H17 半金属及半导体材料分析方法 标准查询与下载
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이 규격은 지르코늄 및 지르코늄 합금의 질소 정량 방법에 대하여 규정한다.
Methods for determination of nitrogen in zirconium and zirconium alloys
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- H17
- 发布
- 2005-11-14
- 实施
- 2005-11-14
이 규격은 구리 타이타늄 2원 합금 중의 타이타늄 정량 방법에 대하여 규정한다.
Methods for determination of titanium in copper alloys
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- H17
- 发布
- 2005-04-25
- 实施
- 2005-04-25
이 규격은 티타늄의 방출 분광 분석 방법에 대하여 규정한다. 정량 원소 및 정량 범위는
Method for atomic emission spectrometric analysis of titanium
- ICS
- 77.120.50
- CCS
- H17
- 发布
- 2004-10-26
- 实施
- 2004-10-26
이 규격은 알루미늄 및 알루미늄합금 중의 규소 분석 방법에 대하여 규정한다.
Methods for determination of silicon in aluminium and aluminium alloys
- ICS
- 71.040.40;77.120.10
- CCS
- H17
- 发布
- 2003-11-28
- 实施
- 2003-11-28
이 규격은 니켈 합금의 몰리브데넘 정량 방법에 대하여 규정한다.
Method for determination of molybdenum in nickel alloys
- ICS
- 77.120.40;71.040.40
- CCS
- H17
- 发布
- 2003-11-24
- 实施
- 2003-11-24
이 규격은 알루미늄 제련용 알루미나에 규정된 화학 성분 분석 방법에 대하여 규정한다.
Methods for determination of alumina
- ICS
- 71.100.10
- CCS
- H17
- 发布
- 2003-10-31
- 实施
- 2003-10-31
이 규격은 칼슘실리콘의 칼슘, 규소, 탄소 및 인의 분석 방법에 대하여 규정한다.
Methods for chemical analysis of calcium－silicon
- ICS
- 71.040.40;77.100
- CCS
- H17
- 发布
- 2003-10-30
- 实施
- 2003-10-30
이 규격은 KS D 2309에 규정된 화학 성분(납, 구리, 철, 니켈, 주석, 황,
Methods for chemical analysis of antimony metal
- ICS
- 77.080.20
- CCS
- H17
- 发布
- 2003-10-30
- 实施
- 2003-10-30
이 규격은 구리 및 구리 합금(신동품 및 주물)의 인 정량 방법에 대하여 규정한다.
Methods for determination of phosphorus in copper and copper alloys
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- H17
- 发布
- 2003-08-30
- 实施
- 2003-08-30
이 규격은 지르코늄 및 지르코늄 합금의 분석 방법에 공통된 사항에 대하여 규정한다.
General rules for chemical analysis of zirconium and zirconium alloys
- ICS
- 71.040.40;77.120.00
- CCS
- H17
- 发布
- 2003-07-07
- 实施
- 2003-07-07
이 규격은 비정질 금속 자심을 400 Hz∼1 MHz의 정현파의 교류 전원으로 여자한 경우
Measuring method for high frequency core loss in amorphous magnetic cores
- ICS
- 77.140.40
- CCS
- H17
- 发布
- 2002-05-29
- 实施
- 2002-05-29
이 규격은 비정질 금속의 시차 주사 열량 측정(이하 DSC라 한다.) 또는 시차열 분석(이
Method of determining the crystallization temperatures of amorphous metals
- ICS
- 77.140.40
- CCS
- H17
- 发布
- 2002-05-29
- 实施
- 2002-05-29
이 규격은 상용 주파수에서 비정질 금속 박대의 철손 특성과 교류 자화 특성을 H 코일법에
Method of test for magnetic properties of amorphous metals using single sheet specimen
- ICS
- 77.140.40
- CCS
- H17
- 发布
- 2002-05-29
- 实施
- 2002-05-29
This International Standard specifies a TXRF method for the measurement of the atomic surface density of elemental contamination on chemomechanically polished or epitaxial silicon wafer surfaces. The method is applicable to: — elements of atomic number from 16 (S) to 92 (U); — contamination elements with atomic surface densities from 1 × 10 atoms/cm to 1 × 10 atoms/cm; — contamination elements with atomic surface densities from 5 × 10 atoms/cm to 5 × 10 atoms/cm using a VPD (vapour-phase decomposition) specimen preparation method (see 3.4).
Surface chemical analysis - Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
- ICS
- 71.040.40
- CCS
- H17
- 发布
- 2001-05-15
- 实施
- 2001-05-15
이 규격은 구리 및 구리합금의 비소 분석 방법에 대하여 규정한다.
Methods for determination of arsenic in copper and copper alloys
- ICS
- 77.120.30
- CCS
- H17
- 发布
- 1999-12-31
- 实施
- 1999-12-31
1.1 This practice covers the analysis of the crystallographic perfection in silicon ingots. The steps described are sample preparations, etching solution selection and use, defect identification, and defect counting. 1.2 This practice is suitable for use if evaluating silicon grown in either (111) or (100) direction and doped either p or n type with resistivity greater than 0.005 Omega cm. 1.3 This standard does not purport to address all of the safety concerns, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use.
Standard Guide for Analysis of Crystallographic Perfection of Silicon Ingots
- ICS
- 29.045 (Semiconducting materials)
- CCS
- H17
- 发布
- 1997
- 实施
이 규격은 지르코늄 및 지르코늄합금의 텅스텐 분석 방법에 대하여 규정한다.
Methods for determination of tungsten in zirconium and zirconium alloys
- ICS
- 77.120.00;71.040.40
- CCS
- H17
- 发布
- 1996-10-18
- 实施
- 1996-10-18
이 규격은 지르코늄 및 지르코늄합금의 괴상 또는 판상 시료의 형광 X선 분석 방법에 대하여
Method for X-ray fluorescence spectrometric analysis of zirconium and zirconium alloys
- ICS
- 71.040.40;77.120.00
- CCS
- H17
- 发布
- 1996-09-16
- 实施
- 1996-09-16
This document specifies two methods for the non-destructive determination of the oxygen content in silicon by infrared absorption.
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurity content in silicon by infrared absorption - Part 1: Oxygen
- ICS
- 29.045
- CCS
- H17
- 发布
- 1995-07
- 实施
Determination of carbon and hydrogen content for carbon fiber and its products
- ICS
- CCS
- H17
- 发布
- 1995-04-24
- 实施
- 1995-10-01
