ZH
EN
ES

Параметры СЭМ

Параметры СЭМ, Всего: 17 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Параметры СЭМ, являются: Аналитическая химия, Оптическое оборудование, Линейные и угловые измерения, Качество воздуха.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Параметры СЭМ

• GB/T 25189-2010 Микролучевой анализ. Метод определения параметров количественного анализа SEM-EDS.
• GB/T 16594-1996 Измерение длины в микронах с помощью SEM
• GB/T 17722-1999 Измерение толщины позолоченного покрытия с помощью SEM

BELST, Параметры СЭМ

• STB 2210-2011 Наноразмерные углеродные и неуглеродные материалы и композиты на их основе. Метод определения параметров с использованием измерений сканирующей электронной микроскопии

American Society for Testing and Materials (ASTM), Параметры СЭМ

• ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
• ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
• ASTM E766-98(2008)e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
• ASTM E766-14(2019) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа

International Organization for Standardization (ISO), Параметры СЭМ

• ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.

Group Standards of the People's Republic of China, Параметры СЭМ

• T/CSTM 00795-2022 Материалы экспериментальных данных. Требования к изображениям сканирующего электронного микроскопа.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Параметры СЭМ

• KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
• KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии

International Telecommunication Union (ITU), Параметры СЭМ

• ITU-R BT.1358-1-2007 Студийные параметры систем прогрессивного телевидения на 625 и 525 строк.

British Standards Institution (BSI), Параметры СЭМ

• 18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)

Association of German Mechanical Engineers, Параметры СЭМ

• VDI 3866 Blatt 5-2004 Определение асбеста в технической продукции - Метод сканирующей электронной микроскопии
• VDI 3866 Blatt 5-2017 Определение асбеста в технической продукции - Метод сканирующей электронной микроскопии

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, Параметры СЭМ

• ITU-R BT.1358-1998 Студийные параметры 625- и 525-строчных телевизионных систем с прогрессивной разверткой

Другие:   СЭМ, Основные параметры СЭМ, Параметры СЭМ, Параметры СЭМ, Анализ параметров СЭМ, Параметры никеля, параметр мс, Параметры сигарет, Параметры сканирующего электронного микроскопа, Параметры сканирования СЭМ, Ключевые параметры, Параметры электронного микроскопа, Инфракрасные параметры, Параметры морозильной камеры, О параметрах СЭМ, Параметры СЭМ, Фазовые параметры РЭМ, Основные параметры СЭМ, Параметры СЭМ, Параметры зарубежного сканирующего электронного микроскопа.