243:2012 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
  • NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 射线光电子能谱(XPS)中的数据记录和报告
  • NF X21-002:2007 微光束分析.电子探针微量分析.波长色散光谱学用实验参数测定指南
  • NF X21-007:2008 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢中碳含量的指南
  • NF X21-011*NF ISO 24173:2009 微光束分析 应用电子背散射衍射定向测量的指南
  • NF ISO 17560:2006 表面化学分析 二次离子质谱分析 通过厚度分析确定硅中硼的剂量
  • FD T16-203:2011 纳米技术 使用扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱分析法表征单壁碳纳米管
  • NF T51-241:2011 塑料.利用矩阵辅助激光解析/电离渡越时间质谱分析法进行聚合物样本分子质量和分子质量分布的测定(MALDI-TOF-MS).
  • NF M60-404:1998 核子级质量二氧化钚中钚含量的测定.重量分析法
  • NF A09-230-1:1999 无损检验.X射线电子管电压的测量和评价.第1部分:分压器法
  • NF EN 62220-1-2:2007 电子医疗设备 - 数字 X 射线成像设备的特性 - 第 1-2 部分:量子检测效率的确定 - 乳腺 X 线摄影中使用的探测器
  • NF B40-670-3*NF EN ISO 21587-3:2007 硅酸铝耐火材料的化学分析(可选择X射线荧光法)第3部分:感应耦合等电子体和原子吸收光谱测定法
  • NF U44-145:1984 肥料.镁含量的测定.原子吸收光谱分析法
  • NF X21-004*NF ISO 22309:2012 微束分析.原子数目为11(钠)或更多元素用采用能量分布光谱(EDS)的定量分析
  • NF T30-711:2011 塑料.基质辅助激光解吸/电离飞行时间质谱分析(MALDI-TOF-MS)的聚合物分子量和分子量分布的测定.
  • NF V03-918-2:1997 油菜子.葡萄糖碱含量测定.第2部分:X射线荧光光谱测定法
  • NF C42-695:1985 电子测量仪器.逻辑分析仪特性的表示法
  • NF ISO 24173:2009 微束分析 背散射电子衍射取向测量指南
  • NF C74-225*NF EN 61262-5:1994 医疗用电气设备.电光-X射线图象增强仪特性.第5部分:等效量子效率的测定
  • NF X21-058:2006 表面化学分析.俄歇电子能谱学和X射线光电子光谱法.测定峰强度使用的方法和报告结果时需要的信息
  • NF EN 61676/A1:2009 电子医疗设备 - 用于诊断放射学中 X 射线管电压无创测量的剂量测定仪器
  • NF A09-230-2:2000 无损试验.X射线电子管电压的测量和评价.第2部分:用厚滤膜法的稳定性检验
  • NF EN IEC 61676:2023 电子医疗设备 用于诊断放射学中 X 射线管电压侵入式测量的剂量测定设备
  • NF C74-220-1:2005 医学电气设备.数字X射线成像设备特性.第1部分:量子检测效率的确定
  • NF X21-014:2012 微束分析.电子背散射衍射.平均粒度的测量

国际标准化组织,关于定量分析电子x的标准

  • ISO 17470:2014 微束分析. 电子探针微量分析. 用波长色散X射线光谱测定法定性点分析指南
  • ISO 22489:2006 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
  • ISO 22489:2016 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
  • ISO 10810:2019 表面化学分析 - X射线光电子能谱分析指南
  • ISO 23420:2021 微束分析.分析电子显微镜.电子能量损失谱分析用能量分辨率的测定方法
  • ISO 17470:2004 微光束分析.电子探针显微分析.波长分散X射线光谱法分析质量点的指南
  • ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱学.分析导则
  • ISO 18118:2004 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
  • ISO 18118:2015 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
  • ISO/DIS 18118:2023 表面化学分析 俄歇电子能谱和 X 射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
  • ISO/FDIS 18118:2023 表面化学分析 - 俄歇电子能谱和 X 射线光电子能谱 - 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
  • ISO 14701:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量
  • ISO 22309:2006 微电子束分析.用能量散射光谱仪(EDS)进行定量分析
  • ISO/TR 18392:2005 表面化学分析.X射线光电子光谱学.背景测定程序
  • ISO/CD TR 18392:2023 表面化学分析 X 射线光电子能谱 确定背景的程序
  • ISO 18516:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
  • ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱.二氧化硅厚度的测量
  • ISO 13424:2013 表面化学分析——X射线光电子能谱;薄膜分析结果的报告
  • ISO 18554:2016 表面化学分析. 电子光谱. 采用X射线光电子能谱分析法对材料进行分析的X射线的意外降解的识别, 评估和修正程序
  • ISO/TS 21383:2021 微束分析.扫描电子显微镜.定量测量用扫描电子显微镜的鉴定
  • ISO 16129:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 评估X射线光电子能谱仪日常性能的方法
  • ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
  • ISO 25498:2010 微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析
  • ISO 25498:2018 微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析
  • ISO 23833:2013 微光束分析.电子探针微量分析(EPMA).词汇
  • ISO 23833:2006 微光束分析.电子探针微量分析(EPMA).词汇
  • ISO 23692:2021 微束分析.电子探针显微分析.连续铸钢产品中Mn树枝状偏析的定量分析
  • ISO 14595:2003 微光束分析.电子探测微量分析.检定标样(CRMs)的规范指南
  • ISO 14595:2014 微光束分析.电子探测微量分析.检定标样(CRMs)的规范指南
  • ISO 24237:2005 表面化学分析.X射线光电子光谱法.强度的可重复性和稳定性
  • ISO/TR 19319:2003 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
  • ISO 24639:2022 微束分析.分析电子显微镜.用电子能量损失光谱法进行元素分析的能量标度校准程序
  • ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
  • ISO 21270:2004 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
  • ISO 23749:2022 微束分析.电子背散射衍射.钢中奥氏体的定量测定
  • ISO/DIS 14594 微束分析“电子探针微量分析”波长色散光谱实验参数确定指南
  • ISO 15472:2010 表面化学分析.X射线光电谱仪.能量刻度表校准
  • ISO 15472:2001 表面化学分析 X射线光电谱仪 能量刻度表校准
  • ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
  • ISO 14595:2003/Cor 1:2005 微光束分析.电子探测微量分析.检定标样(CRMs)的规范指南.技术勘误1
  • ISO 15470:2017 表面化学分析. X射线光电子能谱. 选择仪器性能参数说明
  • ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
  • ISO 20903:2011 表面化学分析.俄歇电子能普和X射线光电子光谱.通报结果所需峰值强度和信息的测定方法
  • ISO 16592:2006 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢的碳含量的指南
  • ISO 16592:2012 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢的碳含量的指南
  • ISO 24173:2009 微光束分析.用电子背散射衍射进行定向测量的指南
  • ISO/PRF 14595 微束分析“电子探针微量分析”认证标准物质(CRM)规范指南
  • ISO 14595:2023 微束分析 电子探针微量分析 有证标准物质(CRM)规范指南
  • ISO 14594:2003 微电子束分析.电子探测微观分析.波长色散光谱学用实验参数的测定指南
  • ISO 14594:2014 微电子束分析.电子探测微观分析.波长色散光谱学用实验参数的测定指南
  • ISO 20903:2019 表面化学分析 - 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱 - 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
  • ISO 11938:2012 微束分析. 电子探针微量分析. 使用波长色散光谱对元素映射的分析方法
  • ISO/CD 19214:2023 微束分析 分析电子显微镜 透射电子显微镜测定线状晶体表观生长方向的方法
  • ISO 10469:1994 硫化铜精矿 铜含量测定 电重量分析法
  • ISO 19463:2018 微光束分析.电子探针显微分析仪(EPMA).执行质量保证程序的指南
  • ISO 17109:2022 表面化学分析.深度剖面.用单层和多层薄膜在X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中测定溅射速率的方法
  • ISO/DIS 19430 通过粒子追踪分析(PTA)测定粒径分布和数量浓度

韩国科技标准局,关于定量分析电子x的标准

  • KS D ISO 22489:2012 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
  • KS D ISO 22489:2018 微束分析 - 电子探针微量分析 - 使用波长色散X射线光谱法的批量样品的定量点分析
  • KS D ISO 15472-2003(2018) 表面化学分析-X射线光电子分光器-能量刻度矫正
  • KS D ISO 18118-2005(2020) 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱均匀材料定量分析用实验测定的相对灵敏度因子的使用指南
  • KS D ISO 18118:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
  • KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化学分析-俄歇电子能谱和X射线光电子能谱-分析仪横向分辨率、分析面积和样品面积的测定
  • KS D ISO 14595:2012 微电子束分析.电子探测微量分析.检定标样(CRMs)的规范指南
  • KS M 1068-2005 使用荧光X-射线分析的有毒物质的定性/定量分析
  • KS D ISO 15632:2018 微束分析 - 用于电子探针微量分析的能量色散X射线光谱仪的规范和检查的选定仪器性能参数
  • KS D ISO 23833:2018 微束分析 - 电子探针微量分析(Epma) - 词汇
  • KS D ISO TR 17270:2007 微束分析-分析透射电子显微术-电子能量损失谱学实验参数测定技术报告
  • KS D ISO 19319:2005 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
  • KS D ISO 16592-2011(2021) 微束分析-电子探针微量分析-用校准曲线法测定钢中碳含量的指南
  • KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱仪部分性能参数说明
  • KS D ISO 21270:2005 表面化学分析.X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
  • KS D ISO 14594:2018 微束分析 - 电子探针微量分析 - 波长色散光谱实验参数测定指南
  • KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标度的线性
  • KS D ISO 19318-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱电荷控制和电荷校正方法报告
  • KS D ISO 16592:2011 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢碳含量的指南
  • KS D ISO 16592-2011(2016) 微束分析-电子探针显微分析-用校准曲线法测定钢中碳含量的指南
  • KS D ISO 15472:2003 表面化学分析.X射线光电光谱仪.能量刻度的校正
  • KS C IEC 61262-5-2003(2018) 医疗用电器-电子光学式X射线图像天时波的特性-第5部分:量子检测效率的决定
  • KS M ISO 14597:2003 液体燃料检验.钒和镍含量的测定.X射线荧光分析法
  • KS D ISO 14595:2018 微束分析 - 电子探针微量分析 - 认证参考材料(CRM)规范指南
  • KS D ISO 14594:2012 微电子束分析.电子探测微观分析.波长色散光谱学用实验参数的测定指南
  • KS D ISO 13898-3:2010 钢铁.镍、铜和钴含量的测定.电感耦合等离子体原子发射光谱分析法.第3部分:铜含量的测定
  • KS D ISO 13898-4:2010 钢铁.镍、铜和钴含量的测定.电感耦合等离子体原子发射光谱分析法.第4部分:钴含量的测定
  • KS D ISO 13898-2:2010 钢铁.镍、铜和钴含量的测定.电感耦合等离子体原子发射光谱分析法.第2部分:镍含量的测定
  • KS D ISO 13898-2-2010(2020) 钢铁化学分析方法电感耦合等离子体原子发射光谱法测定镍、铜、钴量第2部分:镍量的测定
  • KS D ISO 13898-4-2010(2020) 钢铁化学分析方法电感耦合等离子体原子发射光谱法测定镍、铜、钴量第4部分:钴量的测定
  • KS D ISO 13898-3-2010(2020) 钢铁化学分析方法电感耦合等离子体原子发射光谱法测定镍、铜、钴量第3部分:铜量的测定
  • KS D ISO 11435-2006(2016) 镍合金化学分析方法电感耦合等离子体原子发射光谱法测定钼量
  • KS D ISO 22033-2006(2016) 镍合金化学分析方法电感耦合等离子体原子发射光谱法测定铌量
  • KS C IEC/TR 62725-2017(2022) 电气和电子产品及系统温室气体排放量量化方法分析
  • KS C IEC 62220-1:2005 医学电气设备.数字X光成像设备特性.第1部分:量子检测效率的确定
  • KS C IEC 61262-5:2003 医疗电气设备.电光X射线图像增强器的特性.第5部分:检测性量子效率的测定
  • KS C IEC 62220-1-2005(2016) 医用电气设备数字X射线成像设备特性第1部分:探测量子效率的测定
  • KS D 1702-2005 铂金.电感耦合等离子体原子发射光谱法测定痕量元素分析方法.活性成分补正

KR-KS,关于定量分析电子x的标准

  • KS D ISO 22489-2018 微束分析 - 电子探针微量分析 - 使用波长色散X射线光谱法的批量样品的定量点分析
  • KS D ISO 22489-2018(2023) 微束分析.电子探针微量分析.用波长色散x射线光谱法对大块样品进行定量点分析
  • KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化学分析-X射线光电子能谱仪-能量刻度的校准
  • KS D ISO 15632-2018 微束分析 - 用于电子探针微量分析的能量色散X射线光谱仪的规范和检查的选定仪器性能参数
  • KS D ISO 23833-2018 微束分析 - 电子探针微量分析(Epma) - 词汇
  • KS D ISO TR 17270-2007 微束分析-分析透射电子显微术-电子能量损失谱学实验参数测定技术报告
  • KS D ISO 14594-2018 微束分析 - 电子探针微量分析 - 波长色散光谱实验参数测定指南
  • KS D ISO 14594-2018(2023) 微束分析.电子探针微量分析.波长色散光谱法实验参数测定指南
  • KS D ISO 14595-2018(2023) 微束分析.电子探针微量分析.标准物质规范指南
  • KS D ISO 14595-2018 微束分析 - 电子探针微量分析 - 认证参考材料(CRM)规范指南

英国标准学会,关于定量分析电子x的标准

  • BS ISO 22489:2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
  • BS ISO 22489:2016 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
  • BS ISO 10810:2019 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
  • BS ISO 23420:2021 微束分析 分析电子显微镜 电子能量损失谱分析能量分辨率的测定方法
  • BS ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析指南
  • BS ISO 15472:2010 表面化学分析.X射线光电子分光计.能量等级的校准
  • BS ISO 17470:2014 微束分析. 电子探针显微分析. 采用波长分散X射线光谱测定法的定性点分析指南
  • 20/30380369 DC BS ISO 23420 微束分析 分析电子显微镜 电子能量损失谱分析能量分辨率的测定方法
  • BS ISO 18118:2015 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
  • BS ISO 14701:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 氧化硅厚度的测量
  • 23/30461294 DC BS ISO 18118 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
  • BS ISO 18516:2006 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.横向分辨率测定
  • BS ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱学.二氧化硅厚度测量
  • BS ISO 18118:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性系数的使用指南
  • BS ISO 23692:2021 微束分析 电子探针微量分析 连铸钢产品中Mn树枝状偏析的定量分析
  • BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 X 射线光电子能谱仪日常性能评估程序
  • BS ISO 18554:2016 表面化学分析. 电子光谱. 采用X射线光电子能谱分析法对材料进行分析的X射线的意外降解的识别, 评估和修正程序
  • 20/30393735 DC BS ISO 23692 微束分析 电子探针微量分析 连铸钢产品中Mn枝晶偏析的定量分析
  • BS 3727-14:1964 电子管和电子阀用镍的分析方法.第14部分:钨含量测定(重量法)
  • 19/30394914 DC BS ISO 15632 微束分析 用于电子探针显微镜或电子探针微量分析仪(EPMA)的能量色散 X 射线光谱仪的规格和检查的选定仪器性能参数
  • BS ISO 24639:2022 微束分析 分析电子显微镜 电子能量损失谱元素分析能量标度的校准程序
  • BS 3727-3:1966 电子管和电子阀用镍的分析方法.第3部分:碳含量测定
  • BS ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
  • BS 3727-12:1970 电子管和电子阀用镍的分析方法.硫含量测定(燃烧法)
  • BS ISO 25498:2010 微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析
  • BS 3727-1:1966 电子管和电子阀用镍的分析方法.第1部分:铝含量测定(光度测量法)
  • BS 3727-2:1968 电子管和电子阀用镍的分析方法.第2部分:硼含量测定(光度测量法)
  • BS 3727-4:1964 电子管和电子阀用镍的分析方法.第4部分:铬含量测定(光度测量法)
  • BS 3727-5:1964 电子管和电子阀用镍的分析方法.第5部分:钴含量测定(光度测量法)
  • BS 3727-6:1964 电子管和电子阀用镍的分析方法.第6部分:铜含量测定(光度测量法)
  • BS 3727-7:1964 电子管和电子阀用镍的分析方法.第7部分:铁含量测定(光度测量法)
  • BS 3727-8:1964 电子管和电子阀用镍的分析方法.第8部分:锰含量测定(光度测量法)
  • BS 3727-9:1967 电子管和电子阀用镍的分析方法.第9部分:镁含量测定(光度测量法)
  • BS 3727-13:1965 电子管和电子阀用镍的分析方法.第13部分:钛含量测定(光度测量法)
  • BS 3727-15:1968 电子管和电子阀用镍的分析方法.第15部分:锌含量测定(光度测量法)
  • BS ISO 23833:2013 微光束分析.电子探针微量分析(EPMA).词汇
  • 21/30404763 DC BS ISO 24639 微束分析 分析电子显微镜 电子能量损失谱元素分析能量标度的校准程序
  • BS 3727-21:1966 电子管和电子阀用镍的分析方法.第21部分:镁含量测定(原子吸收法)
  • BS ISO 21270:2005 表面化学分析.X射线光电子和俄歇电子光谱仪.强度标的线性度
  • BS 3727-22:1966 电子管用镍分析方法.第22部分:锌含量测定(原子吸收法)
  • BS 3727-10:1964 电子管和电子阀用镍的分析方法.第10部分:0.020-0.25%硅含量测定(光度测量法)
  • BS 3727-11:1965 电子管和电子阀用镍的分析方法.第11部分:0.001-0.020%硅含量测定(光度测量法)
  • BS ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
  • BS ISO 24237:2005 表面化学分析.X射线光电子光谱学.强度标的可重复性和稳定性
  • BS ISO 15632:2012 微束分析. 用于电子探针显微分析的能量分散X射线光谱仪规范和检查用所选仪器性能参数
  • BS ISO 15632:2021 微束分析 用于电子探针显微分析的能量分散X射线光谱仪规范和检查用所选仪器性能参数
  • BS ISO 17109:2022 表面化学分析 深度剖析 使用单层和多层薄膜的 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中溅射速率的测定方法...
  • 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化学分析 深度剖析 使用单一和……的 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中溅射速率测定方法
  • BS ISO 23749:2022 微束分析 电子背散射衍射 钢中奥氏体的定量测定
  • BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度尺度的线性
  • BS 3727-16:1966 电子管和电子阀用镍的分析方法.第16部分:化合镁和游离镁含量测定
  • BS ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
  • BS 7020-19:1989 铁矿石分析 氟含量的测定方法:离子选择电极法
  • BS 7020-19:1988 铁矿石分析 氟含量的测定方法 离子选择电极法
  • BS ISO 16592:2012 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢碳含量的指南
  • BS ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
  • BS ISO 19463:2018 微束分析 电子探针微量分析仪(EPMA) 执行质量保证程序的指南
  • 23/30425940 DC BS ISO 14594 微束分析 电子探针微量分析 波长色散光谱实验参数确定指南
  • 21/30398224 DC BS ISO 23749 微束分析 电子背散射衍射 钢中奥氏体的定量测定
  • DD ISO/TS 10798:2011 纳米技术 使用扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱分析表征单壁碳纳米管
  • BS ISO 19318:2021 表面化学分析 X射线光电子能谱 报告用于电荷控制和电荷校正的方法
  • BS ISO 14595:2023 微束分析 电子探针微量分析 有证标准物质 (CRM) 规范指南
  • PD IEC TS 63109:2022 光伏(PV)模块和电池 通过电致发光图像定量分析测量二极管理想因子
  • BS ISO 14594:2003 微电子束分析.电子探测微观分析.波长色散光谱学用实验参数的测定指南
  • BS ISO 14594:2014 微电子束分析.电子探测微观分析.波长色散光谱学用实验参数的测定指南
  • BS ISO 20903:2019 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
  • BS 3762-3.24:1988 配制洗涤剂的分析.定量试验方法.低分子量酒精含量的测定方法
  • BS ISO 14595:2003 微光束分析.电子探测微量分析.合格的参考物质的规范指南
  • BS ISO 14595:2014 微光束分析.电子探测微量分析.合格的参考物质的规范指南
  • BS ISO 11938:2012 微束分析 电子探针微量分析 使用波长色散光谱进行元素图谱分析的方法
  • 20/30423741 DC BS ISO 19318 表面化学分析 X射线光电子能谱 报告用于电荷控制和电荷校正的方法
  • BS ISO 17560:2002 表面化学分析.再生离子质量光谱测定.硅中硼的深仿形分析法
  • BS ISO 17560:2014 表面化学分析.再生离子质量光谱测定.硅中硼的深仿形分析法
  • 22/30430960 DC BS ISO 14595 微束分析 电子探针微量分析 有证标准物质 (CRM) 规范指南
  • BS ISO 20903:2011 表面化学分析.俄歇电子能谱和X-射线光电光谱学.测定峰强度的方法和报告结果要求的信息
  • PD ISO/TR 23173:2021 表面化学分析 电子能谱 纳米粒子涂层的厚度和成分的测量
  • BS EN 62220-1:2004 医疗电气设备.数字X光成像设备特性.量子检测效率的确定

日本工业标准调查会,关于定量分析电子x的标准

  • JIS K 0167:2011 表面化学分析.俄歇电子光谱和X射线光电子能谱学.匀质材料定量分析用实验室测定相对敏感因子的使用指南
  • JIS K 0145:2002 表面化学分析.X射线光电子分光计.能量刻度的校准
  • JIS K 0190:2010 微光束分析.电子探针显微分析.波长分散X射线光谱法对质量点分析用指南
  • JIS K 0189:2013 微束分析.电子探针显微分析.波长色散X射线光谱学用实验参数的测定
  • JIS K 0152:2014 表面化学分析. X射线光电子能谱分析. 强度标的重复性和一致性
  • JIS T 0306:2002 用X射线光电子光谱法分析金属生物材料形成的无源膜的状态

行业标准-黑色冶金,关于定量分析电子x的标准

工业和信息化部,关于定量分析电子x的标准

  • YB/T 172-2020 硅砖定量相分析 X射线衍射法
  • YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法
  • YS/T 1033-2015 干式防渗料元素含量的测定 X射线荧光光谱分析法
  • YS/T 1569.5-2022 镍锰酸锂化学分析方法 第5部分:氯离子含量的测定 离子选择性电极法
  • YB/T 4799-2018 钢铁 氮化铝析出相量的测定 电解分离-电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • YS/T 1179.1-2017 铝渣化学分析方法 第1部分:氟含量的测定 离子选择电极法
  • YS/T 1057.2-2020 四氧化三钴化学分析方法 第2部分:氯离子含量的测定 离子选择性电极法
  • YS/T 1531-2022 铑炭化学分析方法 铑含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • YS/T 581.15-2012 氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第15部分:X射线荧光光谱分析(压片)法测定元素含量
  • YS/T 1497-2021 铂化合物分析方法 杂质阴离子含量测定 离子色谱法
  • YS/T 1496-2021 钯化合物分析方法 杂质阴离子含量测定 离子色谱法
  • YS/T 1171.4-2017 再生锌原料化学分析方法 第4部分:氟量的测定 离子选择电极法
  • YS/T 1476-2021 锆英砂化学分析方法 钡含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • YB/T 4700-2018 钢铁 硫化锰析出相量的测定 电解分离-火焰原子吸收光谱法

美国材料与试验协会,关于定量分析电子x的标准

  • ASTM E996-94(1999) 俄歇电子能谱分析和X射线光电子光谱分析数据报告的标准规程
  • ASTM E2108-10 用X射线光电子分光计测定电子能量捆绑刻度的标准实施规程
  • ASTM E1588-07e1 用扫描电子显微镜法/能量色散X射线光谱测定法的射击残留物分析用标准指南
  • ASTM E1588-07 用扫描电子显微镜法/能量色散X射线光谱测定法的射击残留物分析用标准指南
  • ASTM E1588-10e1 扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法射击残留物分析的标准指南
  • ASTM E1588-20 通过扫描电子显微镜/能量色散X射线光谱法进行枪支残留分析的标准实践
  • ASTM E1588-16 采用扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法进行射击残留物分析的标准指南
  • ASTM E3063-17 用中子活化分析(NAA)测定锑含量的方法
  • ASTM E3063-16 用中子活化分析(NAA)测定锑含量的方法
  • ASTM UOP481-10 电量分析法测定液烃中的水
  • ASTM E1588-16a 采用扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法进行射击残留物分析的标准实施规程
  • ASTM E1588-17 采用扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法进行射击残留物分析的标准实施规程
  • ASTM D4940-10 喷射磨料的水溶离子污染电导定量分析的标准试验方法
  • ASTM E1097-97 直流电流等离子发射分光光谱测定分析法
  • ASTM E10-08 直流电流等离子发射分光光谱测定分析法
  • ASTM E10-15 直流电流等离子发射分光光谱测定分析法

澳大利亚标准协会,关于定量分析电子x的标准

  • AS ISO 18118:2006 表面化学分析.俄歇电子能谱法和X射线光电子光谱法.均质材料定量分析中实验测定的相对灵敏系数使用指南
  • AS ISO 15472:2006 表面化学分析.X射线光电子光谱法.能量标度的校准
  • AS ISO 15470:2006 表面化学分析.X射线光电子光谱法.选定仪器性能参数的描述
  • AS ISO 19319:2006 表面化学分析.Augur电子能谱法和X射线光电子光谱法.分析员对横向分辨率;分析区域和样品区域的目视检测
  • AS ISO 24237:2006 表面化学分析.X射线光电子光谱学.强度标的可重复性和恒定性
  • AS ISO 19318:2006 表面化学分析.X射线光电子光谱学.电荷控制和电荷调整用报告法
  • AS 1696.2:1997 铜.铜含量的测定.电重量分析法
  • AS/NZS 4356.5:1996 医疗用电气设备.电光.X射线图象增强仪特性.等效量子效率的测定

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会,关于定量分析电子x的标准

  • GB/T 22571-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准
  • GB/T 34500.1-2017 稀土废渣、废水化学分析方法 第1部分:氟离子量的测定 离子选择电极法
  • GB/T 1819.15-2017 锡精矿化学分析方法 第15部分:氟量的测定 离子选择电极法
  • GB/T 15076.5-2017 钽铌化学分析方法 第5部分:钼量和钨量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • GB/T 33502-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱(XPS)数据记录与报告的规范要求

未注明发布机构,关于定量分析电子x的标准

  • BS ISO 18516:2006(2010) 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率的测定
  • BS ISO 21270:2004(2010) 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标度线性度
  • YY 0457.5-2003 医用电气设备.光电X射线影像增强器特性.第5部分:探测量子效率的测定

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会,关于定量分析电子x的标准

  • GB/T 17360-2020 微束分析 钢中低含量硅、锰的电子探针定量分析方法
  • GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告
  • GB/T 41076-2021 微束分析 电子背散射衍射 钢中奥氏体的定量分析
  • GB/T 27896-2018 天然气中水含量的测定 电子分析法
  • GB/T 41073-2021 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求
  • GB/T 41064-2021 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
  • GB/T 29732-2021 表面化学分析 中等分辨俄歇电子能谱仪 元素分析用能量标校准

行业标准-石油,关于定量分析电子x的标准

  • SY/T 6027-2012 岩石矿物电子探针定量分析方法
  • SY/T 6027-1994 含氧矿物电子探针定量分析方法
  • SY/T 6210-1996 沉积岩中粘土矿物总量和常见非粘土矿物X射线衍射定量分析方法

国家能源局,关于定量分析电子x的标准

德国标准化学会,关于定量分析电子x的标准

  • DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X射线光电子能谱 X射线光电子能谱仪日常性能评估程序
  • DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 射线光电子能谱仪 - 能量标度校准 (ISO 15472:2010)
  • DIN 51418-2:2015 X射线光谱分析.X射线散射和X射线荧光分析(RFA).第2部分:定义和测量、校准及评估的基本原则
  • DIN 51418-2:1996 X射线光谱分析.X射线散射和X射线荧光分析(RFA).第2部分:定义和测量、校准及评估的基本原则
  • DIN 29571-3:1990-10 航天;电子设备;负载及电源容量分析
  • DIN ISO 16129:2020 表面化学分析. X射线光电子能谱-评估X射线光电子能谱仪的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本
  • DIN 51418-2:2015-03 X 射线光谱测定 X 射线发射和 X 射线荧光分析(XRF)第2部分:测量、校准和结果评估的定义和基本原则
  • DIN 25703:1993 硝酸溶液中铀含量和钚含量的测定.波长分散X射线荧光分析法
  • DIN 51440-1:2003 汽油检测.磷含量测定.第1部分:波长色散X射线光谱分析法
  • DIN EN 61262-5:1995 医疗电气设备.光电X射线图象增强器特性.次量子系数测定
  • DIN ISO 15472:2020 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪 能标校准(ISO 15472:2010);英文文本
  • DIN ISO 16592:2015 微光束分析.电子探针显微分析.用校准曲线法测定钢的碳含量的指南(ISO 16592-2012)
  • DIN 6855-4:2004 核医疗测量系统的质量检验.第4部分:正电子放射X线体层照片的稳定性试验
  • DIN EN ISO 14597:1999 矿物油制品.钒和镍含量的测定.波长色散X射线荧光分析法
  • DIN 51418-2 Bb.1:2000 X射线光度法.X射线散射和X射线荧光分析(XRF).第2部分:定义和测量、校准及对结果评定的基本原理.附加信息和计算范例

行业标准-航空,关于定量分析电子x的标准

  • HB 8422-2014 合金中微量元素电子探针定量分析方法
  • HB/Z 5088.6-1999 电镀镍溶液分析方法 原子吸收光谱法测定铜的含量
  • HB/Z 5091.5-1999 电镀铬溶液分析方法 原子吸收光谱法测定铁的含量
  • HB/Z 5091.6-1999 电镀铬溶液分析方法 原子吸收光谱法测定铜的含量
  • HB/Z 5088.5-1999 电镀镍溶液分析方法 原子吸收光谱法测定铁的含量
  • HB 5219.11-1998 镁合金化学分析方法 原子吸收光谱分析法测定镍含量
  • HB 5219.13-1998 镁合金化学分析方法 原子吸收光谱分析法测定锌含量
  • HB 5219.20-1998 镁合金化学分析方法 原子吸收光谱分析法测定银含量
  • HB 5219.3-1998 镁合金化学分析方法 原子吸收光谱分析法测定铜含量
  • HB 5219.8-1998 镁合金化学分析方法 原子吸收光谱分析法测定锰含量
  • HB 5219.5-1998 镁合金化学分析方法 原子吸收光谱分析法测定铁含量
  • HB/Z 5218.25-2004 铝合金化学分析方法 第25部分:离子选择电极法测定硼含量
  • HB/Z 5086.7-2000 氰化电镀铜溶液分析方法 原子吸收光谱法测定铅的含量
  • HB/Z 5086.8-2000 氰化电镀铜溶液分析方法 原子吸收光谱法测定银的含量
  • HB/Z 5093.6-2000 碱性电镀锡溶液分析方法 原子吸收光谱法测定铅的含量
  • HB/Z 5093.7-2000 碱性电镀锡溶液分析方法 原子吸收光谱法测定铜的含量
  • HB/Z 5084.5-2000 氰化电镀锌溶液分析方法 原子吸收光谱法测定铁的含量
  • HB/Z 5084.6-2000 氰化电镀锌溶液分析方法 原子吸收光谱法测定铜的含量
  • HB/Z 5085.8-1999 氰化电镀镉溶液分析方法 原子吸收光谱法测定铜的含量
  • HB/Z 5085.7-1999 氰化电镀镉溶液分析方法 原子吸收光谱法测定铁的含量
  • HB/Z 5089.1-2004 电镀黑镍溶液分析方法 第1部分:离子选择电极法测定硫酸镍铵的含量
  • HB 7716.14-2002 钛合金化学成分光谱分析方法.第14部分:电感耦合等离子体原子发射.光谱法测定微量钇含量
  • HB 6731.1-1993 铝合金原子吸收光谱分析法 铜含量的测定
  • HB 6731.9-1993 铝合金原子吸收光谱分析法 铬含量的测定
  • HB 6731.4-1993 铝合金原子吸收光谱分析法 铅含量的测定
  • HB 6731.5-1993 铝合金原子吸收光谱分析法 镉含量的测定
  • HB 6731.6-1993 铝合金原子吸收光谱分析法 铁含量的测定
  • HB 6731.7-1993 铝合金原子吸收光谱分析法 锰含量的测定
  • HB 6731.8-1993 铝合金原子吸收光谱分析法 镍含量的测定
  • HB 6731.10-1993 铝合金原子吸收光谱分析法 钒含量的测定
  • HB 6731.3-1993 铝合金原子吸收光谱分析法 锌含量的测定
  • HB/Z 339.2-1999 铝合金铬酸阳极氧化溶液分析方法 电位滴定法测定氯离子的含量
  • HB/Z 5104.3-1999 铝合金硫酸阳极氧化溶液分析方法 电位滴定法测定氯离子的含量
  • HB/Z 5086.9-2000 氰化电镀铜溶液分析方法 原子吸收光谱法测定锌、镉的含量

国家计量技术规范,关于定量分析电子x的标准

  • JJF 1029-1991 电子探针定量分析用标准物质研制规范

RU-GOST R,关于定量分析电子x的标准

  • GOST 19647-1974 X射线测量分析的方法和设备.术语和定义
  • GOST R 50706.4-1994 工业用硝酸.氯离子含量的测定.电位分析法
  • GOST IEC 61262-5-2011 医用电气设备.光电X射线影像增强器特性.第5部分:量子探测效率的测定
  • GOST R ISO 16243-2016 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. X射线光电子能谱 (XPS) 的记录和报告数据
  • GOST R IEC 61262-5-1999 医疗电气装置.光电X射线影像增强器的特性.第5部分:探测器量子效应的测定
  • GOST R IEC 62220-1-2006 医疗电气装置.数字X光成像设备特征.第1部分:探测器量子效应的测定

海关总署,关于定量分析电子x的标准

  • HS/T 52-2016 含氧化镁系列矿产品的X荧光定量分析方法

福建省地方标准,关于定量分析电子x的标准

  • DB35/T 110-2000 油漆物证检测电子探针和扫描电镜X射线能谱分析方法

国家计量检定规程,关于定量分析电子x的标准

行业标准-教育,关于定量分析电子x的标准

  • JY/T 0588-2020 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则
  • JY/T 008-1996 四圆单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则

行业标准-电子,关于定量分析电子x的标准

  • SJ/T 10904-1996 电子玻璃中氟的分析 离子选择电极测定法
  • SJ/T 11029-2015 电子器件用金镍钎料的分析方法 EDTA容量法测定镍
  • SJ/T 11028-2015 电子器件用金铜钎料的分析方法 EDTA容量法测定铜
  • SJ/T 11020-1996 电子器件用银铜钎焊料的分析方法 碘量法测定铜
  • SJ/T 11018-2016 电子器件用纯银钎料的分析方法燃烧碘量法测定硫
  • SJ/T 11028-1996 电子器件用金铜钎焊料的分析方法 EDTA容量法测定铜
  • SJ/T 11029-1996 电子器件用金铜钎焊料的分析方法 EDTA容量法测定镍
  • SJ/T 11018-1996 电子器件用纯银钎焊料的分析方法 燃烧碘量法测定硫
  • SJ/T 10906-1996 电子玻璃中氧化钡的分析 硫酸钡重量法

国际电工委员会,关于定量分析电子x的标准

  • IEC TR 62725:2013 电子电气产品和系统的温室气体排放测定用定量分析方法
  • IEC 62220-1-2:2007 医疗电气设备.数字X射线成像装置的特性.第1-2部分:侦探量子效率的测定.X射线测定法用探测器
  • IEC 62220-1:2003 医学电气设备.数字X光成像设备特性.第1部分:量子检测效率的确定

行业标准-有色金属,关于定量分析电子x的标准

  • YS/T 536.6-2006 铋化学分析方法 电热原子吸收光谱法测定铅量
  • YS/T 536.12-2006 铋化学分析方法 电热原子吸收光谱法测定镍量
  • YS/T 536.2-2009 铋化学分析方法.铁量的测定.电热原子吸收光谱法
  • YS/T 536.6-2009 铋化学分析方法.铅量的测定.电热原子吸收光谱法
  • YS/T 536.12-2009 铋化学分析方法.镍量的测定.电热原子吸收光谱法
  • YS/T 536.13-2009 铋化学分析方法.镉量的测定.电热原子吸收光谱法
  • YS/T 536.13-2006 铋化学分析方法 电热原子吸收光谱法测定银、镉量
  • YS/T 990.5-2014 冰铜化学分析方法 第5部分:氟量的测定 离子选择电极法
  • YS/T 273.14-2008 冰晶石化学分析方法和物理性能测定方法 14部分:X射线荧光光谱分析法测定元素含量
  • YS/T 581.10-2006 氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第10部分:X射线荧光光谱分析法测定硫含量
  • YS/T 273.11-2006 冰晶石化学分析方法和物理性能测定方法.第11部分:x射线荧光光谱分析法测定硫含量
  • YS/T 1593.3-2023 粗碳酸锂化学分析方法 第3部分:氟离子含量的测定 离子选择性电极法
  • YS/T 581.16-2008 氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第16部分 X射线荧光光谱分析法测定元素含量
  • YS/T 74.3-2010 镉化学分析方法.第3部分:镍量的测定电热原子吸收光谱法
  • YS/T 254.5-1994 铍精矿-绿柱石化学分析方法 离子选择电极法测定氟量
  • YS/T 1072-2015 钯炭化学分析方法 钯量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • YS/T 703-2014 石灰石化学分析方法 元素含量的测定 X射线荧光光谱法
  • YS/T 227.7-2010 碲化学分析方法.第7部分:硫量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • YS/T 281.12-1994 钴化学分析方法 电热原子吸收分光光度法测定砷、锑、铋、锡、铅量
  • YS/T 581.18-2012 氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第18部分:X射线荧光光谱分析(压片)法测定元素含量
  • YS/T 273.15-2012 冰晶石化学分析方法和物理性能测定方法 第15部分:X射线荧光光谱分析(压片)法测定元素含量
  • YS/T 739-2010 铝电解质分子比及主要成分的测定X射线荧光光谱法
  • YS/T 1073-2015 钯炭化学分析方法 铅、铜、铁量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • YS/T 575.23-2009 铝土矿石化学分析方法.第23部分:X射线荧光光谱法测定元素含量
  • YS/T 520.10-2006 镓化学分析方法 原子吸收分光光度法测定锌量

行业标准-商品检验,关于定量分析电子x的标准

  • SN/T 2003.5-2006 电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定 第5部分:能量色散X射线荧光光谱定量筛选法
  • SN/T 2003.3-2006 电子电气产品中铅、汞、镉、铬和溴的测定.第3部分:X射线荧光光谱定量筛选法
  • SN/T 2003.4-2006 电子电气产品中铅、汞、铬、镉和溴的测定.第4部分:能量色散X射线荧光光谱定性筛选法

(美国)福特汽车标准,关于定量分析电子x的标准

SE-SIS,关于定量分析电子x的标准

RO-ASRO,关于定量分析电子x的标准

  • STAS 6908/3-1990 气态氢质子.电位分析法测定硫化氢和硫醇硫的含量

行业标准-海关,关于定量分析电子x的标准

  • HS/T 12-2006 滑石、绿泥石、菱镁石混合相的定量分析 X 射线衍射仪法

山东省地方标准,关于定量分析电子x的标准

  • DB37/T 266-1999 建材产品中废渣掺加量的测定方法 X射线荧光分析法

中国团体标准,关于定量分析电子x的标准

  • T/NAIA 0128-2022 氢氧化铝快速测定 X射线荧光光谱分析(压片)法测定元素含量

丹麦标准化协会,关于定量分析电子x的标准

  • DS/ISO/TS 10798:2011 纳米技术 使用扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱分析法表征单壁碳纳米管
  • DS/IEC/TR 62725:2013 电气电子产品及系统温室气体排放量量化方法分析
  • DS/EN 61262-5:2013 医用电气设备 电光 X 射线图像增强器的特性 第5部分:探测量子效率的测定

行业标准-医药,关于定量分析电子x的标准

  • YY/T 0457.5-2003 医用电气设备.光电X射线影像增强器特性.第5部分:探测量子效率的测定
  • YY/T 0590.1-2005 医用电气设备.数字X射线成像装置特性.第1部分:量子探测效率的测定

云南省地方标准,关于定量分析电子x的标准

AENOR,关于定量分析电子x的标准

  • UNE-EN 61262-5:1996 医疗电气设备 电光 X 射线图像增强器的特性 第5部分:检测量子效率的确定

行业标准-机械,关于定量分析电子x的标准

  • JB/T 10392-2002 透平发电机定子铁心、机座模态.试验分析和振动测量方法及评定
  • JB/T 6237.5-1992 电触头用银粉化学分析方法 火焰原子吸收光谱法测定镍量
  • JB/T 6237.6-1992 电触头用银粉化学分析方法 火焰原子吸收光谱法测定钠量
  • JB/T 6237.8-1992 电触头用银粉化学分析方法 火焰原子吸收光谱法测定镁量

行业标准-电力,关于定量分析电子x的标准

行业标准-地质,关于定量分析电子x的标准

  • DZ/T 0279.21-2016 区域地球化学样品分析方法 第21部分:氟量测定 离子选择电极法

行业标准-船舶,关于定量分析电子x的标准

  • CB 20042-2012 铁白铜化学分析方法 锆含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

CZ-CSN,关于定量分析电子x的标准





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