ZH
EN
ES

Параметры сканирования СЭМ

Параметры сканирования СЭМ, Всего: 295 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Параметры сканирования СЭМ, являются: Оптическое оборудование, Аналитическая химия, Оптика и оптические измерения, Образование, Линейные и угловые измерения, Словари, Обработка поверхности и покрытие, Качество воздуха, Электронные устройства отображения, Механические испытания, Защита от преступности, Термодинамика и измерения температуры, Краски и лаки, Испытание металлов, Текстильные волокна, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Строительные материалы, Цветные металлы, Физика. Химия, Электронные лампы, Изделия из железа и стали, Керамика, Рыбалка и рыбоводство, Медицинские науки и учреждения здравоохранения в целом, Интерфейсное и соединительное оборудование, Сети передачи и распределения электроэнергии, Полупроводниковые приборы, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Телевидение и радиовещание, Ингредиенты краски, Экологические испытания, Продукция текстильной промышленности, Электрические аксессуары, Устройства хранения данных.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Параметры сканирования СЭМ

JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
JIS R 1633:1998 Способ подготовки образцов тонкой керамики и мелкодисперсных керамических порошков для наблюдения на сканирующем электронном микроскопе
JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.

International Organization for Standardization (ISO), Параметры сканирования СЭМ

ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
ISO/WD TR 23683:2023 Химический анализ поверхности. сканирующая зондовая микроскопия. Руководство по экспериментальному количественному определению концентрации носителей заряда в полупроводниковых устройствах с использованием электрической сканирующей зондовой микроскопии.
ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO 28600:2011 Химический анализ поверхности - формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии
ISO 14966:2019 Воздух окружающий. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
ISO 11775:2015 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера.
ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM.
ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
ISO 14966:2002 Воздух атмосферный. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
ISO 14966:2002/cor 1:2007 Воздух атмосферный - Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц - Метод сканирующей электронной микроскопии; Техническое исправление 1
ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
ISO/FDIS 17751-2 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
ISO 17751-2:2014 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
ISO 17751-2:2023 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Параметры сканирования СЭМ

ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-98(2008)e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E986-04 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E986-04(2010) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-14(2019) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E986-97 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E986-04(2017) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-14 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-14e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM C1723-16(2022) Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
ASTM C1723-10 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
ASTM C1723-16 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
ASTM B748-90(2006) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(1997) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2142-08(2015) Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2142-08 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2142-08(2023) Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope
ASTM E2041-03 Стандартный метод оценки кинетических параметров дифференциальным сканирующим калориметром с использованием метода Борхардта и Дэниелса
ASTM E2041-99 Стандартный метод оценки кинетических параметров дифференциальным сканирующим калориметром с использованием метода Борхардта и Дэниелса
ASTM E2041-01 Стандартный метод оценки кинетических параметров дифференциальным сканирующим калориметром с использованием метода Борхардта и Дэниелса
ASTM B748-90(2010) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2041-08e1 Стандартный метод оценки кинетических параметров дифференциальным сканирующим калориметром с использованием метода Борхардта и Дэниелса
ASTM E2809-13 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/рентгеновской спектрометрии при судебно-медицинской экспертизе красок
ASTM B748-90(2021) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2070-13(2018) Стандартный метод определения кинетических параметров методом дифференциальной сканирующей калориметрии с использованием изотермических методов
ASTM E2041-13e1 Стандартный метод испытаний для оценки кинетических параметров с помощью дифференциального сканирующего калориметра с использованием метода Борхардта и Дэниелса
ASTM E2041-23 Стандартный метод испытаний для оценки кинетических параметров с помощью дифференциального сканирующего калориметра с использованием метода Борхардта и Дэниелса
ASTM E2070-23 Стандартные методы определения кинетических параметров методом дифференциальной сканирующей калориметрии с использованием изотермических методов
ASTM E1588-95(2001) Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
ASTM E1588-08 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E1588-10 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E2142-01 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
ASTM E1588-95 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
ASTM B748-90(2016) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM B748-90(2001) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2090-00 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, выделяющихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM E2090-12 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM E2041-13(2018) Стандартный метод испытаний для оценки кинетических параметров с помощью дифференциального сканирующего калориметра с использованием метода Борхардта и Дэниелса
ASTM F1372-93(1999) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM E1588-20 Стандартная практика анализа остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM F1372-93(2020) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM D605-82(1996)e1 Стандартные спецификации для силикатного магниевого пигмента (талька)
ASTM D6059-96(2011) Стандартный метод испытаний для определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте методом сканирующей электронной микроскопии
ASTM F1372-93(2005) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM E280-98(2004)e1 Стандартные эталонные рентгенограммы толстостенных (от 4 &189; до 12 дюймов [от 114 до 305 мм]) стальных отливок
ASTM E1588-07e1 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E1588-07 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
ASTM E280-21 Стандартные эталонные рентгенограммы стальных отливок с толстыми стенками (от 412 до 12 дюймов (от 114 до 305 мм))
ASTM E2809-22 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (СЭМ/ЭДС) при судебно-медицинской экспертизе полимеров
ASTM F1372-93(2012) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
ASTM E698-23 Стандартный метод определения кинетических параметров термически нестабильных материалов с использованием дифференциальной сканирующей калориметрии и метода Флинна/Уолла/Одзавы
ASTM E2090-06 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM E2090-12(2020) Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
ASTM E2890-12 Стандартный метод определения кинетических параметров термически нестабильных материалов методом дифференциальной сканирующей калориметрии с использованием метода Киссинджера
ASTM E2890-12(2018) Стандартный метод определения кинетических параметров термически нестабильных материалов методом дифференциальной сканирующей калориметрии с использованием метода Киссинджера
ASTM E698-18 Стандартный метод определения кинетических параметров термически нестабильных материалов с использованием дифференциальной сканирующей калориметрии и метода Флинна/Уолла/Одзавы
ASTM E698-16 Стандартный метод определения кинетических параметров термически нестабильных материалов с использованием дифференциальной сканирующей калориметрии и метода Флинна/Уолла/Одзавы
ASTM E2890-12e1 Стандартный метод определения кинетических параметров термически нестабильных материалов методом дифференциальной сканирующей калориметрии с использованием метода Киссинджера
ASTM E2890-21 Стандартный метод испытаний для определения кинетических параметров и порядка реакции термически нестабильных материалов методом дифференциальной сканирующей калориметрии с использованием методов Киссинджера и Фарьяса
ASTM E3309-21 Стандартное руководство по составлению отчетов о судебно-медицинском анализе остатков огнестрельного оружия (pGSR) с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии (SEM/EDS)

Group Standards of the People's Republic of China, Параметры сканирования СЭМ

T/CSTM 00795-2022 Материалы экспериментальных данных. Требования к изображениям сканирующего электронного микроскопа.
T/QGCML 1940-2023
T/CSTM 00229-2020 Идентификация графеновых материалов в материалах покрытий методом сканирующего электронного микроскопа-энергодисперсионного спектрометра
T/NLIA 004-2021 Метод испытания на растяжение SEM на месте для алюминиевого сплава, полученного аддитивным способом
T/CSTM 00346-2021 Автоматическая классификация и статистика включений в стали — метод энергодисперсионного спектра сканирующего электронного микроскопа.
T/GAIA 017-2022 Определение содержания фтора в поверхностном покрытии алюминия и алюминиевых сплавов методом растрового электронного микроскопа и энергодисперсионного спектрометра.
T/CIESC 0002-2020 Стандартная практика оценки методов определения кинетических параметров методами калориметрии и дифференциальной сканирующей калориметрии
T/CES 183-2022 Спецификация сбора данных с помощью лазерного сканирования беспилотных летательных аппаратов с неподвижным крылом для воздушной линии электропередачи

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Параметры сканирования СЭМ

JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)

Professional Standard - Machinery, Параметры сканирования СЭМ

JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация
JB/T 7503-1994 Толщина поперечного сечения металлических покрытий Метод измерения сканирующим электронным микроскопом

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Параметры сканирования СЭМ

JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Параметры сканирования СЭМ

GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.
GB/T 36052-2018 Химический анализ поверхности — формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Параметры сканирования СЭМ

KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
KS D ISO 16700-2013(2018) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
KS K ISO 17751-2:2019 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.

Professional Standard - Commodity Inspection, Параметры сканирования СЭМ

SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.
SN/T 3009-2011 Идентификация коррозии морской водой на металлической поверхности с помощью СЭМ
SN/T 2649.1-2010 Определение асбеста в косметике для импорта и экспорта. Часть 1: Метод рентгеновской дифракции и сканирующей электронной микроскопии.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Параметры сканирования СЭМ

GB/T 25189-2010 Микролучевой анализ. Метод определения параметров количественного анализа SEM-EDS.
GB/T 16594-1996 Измерение длины в микронах с помощью SEM
GB/T 31563-2015 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
GB/T 17722-1999 Измерение толщины позолоченного покрытия с помощью SEM
GB/T 16594-2008 Общие правила измерения длины в микронном масштабе с помощью СЭМ
GB/T 20307-2006 Общие правила измерения длины в нанометровом масштабе с помощью SEM
GB/T 17362-2008 Метод рентгеноэнергетического спектрального анализа золотых изделий на сканирующем электронном микроскопе
GB/T 27788-2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
GB/T 17362-1998 Неразрушающий метод рентгеновского ЭДС анализа с помощью СЭМ для золотых ювелирных изделий
GB/T 17359-1998 Общие характеристики количественного анализа рентгеновской ЭДС для EPMA и SEM
GB/T 30834-2014 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали. Сканирующий электронный микроскоп.
GB/T 18295-2001 Метод анализа проб песчаника нефтяных и газовых пластов с помощью сканирующего электронного микроскопа
GB/T 36422-2018 Искусственное волокно. Метод испытания микроморфологии и диаметра. Метод сканирующего электронного микроскопа.
GB/T 30834-2022 Рейтинг и классификация включений в стали — метод растрового электронного микроскопа.
GB/T 14593-2008 Метод количественного анализа кашемира, шерсти и их смесей. Метод сканирующего электронного микроскопа.
GB/T 19267.6-2003 Физическое и химическое исследование следов доказательств в судебной медицине. Часть 6. Сканирующая электронная микроскопия.
GB/T 28873-2012 Общее руководство по сканирующей электронной микроскопии окружающей среды для определения биологических эффектов на топографию, вызванных наночастицами
GB/T 17361-1998 Метод идентификации аутигенного глинистого минерала в осадочных породах с помощью SEM и XEDS.
GB/T 17361-2013 Микролучевой анализ. Идентификация аутигенного глинистого минерала в осадочных породах методом сканирующего электронного микроскопа и энергодисперсионного спектрометра.
GB/T 19267.6-2008 Физико-химическая экспертиза следов доказательств в судебной медицине. Часть 6: Сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергодисперсионная спектрометрия.
GB/T 40905.2-2022 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.

KR-KS, Параметры сканирования СЭМ

KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS C ISO 19749-2023 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
KS K ISO 17751-2-2019 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.

Professional Standard - Education, Параметры сканирования СЭМ

JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии

Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), Параметры сканирования СЭМ

SMPTE 293M-2003 Телевидение — активная строка 720 x 483 с частотой 59,94 Гц, построчная развертка — цифровое представление
SMPTE RP 86-1991 Параметры видеозаписи для 1-дюймовой телевизионной записи со спиральной разверткой типа C
SMPTE 15M-1998 Аналоговая телевизионная запись — спиральное сканирование, 1 дюйм, тип B — основные параметры системы
SMPTE ST 15M-1998 Аналоговая телевизионная запись — спиральное сканирование, 1 дюйм, тип B — основные параметры системы
SMPTE ST 293M-2003 Телевидение — активная строка 720 x 483 с частотой 59,94 Гц, построчная развертка — цифровое представление
SMPTE RP 84-1996 Эталонные несущие частоты и характеристики предыскажения для однодюймовой аналоговой телевизионной записи со спиральной разверткой типа B

British Standards Institution (BSI), Параметры сканирования СЭМ

18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
BS ISO 28600:2011 Химический анализ поверхности. Формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии
BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
BS ISO 14966:2019 Окружающий воздух. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии
BS ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CDSEM
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
BS ISO 11775:2015 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера
BS ISO 19749:2021 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
BS EN ISO 9220:2022 Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
BS ISO 14966:2002 Воздух атмосферный. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
18/30375050 DC BS ISO 14966. Окружающий воздух. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии
BS EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения
18/30344520 DC BS ISO 21466. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM
18/30351679 DC BS ISO 19749. Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
BS CECC 00013:1985 Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: базовая спецификация: проверка полупроводниковых кристаллов сканирующим электронным микроскопом.
PD IEC/TR 61967-1-1:2015 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Общие положения и определения. Формат обмена данными сканирования ближнего поля
BS EN ISO 17751-2:2023 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей - метод сканирующей электронной микроскопии
DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
BS EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Метод сканирующей электронной микроскопии
12/30228339 DC БС ИСО 16000-27. Воздух в помещении. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
BS PD IEC/TR 61967-1-1:2015 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Общие положения и определения. Формат обмена данными сканирования ближнего поля
BS DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.

Professional Standard - Petroleum, Параметры сканирования СЭМ

SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
SY/T 0545-2012 Определение параметров термических свойств парафиновых осадков сырой нефти. Метод испытаний методом дифференциальной сканирующей калориметрии.
SY 0545-2012 ОПРЕДЕЛЕНИЕ ТЕРМИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ВЫПАДАЮЩИХ ПАРОКСИДОВ В НЕФТЕ Дифференциальной сканирующей калориметрии
SY/T 0545-1995 ОПРЕДЕЛЕНИЕ ТЕРМИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ВЫПАДАЮЩИХ ПАРОКСИДОВ В НЕФТЕ Дифференциальной сканирующей калориметрии

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Параметры сканирования СЭМ

DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа

Association of German Mechanical Engineers, Параметры сканирования СЭМ

VDI 3866 Blatt 5-2004 Определение асбеста в технической продукции - Метод сканирующей электронной микроскопии
VDI 3866 Blatt 5-2017 Определение асбеста в технической продукции - Метод сканирующей электронной микроскопии
VDI 3861 Blatt 2-2008 Выбросы из стационарных источников. Измерение неорганических волокнистых частиц в выхлопных газах. Метод сканирующей электронной микроскопии.
VDI 3492-2004 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
VDI 3492-2013 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.

国家能源局, Параметры сканирования СЭМ

SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

International Telecommunication Union (ITU), Параметры сканирования СЭМ

ITU-R BT.1358-1-2007 Студийные параметры систем прогрессивного телевидения на 625 и 525 строк.
ITU-R BT.1358-1 SPANISH-2007 Студийные параметры систем прогрессивного телевидения на 625 и 525 строк.
ITU-R BT.1358-1 FRENCH-2007 Студийные параметры систем прогрессивного телевидения на 625 и 525 строк.
ITU-R BT.1362-1998 Интерфейсы для цифровых компонентных видеосигналов в 525- и 625-строчных телевизионных системах с прогрессивной разверткой
ITU-R BT.1362 FRENCH-1998 Интерфейсы для цифровых компонентных видеосигналов в 525- и 625-строчных телевизионных системах с прогрессивной разверткой

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, Параметры сканирования СЭМ

ITU-R BT.1358-1998 Студийные параметры 625- и 525-строчных телевизионных систем с прогрессивной разверткой

国家质量监督检验检疫总局, Параметры сканирования СЭМ

SN/T 4704-2016 Изотермическое определение кинетических параметров. Дифференциальная сканирующая калориметрия.

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Параметры сканирования СЭМ

DB44/T 1527-2015 Микролучевой анализ Метод оценки четкости изображения сканирующего электронного микроскопа

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Параметры сканирования СЭМ

DB32/T 4546-2023 Технические условия на автоматизированный просмотр изображений диатомей с использованием сканирующих электронных микроскопов
DB32/T 3459-2018 Сканирующая электронная микроскопия для измерения микроплощади покрытия графеновых пленок

Professional Standard - Judicatory, Параметры сканирования СЭМ

SF/T 0139-2023

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Параметры сканирования СЭМ

GB/T 27788-2020 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
GB/T 38783-2020 Способ определения толщины покрытия композитов благородных металлов с помощью сканирующего электронного микроскопа
GB/T 35099-2018 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия с энергодисперсионной рентгеновской спектрометрией. Морфология и элементный анализ одиночных мелких частиц в окружающем воздухе.
GB/T 35097-2018 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия с энергодисперсионной рентгеновской спектрометрией. Определение количественной концентрации неорганических волокнистых частиц в окружающем воздухе.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Параметры сканирования СЭМ

GJB 737.11-1993 Методы испытаний пиротехнических химикатов. Определение размера частиц. Сканирующая электронная микроскопия.
GJB 8683.10-2015 Методы испытаний физических параметров пиротехники Часть 10. Определение теплопроводности методом дифференциальной сканирующей калориметрии
GJB 8683.8-2015 Методы испытаний физических параметров пиротехники Часть 8. Непрерывное определение удельной теплоемкости Дифференциальная сканирующая калориметрия
GJB 8683.11-2015 Методы испытаний физических параметров пиротехники Часть 11. Определение температуры самовозгорания Дифференциальный термический анализ и дифференциальная сканирующая калориметрия

SE-SIS, Параметры сканирования СЭМ

SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
SIS SS CECC 00013-1985 Базовая спецификация: проверка полупроводниковых кубиков с помощью сканирующего электронного микроскопа.

European Committee for Standardization (CEN), Параметры сканирования СЭМ

EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220: 1988).
EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
prEN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)

Association Francaise de Normalisation, Параметры сканирования СЭМ

NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
NF T25-111-4:1991 Углеродные волокна. Текстура и структура. Часть 4. Фрактография с помощью сканирующего электронного микроскопа.
NF EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии - Определение распределения частиц по размерам и форме методом сканирующей электронной микроскопии
NF ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение волокнистой пыли, осажденной на поверхностях, методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
FD T16-203:2011 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
NF G07-142-2*NF EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2: метод сканирующей электронной микроскопии.

RU-GOST R, Параметры сканирования СЭМ

GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы
GOST R 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы калибровки
GOST 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Метод проверки
GOST 19438.21-1979 Маломощные электронные лампы и лампы для выходных каскадов телевизионной линии развертки. Методы измерения электрических параметров и испытания на срок службы
GOST R 8.631-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы проверки
GOST R 53536-2009 Телевидение улучшенной четкости. Основные параметры цифровой системы с прогрессивной разверткой. Представления аналоговых и цифровых сигналов. Параллельный цифровой интерфейс
GOST ISO 16000-27-2017 Воздух в помещении. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)

Danish Standards Foundation, Параметры сканирования СЭМ

DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
DS/ISO 19749:2021 Нанотехнологии – Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
DS/ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.

German Institute for Standardization, Параметры сканирования СЭМ

DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.
DIN EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021); Немецкая и английская версия prEN ISO 9220:2021.
DIN EN ISO 19749:2023-07 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
DIN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988); Немецкая версия EN ISO 9220:1994.
DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
DIN ISO 16000-27:2014-11 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующая электронная микроскопия) (прямой метод) (ISO 16000-27:2014)
DIN EN ISO 17751-2:2016-11 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии (ISO 17751-2:2016); Немецкая версия EN ISO 17751-2:2016 / Примечание. Заменяется стандартом DIN EN ISO 17751-2 (2022-09).
DIN EN ISO 17751-2:2022-09 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии (ISO/DIS 17751-2:2022); Немецкая и английская версия prEN ISO 17751-2:2022 / Примечание: Дата выпуска 19.08.2022*I...
DIN ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующая электронная микроскопия) (прямой метод) (ISO 16000-27:2014)

ES-UNE, Параметры сканирования СЭМ

UNE-EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
UNE-EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021) (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в мае 2023 г.)
UNE-EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии (ISO 17751-2:2016)

工业和信息化部, Параметры сканирования СЭМ

YS/T 1491-2021 Способ определения сферичности порошка жаропрочных сплавов на основе никеля методом сканирующей электронной микроскопии
SJ/T 11759-2020 Измерение соотношения сторон линии электродной сетки фотоэлектрического элемента Лазерная сканирующая конфокальная микроскопия

Professional Standard - Public Safety Standards, Параметры сканирования СЭМ

GA/T 1939-2021 Судмедэкспертиза Текущая точечная экспертиза Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1938-2021 Судмедэкспертиза Проверка металлов Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1937-2021 Судебная медицина Проверка резины Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1418-2017 Исследование элементного состава судебно-медицинской экспертизы стеклянных доказательств, сканирующая электронная микроскопия/энергетическая спектроскопия
GA/T 1522-2018 Судмедэкспертиза Осмотр остатков стрельбы Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1521-2018 Судебная медицина Исследование элементного состава пластмасс Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1519-2018 Судмедэкспертиза Проверка элементного состава тонера Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 909-2010 Метод сбора и упаковки следов огнестрельных улик (исследование SEM/EDS)
GA/T 1520-2018 Судебно-медицинская экспертиза черного пороха, проверка элементного состава пиротехнического порошка, сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергетическая спектрометрия
GA/T 823.3-2018 Методы исследования красочных доказательств в судебной медицине. Часть 3: Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Параметры сканирования СЭМ

GJB 5891.6-2006 Метод испытания загрузки материала для инициирования взрывного устройства Часть 6. Измерение размера зерна Сканирующая электронная микроскопия
GJB 5382.10-2005 Методы испытаний физических параметров пиротехники. Часть 10: Определение теплопроводности. метод ДСК
GJB 5382.8-2005 Методы испытаний физических параметров пиротехники. Часть 8: Определение удельной теплоемкости. метод ДСК
GJB 5382.11-2005 Методы испытаний физических параметров пиротехники. Часть 11: Определение температуры самовоспламенения. Метод ДТА и ДСК

AENOR, Параметры сканирования СЭМ

UNE-EN ISO 9220:1996 МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОКРЫТИЯ. ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ. МЕТОД РАССИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ. (ИСО 9220:1988).

Lithuanian Standards Office , Параметры сканирования СЭМ

LST EN ISO 9220:2001 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988)

未注明发布机构, Параметры сканирования СЭМ

JIS K 0182:2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера.
BS CECC 13:1985(1999) Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: Базовая спецификация: Проверка полупроводниковых кристаллов сканирующим электронным микроскопом.

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Параметры сканирования СЭМ

DB35/T 110-2000 Электронный зонд и сканирующий электронный микроскоп. Метод рентгеновского энергетического спектрального анализа для обнаружения красочных вещественных доказательств.

AT-ON, Параметры сканирования СЭМ

OENORM EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)

BE-NBN, Параметры сканирования СЭМ

NBN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988).

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Параметры сканирования СЭМ

SMPTE ST 15:1998 ST 15:1998 — Стандарт SMPTE — для аналоговой записи телевидения — спиральное сканирование 1 дюйм типа B — основные параметры системы
SMPTE RP 86:1991 RP 86:1991 - Рекомендуемая практика SMPTE - Параметры видеозаписи для 1-дюймовой телевизионной записи со спиральной разверткой типа C
ST 293:2003 ST 293:2003 - Стандарт SMPTE - Для телевидения - 720 × 483 Активная строка с частотой 59,94 Гц. Производство с прогрессивной разверткой. Цифровое представление.
SMPTE ST 293:2003 ST 293:2003 - Стандарт SMPTE - Для телевидения - 720 × 483 Активная строка с частотой 59,94 Гц. Производство с прогрессивной разверткой. Цифровое представление.
SMPTE RP 84:1996 RP 84:1996 - Рекомендуемая практика SMPTE. Эталонные несущие частоты и характеристики предыскажения для однодюймовой аналоговой телевизионной записи со спиральной разверткой типа B

BELST, Параметры сканирования СЭМ

STB 2210-2011 Наноразмерные углеродные и неуглеродные материалы и композиты на их основе. Метод определения параметров с использованием измерений сканирующей электронной микроскопии

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, Параметры сканирования СЭМ

DB37/T 420.2-2004 Протокол диагностики болезни скорпионовых пальцев у марикультурных рыб, часть 2: Метод диагностики с помощью сканирующей электронной микроскопии

American National Standards Institute （ANSI), Параметры сканирования СЭМ

ANSI/ASTM D6059:2001 Метод испытаний для определения концентрации аэрозольных монокристаллических керамических усов в рабочей среде методом сканирующей электронной микроскопии
ANSI/INCITS 267-1996 Информационные технологии — цифровой компьютерный ленточный картридж со спиральной разверткой, 12,65 мм (0,498 дюйма), для обмена информацией, заменяет ANSI X3.267-1996.

Defense Logistics Agency, Параметры сканирования СЭМ

DLA SMD-5962-93239 REV C-2013 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, КМОП, ЛИНКЕРЫ ПУТИ СКАНИРОВАНИЯ С 4-БИТНОЙ ID ШИНОЙ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-91725 REV A-2008 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ КМОП, ТЕСТОВОЕ УСТРОЙСТВО С ВОСЬМЕРИЧНОЙ ЗАЩЕЛКОЙ ТИПА D, ТРЕХСОСТОЯННЫЕ ВЫХОДЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-93239 REV B-2005 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, КМОП, ЛИНКЕРЫ ПУТИ СКАНИРОВАНИЯ С 4-БИТНОЙ ID ШИНОЙ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-91746 REV A-2008 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ КМОП, ТЕСТОВОЕ УСТРОЙСТВО С ВОСЬМЕРНИЧНЫМ БУФЕРОМ, ИНВЕРТИРУЮЩИЕ ТРЕХСОСТОЯННЫЕ ВЫХОДЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-91726 REV A-2008 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БИПОЛЯРНАЯ КМОП, ТЕСТОВОЕ УСТРОЙСТВО С ВОСЬМЕРИЧНЫМ БУФЕРОМ, ТРЕХСОСТОЯННЫЕ ВЫХОДЫ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA DSCC-VID-V62/04729 REV A-2011 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ БИПОЛЯРНАЯ КМОП, ТЕСТОВОЕ УСТРОЙСТВО СКАНИРОВАНИЯ ABT, 3,3 В С 18-БИТНЫМ УНИВЕРСАЛЬНЫМ ШИННЫМ ТРАНСИВЕРОМ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA DSCC-VID-V62/04730 REV A-2011 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ БИПОЛЯРНАЯ КМОП, ТЕСТОВОЕ УСТРОЙСТВО СКАНИРОВАНИЯ ABT, 3,3 В С 18-БИТНЫМ УНИВЕРСАЛЬНЫМ ШИННЫМ ТРАНСИВЕРОМ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA DSCC-VID-V62/04731 REV A-2011 МИКРОсхема, ЦИФРОВАЯ, УСОВЕРШЕНСТВОВАННАЯ БИПОЛЯРНАЯ КМОП, ТЕСТОВОЕ УСТРОЙСТВО СКАНИРОВАНИЯ ABT, 3,3 В С 18-БИТНЫМ ТРАНСИВЕРОМ И РЕГИСТРАМИ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ
DLA SMD-5962-96827 REV B-2010 МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВАЯ, БЫСТРАЯ КМОП, 8-битный регистр диагностического сканирования, TTL-совместимые входы и ограниченный размах выходного напряжения, монолитный кремний.

Professional Standard - Aviation, Параметры сканирования СЭМ

HB 20094.4-2012 Метод испытаний определения металлов износа в рабочей жидкости для авиации. Часть 4. Сканирующая электронная микроскопия и энергодисперсионная спектрометрия.

未注明发布机构, Параметры сканирования СЭМ

JIS K 0182:2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера.
BS CECC 13:1985(1999) Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: Базовая спецификация: Проверка полупроводниковых кристаллов сканирующим электронным микроскопом.

Professional Standard - Nuclear Industry, Параметры сканирования СЭМ

EJ/T 20150.23-2018 После освещения топливной сборки со стержневыми реакторами PWR. Часть 23: СЭМ-анализ труб оболочек твэлов

GOSTR, Параметры сканирования СЭМ

PNST 508-2020 Нанотехнологии. Одностенные углеродные нанотрубки. Характеристика методами сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии.

IN-BIS, Параметры сканирования СЭМ

IS 233 Pt.6-1978 Методы определения параметров длины хлопковых волокон Часть VI Оценка длины и однородности длины методом оптического сканирования

International Electrotechnical Commission (IEC), Параметры сканирования СЭМ

IEC TR 61967-1-1:2010 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Часть 1. Общие условия и определения. Формат обмена данными сканирования ближнего поля.
IEC TR 61967-1-1:2015 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Часть 1-1. Общие условия и определения. Формат обмена данными сканирования ближнего поля.
IEC 61967-1-1:2010 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Часть 1-1. Общие условия и определения. Формат обмена данными сканирования ближнего поля.