H21 金属物理性能试验方法 标准查询与下载
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Measuring thickness of epitaxial layers of gallium arsenide by infrared interference
- ICS
- 77.040
- CCS
- H21
- 发布
- 1988-02-25
- 实施
- 1989-02-01
本标准适用于砷化镓外延层厚度的测定。可测厚度大于2μm。要求衬底电阻率小于 0.02Ω·cm，外延层的电阻率大于0.1Ω·cm。
Measuring thickness of epitaxial layers of gallium arsenide by infrared interference
- ICS
- 77.040.30
- CCS
- H21
- 发布
- 1988-02-25
- 实施
- 1989-02-01
本标准适用于吸气用锆铝合金粉、吸气用锆铝合金环件和片件、吸气用锆铝合金复合带材、释汞吸气用复合带材及室温吸气用锆石墨材料及制品等非蒸散型吸气材料及制品的吸气速率和吸气量的测定。
Test methods of gas absorption characteristic for non-evaporation gettering materials and products
- ICS
- 31.020
- CCS
- H21
- 发布
- 1988-02-25
- 实施
- 1989-02-01
本标准适用于掺杂砷化镓单晶中载流子浓度的测量。测量范围： n-GaAs1.0×10～1.0×10cm； p-GaAs2.0×10～1.0×10cm。
Determination of carrier concentration in gallium arsenide by the plasma resonance minimum
- ICS
- 77.040.30
- CCS
- H21
- 发布
- 1988-02-25
- 实施
- 1989-02-01
本标准规定用击穿电位检验铝及铝合金阳极氧化膜的绝缘性。 本标准适用于检验阳极氧化膜的绝缘性能，主要检验下列两种阳极氧化膜： a.对绝缘性能有一定要求的阳极氧化膜。 b.以击穿电位为原则，而制定的阳极氧化工艺所生产的阳极氧化膜。在一般情况下，本标准仅用于对封闭和干燥后的阳极氧化膜进行检验，不适用于对涂漆或有其他覆盖层的氧化膜进行检验。
Anodizing of aluminium and aluminium alloys--Insulation check by measurement of breakdown potential
- ICS
- 25.220.40
- CCS
- H21
- 发布
- 1988-02-25
- 实施
- 1989-02-01
本标准适用于X射线衍射法定量测定中、低碳钢和中、低碳低合金钢中残余奥氏体的含量。
Retained austenite in steel--Quantitative determination--Method of X-ray diffractometer
- ICS
- 77.040.20
- CCS
- H21
- 发布
- 1987-12-07
- 实施
- 1989-01-01
本标准适用于X射线衍射仪精确测定立方晶系粉末物质的点阵常数。对块状试样和其他晶系的晶体，在实验技术上亦应参照使用。
The lattice constant determination of metals--Method of X-ray diffractometer
- ICS
- 77.040.20
- CCS
- H21
- 发布
- 1987-12-07
- 实施
- 1989-01-01
本标准适用于淬火、退火、回火态的钨系、钨钼系高速钢中碳化物相MC、M23C6、M6C的X射线衍射定量分析。
Carbides in high speed steel--Quantitative phase analysis--Method of X-ray diffractometer
- ICS
- 77.040.30
- CCS
- H21
- 发布
- 1987-12-07
- 实施
- 1989-01-01
本标准适用于铝及铝合金制品阳极氧化膜厚度的测定。 本标准不适用于测量特殊膜（如深色氧化膜）、试样基底粗糙的膜。在一般工业条件下，可测量10μm以上的膜。当表面平滑时也可测量5～10μm的氧化膜。
Test methods for thickness of anodic oxidation coatings on aluminium and aluminium alloys--Split-beam microscope method
- ICS
- 25.220.40
- CCS
- H21
- 发布
- 1987-06-26
- 实施
- 1988-05-01
本标准规定用重量法对铝及铝合金制品阳极氧化膜的厚度进行测量。 本标准适用于除铜含量大于6％以外的绝大部分铝合金。
Test methods for thickness of anodic oxidation coatings on aluminium and aluminium alloys--Gravimetric method
- ICS
- 25.220.40
- CCS
- H21
- 发布
- 1987-06-26
- 实施
- 1988-05-01
Determination of particle size distribution of metallic powders by method of photosedimentation
- ICS
- 77.040.30
- CCS
- H21
- 发布
- 1986-06-23
- 实施
本标准适用于室温至1500℃范围内，使用差热分析（DTA）方法测定自熔合金粉末固液相线温度区间。
Self-fluxing alloy powders--Determination of solidus-liquidus temperature range
- ICS
- 77.040.30
- CCS
- H21
- 发布
- 1986-06-23
- 实施
- 1987-05-01
本标准规定了烧结金属材料室温压缩强度的测定方法。 本标准适用于测定机加工或非机加工的烧结金属材料（硬质合金除外）的压缩强度（屈服点、屈服强度和抗压强度）。
Sintered metal materials--Determination of compression strength at room temperature
- ICS
- 77.040.10
- CCS
- H21
- 发布
- 1986-06-23
- 实施
- 1987-05-01
本标准适用于炼铝用的氧化铝粉末有效密度的测定。本标准采用比重瓶法测定氧化铝和氢氧化铝粉末的有效密度。氧化铝多品种、铝土矿、赤泥等固体粉末物的有效密度测定，可参照本标准。
Aluminium oxide powders--Determination of effective density--Pyknometer method
- ICS
- 71.060.20
- CCS
- H21
- 发布
- 1986-06-23
- 实施
- 1987-05-01
本标准适用于炼铝用的氧化铝粉末松装密度的测定。氢氧化铝以及氧化铝多品种固体颗粒物料的测定，可参照本标准。
Aluminium oxide powders--Determination of apparent density
- ICS
- 71.060.20
- CCS
- H21
- 发布
- 1986-06-23
- 实施
- 1987-05-01
本标准适用于炼铝用的氧化铝粉末安息角的测定。
Aluminium oxide powders--Measurement of the angle of repose
- ICS
- 71.060.20
- CCS
- H21
- 发布
- 1986-06-23
- 实施
- 1987-05-01
本标准适用于测定厚度大于或等于0.3mm的直条形热双金属和厚度小于0.3mm的螺旋形热双金属的温曲率，螺旋形热双金属的温曲率试验方法见附录A。
Test method for flexivity of thermostat metals
- ICS
- 77.040.10
- CCS
- H21
- 发布
- 1986-04-08
- 实施
- 1987-03-01
本标准适用于直径小于15mm的铁镍、铁镍铬、铁镍钴玻封合金及铁镍、铁镍钴瓷封合金等的棒材气密性的定性检验。
Determination of hermeticity of expansion alloys
- ICS
- 77.040.20
- CCS
- H21
- 发布
- 1986-01-14
- 实施
- 1986-11-01
本标准适用于以“气泡试验”方法测定可渗透烧结金属材料（过滤器、多孔轴承、多孔电极和具有联通孔的其他部件）的孔径。
Permeable sintered metal materials--Determination of bubble test pore size
- ICS
- CCS
- H21
- 发布
- 1985-07-22
- 实施
- 1986-07-01
本标准适用于位错密度0～100.000cm的N型和P型锗单晶棒或片的位错密度或其他缺陷的测量。观察面为（111）、（100）和（113）面。
Germanium monocrystal--Inspection of dislocation etch pit density
- ICS
- 29.040.30
- CCS
- H21
- 发布
- 1985-07-22
- 实施
- 1986-07-01
