ZH
EN
ES

Параметры СЭМ

Параметры СЭМ, Всего: 15 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Параметры СЭМ, являются: Аналитическая химия, Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Параметры СЭМ

• GB/T 25189-2010 Микролучевой анализ. Метод определения параметров количественного анализа SEM-EDS.

BELST, Параметры СЭМ

• STB 2210-2011 Наноразмерные углеродные и неуглеродные материалы и композиты на их основе. Метод определения параметров с использованием измерений сканирующей электронной микроскопии

American Society for Testing and Materials (ASTM), Параметры СЭМ

• ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
• ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа

Group Standards of the People's Republic of China, Параметры СЭМ

• T/CSTM 00795-2022 Материалы экспериментальных данных. Требования к изображениям сканирующего электронного микроскопа.
• T/SPSTS 032-2023 Общие технические условия на сканирующую электрохимическую микроскопию

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Параметры СЭМ

• JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии

International Organization for Standardization (ISO), Параметры СЭМ

• ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Параметры СЭМ

• JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)

Professional Standard - Machinery, Параметры СЭМ

• JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
• JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Параметры СЭМ

• JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа

Professional Standard - Commodity Inspection, Параметры СЭМ

• SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Параметры СЭМ

• KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
• KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии

Другие:   СЭМ, сканирующий электронный микроскоп, СЭМ, Основные параметры СЭМ, Параметры СЭМ, Параметры СЭМ, СЭМ, Анализ параметров СЭМ, СЭМ СЭМ СЭМ, Параметры сканирующего электронного микроскопа, Экологический SEM SEM, Параметры сканирования СЭМ, О параметрах СЭМ, СЭМ СЭМ, Параметры СЭМ, Фазовые параметры РЭМ, Параметры дымовых газов, Основные параметры СЭМ, Параметры СЭМ, Параметры зарубежного сканирующего электронного микроскопа.