ZH
EN
ES

полупроводниковое оборудование

полупроводниковое оборудование, Всего: 197 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к полупроводниковое оборудование, являются: Самолеты и космические аппараты в целом, Полупроводниковые приборы, Электромеханические компоненты электронного и телекоммуникационного оборудования, Выпрямители. Конвертеры. Стабилизированный источник питания, Словари, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Электротехника в целом, Электронные компоненты в целом, Конденсаторы, Электрические аксессуары, Линейные и угловые измерения, Безопасность техники, Системы промышленной автоматизации, Телекоммуникационные системы, Качество воздуха, Защита от огня, Технические рисунки, Механические конструкции электронного оборудования.

Defense Logistics Agency, полупроводниковое оборудование

DLA MIL-DTL-19491 H-2002 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ПРИБОРЫ, УПАКОВКА
DLA MIL-S-19500/173 A VALID NOTICE 3-2011 Полупроводниковые приборы, транзисторы типов 2N389 и 2N424 (ВМФ)
DLA MIL-PRF-19500/597 D VALID NOTICE 1-2008 Полупроводниковые приборы, транзисторы, четырехъядерные, полевые, NChannel, кремниевые, тип 2N7334, JAN, JANTX, JANTXV, JANS, JANHC, JANKCA2N7334 и JANHCA2N7334.

CZ-CSN, полупроводниковое оборудование

CSN 35 8720 Cast.1-1987 Полупроводниковые приборы. Размеры
CSN 35 8756-1973 Полупроводниковые приборы. Транзисторы Измерение y-параметров
CSN IEC 749:1994 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний.
CSN 35 8742-1973 Полупроводниковые приборы. Транзисторы. Измерение токов отключения
CSN 35 8754-1973 Полупроводниковые приборы. Транзисторы. Измерение допуска короткого замыкания на выходе
CSN 35 8737-1975 Полупроводниковые приборы. Диоды. Измерение дифференциального росистаэя
CSN IEC 748-1:1993 Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 1: Общие сведения
CSN 35 8759-1977 Полупроводниковые приборы. Транзисторы. Методы измерения времени переключения
CSN 35 8971 Cast.1-1984 Полупроводниковые приборы. Подложки для масок и масок. Номенклатура и определения
CSN 35 8731-1975 Полупроводниковые приборы. Диоды Измерение прямого напряжения постоянного тока
CSN 35 8763-1973 Полупроводниковые приборы. Диоды. Измерение о? обратное напряжение пробоя
CSN 35 8797 Cast.8 IEC 747-8 ZA1+A2:1996 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 8: Полевой транзистор
CSN 35 8785-1975 Полупроводниковые приборы. Варикапы. Измерение коэффициента термоемкости.
CSN IEC 748-3:1994 Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 3: Аналоговые интегральные схемы
CSN IEC 748-2:1994 Полупроводниковые приборы.Интегральные схемы.Часть 2:Цифровые интегральные схемы.
CSN IEC 748-4:1994 Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 4. Интерфейсные интегральные схемы.
CSN 35 8733-1975 Полупроводниковые приборы. Диоды. Измерение обратного напряжения (рабочего напряжения)
CSN 35 8764-1976 Полукоадуктивные устройства. Переключение диодов. Измерение о? обратное время восстановления.
CSN 35 8765-1976 Полупроводниковые приборы. Переключение диодов. Измерение обратного возмещения.
CSN 35 8761-1973 Полупроводниковые приборы. Фототранзисторы фотодиоды. Измерение фотоэлектрического тока
CSN 35 8762-1973 Полупроводниковые приборы. Фототранзисторы, фотодиоды. Измерение темнового тока
CSN 35 8752-1976 Полупроводниковые приборы. Транзисторы. Методы измерения выходной емкости с общей базой.
CSN 35 8797 Cast.1 IEC 747-1 Z2:1996 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства и интегральные схемы. Пари 1: Общие сведения.
CSN 35 8749-1973 Полупроводниковые приборы. Транзисторы. Измерение абсолютного значения прямой передачи короткого замыкания
CSN IEC 747-10:1994 Полупроводниковые приборы. Часть 10. Общая спецификация для дискретных устройств и интегральных схем.
CSN 35 8797 Cast.2 IEC 747-2:1990 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства и интегральные схемы. Часть 2: Выпрямительные диоды
CSN IEC 747-3-2:1991 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 3. Сигнальные (включая коммутационные) и регуляторные диоды. Раздел второй. Бланковая подробная спецификация на диоды стабилизатора напряжения и диоды опорного напряжения, за исключением прецизионных эталонных образцов с температурной компенсацией.
CSN 35 8797 Cast.3 IEC 747-3 ZA1+A2:1996 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 3: Сигнальные (включая коммутационные) и регуляторные диоды
CSN 35 8746-1973 Полупроводниковые приборы. Транзистор. Измерение абсолютного значения коэффициента передачи прямого тока и частот fT, fh21b, fh21e
CSN 35 8745-1973 Полупроводниковые приборы. Транзистор. Измерение коэффициента передачи обратного напряжения холостого хода и коэффициента Тини на высоких частотах.
CSN IEC 748-20:1993 Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 20: Общая спецификация пленочных интегральных схем и гибридных пленочных интегральных схем.

BE-NBN, полупроводниковое оборудование

NBN C 95-001-1977 Полупроводниковое оборудование. термин

SE-SIS, полупроводниковое оборудование

SIS SEN 01 03 51-1966 Полупроводниковые приборы Терминология
SIS SEN 01 03 51-1976 Полупроводниковые приборы Терминология
SIS SS-IEC 747:1991 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства.
SIS SS-IEC 748:1991 Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы.
SIS SS-IEC 749:1991 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний
SIS SEN 47 10 03-1973 Радиопомехи. Пределы и методы измерения напряжения помех для регулирующих органов на основе полупроводниковых приборов

British Standards Institution (BSI), полупроводниковое оборудование

BS IEC 60747-14-3:2009 Полупроводниковые приборы - Полупроводниковые датчики - Датчики давления
BS EN 60747-15:2012 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Изолированные силовые полупроводниковые приборы
BS EN IEC 62435-3:2020 Электронные компоненты. Длительное хранение электронных полупроводниковых приборов - Данные
BS EN 62435-1:2017 Электронные компоненты. Длительное хранение электронных полупроводниковых приборов. Общие сведения.
BS EN 62435-5:2017 Электронные компоненты - Долговременное хранение электронных полупроводниковых приборов. - Часть 5: Устройства на кристаллах и пластинах.
18/30367158 DC БС ЕН 62435-3. Электронные компоненты. Длительное хранение электронных полупроводниковых приборов. Часть 3. Данные
20/30424473 DC БС ЕН 62435-9. Электронные компоненты. Длительное хранение электронных полупроводниковых приборов. Часть 9. Особые случаи
BS EN 60204-33:2011 Безопасность техники. Электрооборудование машин. Требования к оборудованию для производства полупроводников
BS EN 60749-44:2016 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Метод испытания на однособытийный эффект (SEE) при облучении нейтронным лучом для полупроводниковых приборов
BS EN 62047-13:2012 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности сцепления МЭМС-структур
BS EN 60191-6-18:2010 Механическая стандартизация полупроводниковых приборов. Общие правила оформления габаритных чертежей корпусов полупроводниковых приборов поверхностного монтажа. Руководство по проектированию массива шариковых решеток (BGA)

YU-JUS, полупроводниковое оборудование

JUS N.A3.500-1980 Полупроводниковые приборы. Графические символы
JUS N.E5.240-1991 Низковольтные предохранители. Дополнительные требования к плавким вставкам для защиты полупроводниковых приборов

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, полупроводниковое оборудование

GB/T 15872-1995 Интерфейс питания полупроводникового оборудования
GB/T 15872-2013 Интерфейс питания полупроводникового оборудования
GB/T 24468-2009 Спецификация для определения и измерения надежности, доступности и ремонтопригодности полупроводникового оборудования (ОЗУ)
GB/T 13539.4-2016 Предохранители низковольтные. Часть 4. Дополнительные требования к плавким вставкам для защиты полупроводниковых приборов.
GB/T 13539.4-2005 Плавкие предохранители низковольтные Часть 4. Дополнительные требования к плавким вставкам для защиты полупроводниковых приборов
GB/T 13539.4-2009 Предохранители низковольтные. Часть 4. Дополнительные требования к плавким вставкам для защиты полупроводниковых приборов.
GB 10292-1988 Полупроводниковое выпрямительное оборудование для телекоммуникаций

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, полупроводниковое оборудование

JEDEC JESD30E-2008 Система описательного обозначения корпусов полупроводниковых приборов
JEDEC JEP104C.01-2003 Справочное руководство по буквенным обозначениям полупроводниковых приборов
JEDEC JESD31D-2010 Общие требования к дистрибьюторам коммерческих и военных полупроводниковых приборов
JEDEC JESD31D.01-2012 Общие требования к дистрибьюторам коммерческих и военных полупроводниковых приборов
JEDEC JESD57-1996 Методики испытаний для измерения одиночных эффектов в полупроводниковых устройствах от облучения тяжелыми ионами
JEDEC JESD89A-2006 Измерение и отчетность об альфа-частицах и мягких ошибках, вызванных земными космическими лучами, в полупроводниковых устройствах
JEDEC JESD419A-1980 Стандартный список значений, которые будут использоваться в спецификациях полупроводниковых устройств и форматах регистрации. Редакция EIA RS-419-A (ранее RS-419) [Заменено: JEDEC EIA-419-A]

IN-BIS, полупроводниковое оборудование

IS 5000 OC.1-1969 Размеры корпуса полупроводникового оборудования OC1
IS 5000 OC.5-1969 Размеры корпуса полупроводникового оборудования OC5
IS 5000 OC.3-1969 Размеры корпуса полупроводникового оборудования OC3

工业和信息化部, полупроводниковое оборудование

SJ/T 11762-2020 Требования к идентификации информации о производстве полупроводникового оборудования
SJ/T 11761-2020 Спецификация портов загрузки полупроводникового оборудования для пластин диаметром 200 мм и ниже

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, полупроводниковое оборудование

EN IEC 63244-1:2021 Полупроводниковые устройства. Полупроводниковые устройства для беспроводной передачи энергии и зарядки. Часть 1. Общие требования и технические характеристики.
EN 62047-20:2014 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 20. Гироскопы.
EN 62047-5:2012 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 5. Радиочастотные МЭМС-переключатели.
EN 62047-5:2011 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 5. Радиочастотные МЭМС-переключатели.
EN 62047-19:2013 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 19. Электронные компасы.
EN 62047-4:2010 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 4. Общая спецификация для МЭМС.
EN IEC 62969-3:2018 Полупроводниковые устройства. Полупроводниковый интерфейс для автомобильных транспортных средств. Часть 3. Сбор пьезоэлектрической энергии с ударным механизмом для датчиков автомобильных транспортных средств.
EN 60749-34:2010 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 34. Выключение и выключение питания
EN 62779-2:2016 Полупроводниковые устройства. Полупроводниковый интерфейс для связи с телом человека. Часть 2. Характеристика характеристик интерфейса.
EN IEC 60749-10:2022 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 10. Механический удар. Устройство и узлы.
EN 60269-4:2009/A2:2016 Предохранители низковольтные. Часть 4. Дополнительные требования к плавким вставкам для защиты полупроводниковых приборов
EN 60269-4:2009 Предохранители низковольтные. Часть 4. Дополнительные требования к плавким вставкам для защиты полупроводниковых приборов
EN 62047-7:2011 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 7. MEMS BAW-фильтр и дуплексер для радиочастотного управления и выбора.
EN IEC 60749-37:2022 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 37. Метод испытания падением уровня платы с использованием акселерометра.
EN IEC 60749-30:2020 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 30. Предварительная подготовка негерметичных устройств поверхностного монтажа перед испытанием на надежность

Association Francaise de Normalisation, полупроводниковое оборудование

NF C63-244-1*NF EN IEC 63244-1:2021 Полупроводниковые устройства. Полупроводниковые устройства для беспроводной передачи энергии и зарядки. Часть 1. Общие требования и технические характеристики.
NF C96-005-5*NF EN IEC 60747-5-5:2020 Полупроводниковые приборы. Часть 5-5: Оптоэлектронные устройства. Фотопары.
NF C96-005-5/A1*NF EN 60747-5-5/A1:2015 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 5-5. Оптоэлектронные устройства. Фотопары.
NF EN 62779-1:2016 Полупроводниковые приборы. Полупроводниковый интерфейс для связи через тело человека. Часть 1. Общие требования.
NF C96-779-2*NF EN 62779-2:2016 Полупроводниковые устройства. Полупроводниковый интерфейс для связи с телом человека. Часть 2. Характеристика характеристик интерфейса.
NF C96-435-6*NF EN IEC 62435-6:2018 Электронные компоненты. Долговременное хранение электронных полупроводниковых приборов. Часть 6. Упакованные или готовые устройства.
NF C96-069-3*NF EN IEC 62969-3:2018 Полупроводниковые устройства. Полупроводниковый интерфейс для автомобильных транспортных средств. Часть 3. Сбор пьезоэлектрической энергии с ударным приводом для датчиков автомобильных транспортных средств.
NF C60-200-4/A2*NF EN 60269-4/A2:2017 Предохранители низковольтные. Часть 4. Дополнительные требования к плавким вставкам для защиты полупроводниковых приборов
NF EN 62779-3:2016 Полупроводниковые приборы. Полупроводниковый интерфейс для связи через тело человека. Часть 3. Функциональный тип и условия его использования.
NF C96-047*NF EN IEC 60747-17:2020 Полупроводниковые приборы. Часть 17. Магнитная и емкостная связь для основной и усиленной изоляции.

International Electrotechnical Commission (IEC), полупроводниковое оборудование

IEC 63244-1:2021 Полупроводниковые устройства. Полупроводниковые устройства для беспроводной передачи энергии и зарядки. Часть 1. Общие требования и технические характеристики.
IEC 60747-5-6:2016 Полупроводниковые приборы. Часть 5-6. Оптоэлектронные приборы. Светодиоды.
IEC 60747-5-6:2021 Полупроводниковые приборы. Часть 5-6. Оптоэлектронные приборы. Светодиоды.
IEC 62435-4:2018 Электронные компоненты. Долговременное хранение электронных полупроводниковых приборов. Часть 4. Хранение.
IEC 60747-5-7:2016 Полупроводниковые приборы. Часть 5-7. Оптоэлектронные приборы. Фотодиоды и фототранзисторы.
IEC 62435-2:2017 Электронные компоненты. Длительное хранение электронных полупроводниковых приборов. Часть 2. Механизмы разрушения.
IEC 60269-4:2012 Предохранители низковольтные. Часть 4. Дополнительные требования к плавким вставкам для защиты полупроводниковых приборов
IEC 60269-4:2006 Предохранители низковольтные. Часть 4. Дополнительные требования к плавким вставкам для защиты полупроводниковых приборов
IEC 62435-5:2017 Электронные компоненты. Долговременное хранение электронных полупроводниковых приборов. Часть 5. Устройства на кристаллах и пластинах.
IEC 60748-3:1986/AMD2:1994/COR1:1996 Исправление 1 к Поправке 2 – Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 3: Аналоговые интегральные схемы
IEC 60269-4/AMD2:2002 Предохранители низковольтные. Часть 4. Дополнительные требования к плавким вставкам для защиты полупроводниковых приборов; Поправка 2
IEC 60749-37:2022 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 37. Метод испытания падением уровня платы с использованием акселерометра.
IEC 60747-17:2021 Исправление 1. Полупроводниковые приборы. Часть 17. Магнитная и емкостная связь для основной и усиленной изоляции.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), полупроводниковое оборудование

KS C IEC 62047-5:2015 Полупроводниковые приборы. МЭМС-устройства. Часть 5. Радиочастотные МЭМС-переключатели.
KS C IEC 60204-33-2010(2020) Руководство по безопасности для оборудования для производства полупроводников

BELST, полупроводниковое оборудование

STB 2340-2013 Радиаторы охлаждения полупроводниковых приборов. Основные Характеристики
STB 2365-2014 Радиаторы охлаждения полупроводниковых приборов. Методы расчета

RO-ASRO, полупроводниковое оборудование

STAS 6693/2-1975 Полупроводниковые приборы ТРАНЗИСТОРЫ Методы измерения электрических свойств
STAS 12258/5-1986 ОПТОЭЛЕКТРОННЫЕ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ПРИБОРЫ ДИСПЛЕИ Терминология и существенные характеристики
STAS 7128/1-1985 БУКВЕННЫЕ СИМВОЛЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ И ИНТЕГРАЛЬНЫХ ЦЕПЕЙ Общие правила
STAS 7128/9-1980 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ПРИБОРЫ И ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ Буквенные обозначения однопереходных транзисторов
STAS 12258/4-1986 Оптоэлектронные полупроводниковые приборы СВЕТОДИОДЫ Терминология и основные характеристики
STAS 7128/6-1986 БУКВЕННЫЕ СИМВОЛЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ И ИНТЕГРАЛЬНЫХ ЦЕПЕЙ Символы тиристоров
STAS 7128/4-1971 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ПРИБОРЫ И ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ Буквенные обозначения диодов Луннеля
STAS 12124/1-1982 Полупроводниковые приборы БИПОЛЯРНЫЕ ТРАНЗИСТОРЫ Методы измерения электрических статических параметров
STAS 12123/4-1984 Полупроводниковые приборы ДИОДЫ ПЕРЕМЕННОЙ ЕМКОСТИ Методы измерения электрических характеристик
STAS 7128/5-1985 БУКВЕННЫЕ ОБОЗНАЧЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ И ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ. Обозначения выпрямительных диодов.
STAS 7128/2-1986 БУКВЕННЫЕ ОБОЗНАЧЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ И ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОЦЕПЕЙ. Обозначения биполярных транзисторов.
STAS 12124/3-1983 Полупроводниковые приборы FIFL D-EFFECT TRANZISTORS Методы измерения электрических статических параметров
STAS 12124/4-1983 Полупроводниковые приборы ПОЛЕВЫЕ ТРАНЗИСТОРЫ Методы измерения электрических статических параметров
STAS 7128/8-1986 БУКВЕННЫЕ СИМВОЛЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ И ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ. Символы полевых транзисторов.
STAS 7128/11-1985 СИМВОЛЫ T.ETTJ?R ДЛЯ ЭЛЕКТРОПРОВОДНИКОВЫХ УСТРОЙСТВ И ИНТЕГРИРОВАННЫХ ЦЕПЕЙ Символы для цифровых интегральных схем
STAS 7128/10-1984 БУКВЕННЫЕ СИМВОЛЫ ДЛЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ УСТРОЙСТВ ANI) INTF.GHATED CIRCU1TS Синиболы для аналоговых включенных цепей
STAS 7128/7-1986 БУКВЕННЫЕ СИМВОЛЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ И ИНТЕГРИРОВАННЫХ СХЕМ. Символы диодов переменной емкости и смесительных диодов.
STAS 7128/12-1985 БУКВЕННЫЕ СИМВОЛЫ ЭМИПРОВОДНИКОВЫХ УСТРОЙСТВ И ИНТЕГРИРОВАННЫЕ ЦЕПИ, обозначающие диоды опорного напряжения и регулятора напряжения.
STAS 7128/3-1985 БУКВЕННЫЕ СИМВОЛЫ ДЛЯ УСТРОЙСТВ SEM1-ONDUCR И ИНТЕГРИРОВАННЫХ M SOROC IRCUTS Символы для маломощных сигнальных диодов
STAS 12123/3-1983 Полупроводниковые приборы ДИОДЫ ЗАДАНИЯ НАПРЯЖЕНИЯ И ДИОДЫ РЕГУЛЯТОРА НАПРЯЖЕНИЯ Методы измерения электрических характеристик
STAS 12123/2-1983 Полупроводниковые приборы СИГНАЛЬНЫЕ ДИОДЫ МАЛОЙ МОЩНОСТИ, ВКЛЮЧАЯ КОММУТАЦИОННЫЕ ДИОДЫ Методы измерения электрических характеристик
SR CEI 748-11-1-1992 Полупроводниковые приборы Интегральные схемы Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный осмотр полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем.

Standard Association of Australia （SAA）, полупроводниковое оборудование

AS 1852.521:1988 Международный электротехнический словарь - Полупроводниковые приборы и интегральные схемы

Group Standards of the People's Republic of China, полупроводниковое оборудование

T/QGCML 744-2023 Спецификация процесса химической очистки деталей полупроводникового оборудования
T/QGCML 743-2023 Технические условия на процесс анодирования деталей полупроводникового оборудования

PL-PKN, полупроводниковое оборудование

PN T01208-01-1992 Полупроводниковые приборы Биполярные транзисторы Терминология и буквенные обозначения
PN T01501 ArkusZ4-1973 Полупроводниковые символы deyictj Буквенные обозначения параметров полевых транзисторов

AT-OVE/ON, полупроводниковое оборудование

OVE EN IEC 63244-1:2020 Полупроводниковые устройства. Полупроводниковые устройства для беспроводной передачи энергии и зарядки. Часть 1. Общие требования и технические характеристики (IEC 47/2653/CDV) (английская версия)
OVE EN IEC 60747-5-5:2021 Полупроводниковые приборы. Часть 5-5. Оптоэлектронные устройства. Фотопары ((IEC 60747-5-5:2020) EN IEC 60747-5-5:2020) (немецкая версия)
OVE EN IEC 60749-10:2021 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 10. Механический удар. Устройство и узлы (IEC 47/2692/CDV) (английская версия)

RU-GOST R, полупроводниковое оборудование

GOST R IEC 748-11-1-2001 Полупроводниковые приборы интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный осмотр полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем
GOST 31196.4-2012 Предохранители низкого напряжения. Часть 4. Дополнительные требования к плавким вставкам для защиты полупроводниковых приборов

Danish Standards Foundation, полупроводниковое оборудование

DS/EN 62047-5:2011 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 5. Радиочастотные МЭМС-переключатели.
DS/EN 62047-19:2013 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 19. Электронные компасы.
DS/EN 62047-4:2010 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 4. Общая спецификация для МЭМС.
DS/EN 60749-34:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 34. Выключение и выключение питания
DS/EN 62047-9:2011 Полупроводниковые устройства. Микроэлектромеханические устройства. Часть 9. Измерение прочности соединения между пластинами для МЭМС.
DS/EN 60269-4:2010 Предохранители низковольтные. Часть 4. Дополнительные требования к плавким вставкам для защиты полупроводниковых приборов
DS/EN 60269-4/A1:2012 Предохранители низковольтные. Часть 4. Дополнительные требования к плавким вставкам для защиты полупроводниковых приборов
DS/EN 60749-14:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 14. Прочность выводов (целостность выводов)
DS/EN 62047-7:2011 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 7. MEMS BAW-фильтр и дуплексер для радиочастотного управления и выбора.
DS/EN 60749-37:2008 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 37. Метод испытания падением уровня платы с использованием акселерометра.
DS/EN 60749-30/A1:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 30. Предварительная подготовка негерметичных устройств поверхностного монтажа перед испытанием на надежность
DS/EN 60749-30:2005 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 30. Предварительная подготовка негерметичных устройств поверхностного монтажа перед испытанием на надежность

AENOR, полупроводниковое оборудование

UNE 20700-11:1991 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ПРИБОРЫ. ЧАСТЬ 11: СЕКЦИОННАЯ СПЕЦИФИКАЦИЯ ДЛЯ ДИСКРЕТНЫХ УСТРОЙСТВ.
UNE-EN 60269-4:2011/A2:2017 Предохранители низковольтные. Часть 4. Дополнительные требования к плавким вставкам для защиты полупроводниковых приборов
UNE-EN 60269-4:2011/A1:2013 Предохранители низковольтные. Часть 4. Дополнительные требования к плавким вставкам для защиты полупроводниковых приборов
UNE-EN 60749-30:2005/A1:2011 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 30. Предварительная подготовка негерметичных устройств поверхностного монтажа перед испытанием на надежность

AIA/NAS - Aerospace Industries Association of America Inc., полупроводниковое оборудование

NAS4118-1996 Радиатор@ Электрические и электронные компоненты@ Полупроводниковые приборы@ Тип фиксатора

PT-IPQ, полупроводниковое оборудование

NP 2626-521-2001 Международный электротехнический словарь Глава 521: Полупроводниковые приборы и интегральные схемы

Aerospace Industries Association, полупроводниковое оборудование

AIA NAS 4118-1996 Радиатор, Электрические и электронные компоненты, Полупроводниковые приборы, Тип фиксатора
AIA NAS 4123-1995 Радиатор, электроэлектронный компонент, полупроводниковые устройства, для корпусов с двойным расположением линии (DIP)

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), полупроводниковое оборудование

IEEE Std 1687-2014 Стандарт IEEE для доступа и управления приборами, встроенными в полупроводниковое устройство
IEEE 1687-2014 Доступ и контроль приборов, встроенных в полупроводниковое устройство (Компьютерное общество IEEE)
IEEE P1687/D1.62, September 2013 Проект стандарта IEEE для доступа и управления приборами, встроенными в полупроводниковое устройство
IEEE P1687/D1.71, March 2014 Утвержденный IEEE проект стандарта доступа и управления приборами, встроенными в полупроводниковые устройства

American National Standards Institute （ANSI), полупроводниковое оборудование

ANSI/EIA 401:1973 Бумажные, бумажные/пленочные диэлектрические конденсаторы для силовых полупроводниковых приборов
ANSI/NFPA 318-2011 Стандарт по защите объектов по производству полупроводников

SAE - SAE International, полупроводниковое оборудование

SAE EIA-4900-2016 Использование полупроводниковых приборов за пределами установленных производителем температурных диапазонов

Lithuanian Standards Office , полупроводниковое оборудование

LST EN 62417-2010 Полупроводниковые приборы. Испытания мобильных ионов для металлооксидных полупроводниковых полевых транзисторов (MOSFET) (IEC 62417:2010)
LST EN 62047-5-2011 Полупроводниковые устройства. Микроэлектромеханические устройства. Часть 5. Радиочастотные МЭМС-переключатели (IEC 62047-5:2011).
LST EN 62047-1-2006 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 1. Термины и определения (IEC 62047-1:2005).
LST EN IEC 60747-5-5:2020 Полупроводниковые приборы. Часть 5-5. Оптоэлектронные устройства. Фотопары (IEC 60747-5-5:2020)
LST EN 60747-16-3-2003/A1-2009 Полупроводниковые приборы. Часть 16-3. Микроволновые интегральные схемы. Преобразователи частоты (IEC 60747-16-3:2002/A1:2009).
LST EN IEC 60749-15:2020 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 15. Устойчивость к температуре пайки для устройств, монтируемых через сквозное отверстие (IEC 60749-15:2020)
LST EN IEC 60747-17/AC:2021 Полупроводниковые приборы. Часть 17. Магнитная и емкостная связь для основной и усиленной изоляции (IEC 60747-17:2020/COR1:2021)
LST EN 60749-5-2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 5. Испытание на долговечность при установившемся смещении температуры и влажности (IEC 60749-5:2003).
LST EN IEC 60747-17:2021 Полупроводниковые приборы. Часть 17. Магнитная и емкостная связь для основной и усиленной изоляции (IEC 60747-17:2020)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, полупроводниковое оборудование

GB/T 5226.33-2017 Электрическая безопасность машин. Электрооборудование машин. Часть 33. Требования к оборудованию для производства полупроводников.

IEC - International Electrotechnical Commission, полупроводниковое оборудование

PAS 62240-2001 Использование полупроводниковых устройств за пределами указанных производителем температурных диапазонов (редакция 1.0)

ES-UNE, полупроводниковое оборудование

UNE-EN 62435-1:2017 Электронные компоненты. Долговременное хранение электронных полупроводниковых приборов. Часть 1. Общие сведения (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в июне 2017 г.)
UNE-EN IEC 62435-3:2020 Электронные компоненты. Долговременное хранение электронных полупроводниковых приборов. Часть 3. Данные (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в июне 2020 г.)
UNE-EN IEC 62435-9:2021 Электронные компоненты. Долговременное хранение электронных полупроводниковых приборов. Часть 9. Особые случаи (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в ноябре 2021 г.)

TH-TISI, полупроводниковое оборудование

TIS 2114-2002 Низковольтные предохранители.часть 4: Дополнительные требования к плавким вставкам для защиты полупроводниковых приборов

German Institute for Standardization, полупроводниковое оборудование

DIN EN 60269-4:2008 Предохранители низковольтные. Часть 4. Дополнительные требования к плавким вставкам для защиты полупроводниковых приборов (IEC 60269-4:2006); Немецкая версия EN 60269-4:2007.
DIN EN 62047-20:2015 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 20. Гироскопы (IEC 62047-20:2014); Немецкая версия EN 62047-20:2014
DIN EN IEC 60747-5-5:2021 Полупроводниковые приборы. Часть 5-5. Оптоэлектронные устройства. Фотопары (IEC 60747-5-5:2020); Немецкая версия EN IEC 60747-5-5:2020
DIN EN 60749-21:2012 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 21. Паяемость (IEC 60749-21:2011); Немецкая версия EN 60749-21:2011
DIN EN 60749-29:2012 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 29. Испытание на защелкивание (IEC 60749-29:2011); Немецкая версия EN 60749-29:2011.

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, полупроводниковое оборудование

EN 60269-4:2007 Предохранители низковольтные. Часть 4. Дополнительные требования к плавким вставкам для защиты полупроводниковых приборов

Professional Standard - Post and Telecommunication, полупроводниковое оборудование

YD 576-1992 Полупроводниковое выпрямительное оборудование Для телекоммуникаций

NEMA - National Electrical Manufacturers Association, полупроводниковое оборудование

NEMA RI 6-1959 ВЫПРЯМИТЕЛЬНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ ЭЛЕКТРОХИМИЧЕСКОЙ ОБРАБОТКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВ