ZH
EN
ES
электронный микроскоп с
электронный микроскоп с, Всего: 479 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к электронный микроскоп с, являются: Оптика и оптические измерения, Аналитическая химия, Оптическое оборудование, Метрология и измерения в целом, Словари, Качество воздуха, Сварка, пайка и пайка, Образование, Линейные и угловые измерения, Электронные компоненты в сборе, Медицинское оборудование, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Электронные компоненты в целом, Испытание металлов, Защита от преступности, Термодинамика и измерения температуры, Технические рисунки, Обработка поверхности и покрытие, Электронные устройства отображения, Материалы для армирования композитов, Физика. Химия, Строительные материалы, Сырье для резины и пластмасс, Жидкостные энергетические системы, Материалы для аэрокосмического строительства, Корма для животных, Системы и компоненты аэрокосмических жидкостей, Гидравлические жидкости, Условия и процедуры испытаний в целом, Фотография, Изделия из железа и стали, Полупроводниковые приборы, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Керамика, Атомная энергетика, Краски и лаки, Медицинские науки и учреждения здравоохранения в целом, Бумага и картон, Ингредиенты краски, Текстильные волокна, Продукция химической промышленности, Производство металлов, Полупроводниковые материалы, Защита от опасных грузов.
Professional Standard - Machinery, электронный микроскоп с
- JB/T 5480-1991 Диафрагма электронного микроскопа
- JB/T 5481-1991 Нить лампы электронного микроскопа
- JB/T 9352-1999 Метод испытаний просвечивающего электронного микроскопа
- JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
- JB/T 5383-1991 Технические характеристики просвечивающего электронного микроскопа
- JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация
- JB/T 5584-1991 Метод испытаний усиления просвечивающего электронного микроскопа
- JB/T 5585-1991 Метод испытания разрешения просвечивающего электронного микроскопа
- JB/T 5586-1991 Классификация и основные параметры просвечивающего электронного микроскопа
International Organization for Standardization (ISO), электронный микроскоп с
- ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
- ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- ISO 8036:2006 Оптика и фотоника - Микроскопы - Иммерсионные жидкости для световой микроскопии
- ISO 15932:2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
- ISO/CD 19214:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
- ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- ISO 19214:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- ISO 11884-2:2007 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
- ISO/TR 14880-5:2010 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 5. Руководство по испытаниям.
- ISO 11884-1:2006 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Часть 1. Стереомикроскопы общего назначения.
- ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения ближнепольного оптического микроскопа.
- ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера.
- ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
- ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM.
- ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
- ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- ISO 19012-2:2009 Оптика и фотоника. Назначение объективов микроскопа. Часть 2. Хроматическая коррекция.
- ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра потерь энергии электронов.
- ISO 19056-2:2019 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Часть 2. Свойства освещения, связанные с цветом, в микроскопии светлого поля.
- ISO 13794:1999 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.
- ISO 10312:1995 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
- ISO 5061:2002 Корма для животных. Определение оболочки семян клещевины. Метод микроскопа.
- ISO 21363:2020 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- ISO 13794:2019 Атмосферный воздух. Определение содержания асбестовых волокон. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом.
- ISO 10312:2019 Окружающий воздух. Определение содержания асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
- ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR.
- ISO/WD TR 23683:2023 Химический анализ поверхности. сканирующая зондовая микроскопия. Руководство по экспериментальному количественному определению концентрации носителей заряда в полупроводниковых устройствах с использованием электрической сканирующей зондовой микроскопии.
- ISO 19012-1:2007 Оптика и фотоника. Обозначение объективов микроскопа. Часть 1. Равномерность поля/План
- ISO 22493:2014 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
- ISO 24639:2022 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Процедура калибровки энергетической шкалы для элементного анализа методом спектроскопии потерь энергии электронов.
- ISO/CD 20263:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела на изображении поперечного сечения слоистых материалов.
- ISO 14966:2019 Воздух окружающий. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
- ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии - реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии.
- ISO 20263:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела на изображении поперечного сечения слоистых материалов.
- ISO 10936-1:2017 Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Часть 1. Требования и методы испытаний.
- ISO 14966:2002 Воздух атмосферный. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 14880-1:2001/Cor 2:2005 Оптика и фотоника - Микролинзовые матрицы - Часть 1: Словарь; Техническое исправление 2
- ISO 14880-1:2016 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 1. Словарь и общие свойства.
- ISO 29301:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
- ISO 14880-2:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.
- ISO/FDIS 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
- ISO 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
- ISO 14966:2002/cor 1:2007 Воздух атмосферный - Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц - Метод сканирующей электронной микроскопии; Техническое исправление 1
- ISO 29301:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов, имеющих периодическую структуру.
- ISO 14880-4:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 4. Методы испытаний геометрических свойств.
- ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
- ISO/DIS 14880-4 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 4. Методы испытаний геометрических свойств.
- ISO 9345:2019 Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы, скорректированные на бесконечность.
- ISO 17751-2:2014 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 17751-2:2023 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), электронный микроскоп с
- JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
- JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
- JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
- JIS B 7144:1995 Микроскоп. Соединение конденсаторов проходящего света с муфтами для предметного столика.
- JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- JIS K 3850-3:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 3. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом.
- JIS K 3850-2:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 2. Метод просвечивающей электронной микроскопии с прямым переносом.
- JIS R 1633:1998 Способ подготовки образцов тонкой керамики и мелкодисперсных керамических порошков для наблюдения на сканирующем электронном микроскопе
- JIS B 7132-1:2022 Микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета. Часть 1. Длина трубки 160 мм.
- JIS R 1683:2007 Метод определения шероховатости поверхности тонких керамических пленок методом атомно-силовой микроскопии
- JIS R 1683:2014 Метод определения шероховатости поверхности тонких керамических пленок методом атомно-силовой микроскопии
- JIS B 7132-2:2022 Микроскопы. Расстояния отображения, связанные с механическими плоскостями отсчета. Часть 2. Оптические системы, скорректированные на бесконечность.
- JIS H 7804:2005 Метод определения размера частиц в металлических катализаторах с помощью электронного микроскопа
RU-GOST R, электронный микроскоп с
- GOST 11200-1975 Объективы и тубусы микроскопов. Прикрепление размеров
- GOST 3361-1975 Окуляры и тубусы микроскопов. Прикрепление размеров
- GOST 21006-1975 Электронные микроскопы. Термины, определения и буквенные обозначения
- GOST 8.003-1983 Государственная система обеспечения единства измерений. Инструментальные микроскопы. Методы и средства проверки
- GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы
- GOST R 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы калибровки
- GOST 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Метод проверки
- GOST R 8.631-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы проверки
- GOST R 56168-2014 Медицинское электрооборудование. Операционный микроскоп. Технические характеристики для госзаказа
- GOST 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
- GOST R 8.630-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Методы проверки
- GOST R 8.635-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод калибровки
- GOST R 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
- GOST ISO 16000-27-2017 Воздух в помещении. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
- GOST R 8.697-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Межпенарные расстояния в кристаллах. Метод измерения с помощью просвечивающего электронного микроскопа
British Standards Institution (BSI), электронный микроскоп с
- BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
- BS ISO 11884-2:2007 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Высокопроизводительные микроскопы
- BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- BS ISO 8036:2006 Оптика и фотоника - Микроскопы - Иммерсионные жидкости для световой микроскопии
- BS ISO 11884-1:2006 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопам. Стереомикроскопы общего назначения.
- BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- BS ISO 19056-2:2019 Микроскопы. Определение и измерение свойств освещения. Свойства освещения, связанные с цветом, в микроскопии светлого поля.
- BS ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CDSEM
- BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- BS EN ISO 14880-1:2005 Оптика и фотоника - Микролинзовая решетка - Словарь
- BS ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера
- BS ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
- 21/30412880 DC BS ISO 23729. Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера
- BS ISO 24639:2022 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Процедура калибровки энергетической шкалы для элементного анализа методом спектроскопии энергетических потерь электронов
- BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения
- 18/30344520 DC BS ISO 21466. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM
- BS ISO 13794:1999 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.
- PD ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
- BS ISO 5061:2002 Корма для животных. Определение оболочки семян клещевины. Метод микроскопа.
- 18/30339980 DC БС ИСО 19056-2. Микроскопы. Определение и измерение свойств освещенности. Часть 2. Свойства освещения, связанные с цветом, в светлопольной микроскопии
- 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
- 20/30380369 DC BS ISO 23420. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
- BS 7012-3:1997 Световые микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета для трубки длиной 160 мм.
- BS ISO 10936-1:2002 Оптика и оптические приборы. Операционные микроскопы. Требования и методы испытаний
- 21/30404763 DC BS ISO 24639. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Процедура калибровки энергетической шкалы для элементного анализа методом спектроскопии энергетических потерь электронов
- BS ISO 19749:2021 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- 15/30292710 DC BS ISO 19214. Руководство по определению направления роста проволочных кристаллов методом просвечивающей электронной микроскопии.
- BS EN ISO 9220:2022 Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
- BS ISO 13794:2019 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом
- BS ISO 10312:2019 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии
- BS EN ISO 14880-1:2016 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Словарный запас и общие свойства
- BS EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
- BS EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- BS ISO 21363:2020 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
- BS ISO 15932:2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарный запас
- BS ISO 22493:2014 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
- BS ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
- BS ISO 20263:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Способ определения положения границы раздела на изображении поперечного сечения слоистых материалов
- BS EN ISO 14880-2:2007 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.
- PD ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии. Реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии
- BS ISO 14966:2019 Окружающий воздух. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии
- 19/30351707 DC BS ISO 21222. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
- BS CECC 00013:1985 Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: базовая спецификация: проверка полупроводниковых кристаллов сканирующим электронным микроскопом.
- BS EN ISO 14880-4:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Методы испытаний геометрических свойств.
- BS PD ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии. Реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии
- 18/30351714 DC BS ISO 21363. Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
- 18/30351679 DC BS ISO 19749. Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- BS ISO 10936-1:2017 Отслеживаемые изменения. Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Требования и методы испытаний
- BS ISO 14966:2002 Воздух атмосферный. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- 18/30375050 DC BS ISO 14966. Окружающий воздух. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии
- BS ISO 29301:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой
- 19/30394914 DC BS ISO 15632. Микролучевой анализ. Отдельные рабочие параметры прибора для спецификации и проверки энергодисперсионных рентгеновских спектрометров для использования в электронно-зондовом микроскопе или электронно-зондовом микроанализаторе (ЭПМА)
- BS EN ISO 17751-2:2023 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей - метод сканирующей электронной микроскопии
- BS DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
- BS EN ISO 14880-3:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Методы испытаний оптических свойств, кроме аберраций волнового фронта.
- DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
- BS ISO 29301:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов, имеющих периодическую структуру.
- BS EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Метод сканирующей электронной микроскопии
- 12/30228339 DC БС ИСО 16000-27. Воздух в помещении. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
- BS EN ISO 10685-1:2011 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Идентификация продукта и иерархия продуктов в электронном каталоге
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), электронный микроскоп с
- KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Словарь
- KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Словарь
- KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
- KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
- KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
- KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Руководство по калибровке увеличения изображения
- KS B ISO 11884-2-2011(2016) Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопу. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
- KS B ISO 11884-2-2011(2021) Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопу. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
- KS D 2716-2008 Измерение диаметра наночастиц-Просвечивающий электронный микроскоп
- KS B ISO 11884-2:2011 Оптика и фотоника. Минимальные требования к стереомикроскопу. Часть 2. Высокопроизводительные микроскопы.
- KS D 2716-2008(2018) Измерение диаметра наночастиц-Просвечивающий электронный микроскоп
- KS D ISO 16700-2013(2018) Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Руководство по калибровке увеличения изображения
- KS P ISO 10936-2:2020 Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Часть 2. Световая опасность от операционных микроскопов, используемых в глазной хирургии.
- KS D 8544-2006 Металлическое покрытие. Измерение толщины покрытия. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
- KS D 8544-2016(2021) Металлическое покрытие-Измерение толщины покрытия-Метод просвечивающей электронной микроскопии
- KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS I ISO 4407:2012 Силовая гидравлическая жидкость. Загрязнение жидкости. Определение загрязнения твердыми частицами счетным методом с использованием оптического микроскопа.
- KS I ISO 10312:2008 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
- KS I ISO 13794:2008 Окружающий воздух-Определение асбестовых волокон-Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом
- KS I ISO 10312-2008(2018) Окружающий воздух-Определение асбестовых волокон-Метод прямой просвечивающей электронной микроскопии
- KS I ISO 13794-2008(2018) Окружающий воздух-Определение асбестовых волокон-Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом
- KS B ISO 19012-1-2016(2021) Оптика и фотоника – Обозначение объективов микроскопа – Часть 1: Неравномерность поля/План
- KS B ISO 8040-2006(2021) Оптика и фотоника. Микроскопы. Размеры соединений предметных стекол и пазов пробирок.
- KS B ISO 8478-2006(2016) Оптика и фотоника. Микроскопы. Размеры соединений предметных стекол и пазов пробирок.
- KS B ISO 8478-2006(2021) Оптика и фотоника. Микроскопы. Размеры соединений предметных стекол и пазов пробирок.
- KS B ISO 8040-2006(2016) Оптика и фотоника. Микроскопы. Размеры соединений предметных стекол и пазов пробирок.
- KS D ISO 23833:2022 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ (ЭПМА). Словарь.
- KS B ISO 14880-2:2013 Оптика и фотоника ― Массивы микролинз ― Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта
- KS B ISO 14880-2:2008 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.
- KS D ISO TR 17270:2007 Микролучевой анализ-Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия-Технический отчет по определению экспериментальных параметров для спектроскопии потерь энергии электронов
- KS B ISO 9345-1-2016(2021) Оптика и оптические инструменты Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 1. Длина трубки 160 мм.
- KS K ISO 17751-2:2019 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
KR-KS, электронный микроскоп с
- KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- KS D 2716-2023 Измерение диаметра наночастиц — Просвечивающий электронный микроскоп
- KS P ISO 10936-2-2020 Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Часть 2. Световая опасность от операционных микроскопов, используемых в глазной хирургии.
- KS B ISO 19012-1-2016 Оптика и фотоника – Обозначение объективов микроскопа – Часть 1: Неравномерность поля/План
- KS C ISO 19749-2023 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- KS C ISO 21363-2023 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- KS D ISO 23833-2022 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ (ЭПМА). Словарь.
- KS B ISO 10936-1-2023 Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Часть 1. Требования и методы испытаний.
- KS B ISO 9345-2-2023 Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы, скорректированные на бесконечность.
- KS D ISO TR 17270-2007 Микролучевой анализ-Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия-Технический отчет по определению экспериментальных параметров для спектроскопии потерь энергии электронов
- KS K ISO 17751-2-2019 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
Association Francaise de Normalisation, электронный микроскоп с
- NF ISO 15932:2014 Микролучевой анализ - Аналитическая электронная микроскопия - Словарь
- NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
- XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
- NF S12-023:1988 ОПТИКА И ОПТИЧЕСКИЕ ПРИБОРЫ. МИКРОСКОПЫ. ПРИСОЕДИНИТЕЛЬНЫЕ РАЗМЕРЫ ТРУБНЫХ НАПРАВЛЯЮЩИХ И ТРУБНЫХ ПНЕВ.
- NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- FD T16-209:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
- NF T16-404:2020 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- NF T25-111-4:1991 Углеродные волокна. Текстура и структура. Часть 4. Фрактография с помощью сканирующего электронного микроскопа.
- NF ISO 13794:2020 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.
- NF ISO 10312:2020 Окружающий воздух. Количественное определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
- NF E48-651:1986 Гидравлическая жидкость. Жидкости. Определение загрязнения твердыми частицами счетным методом с использованием микроскопа.
- NF X43-050:2021 Качество воздуха. Определение концентрации асбестового волокна методом просвечивающей электронной микроскопии. Косвенный метод.
- NF EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии - Определение распределения частиц по размерам и форме методом сканирующей электронной микроскопии
- NF EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии - Определение распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
- NF X21-016*NF ISO 15932:2014 Микролучевой анализ - Аналитическая электронная микроскопия - Словарь
- NF X43-050:1996 Качество воздуха. Определение концентрации асбестовых волокон методом просвечивающей электронной микроскопии. Косвенный метод.
- NF X21-010:2009 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь.
- NF S10-132-1:2016 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 1: словарь и общие свойства.
- NF S10-132-4*NF EN ISO 14880-4:2006 Оптика и фонотика - Массивы микролинз - Часть 4: методы испытаний геометрических свойств.
- NF EN 60749-35:2006 Полупроводниковые приборы. Климатические и механические методы испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых корпусах.
- NF ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение волокнистой пыли, осажденной на поверхностях, методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
- FD T16-203:2011 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
- NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
- NF G07-142-2*NF EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2: метод сканирующей электронной микроскопии.
- NF EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2: метод сканирующей электронной микроскопии.
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, электронный микроскоп с
- JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)
Group Standards of the People's Republic of China, электронный микроскоп с
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, электронный микроскоп с
Professional Standard - Education, электронный микроскоп с
- JY/T 011-1996 Общие принципы просвечивающей электронной микроскопии
- JY/T 0581-2020 Общие правила методов анализа просвечивающей электронной микроскопии
- JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
- JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, электронный микроскоп с
- GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.
- GB/T 34331-2017 Метод исследования вируса зеленой крапчатой мозаики огурца методом просвечивающей электронной микроскопии
- GB/T 34168-2017 Метод исследования биологического действия материалов наночастиц золота и серебра с помощью просвечивающего электронного микроскопа
- GB/T 34831-2017 Нанотехнологии. Электронно-микроскопическое изображение наночастиц благородных металлов. Метод кольцевой визуализации в темном поле под большим углом.
- GB/T 33839-2017 Методы просвечивающей электронной микроскопии для биологических образцов, содержащих углеродные наноматериалы, обладающие биологическим действием
- GB/T 32262-2015 Подготовка образца дезоксирибонуклеиновой кислоты для измерения с помощью атомно-силового микроскопа
- GB/T 33838-2017 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, электронный микроскоп с
- GB 7667-1996 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
- GB 7667-2003 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
- GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
- GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- GB/T 21637-2008 Способ морфологической идентификации коронавируса с помощью просвечивающей электронной микроскопии
- GB/T 18295-2001 Метод анализа проб песчаника нефтяных и газовых пластов с помощью сканирующего электронного микроскопа
- GB/T 19267.6-2003 Физическое и химическое исследование следов доказательств в судебной медицине. Часть 6. Сканирующая электронная микроскопия.
- GB/T 28044-2011 Общее руководство по методу обнаружения биологического действия наноматериалов с помощью просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ)
- GB/T 17507-1998 Общая спецификация тонких биологических стандартов для рентгено-ЭДС-микроанализа в электронном микроскопе
- GB/T 18873-2002 Общие характеристики просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ) — количественный микроанализ рентгеновского энергодисперсионного спектра (ЭДС) для тонких биологических образцов.
- GB/T 18873-2008 Общее руководство по трансмиссионному электронному микроскопу (ТЕМ) – рентгеновской энергодисперсионной спектрометрии (ЭДС) для количественного микроанализа тонких биологических образцов
- GB/T 23414-2009 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- GB/T 17361-2013 Микролучевой анализ. Идентификация аутигенного глинистого минерала в осадочных породах методом сканирующего электронного микроскопа и энергодисперсионного спектрометра.
- GB/T 19267.6-2008 Физико-химическая экспертиза следов доказательств в судебной медицине. Часть 6: Сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергодисперсионная спектрометрия.
- GB/T 31227-2014 Метод контроля шероховатости поверхности атомно-силовым микроскопом напыленных тонких пленок
- GB/Z 21738-2008 Фундаментальные структуры одномерных наноматериалов. Характеристика просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения.
- GB/T 17507-2008 Общая спецификация тонких биологических стандартов для рентгеновского ЭДС-микроанализа в просвечивающем электронном микроскопе
- GB/T 28873-2012 Общее руководство по сканирующей электронной микроскопии окружающей среды для определения биологических эффектов на топографию, вызванных наночастицами
- GB/T 21636-2008 Микролучевой анализ.Электронно-зондовый микроанализ (ЭПМА).Словарь.
- GB/T 17361-1998 Метод идентификации аутигенного глинистого минерала в осадочных породах с помощью SEM и XEDS.
- GB/T 32189-2015 Атомно-силовая микроскопия. Исследование шероховатости поверхности монокристаллической подложки нитрида галлия.
- GB/T 22092-2018 Микрометрическая головка и микрометр глубины с электронным цифровым дисплеем
- GB/T 22092-2008 Фиксированный микрометр и микрометр глубины с электронным цифровым дисплеем
- GB/T 2679.11-2008 Бумага и картон. Качественный анализ минерального наполнителя и минерального покрытия. Метод SEM/EDAX.
- GB/T 2679.11-1993 Бумага и картон. Качественный анализ минерального наполнителя и минерального покрытия. Метод СЭМ/EDAX
- GB/T 32055-2015 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Методы элементного картографического анализа с использованием спектроскопии с дисперсией по длине волны.
- GB/T 27760-2011 Метод испытаний для калибровки z-увеличения атомно-силового микроскопа на субнанометровых уровнях смещения с использованием одноатомных ступеней Si(111)
- GB/T 28872-2012 Методика испытаний магнитно-слабоударного атомно-силового микроскопа для нанотопографии живых клеток
- GB/T 21638-2008 Руководство по электронно-лучевому микроанализу дефектов стальных материалов
- GB/T 30705-2014 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению экспериментальных параметров для спектроскопии с дисперсией по длине волны.
- GB/T 20725-2006 Рекомендации по электронно-зондовому микроанализу для качественного точечного анализа с помощью рентгеновской спектрометрии с дисперсией по длине волны
- GB/Z 26083-2010 Определение содержания медь(Ⅱ)октаакоксизамещенного фталоцианина на поверхности графита (сканирующий туннельный микроскоп)
- GB/T 28634-2012 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Количественный точечный анализ объемных образцов с использованием рентгеновской спектроскопии с дисперсией по длине волны.
- GB/T 15247-2008 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению содержания углерода в сталях методом калибровочных кривых.
Association of German Mechanical Engineers, электронный микроскоп с
- DVS 2803-1974 Электронно-лучевая сварка в микроскопии (обзор)
- DVS 2801-1968 Контактная сварка в микроскопии (обследование)
- VDI 3861 Blatt 2-2008 Выбросы из стационарных источников. Измерение неорганических волокнистых частиц в выхлопных газах. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- VDI 3492-2004 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- VDI 3492-2013 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
Military Standards (MIL-STD), электронный микроскоп с
American Society for Testing and Materials (ASTM), электронный микроскоп с
- ASTM E2382-04 Руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
- ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2382-04(2012) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
- ASTM E2090-00 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, выделяющихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
- ASTM E2090-12 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
- ASTM E986-97 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E986-04(2017) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-14 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2382-04(2020) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
- ASTM E3143-18a Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
- ASTM E3143-18 Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
- ASTM E766-98(2008)e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E3143-18b Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
- ASTM C1723-16(2022) Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
- ASTM C1723-10 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
- ASTM C1723-16 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
- ASTM D3849-13 Стандартный метод определения технического углерода; Морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
- ASTM D3849-14 Стандартный метод определения технического углерода; Морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
- ASTM E2859-11(2017) Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
- ASTM E285-08(2015) Стандартный метод испытаний теплоизоляционных материалов ацетиленовой абляцией
- ASTM E986-04 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM D3849-95a(2000) Стандартный метод определения технического углерода: размеры первичного агрегата по данным анализа изображений, полученных с помощью электронного микроскопа
- ASTM D3849-07 Стандартный метод определения технического углерода: морфологическая характеристика технического углерода с использованием электронной микроскопии
- ASTM E766-14(2019) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E986-04(2010) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM D3849-22 Стандартный метод определения технического углерода — морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
- ASTM E3143-18b(2023) Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
- ASTM E2859-11(2023) Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
- ASTM E766-14e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM D7201-06(2020) Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии (с возможностью просвечивающей электронной микроскопии)
- ASTM E3060-16 Стандартное руководство по измерению невидимых частиц в биофармацевтическом производстве с использованием динамической (проточной) визуализационной микроскопии
- ASTM B748-90(2006) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM D3849-02 Стандартный метод определения технического углерода: морфологическая характеристика технического углерода с использованием электронной микроскопии
- ASTM D3849-04 Стандартный метод определения технического углерода: морфологическая характеристика технического углерода с использованием электронной микроскопии
- ASTM B748-90(1997) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM D7201-06(2011) Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии (с возможностью просвечивающей электронной микроскопии)
- ASTM E2859-11 Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
- ASTM E2142-08(2015) Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2142-08 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
- ASTM D3849-14a Стандартный метод определения технического углерода — морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
- ASTM E2142-08(2023) Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope
- ASTM B748-90(2010) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2809-13 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/рентгеновской спектрометрии при судебно-медицинской экспертизе красок
- ASTM B748-90(2021) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E1588-95(2001) Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
- ASTM E1588-08 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E1588-10 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E2142-01 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E1588-95 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
- ASTM B748-90(2016) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM D5756-02 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и косвенного анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на массовую концентрацию асбеста
- ASTM D5756-95 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и косвенного анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на массовую концентрацию асбеста
- ASTM B748-90(2001) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM D5755-95 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на содержание структурных чисел асбеста
- ASTM D5755-02 Стандартный метод испытаний микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на содержание структурных чисел асбеста
- ASTM D5756-02(2008) Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии для массовой поверхностной нагрузки асбеста
- ASTM D5755-03 Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на предмет поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста
- ASTM D5755-09 Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на предмет поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста
- ASTM D5755-09(2014)e1 Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии на предмет поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста
- ASTM F1372-93(1999) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM E1588-20 Стандартная практика анализа остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM F1372-93(2020) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM D6056-96(2011) Стандартный метод испытаний для определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте методом просвечивающей электронной микроскопии
- ASTM D605-82(1996)e1 Стандартные спецификации для силикатного магниевого пигмента (талька)
- ASTM D6059-96(2011) Стандартный метод испытаний для определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте методом сканирующей электронной микроскопии
- ASTM F1372-93(2005) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM E280-98(2004)e1 Стандартные эталонные рентгенограммы толстостенных (от 4 &189; до 12 дюймов [от 114 до 305 мм]) стальных отливок
- ASTM E1588-07e1 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E1588-07 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E280-21 Стандартные эталонные рентгенограммы стальных отливок с толстыми стенками (от 412 до 12 дюймов (от 114 до 305 мм))
- ASTM E2809-22 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (СЭМ/ЭДС) при судебно-медицинской экспертизе полимеров
- ASTM F1372-93(2012) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM E2530-06 Стандартная практика калибровки Z-увеличения атомно-силового микроскопа на субнанометровых уровнях смещения с использованием моноатомных ступеней Si(111)
- ASTM D6480-05(2010) Стандартный метод испытаний для отбора проб с поверхностей, непрямой подготовки и анализа концентрации структурного числа асбеста с помощью просвечивающей электронной микроскопии
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, электронный микроскоп с
- GB/T 35098-2018 Микролучевой анализ. Просвечивающая электронная микроскопия. Метод морфологической идентификации вирусов растений с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- GB/T 40300-2021 Микролучевой анализ — Аналитическая электронная микроскопия — Словарь
- GB/T 40066-2021 Нанотехнологии — Измерение толщины оксида графена — Атомно-силовая микроскопия (АСМ).
- GB/T 21636-2021 Микролучевой анализ — Электронно-зондовый микроанализ (ЭПМА) — Словарь
- GB/T 38010.1-2019 Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 1. Идентификация продукта и иерархия продуктов в электронном каталоге.
- GB/T 35099-2018 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия с энергодисперсионной рентгеновской спектрометрией. Морфология и элементный анализ одиночных мелких частиц в окружающем воздухе.
- GB/T 38010.2-2021 Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 2. Коммерческая информация.
- GB/T 38010.3-2021 Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 3. Техническая информация.
- GB/T 4930-2021 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по спецификации сертифицированных эталонных материалов (CRM).
Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), электронный микроскоп с
Professional Standard - Medicine, электронный микроскоп с
- YY 1296-2016 Оптические и фотонные хирургические микроскопы Фотоопасность офтальмологических хирургических микроскопов
German Institute for Standardization, электронный микроскоп с
- DIN 58272:1983 Медицинские инструменты; микроскопические щипцы, мелкий рисунок
- DIN 58272:2009 Медицинские инструменты - Микроскопические щипцы, мелкий рисунок.
- DIN 58272:2016 Медицинские инструменты - Микроскопические щипцы, мелкий рисунок.
- DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
- DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.
- DIN EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021); Немецкая и английская версия prEN ISO 9220:2021.
- DIN EN ISO 19749:2023-07 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
- DIN EN ISO 21363:2022-03 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)
- DIN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988); Немецкая версия EN ISO 9220:1994.
- DIN EN ISO 14880-2:2007 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта (ISO 14880-2:2006); Английская версия DIN EN ISO 14880-2:2007-03
- DIN EN 60749-35:2007-03 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах (IEC 60749-35:2006); Немецкая версия EN 60749-35:2006.
- DIN ISO 16000-27:2014-11 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующая электронная микроскопия) (прямой метод) (ISO 16000-27:2014)
- DIN EN ISO 14880-4:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 4. Методы испытаний геометрических свойств (ISO 14880-4:2006). Английская версия DIN EN ISO 14880-4:2006-08.
- DIN 50452-1:1995 Испытание материалов для полупроводниковой техники. Метод испытаний для анализа частиц в жидкостях. Часть 1. Микроскопическое определение частиц.
- DIN EN ISO 17751-2:2016-11 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии (ISO 17751-2:2016); Немецкая версия EN ISO 17751-2:2016 / Примечание. Заменяется стандартом DIN EN ISO 17751-2 (2022-09).
- DIN EN ISO 17751-2:2022-09 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии (ISO/DIS 17751-2:2022); Немецкая и английская версия prEN ISO 17751-2:2022 / Примечание: Дата выпуска 19.08.2022*I...
Professional Standard - Petroleum, электронный микроскоп с
- SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
- SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
- SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, электронный микроскоп с
- DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- DB31/T 315-2004 Метод калибровки увеличения просвечивающего электронного микроскопа
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, электронный микроскоп с
International Electrotechnical Commission (IEC), электронный микроскоп с
国家能源局, электронный микроскоп с
- SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
工业和信息化部, электронный микроскоп с
- YB/T 4676-2018 Анализ выделенных фаз в стали методом просвечивающей электронной микроскопии
- SJ/T 11759-2020 Измерение соотношения сторон линии электродной сетки фотоэлектрического элемента Лазерная сканирующая конфокальная микроскопия
Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, электронный микроскоп с
- DB32/T 3459-2018 Сканирующая электронная микроскопия для измерения микроплощади покрытия графеновых пленок
Professional Standard - Judicatory, электронный микроскоп с
Professional Standard - Commodity Inspection, электронный микроскоп с
- SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.
- SN/T 3798-2014 Определение асбеста в строительных и автомобильных материалах. Поляризационный микроскоп.
- SN/T 2649.1-2010 Определение асбеста в косметике для импорта и экспорта. Часть 1: Метод рентгеновской дифракции и сканирующей электронной микроскопии.
ESDU - Engineering Sciences Data Unit, электронный микроскоп с
- SPB-M6-3-2010 Апрель 08: Атомно-силовая микроскопия (основы техники)
- SPB-M6-2-2010 Апрель 08: Коллоидные взаимодействия между асфальтенами и различными поверхностями, измеренные с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ)
- SPB-M2-1-2007 Межфазные и реологические свойства асфальтенов изучены методом атомно-силовой микроскопии.
- SPB-M6-1-2010 Апрель 08: Межфазные и реологические свойства асфальтенов, исследованные с помощью АСМ.
- SPB-M14-1-2010 10 сентября: Взаимодействия и реологические свойства асфальтенов, изученные с помощью атомно-силовой микроскопии.
SE-SIS, электронный микроскоп с
- SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- SIS SS CECC 00013-1985 Базовая спецификация: проверка полупроводниковых кубиков с помощью сканирующего электронного микроскопа.
- SIS SS 11 11 15-1985 Сталь. Метод оценки содержания шлаковых включений. Микроскопические методы. Ручной подсчет частиц и расчет распределения по размерам.
European Committee for Standardization (CEN), электронный микроскоп с
- EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
- EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)
- EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220: 1988).
- EN ISO 14880-1:2019 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 1. Словарь (ISO 14880-1:2019)
- EN ISO 14880-1:2005 Оптика и фотоника. Микролинзовая решетка. Часть 1. Словарь.
- EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
- prEN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)
- prEN ISO 21363:2021 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)
- EN ISO 14880-2:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта.
- EN ISO 14880-4:2006 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 4. Методы испытаний геометрических свойств.
Danish Standards Foundation, электронный микроскоп с
- DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- DS/ISO 10936-2:2010 Оптика и фотоника. Операционные микроскопы. Часть 2. Световая опасность от операционных микроскопов, используемых в глазной хирургии.
- DS/ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
- DS/ISO 19749:2021 Нанотехнологии – Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- DS/ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии - реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии.
- DS/EN 60749-35:2007 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах
- DS/ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
ES-UNE, электронный микроскоп с
- UNE-EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
- UNE-EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020) (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в феврале 2022 г.)
- UNE-EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021) (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в мае 2023 г.)
- UNE-EN 60749-35:2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах (IEC 60749-35:2006) (Одобрено AENOR в январе 2007 г.)
Professional Standard - Public Safety Standards, электронный микроскоп с
- GA/T 1939-2021 Судмедэкспертиза Текущая точечная экспертиза Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1938-2021 Судмедэкспертиза Проверка металлов Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1937-2021 Судебная медицина Проверка резины Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 909-2010 Метод сбора и упаковки следов огнестрельных улик (исследование SEM/EDS)
- GA/T 1522-2018 Судмедэкспертиза Осмотр остатков стрельбы Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1521-2018 Судебная медицина Исследование элементного состава пластмасс Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1519-2018 Судмедэкспертиза Проверка элементного состава тонера Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1520-2018 Судебно-медицинская экспертиза черного пороха, проверка элементного состава пиротехнического порошка, сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергетическая спектрометрия
- GA/T 823.3-2018 Методы исследования красочных доказательств в судебной медицине. Часть 3: Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
IT-UNI, электронный микроскоп с
- UNI 7604-1976 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для микрофрактографического исследования.
- UNI 7329-1974 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для исследования микроструктуры.
PH-BPS, электронный микроскоп с
- PNS ISO 21363:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
AENOR, электронный микроскоп с
- UNE-EN ISO 9220:1996 МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОКРЫТИЯ. ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ. МЕТОД РАССИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ. (ИСО 9220:1988).
- UNE 77236:1999 ОКРУЖАЮЩИЙ ВОЗДУХ. ОПРЕДЕЛЕНИЕ СОДЕРЖАНИЯ АСБЕСТОВЫХ ВОЛОКОН. МЕТОД ПРЯМОТРАНСФЕРНОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ.
Lithuanian Standards Office , электронный микроскоп с
- LST EN ISO 9220:2001 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988)
- LST EN 60749-35-2007 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах (IEC 60749-35:2006)
Society of Automotive Engineers (SAE), электронный микроскоп с
- SAE ARP598C-2003 (R) Аэрокосмическая микроскопия определения размеров и подсчета твердых частиц в гидроэнергетических системах
AT-ON, электронный микроскоп с
- OENORM EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)
- OENORM EN ISO 21363:2021 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)
Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, электронный микроскоп с
- GJB 5384.22-2005 Методы испытаний работоспособности пиротехнических составов Часть 21. Определение концентрации количества твердых частиц дыма Метод электронной микроскопии
- GJB 5384.23-2005 Методы испытаний работоспособности пиротехнических составов Часть 23. Определение гранулометрического состава твердых частиц дыма Метод электронной микроскопии
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, электронный микроскоп с
- GJB 8684.22-2015 Методы испытаний пиротехнических свойств. Часть 22. Определение числовой концентрации твердых частиц дыма методом электронной микроскопии.
- GJB 8684.23-2015 Методы испытаний пиротехнических свойств. Часть 23. Определение гранулометрического состава твердых частиц дыма методом электронной микроскопии.
CN-STDBOOK, электронный микроскоп с
- 图书 a-4565 Практические методы электронного микроанализа
未注明发布机构, электронный микроскоп с
- BS CECC 13:1985(1999) Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: Базовая спецификация: Проверка полупроводниковых кристаллов сканирующим электронным микроскопом.
- DIN EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии – измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
BE-NBN, электронный микроскоп с
- NBN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988).
IPC - Association Connecting Electronics Industries, электронный микроскоп с
- IPC/JEDEC J-STD-035 CD-1999 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов в капсулах (включает поправку 1: январь 2007 г.)
Professional Standard - Nuclear Industry, электронный микроскоп с
- EJ/T 20176-2018 Метод измерения остроты кромки алмазного инструмента с помощью атомно-силового микроскопа
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, электронный микроскоп с
- CNS 12114-1987 Измерение толщины металлических и оксидных покрытий путем микроскопического исследования поперечного сечения
American National Standards Institute (ANSI), электронный микроскоп с
- ANSI/ASTM D6059:2001 Метод испытаний для определения концентрации аэрозольных монокристаллических керамических усов в рабочей среде методом сканирующей электронной микроскопии
- ANSI/ASTM D6056:2001 Метод испытаний для определения концентрации аэрозольных монокристаллических керамических усов в рабочей среде методом просвечивающей электронной микроскопии
CU-NC, электронный микроскоп с
- NC 90-01-50-1987 Метрологическое обеспечение. Инструментальные микроскопы. Методы и средства проверки.
GOSTR, электронный микроскоп с
- PNST 508-2020 Нанотехнологии. Одностенные углеродные нанотрубки. Характеристика методами сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии.
- PNST 507-2020 Нанотехнологии. Одностенные углеродные нанотрубки. Характеристика с помощью просвечивающей электронной микроскопии и энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии.
YU-JUS, электронный микроскоп с
- JUS U.M1.056-1993 Бетон. Определение содержания и факторного расстояния между порами газобетона с помощью линейного микроскопа.
IX-IX-IEC, электронный микроскоп с
- IEC TS 62607-6-17:2023 Нанопроизводство. Ключевые контрольные характеристики. Часть 6-17. Материал на основе графена. Параметр порядка: рентгеновская дифракция и просвечивающая электронная микроскопия.