ZH
EN
ES

О параметрах СЭМ

О параметрах СЭМ, Всего: 4 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к О параметрах СЭМ, являются: Аналитическая химия, Оптическое оборудование.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, О параметрах СЭМ

• GB/T 25189-2010 Микролучевой анализ. Метод определения параметров количественного анализа SEM-EDS.

American Society for Testing and Materials (ASTM), О параметрах СЭМ

• ASTM E766-14e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа

BELST, О параметрах СЭМ

• STB 2210-2011 Наноразмерные углеродные и неуглеродные материалы и композиты на их основе. Метод определения параметров с использованием измерений сканирующей электронной микроскопии

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), О параметрах СЭМ

• SMPTE ST 15:1998 ST 15:1998 — Стандарт SMPTE — для аналоговой записи телевидения — спиральное сканирование 1 дюйм типа B — основные параметры системы

Другие:   Основные параметры СЭМ, Параметры СЭМ, Параметры СЭМ, Анализ параметров СЭМ, Параметры сканирующего электронного микроскопа, Параметры сканирования СЭМ, Метод определения параметров количественного анализа энергетического спектрометра сканирующего электронного микроскопа, О параметрах СЭМ, Об анализе изображений сканирующего электронного микроскопа, Параметры СЭМ, Фазовые параметры РЭМ, О параметрах качества воды, Основные параметры СЭМ, Параметры СЭМ, Следующее описание сканирующего электронного микроскопа, О СЭМ, Параметры зарубежного сканирующего электронного микроскопа.