77.040.01 金属材料试验综合 标准查询与下载



共找到 198 条与 金属材料试验综合 相关的标准,共 14

本标准规定了精密电阻合金电阻率测试方法。 本标准适用于在参考温度为20 『C时,测量实心并具有均匀截面的精密电阻合金的体积电阻率和单位长度电阻。 对于其他合金在此温度的电阻率的测量亦可参照采用。

Test method for resistivity of precision resistance alloys

ICS
77.040.01
CCS
H21
发布
2010-12-01
实施
2011-05-01

GB/T 22638的本部分规定了重量法测定铝箔厚度的方法。 本部分适用于厚度不大于0.05mm的铝箔的厚度测定。

Test methods for aluminium and aluminium alloy foils.Part1:Determination of thickness by gravimetric method

ICS
77.040.01
CCS
H20
发布
2008-12-29
实施
2009-11-01

GB/T 22638的本部分规定了铝箔的粘附性测定方法。 本部分适用于检测铝箔层与层间的粘附程度。

Test methods for aluminium and aluminium alloy foils.Part3:Determination of stickiness

ICS
77.040.01
CCS
H20
发布
2008-12-29
实施
2009-11-01

GB/T 22638的本部分规定了空调器散热片用涂层铝箔的表面密度测定方法。 本部分适用于空调器散热片用涂层铝箔表面密度的测定。

Test methods for aluminium and aluminium alloy foils.Part 10:Determination of mass per unit area (surface density) of coatings

ICS
77.040.01
CCS
H20
发布
2008-12-29
实施
2009-11-01

GB/T 22638的本部分规定了药品包装用铝箔的热风强度的测定方法。 本部分适用于铝箔与要用聚氯乙烯(PVC)、聚偏二氯乙烯(PVDC)等硬片粘合后制成的固体药品(片剂、胶囊剂等)包装用铝箔粘合层的热封强度的测定。

Test methods for aluminium and aluminium alloy foils.Part7:Determination of heat seal strength

ICS
77.040.01
CCS
H20
发布
2008-12-29
实施
2009-11-01

GB/T 22638的本部分规定了铝箔表面润湿张力的测定方法。 本部分适用于铝箔表面润湿张力的测定。

Test methods for aluminium and aluminium alloy foils.Part4:Determination of surface wetting tension

ICS
77.040.01
CCS
H20
发布
2008-12-29
实施
2009-11-01

GB/T 22638的本部分规定了空调器散热片用涂层铝箔亲水性的测定方法。 本部分适用于空调散热片用涂层铝箔亲水性的测定。

Test methods for aluminium and aluminium alloy foils.Part9:Determination of hydrophilic property

ICS
77.040.01
CCS
H20
发布
2008-12-29
实施
2009-11-01

GB/T 22638的本部分规定了铝箔的刷水试验方法。 本部分适用于铝箔表面脱脂状况的检查。

Test methods for aluminium and aluminium alloy foils.Part5:Determination of wettability by brushing

ICS
77.040.01
CCS
H20
发布
2008-12-29
实施
2009-11-01

GB/T 22638的本部分规定了铝箔的直流电阻测定方法。 本部分适用于电力、无线电电容器用铝箔20℃时标准试样的直流电阻测定。

Test methods for aluminium and aluminium alloy foils.Part6:Determination of direct current resistance

ICS
77.040.01
CCS
H20
发布
2008-12-29
实施
2009-11-01

GB/T 22638的本部分规定了用针孔箱检测铝箔针孔的方法。 本部分适用于铝箔针孔数量及针孔直径的检测。

Test methods for aluminium and aluminium alloy foils.Part 2:Determination of porosity

ICS
77.040.01
CCS
H20
发布
2008-12-29
实施
2009-11-01

GB/T 18876的本部分规定了依据GB/T 18254-2002技术标准对铬轴承钢中碳化物液析、碳化物带状的级别进行的自动图像分析测定的各种步骤。同时也描述了应用ISO 5949-1983对工具钢、轴承钢中碳化物带状级别和按SEP 1520-1998对特殊钢中碳化物带状级别进行自动图像测定的方法。 本部分不涉及珠光体、碳化物网状的测定。 本部分仅作为推荐的试验方法,不对任何钢或其他金属的验收合格级别进行规定。 本部分对与应用有关的安全事项并未说明。用户有责任建立正确的安全与健康条例,并在应用本部分前确定条例规定的适用性。

Standard practice for determining the metallographical constituent and inclusion content of steels and other metals by automatic image analysis.Part 3:Determining the carbides rating in steels by automatic image analysis and stereology

ICS
77.040.01
CCS
H24
发布
2008-05-13
实施
2008-11-01

本标准测试方法适用于测定铜-超比大于1的铜/铌钛(Cu/Nb-Ti)复合超导体的直流临界电流,也同样适用于测定鈮钛芯丝直径大于1μm、铜 -超比大于0.9、铜镍合金(Cu-Ni)-超导体比大于0.2的铜/铜镍/铌钛(Cu/Cu-Ni/Nb-Ti)超导线的直流临界电流。由于铜/ 铌钛(Cu/Nb-Ti)复合超导体和铜/铜镍/铌钛(Cu/Cu-Ni/Nb-Ti)超导体两者的临界电流测试方法略有不同,本标准的附录C(规范性)将介绍测量铜/铜镍/铌钛(Cu/Cu-Ni/Nb-Ti)超导体时所需特别遵从的规定。 本标准测试方法适用于在标准的测试条件下超导体所处的磁场小于或等于其上临界磁场的0.7倍、临界电流小于100OA、n值大于12的超导体。测量时,被测样品应浸泡在已知温度的液氦中。被测导体应为圆形或矩形截面的一体化超导线 , 其截面积小于2mm。被测样品应具有螺旋线圈几何形状。本标准还给出在日常测试中为本实验方法所允许的偏离以及其他具体限定。 临界电流大于100OA或者截面积大于2mm的导体也可以使用本方法测量,但测量不确定度会增大,且自场效应更明显(见附录B)。此外,为了简单和保持比较低的测量不确定度,本标准不涉及对于大截面导体可能更适合的特殊样品形状。 本标准给出的测量方法经过适当修改可适用于测定其他类型复合超导线的临界电流。

Critical current measurement.DC critical current of Nb -Ti composite superconductors

ICS
77.040.01
CCS
H21
发布
2008-03-31
实施
2008-11-01

本标准规定了用氨气加速试验检测铜及铜合金加工材中残余应力(包括外加应力)的方法。这种应力均可导致材料在使用或储存过程中因应力腐蚀破裂而损坏。 本标准适用于黄铜加工材残余应力的检验,也适用于组装件和零部件(有限尺寸)的检验

Wrought copper and copper alloys-Detection of residual stress-Ammonia test

ICS
77.040.01
CCS
H25
发布
2007-10-25
实施
2008-04-01

本标准适用于多晶硅沉积在硅芯上生长的多晶硅棒基硼的检验。本标准检测杂质浓度有效范围:0.002×10~100×10。

Polycrystalline silicon.Examination method.Vacuum zone-melting on boron

ICS
77.040.01
CCS
H17
发布
2007-09-11
实施
2008-02-01

本标准规定了用直排四探针法测量硅单晶片径向电阻率变化的方法。 本标准适用于厚度小于探针平均间距、直径大于15 mm、电阻率为1X10¯³Ω·cm~3×10³ Ω·cm硅单晶圆片径向电阻率变化的测量。

Standard method for measuring radial resistivity variation on silicon slices

ICS
77.040.01
CCS
H17
发布
2007-09-11
实施
2008-02-01

本标准适用于多晶硅沉积在硅芯上生长的多晶硅棒基磷的检验。 本标准检测杂质浓度的有效范围:0.002×10~100×10。

Polycrystalline silicon.Examination method.Zone-melting on Phosphorus under controlled atmosphere

ICS
77.040.01
CCS
H17
发布
2007-09-11
实施
2008-02-01

本标准规定了铝及铝合金中合金元素及杂质的光电直读发射光谱分析方法。 本标准适用于分析棒状或块状试样中硅、铁、铜、锰、镁、铬、镍、锌、钛、镓、钒、锆、铍、铅、锡、锑、铋、锶、铈、钙、磷、镉、砷、钠24个元素的光电直读发射光谱测定。测定范围见表1。

Optical emission spectrometric analysis method of aluminum and aluminum alloys

ICS
77.040.01
CCS
H12
发布
2007-04-30
实施
2007-11-01

GB/T 18876的本部分规定了依据GB/T 10561-2005/ISO 4967-1998应用自动图像分析对非金属夹杂物的级别进行测定的各种步骤。同时以附录A和附录B的形式给出按GB/T 18254-2002或ASTM E45-1997(2002)标准测定非金属夹杂物级别所需的参数及公式。 本部分仅作为推荐的试验方法,不对任何钢或其他金属的验收合格级别进行规定。 本部分并未说明与应用有关的安全事项。用户有责任建立正确的安全与健康条例,并在应用本部分前确定条例规定的适用性。

Standard practice for determination the metallographical constituent and inclusion content of steels and other metals by automatic image analysis.Part 2:Determining the inclusion ratings of steels by automatic image analysis and stereology

ICS
77.040.01
CCS
H24
发布
2006-11-01
实施
2007-02-01

本标准适用于位错密度为(0~1000000)个/cm的砷化镓单晶的位错密度的测量。检测面为{111}面和{100}面。

Gallium arsenide single crystal-determination of dislocation density

ICS
77.040.01
CCS
H17
发布
2006-07-18
实施
2006-11-01

本标准适用于砷化镓外延层厚度的测量,测量厚度大于2μm。要求衬底材料的电阴率小于0.02Ω•cm,外延层的电阴率大于0.1Ω•cm。

Measuring thickness of epitaxial layers of gallium arsenide by infrared interference

ICS
77.040.01
CCS
H17
发布
2006-07-18
实施
2006-11-01



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