Пробоподготовка для атомно-силовой микроскопии

Пробоподготовка для атомно-силовой микроскопии, Всего: 16 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Пробоподготовка для атомно-силовой микроскопии, являются: Физика. Химия, Линейные и угловые измерения, Оптика и оптические измерения, Керамика, Испытание металлов, Защита от опасных грузов, Качество воздуха.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Пробоподготовка для атомно-силовой микроскопии

GB/T 32262-2015 Подготовка образца дезоксирибонуклеиновой кислоты для измерения с помощью атомно-силового микроскопа

American Society for Testing and Materials (ASTM), Пробоподготовка для атомно-силовой микроскопии

ASTM E2382-04 Руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM E2382-04(2012) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM D6480-05(2010) Стандартный метод испытаний для отбора проб с поверхностей, непрямой подготовки и анализа концентрации структурного числа асбеста с помощью просвечивающей электронной микроскопии
ASTM D6480-99 Стандартный метод испытаний для отбора проб с поверхностей, непрямой подготовки и анализа концентрации структурного числа асбеста с помощью просвечивающей электронной микроскопии
ASTM E1741-00 Стандартная практика подготовки проб взвешенных в воздухе твердых частиц свинца, собранных в ходе работ по снижению выбросов и строительных работ, для последующего анализа с помощью атомной спектрометрии
ASTM D6480-05 Стандартный метод испытаний для отбора проб с поверхностей, непрямой подготовки и анализа концентрации структурного числа асбеста с помощью просвечивающей электронной микроскопии

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Пробоподготовка для атомно-силовой микроскопии

GB/T 28872-2012 Методика испытаний магнитно-слабоударного атомно-силового микроскопа для нанотопографии живых клеток

German Institute for Standardization, Пробоподготовка для атомно-силовой микроскопии

DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)

SCC, Пробоподготовка для атомно-силовой микроскопии

AS 2061:1977 Правила подготовки проб каменного угля для микроскопического исследования в отраженном свете

PL-PKN, Пробоподготовка для атомно-силовой микроскопии

PN H87903-1972 Расследования о? отливки из медных сплавов Подготовка и отбор проб? кусочки для микроскопических исследований

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Пробоподготовка для атомно-силовой микроскопии

JIS R 1633:1998 Способ подготовки образцов тонкой керамики и мелкодисперсных керамических порошков для наблюдения на сканирующем электронном микроскопе

IT-UNI, Пробоподготовка для атомно-силовой микроскопии

UNI 7604-1976 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для микрофрактографического исследования.
UNI 7329-1974 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для исследования микроструктуры.

International Electrotechnical Commission (IEC), Пробоподготовка для атомно-силовой микроскопии

IEC TS 62607-6-2:2023 Нанопроизводство. Ключевые характеристики контроля. Часть 6-2. Графен. Количество слоев: атомно-силовая микроскопия, оптическое пропускание, рамановская спектроскопия.

未注明发布机构, Пробоподготовка для атомно-силовой микроскопии

ASTM RR-D22-1038 2019 D6480-Метод испытаний для отбора проб с поверхностей, непрямой подготовки и анализа поверхностной нагрузки на структурный номер асбеста с помощью просвечивающей электронной микроскопии